JPS5914782B2 - 2値パタ−ンの数値化処理方式 - Google Patents

2値パタ−ンの数値化処理方式

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JPS5914782B2
JPS5914782B2 JP54168022A JP16802279A JPS5914782B2 JP S5914782 B2 JPS5914782 B2 JP S5914782B2 JP 54168022 A JP54168022 A JP 54168022A JP 16802279 A JP16802279 A JP 16802279A JP S5914782 B2 JPS5914782 B2 JP S5914782B2
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JP
Japan
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pattern
clock
binary
signal
output
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JP54168022A
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JPS5690373A (en
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國夫 斎藤
健二 栗原
文治郎 辻山
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、2値ノゞターンの数値化処理方式、特に例え
はLSIマスクパターンなどの2値で表わされた2次元
′ゞターンを高速度で処理して上記ペターン上の屈曲点
の情報を抽出できるようにした2値・ゞターンの数値化
処理方式に関するものである。
LSIマスクノ々ターン等の2値で表わされる2次元パ
ターン情報を検査したり、あるいは他の目的のために処
理を行なう場合、それらの処理が比較的複雑な場合には
その処理にコンピュータが用いられている。即ち、IT
Vカメラ等で′ゞターンを撮像し、2値化画像信号を得
、これを取り込み用のハードウェアを介してビツトノゞ
ターンとしてコンピュータの主記憶装置あるいは外部記
憶装置に格納し、ソフトウェアによつて検査や他の処理
が行なわれる。しかし、ビツトノゞターンのデータ量は
膨大であり、例えばITVカメラで撮像した512×5
12画素の情報を1画素1ビットとして記憶するには、
32768バイトの記憶容量が必要である。従つて、こ
のような大量のビットゞターンデータを記憶しておくた
めの上記記憶装置は大きな容量のものが必要であつた。
また、このような大量のビットゞターンデータをソフト
ウェアで処理するために時間を要し、高速な処理ができ
ないため、LSIマスクパターン等の大量のノゞターン
データを短時間で処理することは不可能であつた。そこ
で、従来上記記憶装置の容量を少なくするためと、処理
の高速化を図るために、上記記憶装置に撮像して得られ
るビツトノゞターンをセットするバッファ領域を設け、
このバッファ領域に新たなビツトパターンが格納される
毎にソフトウエアによつて他の圧縮された情報に変換し
て記憶しておいたり、その圧縮された情報を処理したり
することが試みられた。
しかし、ソフトウエアで変換するために高速化には限界
があつた。また、ほぼ撮像と同時に高速に変換する方法
として撮像されて得られる2値化画像信号からハードウ
エアによつてパターンエツジを検出し、エツジからエツ
ジまでの距離を表わすランレングスに変換する方法がす
でに発明されているが、この方法はLSIマスクパター
ン等の比較的単純な形のパターンで構成されたパターン
に対しては、多くの冗長な変換データを伴ない、データ
量が多量になる欠点があつた。即ち、従来においては、
LSIマスクノぐターン等の2値で表わされる2次元パ
ターンをコンピユータ等を用いて検査したりあるいは他
の目的のために処理したりするのに、画像情報を高速に
かつ少ない情報に変換する変換手段が無かつたために、
ビツトパターンを取り込んでソフトウエアで変換したり
、大きな容量の記憶装置を持つてビツトパターンや冗長
なデータが多いランレングスデータ等を取り込んで処理
せざるを得なかつたために、処理に時間がかかり大量の
パターンデータを短時間で検査したり処理したりするこ
とができなかつた。
本発明は、このような状況を解決するためなされたもの
であり、LSIマスクパターン等の大量の2値の2次元
パターン情報を、撮像とほぼ同時に比較的少ない数値情
報に変換するようにすることを目的としている。
以下、本発明を実施例にもとづいて詳細に説明する。
説明を簡単にするために、試料パターンとして、第1図
に示すようなX−Y直交座標系上で、X又はY方向のみ
のエツジでできており、パターン幅又はノぐターン間隔
の最小値がL薦71である2値(白又は黒)パターンを
対象として説明する。
第2図は、本発明の一実施例のブロツク図である。
試料ノマターン1を第3図に示すような1フレーム(画
面)が水平方向にクロツクで規定される512の画素、
垂直方向に走査線の数によつて規定される512の画素
を持つITVカメラ2によつて、上記最小値L籏nがお
およそ1フレームの大きさの4/512となるような倍
率で撮像する。ITVカメラ2は内部にコントロール回
路を持ち、その出力として第4図に示す垂直アンブラン
牛ング信号3、水平アンプランキング信号4、クロツク
5、及びアナログ画像信号を2値化して得られる2値化
画像信号6が出力として得られる構造のものを使用する
。2値化画像信号6は、シフトレジスタ群7に上記クロ
ツク5をシフトクロツクに使用して入力される。
シフトレジスタ群7は入力端から連続して7個の素子か
ら並列に出力が取り出せる計512個の直列の素子で構
成されるシフトレジスタ列を同じ向きに7個直列に接続
したものである。ただし、7個目のシフトレジスタ列の
最初の並列出力が取り出せる7個の素子以外の素子は動
作に関係ないので、無くとも良い。第2図に示す如く、
シフトレジスタ群7の並列出力が取り出せる7×7個の
素子を、画像信号の入力端から順にq(1,1),q(
1,2),・・・・・・,q(1,7),q(2,1)
,q(2,2),・・・・・・q(7,7)、その出力
をQ(1,1),Q(1,2),・・・・・・Q(1,
7),Q(2,1),Q(2,2),・・・・・・とし
、この素子群を8窓゛と呼ぶことにする。2値化画像信
号6は、シフトクロツクによつてシフトレジスタ群に取
り込まれ、(512X6+7=)3079クロツク目に
は8窓゛の中に第3図に示すようにフレームの左上端の
7×7画素の領域の2値化画像信号が入ることになり、
それ以後1クロツク進む毎に、上記7×7画素の領域が
1画素づつ走査方向(右方向)に進んで行き、(512
−7=)505クロツク後にはフレームの右上端に達す
る。
次の6クロツクは上記領域がフレームの左右にまたがる
ように進むが7クロツク目には第3図に示したフレーム
の左上端の7×7画素の領域より1画素分下方に位置す
る7X7画素の領域が―窓1に対応する領域となる。こ
このようにして6窓1の中にはフレーム内の全ての領域
の2値化画像信号が順次入ることになる。従つて、この
゛窓゛の出力を後述のパターンの角を検出する論理回路
に導けば、撮像とほぼ同時にパターンの角が検出できる
。本実施例では、第5図に示すX,Y方向のみのエツジ
でできた試料パターンの8種類の角を検出するのに、1
窓1の中に第6図に示すような、3個の素子で構成され
る便宜上セルと呼ぶ素子群を12個配置し、これらを図
の如くa−2とする。
セルの出力は3個の素子の出力の多数決論理出力とし、
セルa−2の出力をそれぞれA−Lとする。3個の素子
の出力Ql,Q2,Q3の多数決論理出力Qは、Q=(
Q,△Q2)V(Q2△Q2)V(Q1△Q3)(△は
論理積、Vは論理和)で与えられる。
第7図は例としてセルaの多数決論理回路を示したもの
である。8種類のパターン角の検出出力はそれらをp1
(1)〜p1(8)とすると、下記の論理式で与えられ
る。
p1(4):A△B/NE△F,pl(2):A△B△
E△Fpl(3)=D△E△H△I,pl(4)=D△
E△H△1p1(5):G△H△K△L,pl(6):
G△H△K△Lpl(7):J△K△B△C,pl(8
):J△K△B△C第8図は上記の論理式を論理回路化
したものである。
第9図は第2図及び第4図中の検出信号8を得るための
ブロツク図であり、検出信号8は(1)上記8種類の角
の検出出力p1(1)〜p1(8)の論理和出力と、(
11)″窓”がフレームの左右又は上下にまたがる場合
にこの論理和出力に禁示をかけるクロツΦ神暉S′::
′!.〒〒zク:水平アンプランキング信号4を垂直ゲ
ート信号発生回路@)に入力して作製する垂直ゲート信
号Oの3者の論理積をとつて得るものである。
今、第3図に示すように、縦方向にm画素目で横方向に
n画素目の画素を中心とする7×7画素の領域が撮像さ
れて8窓゛の中に第10図に示すような2値化パターン
が入つた場合を例にとると、セルB,c,d,eの出力
B,C,D,Eが″1″その他のセルの出力は″0″と
なるので、検出出力p1(1)のみが61″となつてパ
ターンの角が検出される。この時のタイミングは第4図
に示すように、水平アンブランキング信号4については
、垂直アンブランキング信号3の立上がりの時点から数
えてm+4番目、クロツク5についてはm+4番目の水
平アンブランキング信号パルスの立上がりの時点から数
えてn+4番目の時点において、回路素子等による多少
の遅延を伴なつて、検出出力p1(1)9(第4図)が
“1″となり、更に多少の遅延を伴ない検出信号8が“
1″となる。この検出信号8は、第2図に示すように8
ビツトのラツチ10にラツチ信号として入力され、8種
類の角の検出出力p1(1)〜p1(8)は8ビツトの
ラツチ出力情報p1(1)〜p1(8)として得られる
。第4図図示の出力11はラツチ出力p1(1)を示し
たものである。本実施例で示したパターンの角の検出回
路は、多数決論理を採用しているので、撮像系の解像度
や量子化誤差によつて生ずる2値化パターンのエツジの
凹凸や角のだれ等があつても、角の近傍のほぼ一点で角
を検出することができ、冗長な検出が少ない検出回路に
なつている。
検出したパターンの角の位置は、フレーム内の画素を単
位とする座標として次のようにして得る。
まず、フレームの横方向(×方向)の位置は、第2図に
示す如く、クロツク5を9ビツトの2進カウンタ12で
カウントし、このカウント値を上記検出信号8により9
ビツトのラツチ13でラツチしてその出力P2を得る。
次に、フレームの縦方向の位置は、水平アンブランキン
グ信号4の立上がりを9ビツトの2進カウンタ14でカ
ウントし、そのカウント値を上記検出信号8により9ビ
ツトのラツチ15でラツチしてその出力P3を得る。カ
ウンタ12及び14はフレームの走査の開始前に垂直ア
ンブランキング信号3によつてクリアしておく。このよ
うにして得られた角の検出位置を表わす出力P2及びP
3の値は、シフトレジスタ群7の6窓1の位置によつて
、フレーム上の画素の個数で表わした角の位置よりもそ
れぞれ4だけ大きい値となることに注意を要する。以上
説明したように、本発明によれば、X,Y方向のみのエ
ツジでできた2値のパターンを撮像とほぼ同時にパター
ンの角の種類とフレーム内の座標とを表わす比較的冗長
なデータが少ない一次元の数値情報に変換することがで
きる。
従つて数値情報への変換を行なうのにコンピユータによ
つてビツトパターンを変換せずに済みソフトウエアを必
要とせず高速にかつ比較的少ないデータに変換すること
ができる。また、本発明で変換されたデータをコンピユ
ータに取り込み、検査やその他の目的のための処理に用
いれば、大きな容量の記憶装置を持ちビツトパターンや
冗長なデータが多いランレングスデータ等を取り込んで
処理することが必らずしも必要なく、大量のパターンデ
ータを高速に処理することが可能となる。なお本発明は
上記実施例のみに限定されないものである。
例えば撮像系は、ITカメラに限らず、フオトダイオー
ドアレーやCCDイメージセンサー、あるいはフライン
グスポツトスキヤナーとフオトマルを使用した撮像系等
であつても良い。また、試料パターンはX,Y方向のみ
のエツジをもつた2値パターンに限らず、任意の角度を
もつた直線のエツジで構成される2値パターンや、任意
の曲率をもつた曲線のエツジで構成される2値パターン
であつても良く、本発明の屈曲点検出部分をそれらの種
々の屈曲点を検出するように検出論理回路とその回路に
入力する6窓1内の素子出力を決定すれば良い。この場
合”窓”の大きさ・即ちシフトレジスタ群の大きさも必
要に応じ任意に決定すべきものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例で対象とする試料パターンの一例、第2
図は本発明の一実施例ブロツク図、第3図はITVカメ
ラによつて撮像されたフレーム(画面)を説明する説明
図、第4図は動作説明のためのタイムチヤート、第5図
は試料パターンの8種類の角を説明する説明図、第6図
は“窓”内のセルの配置の一実施例を説明する説明図、
第7図はセルaの出力Aを得るための一実施例論理回路
、第8図は検出出力p1(1)を得るための一実施例論
理回路、第9図は検出信号8を得るための一実施例ブロ
ツク図、第10図は”窓1内の各素子の出力の例を説明
する説明図を示す。 1・・・・・・試料パターン、2・・・・・・ITVカ
メラ、3・・・・・・垂直アンブラン牛ング信号、4・
・・・・・水平アンブランキング信号、5・・・・・・
クロツク、6・・・・・・2値化画像信号、7・・・・
・・シフトレジスタ群、8・・・・・・検出信号、8A
・・・・・・水平ゲート信号発生回路、8B・・・・・
・水平ゲート信号、8C・・・・・・垂直ゲート信号発
生回路、8D・・・・・・垂直ゲート信号、9・・・・
・・検出出力p1(1)、10・・・・・・8ビツトラ
ツチ、11・・・・・・Ppl(1)のラツチ出力、1
2,14・・・・・・9ビツト2進カウンタ、13,1
5・・・・・・9ビツトラツチ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 2値で表わされる2次元パターンを、2値化画像信
    号に変換する撮像手段と、該2値化画像信号及び該撮像
    手段の1画素に相当するクロックを入力とし、該2次元
    パターンの一部を該クロック毎に順次切出す画像切出し
    手段と、該画像切出し手段の出力を入力とし、該クロッ
    ク毎に該2次元パターンの屈曲点を検出する検出手段及
    び該屈曲点をコード化する変換論理手段と、該クロック
    およびクロックに基づく信号を数えることにより該撮像
    手段の走査位置座標を得るカウント手段と、該検出手段
    の検出信号により、該変換論理手段のコード出力と該カ
    ウント手段の走査位置座標を表わす出力とを一時記憶す
    る記憶手段とを有し、該撮像手段による撮像とほぼ同時
    に該2次元パターンを数値情報に変換することを特徴と
    する2値パターンの数値化処理方式。
JP54168022A 1979-12-24 1979-12-24 2値パタ−ンの数値化処理方式 Expired JPS5914782B2 (ja)

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JPS5690373A JPS5690373A (en) 1981-07-22
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JPS5833835A (ja) * 1981-08-24 1983-02-28 Hitachi Ltd パタ−ン検査方法
JPS58199528A (ja) * 1982-05-18 1983-11-19 Nippon Kogaku Kk <Nikon> パタ−ン欠陥検査装置
JPS58134429A (ja) * 1982-02-04 1983-08-10 Nippon Kogaku Kk <Nikon> パタ−ン欠陥検査装置
JPS59108171A (ja) * 1982-12-14 1984-06-22 Omron Tateisi Electronics Co 図形の特徴点抽出方法

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