JPS6239822B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6239822B2 JPS6239822B2 JP56185952A JP18595281A JPS6239822B2 JP S6239822 B2 JPS6239822 B2 JP S6239822B2 JP 56185952 A JP56185952 A JP 56185952A JP 18595281 A JP18595281 A JP 18595281A JP S6239822 B2 JPS6239822 B2 JP S6239822B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- chuck table
- pattern
- sample chuck
- chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H10P72/53—
Landscapes
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56185952A JPS5886739A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | ウエハの自動位置決め方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56185952A JPS5886739A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | ウエハの自動位置決め方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5886739A JPS5886739A (ja) | 1983-05-24 |
| JPS6239822B2 true JPS6239822B2 (OSRAM) | 1987-08-25 |
Family
ID=16179743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56185952A Granted JPS5886739A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | ウエハの自動位置決め方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5886739A (OSRAM) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2560002B2 (ja) * | 1984-06-23 | 1996-12-04 | 東京エレクトロン 株式会社 | ウエハプロ−バ |
| JPH0619670B2 (ja) * | 1984-12-17 | 1994-03-16 | 株式会社デイスコ | 自動精密位置合せシステム |
| JPS61235714A (ja) * | 1985-04-11 | 1986-10-21 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | ワ−ク座標系による駆動装置 |
| JPH0652755B2 (ja) * | 1986-04-01 | 1994-07-06 | キヤノン株式会社 | 位置合せ方法 |
-
1981
- 1981-11-19 JP JP56185952A patent/JPS5886739A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5886739A (ja) | 1983-05-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6501289B1 (en) | Inspection stage including a plurality of Z shafts, and inspection apparatus | |
| US7724007B2 (en) | Probe apparatus and probing method | |
| JPH01127238A (ja) | 可動部材用の限定的再位置決め区域における位置フイードバック向上 | |
| JP2928331B2 (ja) | プローバのアライメント装置及び方法 | |
| US11715657B2 (en) | Substrate misalignment detection method, substrate position abnormality determination method, substrate transfer control method, and substrate misalignment detection device | |
| CN111742399A (zh) | 接触精度保证方法、接触精度保证机构和检查装置 | |
| TW201906055A (zh) | 基板搬出方法 | |
| US7265536B2 (en) | Procedure for reproduction of a calibration position of an aligned and afterwards displaced calibration substrate in a probe station | |
| JPH05198662A (ja) | プローブ装置及び同装置におけるアライメント方法 | |
| JPS6239822B2 (OSRAM) | ||
| JP2913609B2 (ja) | プロービング装置、プロービング方法およびプローブカード | |
| JP2002057197A (ja) | プローブ方法及びプローブ装置 | |
| JPH08327658A (ja) | 基板検査装置 | |
| JPH05160245A (ja) | 円形基板の位置決め装置 | |
| JPH0384945A (ja) | 位置合せ方法およびそれを用いた検査装置 | |
| JPS62262438A (ja) | ウエハ処理装置 | |
| JP3202577B2 (ja) | プローブ方法 | |
| JPH0685409B2 (ja) | ウェハ搬送装置 | |
| JPH0715931B2 (ja) | ウェハ処理装置 | |
| JPH01227448A (ja) | ウエハプローバ | |
| JPH09326426A (ja) | ウェーハの検査装置および方法 | |
| WO2022118468A1 (ja) | ウエハ搬送用基板 | |
| JP2529559B2 (ja) | 基板処理装置 | |
| JPH04298057A (ja) | プロービング装置及び方法 | |
| US20250208169A1 (en) | Inspection method and inspection device |