JPS6243122B2

JPS6243122B2 -

Info

Publication number: JPS6243122B2
Application number: JP56013948A
Authority: JP
Inventors: Teruo Eino; Muneo Kawamura
Original assignee: Shimizu Construction Co Ltd
Current assignee: Shimizu Construction Co Ltd
Priority date: 1981-02-02
Filing date: 1981-02-02
Publication date: 1987-09-11
Also published as: JPS57129079A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は、鉄骨構造物建方時における柱の鉛
直度の測定、離れた場所にある構造物（例えば橋
梁等）における各部の変位の測定等、物体の寸
法、位置、方向などをその物体に接触することな
く離れた場所から計測する際に用いられる２次元
遠隔計測方法およびその装置に係り、特に、固体
撮像素子を用いて２次元で計測を行う２次元遠隔
計測方法およびその装置に関する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来、鉄骨構造物建方時における各柱の鉛直度
の測定は、人間がトランシツトをのぞいて各柱の
柱頭位置を１本、１本繰返し計測することにより
行われていた。このような柱頭位置の測定を人間
の目視を要することなく自動的に行い、さらに互
いに関連している複数の部材の位置変位を同時に
集中的に計測することができれば、鉄骨建方など
の作業の効率が大幅に向上する。そこでこの発明
は、テレビカメラを用いて計測対象物を撮像し、
この撮像結果を電子回路で処理することにより、
計測対象物の位置、方向等を自動的に測定しよう
という考えからなされたものである。

テレビカメラによつて計測対象物を撮像し、電
子回路によつてその位置を解析する画像計測装置
は従来から種々開発されているが、この種の装置
においては、テレビカメラの電気的、機械的精度
が直接測定結果の精度を左右する。このテレビカ
メラは、ビジコン、イメージオルシコン等の電子
撮像管を用いたものと、CCD等の固体撮像素子
を用いたものとに大別される。電子撮像管は電子
ビームを磁気力によつて上下、左右に走査させて
画像を順次電気信号に変換する。一方、固体撮像
素子は予め多数のエレメントが規則正しく並んで
おり、１つ１つのエレメントからの明るさに対応
した電気信号を順次出力する。これらのものの
内、特に固体撮像素子は磁気的、電気的外乱によ
つて画像位置に誤差を生じる危険性が極めて低
く、軽量、強固という特長と合いまつて現在では
計測用テレビカメラに盛んに用いられている。

現在市販されている、固体撮像素子を用いた画
像計測装置は大部分が１次元の固体撮像素子を用
いたものであり、この種の装置として、例えばベ
ルトコンベア上を流れる製品の長さ、厚さ等を自
動的に計測し、製品の良、不良を判定する装置が
知られている。しかしながら、１次元（１方向）
ではなく、２次元（２方向）にわたつて計測を行
いたい場合も多く、この場合、１次元の計測装置
を２台直角方向に配置して計測を行わなければな
らない。さらに、２台の１次元計測装置によつて
も測定し得ない場合がある。例えば、第７図は平
面的に移動可能な物体Ａを示す平面図である。こ
の物体Ａの位置を計測する場合、物体Ａの上面を
光が反射しにくい色とし、また、物体Ａの上面に
十分小さい点光源Ｂ，Ｃを固定する。そして、予
め計測の基準となる座標系ｘ−ｙに合わせて物体
Ａの上方にテレビカメラを固定し、光源Ｂ，Ｃの
座標を計測することによつて物体Ａの位置と方向
を知る。このような場合、１次元計測装置を２台
用いても計測は不可能であり、必ず２次元計測装
置が必要となる。

従来の２次元計測装置として、レーザ光線を利
用した２次元計測装置や、高性能な電子計算機を
使用した２次元、さらに３次元の画像処理システ
ムも知られている。しかしながら、これらのもの
はいずれも価格が非常に高いという問題がある。

他方、固体撮像素子自体は、現在２次元のもの
が充分実用化されているが、２次元の固体撮像素
子を用いて、かつ安価な計測装置は末だ開発され
ていない。その理由は、２次元の場合、第７図に
示す計測を始めとして多種多様な計測態様が考え
られ、１次元の装置のように単に明部、暗部のク
ロツクパルス数を数えるという方法では計測がで
きないからである。

次に、従来の固体撮像素子を用いた２次元計測
装置として、２次元固体撮像素子から順次出力さ
れる１画素毎の明暗信号の内、一定の明るさ以上
の信号だけをデイジタルデータに変換して座標デ
ータと共にメモリに記憶させ、１画面の全画素の
データ収録が終了した時点でメモリ内のデータを
コンピユータによつて処理するものが知られてい
る。しかしながら、この種の計測装置はメモリ容
量が大きくなる問題がある。

また、従来の固体撮像素子による他の２次元計
測装置として、例えば第１図に示すように、固体
撮像素子１の出力をビデオ信号形成回路２によつ
ていつたんビデオ信号に変換し、このビデオ信号
をビデオ信号分解回路３によつて分解してデジタ
ル信号とし、このデジタル信号を画像メモリ４に
記憶し、この画像メモリ４の記憶内容を電子計算
機等を用いた処理装置５によつて解析するものが
知られている。この計測装置は固体撮像素子１の
出力をいつたんビデオ信号（アナログ信号）に変
換しており、このため、ビデオ信号形成回路２、ビデオ信号分解回路
３内のアナログ信号回路の各部品の経年変化あ
るいは温度変化により測定誤差が生ずる、ビデオ信号の帯域幅に起因する分解能の上限
がある、コントラスト、同期等多くの調整を必要とす
る、という欠点を有している。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明は上述した種々の事情に鑑み、固体撮
像素子を用いて物体の寸法、位置、方向などをそ
の物体に接触することなく２次元で測定すること
ができ、しかも従来の１次元の装置に比較しそれ
ほど複雑化せず、したがつて装置を安価に構成す
ることができ、さらに、部品の経年変化、温度変
化により測定誤差を生ずることがなく、また、高
分解能が得られると共に、調整をほとんど必要と
しない２次元遠隔計測方法およびその装置を提供
することを目的としている。

〔実施例〕

以下、図面を参照しこの発明の一実施例につい
て詳細に説明する。

第２図はこの発明による画像計測装置の構成を
示すブロツク図であり、この図において、符号１
０はケース内に一体で収納されるカメラ部であ
る。このカメラ部１０において、符号１１はレン
ズ１２を介して投映される画像の明暗を電気信号
に変換する２次元固体撮像素子（例えば、
CCD）である。この固体撮像素子１１は駆動ク
ロツクパルス発生回路１３から出力される垂直駆
動クロツクパルスCP₁、水平駆動クロツクパルス
CP₂により駆動され、固体撮像素子１１の各画素
が受光した光の強弱に対応するレベルを有する映
像信号IMを順次直列に出力し、しきい値回路１
４およびＡ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器１
５へ供給する。しきい値回路１４は映像信号IM
のレベルが予め設定されているしきい値より大で
あるか否かを判別するもので、大の場合にはＨ
（ハイ）レベルの信号を出力し、また、小の場合
にはＬ（ロー）レベルの信号を出力する。Ａ／Ｄ
変換器１５は映像信号IMをデジタル信号に変換
し、シフトレジスタ１６のプリセツトデータ端子
PD₁へ供給する。アンドゲート１７はシーケンス
制御回路１８から出力されるゲート開閉信号GS
がＨレベルの時開状態となり、水平駆動クロツク
パルスCP₂をパルスカウンタ１９のクロツク端子
CKへ供給する。パルスカウンタ１９はアンドゲ
ート１７を介して供給される水平駆動クロツクパ
ルスCP₂をカウントするもので、そのカウント出
力はデジタルコンパレータ２０の入力端子Ａおよ
びシフトレジスタ１６のプリセツトデータ端子
PD₂へそれぞれ供給され、また、シーケンス制御
回路１８から出力されるリセツト信号RSによつ
てリセツトされる。シフトレジスタ１６はプリセ
ツト可能なシフトレジスタであり、そのロード端
子Ｌにシーケンス制御回路１８からロード信号
LSが供給されると、そのプリセツトデータ端子
PD₁，PD₂に供給されているデータを読込み、ま
た、シーケンス制御回路１３からシフトパルス
SHPが供給されると、記憶されているデータを出
力端子OUT₁を介して順次直列に処理装置２１へ
出力し、また、プリセツトデータ端子PD₂からい
つたん読込まれたデータを、出力端子OUT₂を介
して常時、並列にデジタルコンバレータ２０の入
力端子Ｂへ出力する。デジタルコンパレータ２０
はその入力端子Ａ，Ｂに各々供給されているデー
タを比較し、入力端子Ａのデータが入力端子Ｂの
データより大の場合のみＨレベルの比較信号
COMをアンドゲート２２へ出力する。アンドゲ
ート２２はしきい値回路１４の出力がＨレベルと
なり、かつ、デジタルコンバータ２０からＨレベ
ルの比較信号COMが出力された場合のみＨレベ
ルの信号をシーケンス制御回路１８へ出力する。
シーケンス制御回路１８は駆動クロツクパルス発
生回路１３から供給されるフレーム信号CP₃およ
びアンドゲート２２の出力に基づいて回路各部を
制御するもので詳細は後述する。なお、フレーム
信号CP₃は、固体撮像素子１１の全画素の走査
（クロツクパルスCP₁およびCP₂による走査）が終
了する毎に、パルス的にＨレベルとなる信号であ
る。また、処理装置２１は、例えばマイクロコン
ピユータを用いて構成されるもので、シフトレジ
スタ１６から供給されるデータを記憶し、また、
記憶したデータに基づいて測定対象物の位置解析
を行なう。

〔作用〕

次に、上記構成になる装置の動作を、固体撮像
素子１１の画素数が10×10として説明する。

まず、初期状態ではシフトレジスタ１６および
パルスカウンタ１９がリセツトされ、また、シー
ケンス制御回路１８からＨレベルのゲート開閉信
号GSがアンドゲート１７へ出力される。一方、
駆動クロツクパルス発生回路１３から水平駆動ク
ロツクパルスCP₂が出力され、また、この水平駆
動クロツクパルスCP₂が10パルス出力される毎に
垂直駆動クロツクパルスCP₁が１パルス出力さ
れ、これらのパルスにより、固体撮像素子１１の
各画素の受光量に対応するレベルの映像信号IM
が順次しきい値回路１４およびＡ／Ｄ変換器１５
へ供給される。また、この時同時に、水平駆動ク
ロツクパルスCP₂がアンドゲート１７を介してパ
ルスカウンタ１９へ供給され、パルスカウンタ１
９が水平クロツクパルスCP₂をカウントする。

水平駆動クロツクパルスCP₂の最初のパルスが
パルスカウンタ１９へ供給されると、パルスカウ
ンタ１９のカウント出力が「１」となり、このカ
ウント出力「１」がデジタルコンパレータ２０の
入力端子Ａへ供給される。この時、シフトレジス
タ１６が末だリセツト状態にあるとすると、デジ
タルコンパレータ２０の入力端子Ａにデータ
「１」が入力端子Ｂにデータ「０」が供給され
（Ａ＞Ｂ）、この結果、デジタルコンパレータ２０
からＨレベルの比較信号COMがアンドゲート２
２へ出力される。そして以後パルスカウンタ１９
のカウント出力が順次増加していく間、このＨレ
ベルの比較信号COMはひきつづいて出力され
る。

クロツクパルスCP₁，CP₂によつて固体撮像素
子１１から映像信号IMが順次出力され、そし
て、例えば水平駆動クロツクパルスCP₂が25パル
ス出力された時点でしきい値回路１４の出力がＨ
レベルに変つたとすると、アンドゲート２２の出
力がＨレベルとなり、このＨレベルの信号がシー
ケンス制御回路１８へ供給される。シーケンス制
御回路１８はこの信号を受け、ロード信号LSを
シフトレジスタ１６のロード端子Ｌへ出力すると
共に、Ｌレベルのゲート開閉信号GSをアンドゲ
ート１７へ出力し、同アンドゲート１７を閉状態
とする。これにより、パルスカウンタ１９はカウ
ント出力「25」の状態で以後のカウントを停止す
る。シフトレジスタ１６へロード信号Ｌが供給さ
れると、シフトレジスタ１６にＡ／Ｄ変換器１５
の出力（すなわち、その時の画素の明るさに対応
するデータ）およびパルスカウンタ１９のカウン
ト出力「25」が読込まれる。

次いで、シーケンス制御回路１８は、シフトパ
ルスSHPをシフトレジスタ１６へ供給する。これ
により、シフトレジスタ１６に読込まれたデータ
が出力端子OUT₁を介して処理装置２１へ供給さ
れ、この処理装置２１内に記憶される。次いで、
シーケンス制御回路１８は、ロード信号LSを再
びシフトレジスタ１６へ出力する。この結果、デ
ータ「25」がデジタルコンパレータ２０の入力端
子Ｂへ供給される。これにより、デジタルコンパ
レータ２０の両入力端子Ａ，Ｂのデータが一致し
（Ａ＝Ｂ）、Ｈレベルの比較信号COMが出力され
なくなる。

次に、シーケンス制御回路１８はリセツト信号
RSをパルスカウンタ１９へ出力して同パルスカ
ウンタ１９をリセツトし、そして、駆動クロツク
パルス発生回路１３からフレーム信号CP₃が出力
されるまで待機する。

以上の各動作の間、固体撮像素子１１には引続
いてクロツクパルスCP₁，CP₂が供給されてい
る。そして、全画素の走査が終了した時点で駆動
クロツクパルス発生回路１３からフレーム信号
CP₃が出力され、シーケンス制御回路１８へ供給
される。シーケンス制御回路１８はこのフレーム
信号CP₃を受け、再びＨレベルのゲート開閉信号
GSをアンドゲート１７へ出力し、アンドゲート
１７を開状態とする。以後、前述した場合と同様
に映像信号IMが固体撮像素子１１から順次出力
され、また、パルスカウンタ１９が水平駆動クロ
ツクパルスCP₂をカウントする。ただしこの場
合、デジタルコンパレータ２０の入力端子Ｂには
データ「25」が供給されている。したがつて、パ
ルスカウンタ１９のカウント出力が「26」以上と
なるまで、比較信号COMがＨレベルとなること
はない。すなわち、パルスカウンタ１９のカウン
ト出力が「25」となつた時点でしきい値回路１４
の出力がＨレベルとなつても、アンドゲート２２
からＨレベルの信号は出力されない。

次いで、パルスカウンタ１９のカウントが進行
し、例えばカウント出力が「34」となつた時点
で、しきい値回路１４の出力がＨレベルになつた
とする。この時、デジタルコンパレータ２０から
はＨレベルの比較信号COMが出力されており、
したがつて、アンドゲート２２からＨレベルの信
号が出力され、シーケンス制御回路１８へ供給さ
れる。以下、前述した場合と同様にシーケンス制
御回路１８が回路各部を制御し、これにより、処
理装置２１にデータ「34」およびこの時のＡ／Ｄ
変換器１５の出力データ（すなわち輝度）が記憶
される。

このようにして、測定対象物の所定レベル以上
の明るさを有する点のデータのみが、順次処理装
置２１に収録される。そして、このデータ収録が
終了した時点で、処理装置２１は収録したデータ
に基づいて測定対象物の位置を解析する。すなわ
ち、収録されているパルスカウンタ１９のカウン
ト出力を水平方向の画素数「10」で割り、その
「商」から垂直方向の座標を、その「余り」から
水平方向の座標を得る。例えば、カウント出力が
「25」の場合、垂直方向の座標として「２」が、
水平方向の座標として「５」が得られる。

以上のように、第２図に示す実施例によれば、
ある１つの明るい画素が見つかると、その位置お
よび明るさを示すデータが処理装置２１へ即刻送
られ、そのデータ伝送が終了すると、次はデータ
収録をした画素よりも水平カウント値が大きく、
かつ最初に現われる明るい画素を見出してデータ
収録を行うという過程を繰返す。これにより、全
画面中の、しきい値を越える明るさを有する全て
の画素の位置および明るさに関するデータを得る
ことができる。

なお、上記実施例においては、１個のカメラ部
１０に１個の処理装置２１を接続した構成となつ
ているが、複数のカメラ部を１個の処理装置２１
に接続する構成とすることも可能である。また、
処理装置２１には画面の全画素のデーターが収録
されるのではなく、測定に必要な複数個の点のデ
ーターのみが収録されるため、その処理はきわめ
て簡単になる。したがつて処理装置２１に高速の
電子計算機を用いる必要はなく、安価なマイクロ
コンピユータによつて十分短い時間で処理を行な
うことができる。さらにそのために、動いている
計測対象物上に取付けた点光源からの光を撮像す
ることによつてその物体の位置を時間を追つて
次々と計測し、データを収録することが可能であ
る。また、計測結果をグラフや図面で表示させて
もよい。また、レンズ１２としては、35ミリカメ
ラ用交換レンズを使用すれば、用途に応じて種々
のレンズを選択することができると共に価格も安
い。

〔応用例〕

次に、この発明による画像計測装置の使用例に
ついて説明する。

(1) 柱の沿直度の計測従来、例えば鉄骨工事において柱を鉛直に建
てる場合、トランシツトを用いて、人間の目に
よつて鉛直度を計測していた。

第３図はこの発明による画像計測装置Ｓを用
いて柱の鉛直度を測定する場合を示す図であ
る。この図に示すように、柱頭近傍に点光源
（例えば、小型ランプ）３１を取付け、また、
柱脚部近傍に水準器等を用いて画像計測装置Ｓ
を上向きに設置する。そして、画像計測装置Ｓ
によつて点光源３１の２次元位置を計測し、こ
の計測結果に基づいて柱の鉛直度を計測する。
この場合、柱頭の２次元方向のいずれが座標値
として自動的に計測されるので、鉛直度を短時
間で正確に計測することができる。

また、建方完了後の鉛直度の変動を連続的に
観測し、安全管理を行ないたい場合、画像計測
装置Ｓを用いれば、鉛直度の観測を無人で行な
うことができる。また、柱頭が「はり」によつ
て互いに接続されている複数の柱の鉛直度を同
時に計測し、修正したい場合、各柱毎に第２図
に示すカメラ部１０を設け、各カメラ部１０の
計測結果を１個の処理装置２１によつて処理す
るように構成すれば、複数の柱の鉛直度を同時
に集中的に計測することができ、人間の作業量
を大幅に減ずる効果が得られる。またこの場
合、処理装置２１が１個で済むので、全体のコ
ストが低減される。

(2) 構造物の変位の計測従来、橋梁等の構造物の耐力試験を行なう場
合、各部の変位は、第４図に示すように大がか
りな計測用フレーム３３を組立て、この計測用
フレーム３３の上部に変位計３４を設置して計
測する必要があり、この計測用フレーム３３を
組立てる費用、労力が非常に大きかつた。

第５図はこの発明による画像計測装置Ｓを用
いて構造物の変位を測定する場合を示す図であ
る。この図に示すように、構造物の測定対象点
に点光源３５を取付け、また構造物から離れた
位置に画像計測装置Ｓを設置し、そして点光源
３５の変位を画像計測装置Ｓにより求める。こ
のような変位計測方法によれば、計測用フレー
ム３３を組立てる必要が全くなくなり、労力、
費用が大幅に節約できる。また、PC橋などで
計測を行ないながら施工する場合、人間がトラ
ンシツトをのぞかなくても、常に計測結果を得
ることができるので、作業能率が向上し、ま
た、安全性も増大する。

(3) 壁の変位の計測地下連続壁などでは土圧計、傾斜計等を用い
た計測により安全を確保しながら工事を進行し
ているが、従来、壁の変位を直接計測すること
はできなかつた。

第６図は、この発明による画像計測装置Ｓを
用いて壁の絶対変位を計測する場合を示す図で
ある。この図に示すように、壁の各部に一直線
状に点光源３７，３７…を配置し、この一直線
の延長上に画像計測装置Ｓを設置し、そして、
各点光源３７，３７…のそれぞれの位置を計測
する。このようにして壁の絶対変位を常に計測
することにより、工事の安全性がより高められ
る。

なお、第３図に示す実施例においては、しき
い値を越える明るい画素１個のデータを得るの
に最低−画面分の走査時間を必要とする。この
結果、画像から必要なデータを全て得るのに要
する時間は、しきい値を越える明るい光を受け
ている画素の数に比例して長くなる。したがつ
て、前述した鉛直度の計測等の場合は、明部が
暗部に比べて充分少ないことが望ましい。一
方、写真や図面に表示されている形状の面積を
求めるような用途においては、ある程度長い処
理時間を要してもよい場合が多い。第３図の実
施例はデータを収録する明るい画素の数には制
限がなく、単に処理時間が長くかかるだけであ
る。したがつて、第３図の実施例は写真や図面
上の画像を計測して何らかの処理を行うような
用途にも充分利用し得る。

〔発明の効果〕

以上説明したように、この発明によれば、次の
利点を得ることができる。

２次元の画像計測装置を簡単かつ安価な構成
によつて実現することができる。

ビデオ信号を用いないため、その帯域幅に起
因する分解能の制限を受けることがなく、撮像
素子の分解能の向上が直接装置全体の分解能を
向上させる。

内部の電子部品で計測値の精度にかかわるも
のが原理的に存在しないので、経年変化や温度
変化による計測誤差が生じない。

画面全体のデータが処理装置に送られるので
はなく、計測に必要な点のデータだけが選択さ
れて送られ、また、１画面に付き１個の割合で
データが送られるため、処理が非常に簡単にな
り、また、処理時間の余裕ができる。したがつ
て処理装置としてはごく小規模で安価なマイク
ロコンピユータを用いれば十分である。

原理的に調整箇所がないので、レンズの絞り
と距離をセツトするだけで使用できる。

点光源を用いることにより、静的な計測だけ
でなく、動いている測定対象物の計測（数Hz程
度まで）も可能である。

計測対象物には、特殊なものを取付ける必要
がなく、安価な白熱電球を取付ければよい。

撮像素子の受光面において測定された複数の
光点の位置および輝度レベルに基づいて、例え
ば、輝度レベルによる重心を算出するなどのこ
とを行つて、計測対象物の実際の光点の位置を
撮像素子の各セルの大きさ以下の分解能で求め
る（すなわち、撮像素子の受光面の光点をセル
内の各所に位置決めする）ことができる。例え
ば、第８図は撮像素子のセルＣ１〜Ｃ４に光点
Ｄが投影された状態を示しており、セルＣ１〜
Ｃ４が検出した各輝度レベルに基づく重心Ｇ
（セルＣ１内にある）を光点Ｄの中心とするこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の画像計測装置の一構成例を示す
ブロツク図、第２図はこの発明の一実施例を示す
ブロツク図、第３図〜第６図は各々この発明によ
る画像計測装置の利用例を示す図、第７図は物体
の２次元計測について説明するための平面図、第
８図は撮像素子のセルの拡大図である。１１……２次元固体撮像素子、１３……駆動ク
ロツクパルス発生回路、１６……記憶回路（シフ
トレジスタ）、１８……シーケンス制御回路、１
９……パルスカウンタ、２０……比較回路（デジ
タルコンパレータ）、２１……処理装置。

Claims

【特許請求の範囲】１クロツクパルスによつて駆動される２次元撮
像素子を有し、前記２次元撮像素子から出力され
た映像信号のレベルおよび前記クロツクパルスに
基づいて計測対象物の位置を２次元に遠隔計測す
る方法において、前記２次元撮像素子の受光面の１フレームの走
査が行われる都度、走査開始時点から前記クロツ
クパルスをカウントし、そのカウント値が前回測
定時の旧カウント値より大であり、かつ、前記映
像信号のレベルが所定のしきい値より大であり、
かつ、これら２つの条件が満たされる最初の機会
である場合に前記旧カウント値を前記カウント値
で更新すると共に、この更新されたカウント値を
前記計測対象物の位置を計測するための２次元の
位置データとして前記映像信号のレベルを示すデ
ータと共に計測処理装置へ出力することを特徴と
する２次元遠隔計測方法。２２次元固体撮像素子と、この２次元固体撮像
素子を駆動するクロツクパルス発生回路と、前記
２次元固体撮像素子の受光面の１フレームの走査
開始時点からのクロツクパルス数をカウントする
パルスカウンタと、このパルスカウンタの出力が
書き込まれる記憶回路と、前記パルスカウンタの
出力および前記記憶回路の内容を比較し、前記パ
ルスカウンタの出力が前記記憶回路の内容より大
の場合のみ比較信号を出力する比較回路と、前記
受光面の１フレームの走査が行われる都度、前記
比較回路から前記比較信号が出力され、かつ、前
記２次元固体撮像素子の映像信号のレベルが所定
のしきい値を越え、かつ、これら２つの条件が満
たされる最初の機会である場合に前記パルスカウ
ンタの出力を前記記憶回路に書き込むと共に、前
記パルスカウンタの出力および前記映像信号のレ
ベルを示すデータを計測処理装置へ出力する書込
制御回路とを具備してなる２次元遠隔計測装置。