JPH06117822A - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
- Publication number
- JPH06117822A JPH06117822A JP29197092A JP29197092A JPH06117822A JP H06117822 A JPH06117822 A JP H06117822A JP 29197092 A JP29197092 A JP 29197092A JP 29197092 A JP29197092 A JP 29197092A JP H06117822 A JPH06117822 A JP H06117822A
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- JP
- Japan
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- light
- output level
- photodetector
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- measured
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 発光器や受光器の汚れの付着や性能劣化等に
よって受光器の出力レベルが低下すると予め設定した判
別値での測定では正確な測定結果が得られない。本発明
はこのような問題点を解決した光学的測定装置を開発す
ることを目的とする。 【構成】 被測定物３の大きさを判別するコントロ−ラ
５０に、被測定物３の非通過状態における受光器２の出
力レベルと、予め定めた補正係数ｋとを乗じて判別値
ｂ’を算出し、この判別値ｂ’に応じて予め設定された
判別値ｂを補正する構成としてある。
よって受光器の出力レベルが低下すると予め設定した判
別値での測定では正確な測定結果が得られない。本発明
はこのような問題点を解決した光学的測定装置を開発す
ることを目的とする。 【構成】 被測定物３の大きさを判別するコントロ−ラ
５０に、被測定物３の非通過状態における受光器２の出
力レベルと、予め定めた補正係数ｋとを乗じて判別値
ｂ’を算出し、この判別値ｂ’に応じて予め設定された
判別値ｂを補正する構成としてある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被測定物の大きさを
光学的に測定する装置に関し、特に、対向させて配置し
た光源と受光器との間に被測定物を通過させ、その通過
中における受光器の出力レベルを測定して被測定物の大
きさを判別する光学的測定装置に関する。
光学的に測定する装置に関し、特に、対向させて配置し
た光源と受光器との間に被測定物を通過させ、その通過
中における受光器の出力レベルを測定して被測定物の大
きさを判別する光学的測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来におけるこの種の光学的測定装置を
図４に示す。１は測定光を投光するＬＥＤなどの光源、
２は一定面積の受光面２ａを有するフォト・ダイオ−ド
などの受光器である。上記した光源１と受光器２とは、
受光器２の受光面２ａを光源１に対向させるようにして
配置されている。受光器２は光源１からの光を受光して
光電変換信号を出力し、この光電変換信号は受光器２の
受光面２ａ全体の出力レベル信号として図示しないコン
トロ−ラに入力される。
図４に示す。１は測定光を投光するＬＥＤなどの光源、
２は一定面積の受光面２ａを有するフォト・ダイオ−ド
などの受光器である。上記した光源１と受光器２とは、
受光器２の受光面２ａを光源１に対向させるようにして
配置されている。受光器２は光源１からの光を受光して
光電変換信号を出力し、この光電変換信号は受光器２の
受光面２ａ全体の出力レベル信号として図示しないコン
トロ−ラに入力される。
【０００３】この測定装置は、上記した光源１と受光器
２との間に被測定物３を通過させ、その通過中における
受光器２の出力レベルを検出し、上記コントロ−ラにお
いて、この出力レベルとコントロ−ラに設定されている
被測定物３の判別値（しきい値）とを比較して、この比
較結果に基づき被測定物３の大きさを判別する。
２との間に被測定物３を通過させ、その通過中における
受光器２の出力レベルを検出し、上記コントロ−ラにお
いて、この出力レベルとコントロ−ラに設定されている
被測定物３の判別値（しきい値）とを比較して、この比
較結果に基づき被測定物３の大きさを判別する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記した測定装置は、
光源１の発光面や受光器２の受光面２ａに汚れなどが付
着したり、光源１や受光器２が劣化したりすると、受光
器２の出力レベルが低下してしまい、被測定物３の大き
さを正確に測定することができなくなるという問題があ
る。
光源１の発光面や受光器２の受光面２ａに汚れなどが付
着したり、光源１や受光器２が劣化したりすると、受光
器２の出力レベルが低下してしまい、被測定物３の大き
さを正確に測定することができなくなるという問題があ
る。
【０００５】なぜならば、光源１からの光が弱くなった
り、受光器２の受光感度が悪くなったりして受光器２の
受光レベルが低下すると、被測定物３の通過中に測定し
た出力レベルも相対的に低下したものとなり、このよう
な出力レベルを一定の判別値と比較しても正確な結果を
得ることができないからである。
り、受光器２の受光感度が悪くなったりして受光器２の
受光レベルが低下すると、被測定物３の通過中に測定し
た出力レベルも相対的に低下したものとなり、このよう
な出力レベルを一定の判別値と比較しても正確な結果を
得ることができないからである。
【０００６】本発明は上記した問題点にかんがみ、光源
や受光器の劣化などによって受光器の出力レベルが低下
した場合に、この出力レベルの低下に対応させて判別値
を変化させて正確な測定結果を得るようにした光学的測
定装置を開発することを目的とする。
や受光器の劣化などによって受光器の出力レベルが低下
した場合に、この出力レベルの低下に対応させて判別値
を変化させて正確な測定結果を得るようにした光学的測
定装置を開発することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、測定光を投光する光源と、この光源に
対向させて配置し、上記測定光を受光して光電変換信号
を出力させるようにした受光器と、これら光源と受光器
との間を通過する被測定物に応じて受光器が出力する光
電変換信号と予め定めた被測定物の判別値とを比較し、
この比較結果に基づいて被測定物の大きさを判別するコ
ントロ−ラとを備えた光学的測定装置において、上記コ
ントロ−ラは、被測定物の非通過状態における受光器の
出力レベルを検出することによって、この出力レベルに
予め設定した補正係数を乗じて新たな判別値を算出し、
この算出により判別値を補正する演算手段を備えたこと
を特徴とする光学的測定装置を提案する。
め、本発明では、測定光を投光する光源と、この光源に
対向させて配置し、上記測定光を受光して光電変換信号
を出力させるようにした受光器と、これら光源と受光器
との間を通過する被測定物に応じて受光器が出力する光
電変換信号と予め定めた被測定物の判別値とを比較し、
この比較結果に基づいて被測定物の大きさを判別するコ
ントロ−ラとを備えた光学的測定装置において、上記コ
ントロ−ラは、被測定物の非通過状態における受光器の
出力レベルを検出することによって、この出力レベルに
予め設定した補正係数を乗じて新たな判別値を算出し、
この算出により判別値を補正する演算手段を備えたこと
を特徴とする光学的測定装置を提案する。
【０００８】また、上記した光学的測定装置は、上記補
正係数が、被測定物の判別値を被測定物の非通過時の出
力レベルで除算した値となっている。
正係数が、被測定物の判別値を被測定物の非通過時の出
力レベルで除算した値となっている。
【０００９】
【作用】この測定装置は、光源と受光器とを対向させて
配置し、光源と受光器との間に被測定物を通過させる。
被測定物の通過中における受光器の出力レベルは、受光
器の受光面を被測定物でさえぎることによって光量が減
少する分低下する。このように受光器から出力する光電
変換信号はコントロ−ラに取り込まれ、このコントロ−
ラにおいて、予め設定した被測定物の判別値と比較さ
れ、この比較結果に基づいて被測定物の大きさが判別さ
れる。
配置し、光源と受光器との間に被測定物を通過させる。
被測定物の通過中における受光器の出力レベルは、受光
器の受光面を被測定物でさえぎることによって光量が減
少する分低下する。このように受光器から出力する光電
変換信号はコントロ−ラに取り込まれ、このコントロ−
ラにおいて、予め設定した被測定物の判別値と比較さ
れ、この比較結果に基づいて被測定物の大きさが判別さ
れる。
【００１０】上記したコントロ−ラの演算手段は、被測
定物の非通過状態における受光器の出力レベルを検出
し、この出力レベルに予め設定した補正係数を乗じて新
たな出力レベルを算出し、このように算出した判別値に
したがって判別値の補正を行なう。上記した補正係数
は、被測定物の判別値を、被測定物の非通過時の出力レ
ベルで除算した値となっている。
定物の非通過状態における受光器の出力レベルを検出
し、この出力レベルに予め設定した補正係数を乗じて新
たな出力レベルを算出し、このように算出した判別値に
したがって判別値の補正を行なう。上記した補正係数
は、被測定物の判別値を、被測定物の非通過時の出力レ
ベルで除算した値となっている。
【００１１】このように構成した測定装置は、電源投入
時等、受光器の動作初期などにおいて、その出力レベル
にしたがって判別値を補正するので、受光器の出力レベ
ルが低下した場合でも、被測定物を正確に測定すること
ができる。
時等、受光器の動作初期などにおいて、その出力レベル
にしたがって判別値を補正するので、受光器の出力レベ
ルが低下した場合でも、被測定物を正確に測定すること
ができる。
【００１２】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面に沿っ
て説明する。なお、本実施例の説明の中で従来例と同一
部材については同一符号を付してその説明を省略してあ
る。
て説明する。なお、本実施例の説明の中で従来例と同一
部材については同一符号を付してその説明を省略してあ
る。
【００１３】図１は受光器２の出力レベルの特性図で、
横軸は被測定物３の大きさによる遮光度を、縦軸は受光
器２の出力レベルを各々示している。
横軸は被測定物３の大きさによる遮光度を、縦軸は受光
器２の出力レベルを各々示している。
【００１４】一点鎖線で表わした直線Ａは、発光器や受
光器の劣化がなく、発光器の投光部、受光器の受光部に
汚れなどが付着していない状態（初期状態）での受光器
２の出力特性を示すもので、実線で表わした直線Ｂは受
光レベルが低下した受光器２の出力特性を示したもので
ある。
光器の劣化がなく、発光器の投光部、受光器の受光部に
汚れなどが付着していない状態（初期状態）での受光器
２の出力特性を示すもので、実線で表わした直線Ｂは受
光レベルが低下した受光器２の出力特性を示したもので
ある。
【００１５】上記した出力特性Ａ、Ｂを比較すると、受
光器２の動作初期、すなわち、電源投入直後などのよう
に、被測定物３の非通過状態においては出力レベルが、
各々ａ、ａ’であり、予め定めた判定点をＰ、Ｐ’とす
ると、その時の出力レベルは各々ｂ、ｂ’である。そし
て、これらの比ｂ／ａ及びｂ’／ａ’は受光面２ａを被
測定物３が遮光している割合であり、この比は一定とな
る。つまり、ｂ／ａ＝ｂ’／ａ’＝ｋとなる。
光器２の動作初期、すなわち、電源投入直後などのよう
に、被測定物３の非通過状態においては出力レベルが、
各々ａ、ａ’であり、予め定めた判定点をＰ、Ｐ’とす
ると、その時の出力レベルは各々ｂ、ｂ’である。そし
て、これらの比ｂ／ａ及びｂ’／ａ’は受光面２ａを被
測定物３が遮光している割合であり、この比は一定とな
る。つまり、ｂ／ａ＝ｂ’／ａ’＝ｋとなる。
【００１６】これより、受光器２の初期状態における出
力特性Ａから受光レベルが低下した受光器２の判別値を
計算によって求めることができる。すなわち、上記した
比ｂ／ａ＝ｋを補正係数として定め、受光レベルが低下
した受光器２の動作初期における出力レベルａ’を検出
し、この出力レベルａ’にｋを乗じることにより前述し
たｂ’が算出される。このｂ’は当初の判別値ｂに対
し、出力レベルが低下した割合だけ相対的に変化した値
であり、これより出力レベルが低下した受光器２で判別
する時のその判別値とすることができる。
力特性Ａから受光レベルが低下した受光器２の判別値を
計算によって求めることができる。すなわち、上記した
比ｂ／ａ＝ｋを補正係数として定め、受光レベルが低下
した受光器２の動作初期における出力レベルａ’を検出
し、この出力レベルａ’にｋを乗じることにより前述し
たｂ’が算出される。このｂ’は当初の判別値ｂに対
し、出力レベルが低下した割合だけ相対的に変化した値
であり、これより出力レベルが低下した受光器２で判別
する時のその判別値とすることができる。
【００１７】図２は本発明の一実施例を示すブロック図
である。この測定装置は、コントロ−ラ５０に光源１の
ドライバ５１を接続し、コントロ−ラ５０によりドライ
バ５１を制御して光源１を発光させる構成としてある。
である。この測定装置は、コントロ−ラ５０に光源１の
ドライバ５１を接続し、コントロ−ラ５０によりドライ
バ５１を制御して光源１を発光させる構成としてある。
【００１８】コントロ−ラ５０は装置の動作直後におい
ての受光器２の出力レベルａ’を検出する。これは、光
源１と受光器２との間に被測定物３が存在しない状態で
検出される。この出力レベルａ’の光電変換信号は受光
器２の受光アンプ５２からコントロ−ラ５０に入力され
る。この出力レベルａ’の検出は、一定の時間間隔をお
いて数回実施し、受光器２の安定した出力レベルの値が
用いられる。
ての受光器２の出力レベルａ’を検出する。これは、光
源１と受光器２との間に被測定物３が存在しない状態で
検出される。この出力レベルａ’の光電変換信号は受光
器２の受光アンプ５２からコントロ−ラ５０に入力され
る。この出力レベルａ’の検出は、一定の時間間隔をお
いて数回実施し、受光器２の安定した出力レベルの値が
用いられる。
【００１９】コントロ−ラ５０は上記した出力レベル
ａ’の信号が入力されると、予め設定した補正値ｋを乗
じて新たな判別値ｂ’を算出する。そして、この新たな
判別値ｂ’によって被測定物３の大きさを判別するため
に予め設定されている判別値ｂが補正される。
ａ’の信号が入力されると、予め設定した補正値ｋを乗
じて新たな判別値ｂ’を算出する。そして、この新たな
判別値ｂ’によって被測定物３の大きさを判別するため
に予め設定されている判別値ｂが補正される。
【００２０】つまり、判別値ｂは、初期状態における受
光器２の出力特性において定めた判定点Ｐの出力レベル
が設定されており、この判別値ｂが上記の如く受光器２
の出力レベルから算出した新たな判別値ｂに置き換えら
れる。
光器２の出力特性において定めた判定点Ｐの出力レベル
が設定されており、この判別値ｂが上記の如く受光器２
の出力レベルから算出した新たな判別値ｂに置き換えら
れる。
【００２１】この測定装置の判別動作は従来例と同様、
光源１と受光器２との間に被測定物３を通過させ、被測
定物３の通過中における受光器２の出力レベルを検出
し、この出力レベルと上記判別値ｂ’とを比較して、こ
の比較結果に基づき被測定物３の大きさを判別する。
光源１と受光器２との間に被測定物３を通過させ、被測
定物３の通過中における受光器２の出力レベルを検出
し、この出力レベルと上記判別値ｂ’とを比較して、こ
の比較結果に基づき被測定物３の大きさを判別する。
【００２２】このように構成した測定装置は、受光器２
における受光レベルの低下の割合に応じて判別値を変化
させて判別動作するので、光源１や受光器２に汚れが付
着していたり、また、光源１や受光器２が経年変化によ
って劣化して受光器２の出力レベルが低下した場合で
も、正確に判別動作を行なうことができるので、装置の
信頼性が大きく向上する。
における受光レベルの低下の割合に応じて判別値を変化
させて判別動作するので、光源１や受光器２に汚れが付
着していたり、また、光源１や受光器２が経年変化によ
って劣化して受光器２の出力レベルが低下した場合で
も、正確に判別動作を行なうことができるので、装置の
信頼性が大きく向上する。
【００２３】図３は周囲光の影響を避けるために、光源
１から変調光を投光させるようにした第２実施例を示す
ブロック図である。この実施例では受光アンプ５２から
出力される光電変換信号を同期検波回路５３と平滑回路
５４を介してコントロ−ラ５０に入力させる構成となっ
ている。
１から変調光を投光させるようにした第２実施例を示す
ブロック図である。この実施例では受光アンプ５２から
出力される光電変換信号を同期検波回路５３と平滑回路
５４を介してコントロ−ラ５０に入力させる構成となっ
ている。
【００２４】なお、上記した実施例の測定装置は、受光
器２の出力レベルａ’の出力限界値がコントロ−ラ５０
に設定してあり、出力レベルａ’がこの出力限界値以下
となると、コントロ−ラ５０によって被測定物３の測定
動作を停止させるように構成することができる。
器２の出力レベルａ’の出力限界値がコントロ−ラ５０
に設定してあり、出力レベルａ’がこの出力限界値以下
となると、コントロ−ラ５０によって被測定物３の測定
動作を停止させるように構成することができる。
【００２５】
【発明の効果】上記した通り、本発明に係る光学的測定
装置は、被測定物の判別値が受光器の出力レベルの変化
に伴って相対的に変化するので、光源や受光器に汚れが
付着したり、光源や受光器の劣化等によって受光器の受
光レベルが低下した場合でも、受光器の受光レベルに影
響されることなく、常に正確な測定を行なうことがで
き、信頼性の高い測定装置となる。
装置は、被測定物の判別値が受光器の出力レベルの変化
に伴って相対的に変化するので、光源や受光器に汚れが
付着したり、光源や受光器の劣化等によって受光器の受
光レベルが低下した場合でも、受光器の受光レベルに影
響されることなく、常に正確な測定を行なうことがで
き、信頼性の高い測定装置となる。
【図１】本発明に係る光学的測定装置に備えた受光器の
出力レベルを示す特性図である。
出力レベルを示す特性図である。
【図２】本発明にの一実施例を示す光学的測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図３】本発明の他の実施例を示す光学的測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図４】光学的測定装置の測定状態を示す簡略図であ
る。
る。
１ 光源 ２ 受光器 ２ａ 受光面 ３ 被測定物 ５０ コントロ−ラ ５１ ドライバ ５２ 受光アンプ
Claims (2)
- 【請求項１】 測定光を投光する光源と、この光源に対
向させて配置し、上記測定光を受光して光電変換信号を
出力させるようにした受光器と、これら光源と受光器と
の間を通過する被測定物に応じて受光器が出力する光電
変換信号と予め定めた被測定物の判別値とを比較し、こ
の比較結果に基づいて被測定物の大きさを判別するコン
トロ−ラとを備えた光学的測定装置において、上記コン
トロ−ラは、被測定物の非通過状態における受光器の出
力レベルを検出することによって、この出力レベルに予
め設定した補正係数を乗じて新たな判別値を算出し、こ
の算出により判別値を補正する演算手段を備えたことを
特徴とする光学的測定装置。 - 【請求項２】 上記補正係数が、被測定物の判別値を被
測定物の非通過時の出力レベルで除算した値であること
を特徴とする請求項（１）記載の光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29197092A JPH06117822A (ja) | 1992-10-07 | 1992-10-07 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29197092A JPH06117822A (ja) | 1992-10-07 | 1992-10-07 | 光学的測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06117822A true JPH06117822A (ja) | 1994-04-28 |
Family
ID=17775828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29197092A Pending JPH06117822A (ja) | 1992-10-07 | 1992-10-07 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06117822A (ja) |
-
1992
- 1992-10-07 JP JP29197092A patent/JPH06117822A/ja active Pending
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