JPS62293538A - 磁気光学記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気光学記録媒体の製造方法

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JPS62293538A
JPS62293538A JP13616686A JP13616686A JPS62293538A JP S62293538 A JPS62293538 A JP S62293538A JP 13616686 A JP13616686 A JP 13616686A JP 13616686 A JP13616686 A JP 13616686A JP S62293538 A JPS62293538 A JP S62293538A
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JP
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magneto
optical recording
layer
sputtering
recording medium
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JP13616686A
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Norio Hashimoto
典夫 橋本
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 [産業上の利用分野] 本発明は、レーザー光などの光(ここで言う光とは、上
記レーザー光を含む各種波長のエネルギー線のことであ
る)によって+l+i報の記録・再生・消去などを行な
う磁気光学記録媒体の製造方法に関する。
[従来の技術] 近年、高密度・大容量のメモリとしてレーザー光を用い
た光メモリ素子の研究および開発が急ピッチで行なわれ
ている。中でも、光磁気記録は書き換えが可能な記録方
法として注目をあびており、ハ記録に用いられる光学的
磁気記録媒体は書き換えが可能な光メモリ素子として大
いに期待されている。
従来、このような光磁気記録に用いられる光学的磁気記
録媒体の光磁気記録層を構成する材料としては、MnB
 i系、ガーネット系、希土類−遷移金属アモルファス
系などが代表的なものとして知られている。MnB i
系は、キューリ一温度が高いため、記録の際にパワーの
大きなレーザーを必要とし、また粒界ノイズか多いため
、 S/N比の高い再生が実施できないという欠点があ
り、ガーネット系では光の透過率が大きいため、記録の
際にパワーの大きなレーザーが必要となる欠点があった
。その中で、希土類−遷移金属アモルファス系はキュー
リ一温度が低く、また光の透過率も比較的小さいため、
両者の欠点を補うものとしてIIJI待されている。
以下、図i/i7も参照しつつ、この柚の技術について
更に詳しく説明する。
第1図は、代表的な磁気光学記録媒体の模式的断面図で
ある。
第1図において、1はポリメチルメタクリレート(PM
MA)、ポリカーボネート(pc)等のプラスチック、
あるいはガラス等からなる透光性基材であり、一般には
ドーナツ状など各種形状の板状基板か用いられる。2は
5iO1Si02、 AIN、  ZnS等からなる中
間層である。3は光磁気記録層であり、上記のような理
由によって、現在は例えば1”bFe、GdTbFe、
 TbFcCo、 GdTbFeCo等の希土類−遷移
金属アモルファス系が汎用されている。5は保護層であ
る。
このような光学的磁気記録媒体における記録・再生・消
去は、一般には以下のように行なわれる。
まず、記録媒体を基板1に対して垂直な一定方向に磁化
した後、基板l側からレーザー光をスポット照射する。
磁化方向は、一定であれば所望の方向でよい。ノ^板l
−ヒに照射されたレーザー光が、J、ri板1および中
間層2を透過して光磁気記録層3に到達すると、光磁気
記録層3のレーザー光照射部分において光の吸収が起こ
り、局所的に温度が上昇する。その結果、該部分が、層
構成材料のキューリ一点以トに達し、磁化が消失する。
この時、この磁化が消失した部分に前記磁化方向とは逆
方向に磁場を印加すると、該部分の磁化が反転し、レー
ザー光非照射部分と磁化方向を異にする反転磁区が形成
されて情報の記録が成される。
記録の消去は、光磁気記録層3の記録部分にレーザー光
を再照射して該部分の温度をキューリ一点以上に一卜昇
させ、記録時とは反対方向の磁化を記録部分に印加する
ことによって該部分の磁化方向を記録開始+iffの状
態に戻すことにより行なう。このような記録、消去に際
し、中間層2を設け、該層の膜厚を使用するレーザー光
の波長に対して反射防止機能を示す厚さに設定しておく
ことにより、光磁気記録層3の温度上昇を記録、消去に
極めて有効なものとすることかできる。
記録の再生は、光磁気記録層3がキューリ一点以上に温
度J:昇しない程度にパワーを下げたレーザー光を基板
1側から照射し、電気カー効果を利用して記録部分の磁
化方向を読み出すことにより行なう。
また、第2図に示すように光磁気記録層3を薄j1!2
化し、更には反射層4を設けることにより、磁気ファラ
デー効果を利用して見かけ上のカー回転角を上昇させる
という方法も試みられている。
しかし、光磁気記録層3は光学は一般に酸素の存在下で
高温高湿の雰囲気に放置すると容易に酸化されてしまう
と言う欠点があり、特に該層を薄膜化した場合にはその
程度が著しく、故に記録、再生時のエラーの増加や信号
の劣化などを招いている。
そこで、前記した中間層に記録層を保護する機能を持た
すべくその使用材料、IIQ厚等の検討がなされている
。このような状況の中で記21層を保護する中間層の材
料として炭化ケイ素の有用性が報告されている。
しかし、5iC1lQをスパッリングによって形成する
際、Siは未結合手(ダングリングボンド)を生じ真空
チャンバー内に存在する酸素等と結合しやずく、その結
合したものがSiCl摸に混入し、そのVJ(近)接部
に形成された記録層がSiのダングリングボンドど結合
した酸素等の影ツで侵さねてしまうという欠点かあった
。、 本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので
あって、その主たる目的は記録層の保存安定性に優れた
磁気光学記録媒体を製造することのできる方法を提供す
ることにある。
〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、−上記目的を達成すべく説5位研究を重ねた
結果、5iCIIQをスパッタリングにより形成する際
にアルゴン等のスパッタリング用雰囲気ガス中にフッ素
ガスや水素ガスを導入することによって、未結合手をも
ったSi、それが4’L空チヤンバー内の酸素と結合し
て生成した酸化ケイ素(SiO,5i02)およびSi
C膜内にとり込まねた酸素が、活性化されたフッ素ガス
や水素ガスと反応して、酸素又は酸化ケイ素のフッ化物
あるいは水素化物等のガスとして、取り除かれることを
見出し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は、基板と、希土類元素と遷移金属とのア
モルファス合金を主成分とする磁気光学効果を示す光磁
気記録層との間に炭化ケイ素の中間層を有する磁気光学
記録媒体を製造する方法において、面接中間層を、スパ
ッタリング用ガスにフッ素ガス及び/または水素ガスを
導入した雰囲気内でスパッタリングすることにより、形
成することを特徴とする磁気光学記録媒体の製造方法。
である。本発明にいうスパッタリング用ガスとは通常の
スパッタリング法において雰囲気ガスとして用いられて
いるガスであり例えば八「である。
[発明の実施態様] 以下、図面を参照しつつ、第1図に示す態様の磁気光学
記録媒体を製造する場合につき本発明の詳細な説明する
この磁気光学磁気記録媒体に於いて、1はガラス、PM
MA、ポリカーボネート(PC)等の各種材料からなる
透光性基材であり、通常は光ビーム案内用のガイド溝が
形成されている。2は中間層としてのSiC膜でありI
I!2厚を好適に設定することにより反射防+h層とし
ての機能を有し、基板1からの酸素や水分などの侵入を
おさえる保護層としての機能をも有するものである。
3は光磁気記録層であり例えばTbFe、 GdTbF
c、TbFe1Co、 GdTbFeGo等の希土類−
遷移金属7 (−/L/ファス合金が主成分として用い
られてる。
5は保護層であり、中間層と同じSiCとするのが好ま
しい。
本発明は中間層としてのSiCII5!の形成法に特徴
を有するものであり、中間層はA「等のスパッタリング
用ガス中にフッ素ガス及び/または水素ガスを導入しつ
つSiCターゲットをスパッタすることにより形成され
る。
スパッタリング装置の真空チャンバー内に導入するフッ
素ガスまたは水素ガスまたはそれらの混合ガスの流量と
しては0.05sccm〜30sccmが好ましい。
Ar等のスパッタリング用ガスの流量は20〜2003
CC1I程度が適当である。
スパッタリング用ガスと、フッ素ガス及び/または水素
ガスと、を合わせた真空チャンバー内の真空度としては
、I X 10”’ Torr〜I X 1O−2To
rrの範囲であることが好ましい。
なお、保護層としてのSiC膜も中間層と同様ようにし
て形成するとよい。
本発明によって製造される磁気光学記録媒体の一実施態
様を第1図に示したが、本発明はこの態様に限定される
ことなく、必要に応じて各種の補助層が設けられたもの
など、他の任、念の態様の磁気光学記録媒体に本発明は
適圧できる。例えば第2図、第3図に示すような、カー
効果とファラデー効果を利用して再生を行なう形式の磁
気光学記録媒体の製造に本発明は適用可能である。第2
図、第3図において、4は層、 Au、Gu、へg等の
反射層、6は光学的干渉層であり、他の層は対応する第
1図の各層と同様なものである。なお、光学的干渉層6
は中間層2と同し材質、即ちSiCとするのか好ましい
(実施例) 本発明の方法による磁気光学記録媒体を実施例を挙げて
更に訂細に説明する。
実施例1 第1図に例示したと同様の磁気光学記録媒体を次のよう
にして作製した。まず真空チャンバー内に50SCCM
のArと5 SCCMのフッ素ガスとを導入しつつ40
分間1.7W/am’の電力を投入し、5インチ径のS
iCターゲットをスパッタすることによって案内溝か形
成されたポリカーボネー1のディスク基板1上に中間層
2として5iclliを500人形成した。この際、真
空チャンバー内の圧は5×1O−3Torrに保った。
フッ素ガスの導入を止めた後、その」二に光磁気記録層
3として)1!2厚1000人のGdTbFcCo薄膜
をスパッタリング方により形成し、更にその上に中間層
2と同様な方法により保護層5としてSiC膜を形成し
、磁気光学記録媒体を得た。
上記記録媒体を温度70℃、相対湿度95%R11の雰
囲気に放置し、保存テストを行なった。保存性の評価は
2000時間放置後の保磁力、C/N比、bER(ピッ
トエラーレート)とそれらの初期値とを比較することで
行なった。その結果を第1表に示す。ここでC/N比は
記録媒体を1800rpmで回転させ、波長830nm
の半導体レーザーを用いて出力6mW、50%duty
、記録周波数4MIIzで記録を行なった後、これを再
生出力1mWの半導体レーザーを用いて再生し、その際
バンド幅30にllzにてスペクトル・アナライザを用
いて測定したデータである。
また、bERは−F述と同様な記録を行なった後、再生
信号と記録信号とを比較することにより算出した値であ
る。
比較例1 中間層2と保護層5の形成時にフッ素ガスを導入しない
以外は実施例1と同様な方法、条件にて磁気光学記録媒
体を作製した。
この記録媒体に実施例1と同様の方法かつ同一条件で保
存テストを行なった。その結果を第1表に示す。
(評価) この実施例1と比較例1との結果から明らかに本発明の
方法によりフッ素ガスを導入しつつ形成されたSi[:
 l漠を存する磁気光学記録媒体は小さな欠陥等が起き
にくいと考えられ、保存性に優れbEltの変化も小さ
い。
実施例2 アルゴンガスの導入fi50secMに対し水素ガスを
55CCM4人しつつ、1.7 W/crn’の没入電
力で40分間、5インチ径のSiCターゲットをスパッ
タすることによって、SiC膜からなる中間層2と保護
層5の各々を形成した。その際真空チャンバー内の圧は
5 X 1O−3Torrであった。上記以外は実施例
1と同様な方法、条件で磁気光学記録媒体を作製した。
この記録媒体を実施例1と同様にして保存評価を行なつ
だ。その結果を第1表に示す。
実施例3 第3図に例示したと同様な磁気光学記録媒体を次のよう
にして作製した。505C(:Mのアルゴンガスと15
secMのフッ素ガスとを導入しつつ、1.7W /c
rn”の投入電力で、25分間、5インチ径のSiCタ
ーゲットをスパッタすることにより、200人厚Osi
C膜を中間層2としてポリカーボネート製の基板1上に
形成した。なお、この際の真空チャンバー内の圧は5 
x 1O−3Torrであった。
そのトに光磁気記録層3として膜厚150人のGdTb
FeCo薄膜をスパッタリング法により形成し、その−
トに中間層2と同様にして光モ渉層6としてSiC膜を
200人形成した。更にその上に反射+1!;!4とし
て膜厚1000人のAlfluを、保護層5として30
00人のSiOを順次電子ビーム蒸着法により、形成し
て磁気光学記録媒体を得た。この記録媒体についても実
施例1と同様にして保存評価を行なった。
その結果を第1表に示す。
実施例4 505CCMのアルゴンガスとI SCCMの水素ガス
とを導入しつつ、 1.7 W/crn’の投入電力で
25分間、5インチ径のSiCターゲットをスパッタし
て、中間層2と光モ渉層6の各々を形成した。その際、
真空チャンバー内の圧は5 x 10− Torrであ
った。上記以外は、実施例3と同様な方法で磁気光学記
録媒体を作製した。この記録媒体について実施例1と同
様にして保存評価を行なった。その結果を第1表に示す
以上の試験結果からも明らかなように、本発明の磁気光
学記録媒体は初期の信号特性が保持され、特にbERの
劣化が少なく、より実用的なものであるということがわ
かる。
第1表 Hc  : 2000時間放置後の保峨刀〔発明の効果
〕 以ト説明したごとく本発明によれば光磁気記録層の保存
安定性が向上した磁気光学記録媒体を提供することか可
能になった。
【図面の簡単な説明】
第1〜3図は各々光磁気記録媒体の基本的態様を示す模
式的断面図である。 1・・・・・・基板、     2・・・・・・中間層
、3・・・・・・光磁気記録層、4・・・・・・反射層
、5・・・・・・保護層、    6・・・・・・光干
渉層。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 基板と、希土類元素と遷移金属とのアモル ファス合金を主成分とする磁気光学効果を示す光磁気記
    録層との間に炭化ケイ素の中間層を有する磁気光学記録
    媒体を製造する方法において、前記中間層を、スパッタ
    リング用ガスにフッ素ガス及び/または水素ガスを導入
    した雰囲気内でスパッタリングすることにより、形成す
    ることを特徴とする磁気光学記録媒体の製造方法。
JP13616686A 1986-06-13 1986-06-13 磁気光学記録媒体の製造方法 Pending JPS62293538A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02226531A (ja) * 1989-02-27 1990-09-10 Hitachi Ltd 光デイスクの構造

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02226531A (ja) * 1989-02-27 1990-09-10 Hitachi Ltd 光デイスクの構造

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