JPS62232218A - ドミノ形mos論理ゲ−ト - Google Patents

ドミノ形mos論理ゲ−ト

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JPS62232218A
JPS62232218A JP62069241A JP6924187A JPS62232218A JP S62232218 A JPS62232218 A JP S62232218A JP 62069241 A JP62069241 A JP 62069241A JP 6924187 A JP6924187 A JP 6924187A JP S62232218 A JPS62232218 A JP S62232218A
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JP
Japan
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transistor
logic
network
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precharge
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JP62069241A
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English (en)
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アルマン・ゲレン
ミシェル・ランフランカ
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Koninklijke Philips NV
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • H03K19/01728Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in synchronous circuits, i.e. by using clock signals
    • H03K19/01742Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in synchronous circuits, i.e. by using clock signals by means of a pull-up or down element
    • HELECTRICITY
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    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00323Delay compensation
    • HELECTRICITY
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    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/096Synchronous circuits, i.e. using clock signals
    • H03K19/0963Synchronous circuits, i.e. using clock signals using transistors of complementary type

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、入力データを受け、第2導電形のMO5前充
電(precharging)  トランジスタと第1
導電形のMOS確認(validatio口)トランジ
スタとのソース−ドレイン通路を夫々経て第1電圧源と
第2電圧源の間に接続された第1導電形のMOSトラン
ジスタより成り、前記の前充電トランジスタと確認トラ
ンジスタの制御電極は、第1論理信号の時には論理ゲー
トの出力を前充電レベルに前充電しまた第2論理信号の
時には出力での論理出力信号の読出しを可能にするクロ
ックパルスを共に受けるようにした論理回路網を有する
ドミノ(Dom i no)形MOS論理ゲートに関す
るものである。
米国特許第3.551.693号では、論理ゲートの出
力に前充電を与えるためにクロックパルスが用いられて
いる。実際には、クロック信号が低レベルにある時には
、従来技術ではp−MOS形である前記の前充電トラン
ジスタは導通となり、従来技術ではn−MOS形である
前記の確認トランジスタは非導通となり、論理ゲートの
出力を高レベルに前充電させる。クロック信号が高レベ
ルにあると、n−MOS確認トランジスタは導通となり
、p−MOS前充電トランジスタは非導通となる。その
場合、論理回路網が導通状態にあると、論理ゲートの出
力は状態を低レベルに変え、一方論理回路網が導通状態
でない場合は論理ゲートの出力は高レベルのま5でいる
。論理MOSゲートの正しい動作は、データが、各クロ
ックパルスにおいてクロック信号が高レベルに上る以前
に確立されているということを前提としている。実際に
は、データの状態の変化が遅延して行われ、この結果論
理回路網が成る時間の間誤って導電状態に保たれると、
出力を高レベル状態に前充電する効果が完全にまたは部
分的に失われ、論理回路網が非導通になった時に論理ゲ
ートが低レベルのま5でいることがある。
本発明の目的は、1つの明確な入力または成る幾つかの
明確な入力がクロック信号の過度(前述の場合でいえば
クロック信号の高レベルへの上昇)の後迄確立されない
場合その出力を前記の誤りより保護し、出力信号の読出
しを可能にするようにした冒頭記載のタイプの論理ゲー
トを得ることにある。
この目的を達成するため、本発明は遅くすなわちクロッ
ク信号が第2論理レベルに変ってしまってから安定化さ
れる少なくとも1つの入力データに応答する前充電レベ
ルの望ましくない放電を阻止するために、前充電トラン
ジスタのソース−ドレイン通路と並列に、論理回路網の
少なくとも1つのトランジスタの論理相補を有する第2
導電形の副回路網を有し、この場合前記の少なくとも1
つのトランジスタが前記の遅く安定化される入力データ
を受け、副回路網は少なくともこの遅く安定化される入
力データを受け、またこの副回路網は論理回路網よりも
少ないトランジスタを有することを特徴とする。
本発明のドミノ形ゲートの一実施態様では、論理回路網
は、q個の入力を有するANDゲートを有し、このため
、前充電トランジスタとm1dトランジスタ間に直列に
接続された夫々のソース−ドレイン通路をもったq個の
トランジスタを有し、この際、X個のデータが遅く安定
化される場合、副回路網は前充電トランジスタと並列に
配設されたX個のトランジスタを有し、このX個のトラ
ンジスタの夫々は各制御電極に夫々遅く安定化される入
力データを受け、数Xは数qよりも小さい。
以下に本発明を図面を参照して実施例で更に詳しく説明
する。
第1図に示したドミノ形と呼ばれる公知のタイプのMO
S論理ゲートは、ドレインが正の供給電圧VCCに接続
されまたソースがn−MOS論理回路網1の第1論理端
子Aに接続された第1p−M OS前充電トランジスタ
T。と、更に、ドレインが前記の論理回路網1の第2論
理端子Bに接続され、ソースが負の供給電圧VSSに接
続された第2n  MO8確&忍トランジスタT。′と
を有する。
前記の論理回路網1は、データの値に応じて通路ABを
導通または非導通にするデータD1・・・ D。
をその入力に受ける。端子Aは論理ゲートの出力Sを構
成する。
トランジスタT。とTo′の制御電極はクロック信号φ
を受ける。この信号φがその低レベルの時はトランジス
タT0は導通でトランジスタTo’は非導通で、この結
果論理ゲートの出力Sは高レベルにある、すなわち通路
ABが導通であるか非導通であるかとは無関係に略々V
CCである。別の表現をすれば、出力Sは高レベルに前
充電される。
この論理ゲートは、その基本動作原理のために、クロッ
ク信号φが安定化される前に入力データが安定化された
時にだけ正しく作用することができる。実際には、デー
タD1・・・ D、の少なくとも1つ例えばD3が高ま
たは低状態に余りに遅く変化すると(第2図参照)、安
定化後は通路ΔBは非導通であるのに通路ABが一時的
に導通状態になって前充電されたレベルを全体的または
部分的に放電することがある。その結果、このことが前
充電の全部または一部の喪失を生じ、信号Sの存在が誤
りであることがある。第2図では、出力には高レベルが
見出されるべきなのに低レベルが得られる。
第4図と第5図は、論理入力信号D1・・・D。
を受ける多重入力ANDゲートの場合に対して前記のよ
うな誤りを無くする方法を示す。この場合論理信号D3
が遅く安定化するものとする。
従来の多重ANDゲート(第3図)は、端子AとBの間
に配設され、ドレイン−ソース通路が直列でその制御電
極に入力データD1・・・D、の夫々1つを受けるq個
のn−MOS形のトランジスタT1・・・T、で形成さ
れた論理回路網1を有する。p−MOS形トランジスタ
T3′(第4図)のソース−ドレイン通路がトランジス
タT。のソース−ドレイン通路と並列に接続され、論理
信号D3をその制御電極に受ける。第5図は現れた順の
信号のシーケンスを示す。この場合入力信号D+ 、 
D2 、 D3・・・Dqは通路ABを導通にする高レ
ベルにあり、D3だけが状態を高レベルより低レベルに
変えるものとする。D3はクロック信号φが高レベルに
なった後ではじめて安定化されるものとしているので、
通路ABは短時間tの間導通のま−で、一方トランジス
タT。′もまた導通である。この結果部分的か更には全
体的に前充電が失われることになる。出力信号Sはこの
場合低レベルに極めて近いレベルS0にある。一旦デー
タD3が安定化されるとトランジスタT3はカットオフ
され、通路ABは最早や導通でなくなり、一方トランジ
スタTl’は導通状態に調節される。この結果、出力S
は高レベルに戻り、出力レベルを正す。
若しデータD3が後で高レベルに状態を変えるものとす
れば、トランジスタT3は導通になりトランジスタT3
’はカットオフされる。出力Sは、データD3はクロッ
クパルスφが高レベルになってから高レベルになるので
、遅延tをもって低レベルに変る。したがって、出力S
におけるレベルは正しいが但し遅延tの後にはじめて役
に立つ。
第6図において、第3図のANDゲートは2つの遅く安
定化される入力データすなわちD2とD4を有するもの
とする。前充電の考えられ得る喪失の補償は、2つの直
列なトランジスタT2とT。
に論理的に相補なp形の副回路網をトランジスタToに
並列に配することによって実現される。この目的で、p
−MOS トランジスタT2’とp−MOSトランジス
タT4’のソース−ドレイン通路がトランジスタT。の
ソース−ドレイン通路と並列に配設され、この場合トラ
ンジスタT2’の制御電極とトランジスタT4/の制御
電極は夫々入力データD2とり、を受ける。ANDゲー
トの論理状態が次のような場合、すなわち、2つの入力
データD2とり、の一方の高レベルから低レベルへの変
化が通路ABを時期を失して導通にしやすく、このため
前充電の一部または全部の喪失をきたす恐れのある場合
には、トランジスタT2′とT47の一方かまたは他方
或はこれ等2つが一緒に、第4図と第5図について説明
したのと同様な状態で出力Sの高レベルへの上昇を可能
にする。
第7図は論理関数(D、 −O2・O3・・・D、)+
 Dl、、に相当する。この目的で、論理ゲートは、端
子AとBの間に第3図のように直列に配設されたn−M
OSトランジスタT+  、T2 、、、、T−の直列
副回路網を有し、これ等のトランジスタはその制御電極
に夫々の入力データD I + O2+・・・D、を受
ける。制御電極が入力データDq+1を受けるn−MO
Sトランジスタのソース−ドレイン通路は前記の直列の
副回路網に並列に接続される。
入力データD3とDqが安定化が遅いものとする。
正電圧■。、の供給端子の方向からみると、制御電極に
夫々入力データD3とり、を受ける2つのp−MOS 
トランジスタT3′とT、/の並列回路が、制御電極に
入力データTq+1を受けるp−MOSトランジスタT
q。1′と直列に、順次にトランジスタT。のソース−
ドレイン通路と並列に配設されている。D9+1 が低
レベルにあると、トランジスタT、。1は非導通状態で
トランジスタTq。1′は導通状態で、回路は第6図に
示した場合のように働く。これに反し、O9,1が高レ
ベルにあると、トランジスタTq+l は導通で、読出
モードの出力Sは低レベルにあり、一方、トランジスタ
T9゜1′は非導通で、トランジスタTo’が導通(高
レベルで0)の時にはトランジスタT3’とT、′が導
通状態か非導通状態であるかには無関係に供給電圧VC
CとVSS間のあらゆる短絡を阻止する。
第8図は論理関数り、 −O2・O3・D、・D、・(
DB+D? )を示す。端子AとBの間には、制御電極
に各入力データD、−D5を受ける5つのn−MOS 
トランジスタT、−T5のソース−ドレイン通路の直列
回路があり、これ等のソース−ドレイン通路は、2つの
トランジスタT6とT7の並列なソース−ドレイン回路
と直列に接続される。
入力データD3とO6が極めて遅く安定化されるものと
する。この場合、相補的な補正副回路網は、トランジス
タT。のソース−ドレイン通路に並列に、2つのブラン
チを有する。このブランチの一方は、制御電極に入力デ
ータD3を受けるp−MOS トランジスタT3’のソ
ース−ドレイン通路より成り、他方のブランチは、制御
電極に夫々の入力データD6とO7を受ける2つのp−
M、O3トランジスタTS’とT?’の直列のソース−
ドレイン通路より成る。
入力データD7が低レベルにある場合はトランジスタT
7は非導通でトランジスタTV’は導通である。すべて
これは第6図(q=6)の場合と同様である。入力デー
タD、が高レベルにあるとトランジスタT7は導通状態
でトランジスタT。
′は非導通状態である。このようにして、正の供給電圧
VCCと負の供給電圧VSS間の短絡のあらゆる危険が
避けられる。
第9図は論理関数(D、・O2・O3・O4・D、・O
6)+(Dt・D、)の場合を示す。
この目的で、論理データは端子AとBの間に2つの直列
ブランチの並列回路を有する。第1直列ブランチは、夫
々の制御電極が夫々の入力データD、−D6を受ける6
つのn−MOSトランジスタT、−T、のソース−ドレ
イン通路より成る。
第2直列ブランチは夫々の制御電極が夫々の入力データ
D、とO8を受ける2つのn−MOSトランジスタのソ
ース−ドレイン通路より成る。データD3とO6が極め
て遅く安定化されるものとする。トランジスタT0のソ
ース−ドレイン通路と並列に接続されたp−MOS形補
償副回路網はトランジスタT3.Te 、T7およびT
8で形成されたイマジナリイ(imaginary) 
 n −M OSイマジナリイ副回路網のp−MOSで
の相補回路網で、この場合トランジスタT、、T2.T
、およびT5は考慮されない。この目的で、p−MOS
副回路網は2つの並列p−MOSトランジスタの2つの
グループを有し、これ等の2つのグループは直列に接続
されている。第1グループは2つのトランジスタT3’
とT6′のソース−ドレイン通路を有し、これ等のトラ
ンジスタの制御電極は夫々入力データD3とO6を受け
る。入力データD3 とO6が極めて遅く安定化するも
のとする。データD、とO8が同時に高レベル状態にな
ければ、第2直列ブランチはブロックされ、すべてが第
6図(q=6)に示した場合と同様に進行する。
データD7とD8が同時に高レベル状態にあれば、第2
直列ブランチは導通でトランジスタTt’とT8/はカ
ットオフされ、トランジスタT3’とT。′が同時に導
電状態の時に供給電圧VCCとVSSの間の短絡のあら
ゆる可能性が阻止される。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のドミノ形MOS論理ゲートのブロック回
路図、 第2図は入力データが遅れて安定化された場合の望まし
くない放電現象の図解説明図、第3図は従来の多重入カ
ドミノ形ANDゲートの回路図、 第4図はデータD、が遅く安定化される場合に対する本
発明の論理ゲートの実施例の回路図、第5図は得られる
信号のシーケンスを示す線図、第6図はデータD2とD
4が遅く安定化される場合に対する本発明の論理ゲート
の実施例の回路図、 第7図は論理関数(D、・D2・D3・・・D、)+ 
Dq++ に相当する本発明の論理ゲートの実施例の回
路図、 第8図は論理関数D1・D2・D3・D、・D、・(D
e+Dt )に相当する本発明の論理ゲートの実施例の
回路図、 第9図は論理関数(DI’D2・D3・D、・D5・D
6)+(D?・D、)に相当する本発明の論理ゲートの
実施例の回路図である。 1・・・n−MOS論理回路網 A・・・第1論理端子 B・・・第2論理端子 D1〜D a + Dq + Dq++・・・入力デー
タS・・・論理ゲート出力 To・・・p−MOS前充電トランジスタTo’・・・
n−MOS確S忍トランジスタT、〜T、、T9.T、
。1 ・・・n−MOSトランジスタ T2′〜T、/、T6/〜T 8 ’ r Tq ’ 
+ Tq+1′・・・p−MOSトランジスタ VCC・・・正供給電圧 VSS・・・負供給電圧 φ・・・クロックパルス 特許出願人   エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、入力データを受け、第2導電形のMOS前充電トラ
    ンジスタと第1導電形のMOS確認トランジスタとのソ
    ース−ドレイン通路を夫々経て第1電圧源と第2電圧源
    の間に接続された第1導電形のMOSトランジスタより
    成り、前記の前充電トランジスタと確認トランジスタの
    制御電極は、第1論理信号の時には論理ゲートの出力を
    前充電レベルに前充電しまた第2論理信号の時には出力
    での論理出力信号の読出しを可能にするクロックパルス
    を共に受けるようにした論理回路網を有するドミノ形M
    OS論理ゲートにおいて、遅くすなわちクロック信号が
    第2論理レベルに変ってしまってから安定化される少な
    くとも1つの入力データに応答する前充電レベルの望ま
    しくない放電を阻止するために、前充電トランジスタの
    ソース−ドレイン通路と並列に、論理回路網の少なくと
    も1つのトランジスタの論理相補を有する第2導電形の
    MOS副回路網を有し、この場合前記の少なくとも1つ
    のトランジスタが前記の遅く安定化される入力データを
    受け、副回路網は少なくともこの遅く安定化される入力
    データを受け、またこの副回路網は論理回路網よりも少
    ないトランジスタを有することを特徴とするドミノ形M
    OSS論理ゲート。 2、論理回路網は、q個の入力を有するANDゲートを
    有し、このため、前充電トランジスタと確認トランジス
    タ間に直列に接続された夫々のソース−ドレイン通路を
    もったq個のトランジスタを有し、この際、x個のデー
    タが遅く安定化された場合、副回路網は前充電トランジ
    スタと並列に配設されたx個のトランジスタを有し、こ
    のx個のトランジスタの夫々は各制御電極に夫々遅く安
    定化される入力データを受け、数xは数qよりも小さい
    特許請求の範囲第1項記載のドミノ形MOS論理ゲート
    。 3、第1論理レベルは低レベル、第2論理レベルは高レ
    ベル、第1導電形はn−チャネル形および第2導電形は
    p−チャネル形である特許請求の範囲第1項または第2
    項記載のドミノ形MOS論理ゲート。
JP62069241A 1986-03-28 1987-03-25 ドミノ形mos論理ゲ−ト Pending JPS62232218A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8604504A FR2596595B1 (fr) 1986-03-28 1986-03-28 Porte logique mos du type domino
FR8604504 1986-03-28

Publications (1)

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JPS62232218A true JPS62232218A (ja) 1987-10-12

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ID=9333663

Family Applications (1)

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US (1) US4780626A (ja)
EP (1) EP0240061B1 (ja)
JP (1) JPS62232218A (ja)
DE (1) DE3779786T2 (ja)
FR (1) FR2596595B1 (ja)

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