JPS62229875A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPS62229875A JPS62229875A JP61071435A JP7143586A JPS62229875A JP S62229875 A JPS62229875 A JP S62229875A JP 61071435 A JP61071435 A JP 61071435A JP 7143586 A JP7143586 A JP 7143586A JP S62229875 A JPS62229875 A JP S62229875A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は、たとえば密着型イメージセンサ等の光電変換
装置に関する。
装置に関する。
(従来の技術)
一般に、密着型イメージセンサは、第3図に示すにうに
、ガラス基板1上に出力電極2が形成され、この上に光
電変換膜3a、さらに絶縁性透明電極3bが形成され、
ざらにこの−ヒにバイアス電圧が印加される透明電極4
が形成され、そしてこれらを覆うように形成された透明
の封止樹脂5上に保護ガラス板6が封着された構造とさ
れている。
、ガラス基板1上に出力電極2が形成され、この上に光
電変換膜3a、さらに絶縁性透明電極3bが形成され、
ざらにこの−ヒにバイアス電圧が印加される透明電極4
が形成され、そしてこれらを覆うように形成された透明
の封止樹脂5上に保護ガラス板6が封着された構造とさ
れている。
そして保護ガラス板6面上から入射された光がこの保護
ガラス板6、封止樹脂5、透明電極4および絶縁性透明
電極3bを介して光電変換膜3aに入射され、この光電
変換膜3aで光電変換された出力信号が出力電極2を介
して外部に出力されるにうになっている。
ガラス板6、封止樹脂5、透明電極4および絶縁性透明
電極3bを介して光電変換膜3aに入射され、この光電
変換膜3aで光電変換された出力信号が出力電極2を介
して外部に出力されるにうになっている。
(発明が解決しようとする問題点)
ところでこの密着型イメージセン1月こ入射ざれる光が
保護ガラス板6、封止樹脂5、透明電極4および絶縁性
透明電極3bを介して光電変換膜3aに入射される間に
、これらの各層の境界面において光反射が生じ、この光
電変換素子3に入射される光量が減衰し、光感度に悪影
響を及ぼすことがおる。
保護ガラス板6、封止樹脂5、透明電極4および絶縁性
透明電極3bを介して光電変換膜3aに入射される間に
、これらの各層の境界面において光反射が生じ、この光
電変換素子3に入射される光量が減衰し、光感度に悪影
響を及ぼすことがおる。
特に上記した光反射は保護ガラス板6でその率が大きい
。
。
しかしながら、この保護ガラス板6は光電変換膜3aを
物理的および機械的に保護するために必要不可欠とされ
ており、従来からこれに変わる・bのを使用することは
困難とされている。
物理的および機械的に保護するために必要不可欠とされ
ており、従来からこれに変わる・bのを使用することは
困難とされている。
本発明は上記した事情に鑑みて創案されたもので、光感
度の良好な光電変換装置を提供することを目的としてい
る。
度の良好な光電変換装置を提供することを目的としてい
る。
[発明の構成]
(発明が解決しにうとする問題点)
すなわら本発明の光電変換装置は、基板と、この基板上
に配置された光電変換素子と、この光電変換素子を覆う
ように蒸着またはスパッタ等により形成された透明保護
膜とを具備している。
に配置された光電変換素子と、この光電変換素子を覆う
ように蒸着またはスパッタ等により形成された透明保護
膜とを具備している。
(作 用)
本発明の光電変換装置において、透明保護膜が、光電変
換素子を覆うように蒸着またはスパッタ等にJ、り形成
されているために、透明保護膜の屈折率と膜厚との選択
にJ:り光電変換素子に入射される光の反射率を制御す
ることができ、光感度を良好なものとすることができる
。
換素子を覆うように蒸着またはスパッタ等にJ、り形成
されているために、透明保護膜の屈折率と膜厚との選択
にJ:り光電変換素子に入射される光の反射率を制御す
ることができ、光感度を良好なものとすることができる
。
(実施例)
以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づいて説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例の密着型イメージセンサを示
す縦断正面図である。
す縦断正面図である。
同図に示すように、この密着型イメージセンサ−は、ガ
ラス基板7上に出力電極8が形成され、この上にアモル
ファスシリコン薄膜からなる光電変換膜9、さらにアモ
ルファスSiCag膜からなる絶縁性透明電極10が形
成され、ざらにこの上にバイアス電圧が印加される透明
電極11が形成され、そしてこれらを覆うようにSi0
2 ’;f9膜からなる透明保護膜12が形成されてな
る。
ラス基板7上に出力電極8が形成され、この上にアモル
ファスシリコン薄膜からなる光電変換膜9、さらにアモ
ルファスSiCag膜からなる絶縁性透明電極10が形
成され、ざらにこの上にバイアス電圧が印加される透明
電極11が形成され、そしてこれらを覆うようにSi0
2 ’;f9膜からなる透明保護膜12が形成されてな
る。
上記した透明電極11、絶縁性透明電極10は反則率が
略極小となるように屈折率n1、nlおよび膜厚d1、
d2が選択されている。
略極小となるように屈折率n1、nlおよび膜厚d1、
d2が選択されている。
つまり入射する光の波長をλとすると、dl−λ(2n
+1 > /4 n + ”” (−1’ >d2=λ
(2m+1 >/4r12 = (ロ)ただしβ=0.
1.2・・・ m=Q、”l、2・・・ とされている。
+1 > /4 n + ”” (−1’ >d2=λ
(2m+1 >/4r12 = (ロ)ただしβ=0.
1.2・・・ m=Q、”l、2・・・ とされている。
また上記した透明保護膜12は、蒸着ヤスバッタ等によ
り光反射率が略極小となるような膜厚で形成されており
、その屈折率も光反射率が略極小となるようなものに選
択されている。
り光反射率が略極小となるような膜厚で形成されており
、その屈折率も光反射率が略極小となるようなものに選
択されている。
すなわちこの透明保護膜12の屈折率をnとし、光反Q
l率をRとすると、 R= ((n3n+ 2no −nl 2n>/(n3
nl” no +n22n))”・・・・・・(ニ) no:空気の屈折率 となるため、上記式(ニ)における光反射率Rが略極小
となる屈折率nのものが選択されている。
l率をRとすると、 R= ((n3n+ 2no −nl 2n>/(n3
nl” no +n22n))”・・・・・・(ニ) no:空気の屈折率 となるため、上記式(ニ)における光反射率Rが略極小
となる屈折率nのものが選択されている。
そして膜厚dは、
d−λ(2に+1)/4n ・−・−値ホ)ただし
に=0,1.2・・・・・・・・・とされている。
に=0,1.2・・・・・・・・・とされている。
そしてこの密着型イメージセンサに入射された光は、透
明保護膜12、透明電極11おJ:び絶縁性透明用4f
!10を介して光電変換膜9に入射され、この光電変換
膜9により入射された光の強弱に応じた電気信号に変換
され出力電極8を介して外部に出力される。
明保護膜12、透明電極11おJ:び絶縁性透明用4f
!10を介して光電変換膜9に入射され、この光電変換
膜9により入射された光の強弱に応じた電気信号に変換
され出力電極8を介して外部に出力される。
その際、上記したように、透明像III!12は光反射
率が略極小となるような屈折率nおよび膜厚dで形成さ
れているために、光電変換rIrA9に入射する光の減
衰は微小となり、この密着型イメージセンサの光感度を
良好にすることができる。さらにこの透明保護膜12は
、蒸着ヤスバッタ等で形成されているために、その膜厚
dが容易に制御され形成される。
率が略極小となるような屈折率nおよび膜厚dで形成さ
れているために、光電変換rIrA9に入射する光の減
衰は微小となり、この密着型イメージセンサの光感度を
良好にすることができる。さらにこの透明保護膜12は
、蒸着ヤスバッタ等で形成されているために、その膜厚
dが容易に制御され形成される。
また、この透明保護膜12は0.8μm程度の薄膜にす
ることができ、この場合、光感度を良好にする他に、耐
湿性、耐薬品性、耐衝撃性等の保護膜としての機能−す
充分に確保される。
ることができ、この場合、光感度を良好にする他に、耐
湿性、耐薬品性、耐衝撃性等の保護膜としての機能−す
充分に確保される。
以下、本実施例におけるシュミレーション実験のデータ
を示す。
を示す。
上記した実施例において、
透明保護膜12の屈折率n=1゜47
透明電極11の屈折率n+=1.97
絶縁性透明電極10の屈折率n2=2.87光電変換P
/A9の屈折率r13=4.33とし、 透明保護膜12の膜厚d=λ/4n 透明電極11の膜厚dl=λ/4n1 絶縁性透明電極10の膜厚d2=λ/4n2の関係をλ
とdl、d2、d3との間に持たせる。
/A9の屈折率r13=4.33とし、 透明保護膜12の膜厚d=λ/4n 透明電極11の膜厚dl=λ/4n1 絶縁性透明電極10の膜厚d2=λ/4n2の関係をλ
とdl、d2、d3との間に持たせる。
(但し、λは可視領域波長とする。)
この場合のこの密着型イメージセンサの光反射率Rを算
出すると、 R=0.1% となる。
出すると、 R=0.1% となる。
従来の密着型イメージセンサでは、ガラス板を使用1−
るために、ガラス板表面にはすでに4%の光反射が存在
する。したがって、密着イメージセンサ仝体の反射率と
しては、少なくとも4%以上の反則率が存在することに
なる。
るために、ガラス板表面にはすでに4%の光反射が存在
する。したがって、密着イメージセンサ仝体の反射率と
しては、少なくとも4%以上の反則率が存在することに
なる。
本実施例の効果を確認するために、各種の密着型イメー
ジセンサを制作し、入射光の波長λを変化さけその反射
率を測定した。
ジセンサを制作し、入射光の波長λを変化さけその反射
率を測定した。
第2図はその結果を示すグラフである。
第2図における(ハ)は本実施例における密着型イメー
ジセンサの透明保護膜形成前の入射光の各波長λの反則
率を示し、(ニ)はその透明保護膜形成後の反射率を示
している。
ジセンサの透明保護膜形成前の入射光の各波長λの反則
率を示し、(ニ)はその透明保護膜形成後の反射率を示
している。
このグラフに示す結果から明らかなように、上記した実
施例のような透明保癌膜形を形成した密着型イメージセ
ンサは、光反射率が多くの入射光成長域で4%以下に低
下し、光電変換膜に入射される光は増大する。
施例のような透明保癌膜形を形成した密着型イメージセ
ンサは、光反射率が多くの入射光成長域で4%以下に低
下し、光電変換膜に入射される光は増大する。
なお、上述した実施例によれば透明保護膜は一層で形成
されていたが、本発明はこれに限定されることなく、こ
の透明保護膜を反射率が略極小となるように蒸着ヤスバ
ッタ等により二層以上に形成してもよい。また、透明保
護膜は化学気相成長法(C−V−D法)やスプレー法等
で形成しても良いのは言うまでもない。
されていたが、本発明はこれに限定されることなく、こ
の透明保護膜を反射率が略極小となるように蒸着ヤスバ
ッタ等により二層以上に形成してもよい。また、透明保
護膜は化学気相成長法(C−V−D法)やスプレー法等
で形成しても良いのは言うまでもない。
[発明の効果]
以上説明したように本発明の光電変換装置によれば、光
反射率を略極小にすることができるので、光感度を良好
にすることができる。
反射率を略極小にすることができるので、光感度を良好
にすることができる。
第1図は本発明の一実施例密着型イメージセンサを示す
縦断正面図、第2図は本実施例の密着型イメージセンサ
の効果を確認するために行なった実験の結果を示すグラ
フ、第3図は従来の密着型イメージセンナを示す縦断正
面図である。 7・・・・・・・・・ガラス基板 8・・・・・・・・・出力電極 9・・・・・・・・・光電変換膜 10・・・・・・絶縁性透明電極 11・・・・・・透明電極 12・・・・・・透明保護膜 出願人 株式会社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 入射光の波長 (nm) 第2図
縦断正面図、第2図は本実施例の密着型イメージセンサ
の効果を確認するために行なった実験の結果を示すグラ
フ、第3図は従来の密着型イメージセンナを示す縦断正
面図である。 7・・・・・・・・・ガラス基板 8・・・・・・・・・出力電極 9・・・・・・・・・光電変換膜 10・・・・・・絶縁性透明電極 11・・・・・・透明電極 12・・・・・・透明保護膜 出願人 株式会社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 入射光の波長 (nm) 第2図
Claims (4)
- (1)基板と、この基板上に配置された光電変換素子と
、少なくともこの光電変換素子を覆うように蒸着または
スパッタ等により形成された透明保護膜とを具備してい
ることを特徴とする光電変換装置。 - (2)前記透明保護膜は、光反射率が略極小となる屈折
率および膜厚で形成されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の光電変換装置。 - (3)前記透明保護膜は、一層からなることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項または第2項記載の光電変換装
置。 - (4)前記透明保護膜は、二層以上の積層からなること
を特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の
光電変換装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61071435A JPS62229875A (ja) | 1986-03-29 | 1986-03-29 | 光電変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61071435A JPS62229875A (ja) | 1986-03-29 | 1986-03-29 | 光電変換装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62229875A true JPS62229875A (ja) | 1987-10-08 |
Family
ID=13460453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61071435A Pending JPS62229875A (ja) | 1986-03-29 | 1986-03-29 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62229875A (ja) |
-
1986
- 1986-03-29 JP JP61071435A patent/JPS62229875A/ja active Pending
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