JPS6218825A - 光電検知装置 - Google Patents

光電検知装置

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Publication number
JPS6218825A
JPS6218825A JP15883485A JP15883485A JPS6218825A JP S6218825 A JPS6218825 A JP S6218825A JP 15883485 A JP15883485 A JP 15883485A JP 15883485 A JP15883485 A JP 15883485A JP S6218825 A JPS6218825 A JP S6218825A
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JP
Japan
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photodetection
light
light emitting
detected
emitting element
Prior art date
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Pending
Application number
JP15883485A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Sakai
秀彰 坂井
Minoru Inada
実 稲田
Masaharu Nakamura
正治 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Priority to JP15883485A priority Critical patent/JPS6218825A/ja
Publication of JPS6218825A publication Critical patent/JPS6218825A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の分野〉 この発明は発光素子と受光素子との間の被検知物体の有
無を検出する用に供される光電検知装置に関するもので
ある。
〈従来技術とその問題点〉 一般に、この種装置では、発光素子からの光を受光する
受光素子の受光量が一定値以下になれば、両者間に被検
知物体が存在するものとしてこれを検出するようになっ
ている。
ところで、受光素子の受光量は、発光量や受光能力で変
化し、とくに画素子のレンズ面に付着する塵埃等のため
に経時的に小さくなる傾向にある。
しかるに、従来のような受光素子の出力を絶対値で読み
とる方式においては、塵埃等の付着の程度によって受光
能力が変化しないように発光および受光素子の両レンズ
面を頻繁に清掃管理しないと、誤作動の要因となる。受
光量を検知してこれが少なくなると、それに応じて発光
量を増すようにフィードバック回路を設けたものも案出
されているが、回路構成が複雑となり、コスト高となる
〈発明の目的〉 この発明は上記従来のものの不具合を解消するためにな
されたもので、構成の複雑化を招(ことなく、検知精度
の安定化を図り得る光゛電検知装置を提供することを目
的としている。
〈発明の構成と効果〉 この発明に係る光゛電検知装置は、受光変化量を算出し
、これが一定値以上か否で被検知物体の有無を判別する
演算制御手段を設けたことを特徴とするものである。
この発明においては、受光変化量で物体の有無を判断す
るため、発光および受光条件の変化に左右されることな
く、適確に被検知物体を検出することができる。
〈実施例の説明〉 第1図はこの発明に係る光電検知装置の一例を示すブロ
ック図である。
同図において、1は発光ダイオードのような発光素子、
2はフォトトランジスタのような受光素子であり、両者
1,2でフォトセンサ3を構成している。4は受光素子
2に第1の増幅器5を介して接続されたム/D変換器で
ある。6は演算制御回路、たとえば中央処理装置(CP
U)であり、受光素子2の受光変化量(第2図のb /
 a )を算出するとともに、これが一定値以上の場合
に発光素子1と受光素子2との間に被検知物体Mが存在
していると判定するものである。7は02口6からの判
定出力を増幅して出力端子8に送出する第2の増幅器、
9は第3の増幅器である。
つぎに、上記構成の動作を第3図のフローチャートを参
照して説明する。
装置の電源が投入されれば(判断ステップn1)、発光
素子1が点灯しく処理ステップI】2)、受光素子2は
発光素子1からの光を受光する(処理ステップn3)。
上記発光素子1と受光素子2との間に被検知物体五(が
介在すると、上記受光素子2からの受光量が低下する。
CPU6で上記受光素子2からの受光出力に変化があれ
ば(判断ステップn4)、受光変化量b / aを算出
し、この値が一定値以上であるか否かを判断する(判断
ステップ4n5)。CPU6は上記b / aの値が一
定値以とであれば、上記被検知物体Mが存在しているも
のと・して、第2の増幅器7を介して出力端子8に検知
出力を送出する(処理ステップn6)。
上記発光素子1の発光1が低下したり、発゛光および受
光素子1,2のレンズ面に塵埃等が付着して経時的に受
光能力が低下した場合でも、上記OPσ6は受光出力の
変化時に1)/a≧一定値を演算するため、上記受光等
条件く左右されることなく、被検知物体Mの有無を適確
に判別することができる。
ところで、電源投入前に上記発光素子1と受光素子2と
の間に被検知物体Mが介在していたり、レンズ面の汚れ
が著しい場合、と記受光変化量b / aを算出できな
くなる。このため、一定の受光レベルC(第2図)を設
定しておき、受光素子2が発光素子1からの光を受光す
る際にCPU6で上記受光レベルCを検出させるように
すればよい。すなわち、第4図のように、0PU6で受
光レベルが一定値C以上であるか否かを判別しく判断ス
テップn41)、一定位置との場合に前記のチェックシ
ーケンスを行なわせればよい。受光レベルが一定値未満
であれば、電源投入前から発光素・子1と受光素子2と
の間に被検知物体Mが存在したり、レンズ面の汚れが著
しい異常状態として異常表示手段(図示せず)等で表示
させればよい(処理ステップn42)。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る光電検知装置の一例を示すブロ
ック図、第2図は受光変化量等の説明図、第3図はこの
発明の動作説明用のフローチャート、第4図はこの発明
の変形例の動作説明用のフローチャートである。 1・・・発光素子、2・・・受光素子、6・・・演算制
御手段、M・・・被検知物体。 特 許 出 願 人   立石電機株式会社代理人弁理
士  雑波 1英A:、:、”、“7I (外1名)− 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発光素子と受光素子との間の被検知物体の有無を
    検出する光電検知装置において、受光素子からの受光変
    化量を算出してその値が一定値以上か否かで上記被検知
    物体の有無を判別する演算制御手段を備えたことを特徴
    とする光電検知装置。
JP15883485A 1985-07-18 1985-07-18 光電検知装置 Pending JPS6218825A (ja)

Priority Applications (1)

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JP15883485A JPS6218825A (ja) 1985-07-18 1985-07-18 光電検知装置

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JP15883485A JPS6218825A (ja) 1985-07-18 1985-07-18 光電検知装置

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Publication Number Publication Date
JPS6218825A true JPS6218825A (ja) 1987-01-27

Family

ID=15680410

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15883485A Pending JPS6218825A (ja) 1985-07-18 1985-07-18 光電検知装置

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JP (1) JPS6218825A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0391667A (ja) * 1989-08-31 1991-04-17 Sanyo Electric Co Ltd 製氷機
JP2007013557A (ja) * 2005-06-30 2007-01-18 Sunx Ltd 光電センサ

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5734911A (en) * 1980-08-08 1982-02-25 Konoikegumi Kk Manufacture of mortar with high strength and concrete

Patent Citations (1)

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