JPS62250178A - 無電解めつきの初期析出方法 - Google Patents

無電解めつきの初期析出方法

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JPS62250178A
JPS62250178A JP9253786A JP9253786A JPS62250178A JP S62250178 A JPS62250178 A JP S62250178A JP 9253786 A JP9253786 A JP 9253786A JP 9253786 A JP9253786 A JP 9253786A JP S62250178 A JPS62250178 A JP S62250178A
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electroless plating
metal
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initial deposition
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Kenji Kuroki
賢二 黒木
Hideo Sawai
澤井 秀夫
Masanobu Ito
正信 伊藤
Takashi Kanamori
孝史 金森
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Oki Electric Industry Co Ltd
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    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は無電解めっきの初期析出方法に関する。
(従来の技術) 従来より、電子回路形成技術として無電解めっき技術が
利用されている0例えば、下地としてのハイブリットJ
A板に予め銅(Cu)から成る金属回路パターンを設け
、この金属回路パターン上に拡散防止層としてのニッケ
ルーリン(Ni−P)層及びポンディング性向上のため
の金(Au)層を順次に積層形成する場合に無電解めっ
きによって各金属層を積層形成することが行なわれる。
このような多層の金属層を無電解めっきによって形成す
る方法として次に述べるような種々の方法がある。
第一の方法として、金属回路パターン(以下、ratに
回路パターンと称する)上でのみ初期析出を起こさせる
ようにするためにレジストを用いる方法がある。この方
法ではまず、基板及び基板に設けられた回路パターンt
に触媒としてパラジウムを付着させ、次に回路パターン
の領域外のめっき不要部をレジストで覆い、次にパラジ
ウムが付着した金属回路パターン上にめっき金属を析出
させていた。
また第二の方法では、まず、めっき不要部をレジストで
覆って1回路パターンのみを露出させ、次に、レジスト
及び回路パターンにパラジウムを付Rさせた後レジスト
を除去し、然る後パラジウムが付着した回路パターン上
にめっき金属を析出させていた。
また第三の方法として、めっき金属、及び回路パターン
を構成する被めっき金属の組め合せによっては触媒を用
いずに置換反応によって初期析出が始まるので、この置
換反応によって金属層の無電解めっきを行う方法もあっ
た。
さらに第四の方法として、置換反応によって析出を起こ
す金属を回路パターンに接触させて、イオン化傾向に起
因して生ずる局部電池を形成する方法もある。この方法
では、置換反応による析出を本来は起こさないめっき金
属及び被めっき金属において、局部電池の作用でめっき
金属の初期析出を生じさせ、よって回路パターンに金属
層を積層させていた。
(発明が解決しようとするI!118点)しかしながら
、前述した第−及び第二の方法では、レジストをめっき
不要部に被着させて回路パターンに被着する触媒のみを
無電解めっきに寄与させるためレジスト塗布、フォトリ
ソ、その他の作業を含むマスキング工程が必要となり、
このマスキングに時間を要するという問題点があった。
また第三及び第四の方U:では、第−及び第二の力υ、
の如きマスキングr二程は必要としないが、置換反応を
起こす金属の組み合せに制約がある。例えば、被めっき
金属を銅、金、銀、ロジウムのうちいずれか1つとし及
びめっさ金属をニッケルとしたような場合においては、
めっき金属を被めっき金属へ析出させることが出来ない
、このように、これらの方法は利用範囲が狭いという問
題点があった。
また無電解めっきでは一般にめっき材料によっては、例
えば銅では初期析出までに時間を要するという151N
JII点があった。
この発11の目的は上述した従来技術の問題点を解決し
、より製造工程が簡略化出来、利用範囲が限定されるこ
とがなく、かつ初期析出がより短時間のうちに始まる無
電解めっきの初期析出方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この発明の無電解めっきの
初期析出方法によれば、無電解めっき浴中に被めっき体
とアノード電極とを設ける。そして、それぞれ設置され
たアノード電極及び被めっき体間に初期析出開始のため
の電圧を印加する。
印加電圧は初期析出の始まる混成電位以下であれば一定
電圧に限らず、どのような電圧波形を有する電圧を印加
しても良い、この混成電位は被めっき体を構成する金属
及び無電解めっき浴(還元剤含む)によって決まり1例
えばポテンショスタットと称する装置によって予め測定
出来る。
印加電圧の設定に当っては、初期析出を速やかに行わせ
るためには、この印加電圧と混成電位との間に差を生じ
させる方が良い、しかし、その場合、電位差が大きくな
りすぎると、めっき金属が膜として積層せずに粒状に析
出してしまう慣れがあるので留意する必要がある。
また、電圧印加時間が長くなると所期の物性が得られな
くなる惧れがあるため、初期析出の開始と共に電圧印加
を止めるのが最も良い、従って、初期析出開始時間を予
備実験で調べておくのが良い、所ti11の物性が得ら
れない原因は、′;1r圧l加時に析出しためっき金属
から成る膜の組成が酸化還元反応或は置換反応による自
然析出で形成された場合の膜組成と異なるためである0
例えばニッケルめっきの場合、固有抵抗が高い、耐食性
が高く、酸に強い、表面が固いといった良好な特性が得
られなくなる。
(作用) この発明によれば、アノード電極及び被めっき体間に初
期析出開始のための電圧を印加する。
めっき金属の初期析出は、この電圧の印加によって被め
っき体表面に起こる。初期析出開始の後のめっき金属の
析出は電圧を印加せずとも無電解めっきの自己触媒性に
よってa続して起こる。この結果、被めっき体上のみに
選択的にめっき金属から成る初期の金属層を形成出来る
これと共にこの発IIを適用して好適なめっき金属及び
被めっき体を構成する被めっき金属は、酸化還元反応に
よる初期析出を行う従来方法と同じであって、置換反応
による初期析出を行えない場合にも適用出来る0例えば
、被めっき金属を銅、金、銀、ロジウムのうちいずれか
1つとし、めっき金属をニッケルとした場合にも適用出
来る。
さらにこの発明によれば、初期析出の開始を電圧印加に
よって行うので従来に比し初期析出の開始を早めること
が出来る。
(実施例) 以下、図を参照しながら、この発明の一実施例につき説
明する。尚、図はこの発明が理解出来る程度に概略的に
示しであるにすぎず、従って、各構成成分の寸法、形状
及び配置関係は図示例に限定されるものではない。
第1図はこの実施例で用いる無電解めっき装置の一例の
説明図であり、同図においてllはめつき処理槽、13
はめっき処理槽11に貯えた無電解めっき浴を示してい
る。また、15は外部電源としての直流電源であり、こ
の電源15には白金(pt)アノード電極17及び白金
(pt)プローブ(接触端子) 19がリード線21を
介して接続されている。アノード電極17は予め、めっ
き浴13中に固定しておく、この無電解めっき装置は、
これら各構成成分11〜21で構成されている。尚、ア
ノード電極17及びプローブ19は無電解めっき浴に溶
は込まない材料であればどのような材料を用いても良い
次に、この実施例の無電解めっきの初期析出力り、につ
き説明する。
まず、銅箔付ガラスエポキシ基板23を用意し、このJ
、Ii & 23の銅箔を通常行われる如くエツチング
して、回路パターン25及び共通給電部27を形成する
。ここでめっさ金属を積層すべき被めっき体としての回
路パターン25は共通給電部27にそれぞれ接続させる
ように形成する。
次に、無電解めっき浴13として例えば、80’Cに加
温したニッケルーリンめっき浴を用い、このめっき浴1
3中へ基板23を浸漬する0次いで、プローブ19を共
通給電部27に接触させ、めっき浴13申にそれぞれ設
置されたアノード電極17及び回路パターン25間に初
期析出開始のための電圧を印加する。この時、被めっき
体が銅でめっき浴がニッケルーリンめっき浴である場合
の混成電位は約−0,7Vであることが予備実験でわか
っているので、プローブ19の電位はニッケルーリン析
出の混成電位である約−0,7Vよりも低い約−IVに
設定した。電圧の印加時間は約1秒間とし、この1秒の
間に回路パターン27を構成する銅箔表面でニッケルー
リン(N i −P)の析出が起こる。その後は電圧を
印加せずとも無電解めっきの自己触媒性によって、めっ
き金属の析出が継続して起こる。
さらに、第2図を参照してこの無電解めっきのプロセス
につき詳細に説明する。
第2図は被めっき体である回路パターン25の電位の経
時的変化の説IJI rAであり、基板23の浸漬後の
経過時間(秒)を横軸に取って示し、また参照極(Ag
/AgC1)に対する回路パターン25すなわち被めっ
き体の電位(V)を縦軸に取って示す、参照極は通常の
電位の測定で用いられる電位の安定した電極であり、こ
の参照極と回路パターンとの電位差をポテンショスタッ
トと称する装置を用いて測定した。
同図において、曲線Aはこの実施例によって焦゛心解め
っきを行った際の回路パターン25の電位変化を示して
いる。まずプローブ19を共通給電部27に接触させ回
路パターン25に負電位を印加すると、直流電源15よ
り電子が供給され、この電子によって通常の電気めっき
と同様N2°+2e゛→Niの析出反応が引き起こされ
る。1秒間の電圧印加の後、電圧印加を止めると1回路
パターン25を構成する銅箔表面にニッケルNiが既に
析出しており1.これがため、ニッケルの自己触媒性に
よって析出反応が継続して起こる。このときの析出反応
においては還元剤である次亜リン酸の酸化によって電子
が供給され、この電子がニッケルの析出に寄1i−する
と共に、参照極に対する回路パターン25の電位はこの
析出反応での混成′電位である約−G、? Vまで増加
した後、一定値(混成電位)を保つ状態となる。
また、第2図に示した曲線Bは従来の方法で回路パター
ン25のみにパラジウムを付着させて無電解めっき浴に
ノ^板23を浸漬した際の回路パターン25の電位変化
を示したものである。この従来方法による焦゛市解めっ
きを行うに名っては、湿式プロセスでパラジウムを付着
させた。湿式プロセスにおいては塩化第−j!S n 
C文21g/!;Lと塩酸HC交(通常市販されている
もの)1mJ1/41を含む水溶液に基板23を1分間
浸漬し、次に塩化パラジウムP d C120,1g/
文と塩#HCfL(通常市販されているもの)0.1m
Li/iとを含む水溶液に基板23を1分間浸漬した。
また、無電解めっき浴には実施例と同様のニッケルーリ
ンめっき浴・  を用いた。
曲1iA及び曲線Bを比較すると明らかなように、初期
析出開始までの時間は従来方法の場合の方が実施例の場
合よりも多くの時間を必要とするのがわかる。これから
理解出来るように従来に比しより短い時間で初期析出を
開始出来ることを期待出来る。
めっき終了後、めっき浴13より取り出した基板23は
基板23の任意好適な部分に設けた切断線29に沿って
切断し1回路パターン25と共通給電部27とを分離す
る。この分離によって電気回路として独+’/、した多
層構造の回路パターン25を得る。
1−述した実施例では、共通給電部を介して回路パター
ンに電圧の印加を行ったが例えばプローブ先端を回路パ
ターンの形状に対応させて枝状に形成してプローブに多
数の接触端f−を設け、これによって回路パターンへ電
圧印加を行っても良い。
回路パターン25Lのみに析出させたニッケルーリンの
めっき金属にニッケルーリン層)は拡散防止層として用
いて好適である0例えばハイブリットノ、(板子の作成
において、銅から成る回路パターン4−にポンディング
性向上のために金めつきを行うと、この後に例えば厚膜
素子形成のために行う、製造二「程中の熱処理で銅と金
とが相互拡散してしまう、この場合に回路パターン25
41にニッケルーリン層及び金層を1順次に形成すると
拡散を防止出来る。
1−述した実施例では、この9.明の好ましい特定の数
値的条件、材料、その他の条件の下で説151シたが、
これらは巾なる一例であるにすぎず、従って、この発明
は上述の実施例のみに限定されるものではないことを理
解されたい。
(発明の効果) 上述した説明から明らかなように、この発明の無電解め
っきの初期析出方法によれば、!!i電解めっき浴中に
それぞれ設置した被めっき体及びアノード電極間に電圧
を印加することによって初期析出を行い、この初期析出
によって金属回路パターン七のみに選択的にめっき金属
の析出が継続して起こる。従って、この発明は金属回路
パターン上に選択的にめっき金属を析出させる(めっき
金属の選択析出)に当り、マスキング工程が必要であっ
た酸化還元反応による従来の初期析出方法に比し、工程
数を減らせ、めっき金属の選択析出が容易となる。これ
と共に、この発明は置換反応による従来方法がマスキン
グ工程は必要ないが、利用範囲が狭かったのに比し、酸
化還元反応による従来方法と同じにめっき金属及び被め
っき金属を選択出来、その利用範囲は広い。
このように、この発明によれば利用範囲が広く嶋1つ丁
F、! 4 酪ffi Jし+lt 、uス暮・、l>
 &ll k l 薯trs kn 1tll kl’
、 +lt方法を提供出来る。
さらに、これと共に、この発明によれば従来初期析出に
時間を要していた金属であっても、その初期析出をより
短時間のうちに開始させて効率良くめっき処理出来る。
この発明は例えば、印刷配線板の製造に用いて好適であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施に用いた装置の説明図、 第2図は被めっき体電位の時間変化の説明図である。 11・・・めっき処理槽、   13・・・無電解めっ
き浴15・・・電源、       17・・・アノー
ド電極19・・・プローブ(接触端子) 23・・・ノ、(板、       25・・・回路パ
ターン27・・・共通給電部、   29・・・切断線
。 特許出願人   沖電気工業株式会社 代理人 弁理士   大  垣   老ll  めフ!
処理橿        21  リード線tJ  島f
lll尋r−+!−,h              
 z3  裏事*15・電*、           
25:回路tP9−717  アノード電権     
   z7°尺蓮詐電部/’?  プローブzq°リー
」匁 二の発明の笑胞(SyA+虫袋!の一例の説明図晴  
簡 (廿) 浄以、め−)!外電4fiの灸イ乙の盲定明図II2図 手続補正書 昭和62年3月5日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)無電解めっきの初期析出を行うに当り、無電解め
    っき浴中に被めっき体の他にアノード電極を設置し、そ
    れぞれ設置されたアノード電極及び被めっき体間に初期
    析出開始のための電圧を印加することを特徴とする無電
    解めっきの初期析出方法。
JP9253786A 1986-04-22 1986-04-22 無電解めつきの初期析出方法 Pending JPS62250178A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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