JPS62148965A - 感光体 - Google Patents
感光体Info
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- JPS62148965A JPS62148965A JP22061686A JP22061686A JPS62148965A JP S62148965 A JPS62148965 A JP S62148965A JP 22061686 A JP22061686 A JP 22061686A JP 22061686 A JP22061686 A JP 22061686A JP S62148965 A JPS62148965 A JP S62148965A
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
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- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
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- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
庇31(7)刀阻茅野
本発明は感光体、特に電子写真感光体に関1j−る3、
誇米図束 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分Jは著しい
発展を続け、電子写真用感光体に乙(羊々な材料が開発
され実用化されてきた。
誇米図束 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分Jは著しい
発展を続け、電子写真用感光体に乙(羊々な材料が開発
され実用化されてきた。
従来用いられてきた電子写真感光体+4別の主なものと
しては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫
化カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスソリコン等の無
機物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン
、ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリ
フェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒ
ドラゾン化合物、スヂリル化合物、ピラゾリン化合物、
オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有
機物質が挙げられる。
しては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫
化カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスソリコン等の無
機物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン
、ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリ
フェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒ
ドラゾン化合物、スヂリル化合物、ピラゾリン化合物、
オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有
機物質が挙げられる。
また、その構成形態としては、これらの物質を単体で用
いる単層型構成、結着材中に分散させて用いるバインダ
ー型構成、機能別に電荷発生層と電荷輸送層とを設ける
積層型構成等が挙げられる。
いる単層型構成、結着材中に分散させて用いるバインダ
ー型構成、機能別に電荷発生層と電荷輸送層とを設ける
積層型構成等が挙げられる。
しかしながら、従来用いられてきた電子写真感光体材N
にはそれぞれ欠点があった。
にはそれぞれ欠点があった。
その一つとして人体への有害性が挙げられるが、前述し
たアモルファスソリコンを除く無機物質においては、何
れも好ましくない性質を持つものであった。
たアモルファスソリコンを除く無機物質においては、何
れも好ましくない性質を持つものであった。
また、電子写真感光体が実際に複写機内で用いられろた
めには、帯電、露光、現像、転写、除電、清掃等の苛酷
な環境条件に晒された場合においても、常に安定な性能
を維持している必要があるか、前述した有機物質におい
ては、何れも面1久性に乏しく、性能面での不安定要素
が多かった。
めには、帯電、露光、現像、転写、除電、清掃等の苛酷
な環境条件に晒された場合においても、常に安定な性能
を維持している必要があるか、前述した有機物質におい
ては、何れも面1久性に乏しく、性能面での不安定要素
が多かった。
そのような問題点を解決すべく、近イ「、感光体、特に
電子写真用感光体にプラズマ化学族iq法(以下、プラ
ズマCVD法という)により作製されたアモルファスシ
リコン(以下、a−81と略す)が採用されるに至って
いる。
電子写真用感光体にプラズマ化学族iq法(以下、プラ
ズマCVD法という)により作製されたアモルファスシ
リコン(以下、a−81と略す)が採用されるに至って
いる。
a−8i悪感光は種々の優れた特性を有する。しかしa
−3iは比誘電率εが12程度と大きいため、感光体と
して充分な表面電位を得るためには、本質的に最低25
μm程度の膜厚が必要であるという問題がある。a−8
t感光体は、プラズマCV l)法においては膜の堆積
速度が遅いため作製に長時間を要し、さらに均質な膜の
a−Siを得ることが作製時間が長くなる程難しくなる
。その結果、a−8i悪感光は白斑点ノイズ等の画像欠
陥が発生ずる確率が高く、さらに原料費が高いという欠
点等がある。
−3iは比誘電率εが12程度と大きいため、感光体と
して充分な表面電位を得るためには、本質的に最低25
μm程度の膜厚が必要であるという問題がある。a−8
t感光体は、プラズマCV l)法においては膜の堆積
速度が遅いため作製に長時間を要し、さらに均質な膜の
a−Siを得ることが作製時間が長くなる程難しくなる
。その結果、a−8i悪感光は白斑点ノイズ等の画像欠
陥が発生ずる確率が高く、さらに原料費が高いという欠
点等がある。
上記の欠点を改良するための種々の試みがなされている
が、本質的に膜厚をこれより薄くすることは好ましくな
い。
が、本質的に膜厚をこれより薄くすることは好ましくな
い。
一方、a−8i悪感光は基板とa−8iとの密着性、さ
らに耐コロナ性、耐環境性あるいは耐薬品性が悪いとい
った欠点も存在する。
らに耐コロナ性、耐環境性あるいは耐薬品性が悪いとい
った欠点も存在する。
そのような問題点を解消するため有機プラズマ重合膜を
a−8i悪感光のオーバーコート層あるいはアンダーコ
ート層として設ける事が提案されている。前者の例は、
例えば、特開昭51−214859号公報、特開昭51
−46130号公報あるいは特開昭50−20728号
公報等が知られており、後者の例は、例えば特開昭60
−63541号公報、特開昭59−13674.2号公
報、特開昭59−38753号公報、特開昭59−28
161号公報あるいは特開昭56−6044.7号公報
等が知られている。
a−8i悪感光のオーバーコート層あるいはアンダーコ
ート層として設ける事が提案されている。前者の例は、
例えば、特開昭51−214859号公報、特開昭51
−46130号公報あるいは特開昭50−20728号
公報等が知られており、後者の例は、例えば特開昭60
−63541号公報、特開昭59−13674.2号公
報、特開昭59−38753号公報、特開昭59−28
161号公報あるいは特開昭56−6044.7号公報
等が知られている。
有機プラズマ重合膜はエチレンガス、ベンゼン、芳香族
シラン等のあらゆる種類の有機化合物のガスから作製で
きること(例えばニー、ティ、ベル(A、T、Be1l
)、エム ジエン(M、 5hen)ら、ジャ−ナル・
オブ・アプライド・ポリマー・ザイエンス(Jouna
l of Applied Polymer 5cie
ncO)、第17巻、885−892頁(1973年)
等)が知られているが、従来の方法で作製した一I′T
機プラズマ重合膜は絶縁性を前提とした用途にlζRっ
て用いられている。従って、それらの膜は通常のポリエ
チレン膜のごと<10+6・Ωcyt程度の電気抵抗を
有する絶縁膜と考えられ、あるいは少なくともその様な
膜であるとの認識のもとに用いられていた。
シラン等のあらゆる種類の有機化合物のガスから作製で
きること(例えばニー、ティ、ベル(A、T、Be1l
)、エム ジエン(M、 5hen)ら、ジャ−ナル・
オブ・アプライド・ポリマー・ザイエンス(Jouna
l of Applied Polymer 5cie
ncO)、第17巻、885−892頁(1973年)
等)が知られているが、従来の方法で作製した一I′T
機プラズマ重合膜は絶縁性を前提とした用途にlζRっ
て用いられている。従って、それらの膜は通常のポリエ
チレン膜のごと<10+6・Ωcyt程度の電気抵抗を
有する絶縁膜と考えられ、あるいは少なくともその様な
膜であるとの認識のもとに用いられていた。
一方、近年半導体分野において、ダイヤモンド状炭素の
薄膜が提案されているが、その電荷輸送性については全
く知られていない。
薄膜が提案されているが、その電荷輸送性については全
く知られていない。
特開昭60−617’61号公報記載の技術(J、50
0人〜2μmのダイヤモンド状炭素絶縁膜を表面保護層
として被覆した感光体を開示している。
0人〜2μmのダイヤモンド状炭素絶縁膜を表面保護層
として被覆した感光体を開示している。
この炭素薄膜はa−8i悪感光の耐コロナ放電および機
械的強度を改良するためのものである。重合膜は非常に
薄く、電荷はトンネル効果により膜中を移動し、膜自体
電荷輸送能を必要としない。また、有機プラズマ重合膜
のキャリアー輸送性に関しては一切記載がないし、a−
8iの持つ前記した本質的問題を解決するものでない。
械的強度を改良するためのものである。重合膜は非常に
薄く、電荷はトンネル効果により膜中を移動し、膜自体
電荷輸送能を必要としない。また、有機プラズマ重合膜
のキャリアー輸送性に関しては一切記載がないし、a−
8iの持つ前記した本質的問題を解決するものでない。
特開昭51−214859号公報には、スチレンやアセ
チレン等の有機炭化水素モノマーをプラズマ重合により
厚さ5μm程度の有機透明膜をオーバーコート層として
被膜する技術が開示されているが、その層はa−9t感
光体の剥離、耐久性、ピンホール、生産効率を改良する
ものである。有機プラズマ重合膜のキャリアー輸送性に
関しては一切記載がないし、a−9iの持つ前記した本
質的問題を解決するものでない。
チレン等の有機炭化水素モノマーをプラズマ重合により
厚さ5μm程度の有機透明膜をオーバーコート層として
被膜する技術が開示されているが、その層はa−9t感
光体の剥離、耐久性、ピンホール、生産効率を改良する
ものである。有機プラズマ重合膜のキャリアー輸送性に
関しては一切記載がないし、a−9iの持つ前記した本
質的問題を解決するものでない。
特開昭51−46130号公報には、ポリ−N−ビニル
カルバゾール系の有機光半導体上にスチレンやエチレン
等の有機炭化水素モノマーを、グロー放電により、表面
に厚さ3μm〜0.001μmの有機プラズマ重合膜を
形成した感光体を開示している。この技術は、正帯電で
しか使用できなかったポリ−N−ビニルカルバゾール系
感光体を両極性帯電で使用可能にすることを目的とする
。
カルバゾール系の有機光半導体上にスチレンやエチレン
等の有機炭化水素モノマーを、グロー放電により、表面
に厚さ3μm〜0.001μmの有機プラズマ重合膜を
形成した感光体を開示している。この技術は、正帯電で
しか使用できなかったポリ−N−ビニルカルバゾール系
感光体を両極性帯電で使用可能にすることを目的とする
。
この膜は0.001〜3μmと非常に薄く、オーバーコ
ート的な保護膜として使用されろ。1F゛合膜は非常に
薄く、電荷輸送能を必要としないムのと考えられろ。ま
た、重合膜のギヤリアー輸送1!1に関しては一切記載
がない(7、a−3iの持っ1)IJ記した本質的問題
を解決するものでない。
ート的な保護膜として使用されろ。1F゛合膜は非常に
薄く、電荷輸送能を必要としないムのと考えられろ。ま
た、重合膜のギヤリアー輸送1!1に関しては一切記載
がない(7、a−3iの持っ1)IJ記した本質的問題
を解決するものでない。
特開昭50−20728号公報には、基数−Lに増感層
、有機光導電性電気絶縁体とを順次積層し、さらにその
−Lに厚さ01〜1μmのグ〔7−放電重合膜を形成す
る技術が開示されているが、この膜は湿式現像に耐える
ように表面を保護4′る[1的のものであり、オーバー
コート的に使用されろ3、重合膜は非常に薄く、電荷輸
送能を必′反としない1、また、重合膜のキャリアー輸
送性に関しては−・切記載がない(7、a −S iの
持つ前記しノコ本質的問題を解決するものでない。
、有機光導電性電気絶縁体とを順次積層し、さらにその
−Lに厚さ01〜1μmのグ〔7−放電重合膜を形成す
る技術が開示されているが、この膜は湿式現像に耐える
ように表面を保護4′る[1的のものであり、オーバー
コート的に使用されろ3、重合膜は非常に薄く、電荷輸
送能を必′反としない1、また、重合膜のキャリアー輸
送性に関しては−・切記載がない(7、a −S iの
持つ前記しノコ本質的問題を解決するものでない。
特開昭60−6354 ]号公報は、a−Siのアンダ
ーコート層に200人〜21tmのダイヤモンド状膜を
使用した感光体について開示しているが、その膜は基板
とa−8lの密着性を改;r?する1−1的の=7− ものである。重合膜は非常に薄くてよく、電荷は1−ン
ネル効果により膜中を移動する。
ーコート層に200人〜21tmのダイヤモンド状膜を
使用した感光体について開示しているが、その膜は基板
とa−8lの密着性を改;r?する1−1的の=7− ものである。重合膜は非常に薄くてよく、電荷は1−ン
ネル効果により膜中を移動する。
特開昭59−136742号公報には、基板上に約5μ
mの有機プラズマ重合膜、ソリコン膜を順次形成する半
導体装置が開示されている。しかし、その有機プラズマ
重合膜は、基板であるアルミニウムのa−8iへの拡散
を防止する目的のものであるが、その作製法、膜質等に
関しては一切記載がない。また、有機プラズマ重合膜の
ギヤリアー輸送性に関しても一切記載がないし、a−8
iの持つ+iQ記した本質的問題を解決するものでない
。
mの有機プラズマ重合膜、ソリコン膜を順次形成する半
導体装置が開示されている。しかし、その有機プラズマ
重合膜は、基板であるアルミニウムのa−8iへの拡散
を防止する目的のものであるが、その作製法、膜質等に
関しては一切記載がない。また、有機プラズマ重合膜の
ギヤリアー輸送性に関しても一切記載がないし、a−8
iの持つ+iQ記した本質的問題を解決するものでない
。
特開昭59−28161号公報には、基板上に有機プラ
ズマ重合膜、a−8iを順次形成した感光体が開示され
ている。有機プラズマ重合膜は、その絶縁性を利用した
アンダーコート層でありブロッキング層、接着層あるい
は剥離防止層として機能するものである。重合膜は非常
に薄くてよく、電荷はトンネル効果により膜中を移動し
、膜自体は電荷輸送能を必要としない。また、有機プラ
ズマ重合膜のギヤリアー輸送性に関しては一切記載がな
いし、a−3iの持つ前記した本質的問題を解決するも
のでない。
ズマ重合膜、a−8iを順次形成した感光体が開示され
ている。有機プラズマ重合膜は、その絶縁性を利用した
アンダーコート層でありブロッキング層、接着層あるい
は剥離防止層として機能するものである。重合膜は非常
に薄くてよく、電荷はトンネル効果により膜中を移動し
、膜自体は電荷輸送能を必要としない。また、有機プラ
ズマ重合膜のギヤリアー輸送性に関しては一切記載がな
いし、a−3iの持つ前記した本質的問題を解決するも
のでない。
特開昭59−38753号公報には酸素、窒素および炭
化水素の混合ガスからプラズマ重合により10〜100
人の打機プラズマ重合薄膜を形成し、その−1−にa−
8i層を成膜する技術が開示されている。有機プラズマ
重合膜は、その絶縁性を利用したアンダーコート層であ
りブ〔lラギング層あるいは剥離防止層として機能する
ものである。重合膜は非常に薄くてよく、電荷はl・ン
ネル効果により膜中を移動し、膜自体は電荷輸送能を必
要としない。また、有機プラズマ重合膜のキャリアー輸
送性に関しては一切記載がないし、a −S iの1!
1つ前記した本質的問題を解決するものでない3゜上述
したように、従来では絶縁性の有機プラズマ重合膜乃至
はダイヤモンド状膜をオーバーコート層乃至はアンダー
コート層に用いることが提案されているが、それらによ
る電荷の移動(、Jj J、(本釣にトンネル効果と電
気的絶縁破壊現象によるらのである。
化水素の混合ガスからプラズマ重合により10〜100
人の打機プラズマ重合薄膜を形成し、その−1−にa−
8i層を成膜する技術が開示されている。有機プラズマ
重合膜は、その絶縁性を利用したアンダーコート層であ
りブ〔lラギング層あるいは剥離防止層として機能する
ものである。重合膜は非常に薄くてよく、電荷はl・ン
ネル効果により膜中を移動し、膜自体は電荷輸送能を必
要としない。また、有機プラズマ重合膜のキャリアー輸
送性に関しては一切記載がないし、a −S iの1!
1つ前記した本質的問題を解決するものでない3゜上述
したように、従来では絶縁性の有機プラズマ重合膜乃至
はダイヤモンド状膜をオーバーコート層乃至はアンダー
コート層に用いることが提案されているが、それらによ
る電荷の移動(、Jj J、(本釣にトンネル効果と電
気的絶縁破壊現象によるらのである。
即ち、トンネル効果は絶縁層の膜厚が極めて小さいとき
(−・般にオングストローム単位の厚さ)に、電子が通
りぬけることによって起こる。
(−・般にオングストローム単位の厚さ)に、電子が通
りぬけることによって起こる。
また一方、電気的絶縁破壊は、層中に僅かに存在する電
荷担体が電場によって加速されて、絶縁体の原子などを
イオン化できるだけのエネルギーを獲得し、イオン化に
よって担体が増して、同じ過程が繰り返され、ねずみ算
式に担体が増加する現象である、極めて高電界(一般に
100V/7z+++以、1−、 )の場合に起こる。
荷担体が電場によって加速されて、絶縁体の原子などを
イオン化できるだけのエネルギーを獲得し、イオン化に
よって担体が増して、同じ過程が繰り返され、ねずみ算
式に担体が増加する現象である、極めて高電界(一般に
100V/7z+++以、1−、 )の場合に起こる。
例えば、絶縁体と半導体を積層した感光体構成の場合、
半導体中で発生した電荷は電界により膜中を走行するが
、低電界では絶縁体を通過することができない。絶縁層
が薄い場合には、これは表面電位として無視できるか、
電子写真における、いわゆる現像特性に与えろ影響が極
めて小さいため、絶縁層の存在による特性劣化は問題に
ならない。次に繰返し使用による影響を考える。繰返し
使用により絶縁層に電荷が蓄積するが、蓄積電荷による
高電界(例えば、100V/μm以上)が実現すると電
気的絶縁破壊によりそれ以−にの電界がかからなくなる
。
半導体中で発生した電荷は電界により膜中を走行するが
、低電界では絶縁体を通過することができない。絶縁層
が薄い場合には、これは表面電位として無視できるか、
電子写真における、いわゆる現像特性に与えろ影響が極
めて小さいため、絶縁層の存在による特性劣化は問題に
ならない。次に繰返し使用による影響を考える。繰返し
使用により絶縁層に電荷が蓄積するが、蓄積電荷による
高電界(例えば、100V/μm以上)が実現すると電
気的絶縁破壊によりそれ以−にの電界がかからなくなる
。
例えば、100V/μmで電気的絶縁破壊が起きるよう
な絶縁材料を01μ肩の厚さで積層した場合、繰返しに
よっても絶縁層ににる、いわゆる残留電位の上昇は僅か
IOVである。
な絶縁材料を01μ肩の厚さで積層した場合、繰返しに
よっても絶縁層ににる、いわゆる残留電位の上昇は僅か
IOVである。
以上の理由により、一般の絶縁材料を感光体に用いる場
合、膜厚は約5μm以下にしなげればならない。さもな
ければ絶縁層による、残留電位の上昇が500V以上と
なり、複写画像のカブリを生じ、使用できないものとな
る。
合、膜厚は約5μm以下にしなげればならない。さもな
ければ絶縁層による、残留電位の上昇が500V以上と
なり、複写画像のカブリを生じ、使用できないものとな
る。
聚吸外解決しようとする間迩尭
以上のように、従来、感光体に用いられている有機重合
膜はアンダーコート層あるいはオーバーコート層として
使用されていたが、それらはキ・トリアの輸送機能を必
要としない膜であって、有機重合膜が絶縁性であるとの
判断にたって用いられている。従ってその厚さも高々5
μ7I程度の極めて薄い膜としてしか用いられず、キャ
リアはトンネル効果で膜中を通過するか、トンネル効果
が期待てきない場合には、実用上の残留電位としては問
題にならないですむ程度の薄い膜でしか用いられていな
い。
膜はアンダーコート層あるいはオーバーコート層として
使用されていたが、それらはキ・トリアの輸送機能を必
要としない膜であって、有機重合膜が絶縁性であるとの
判断にたって用いられている。従ってその厚さも高々5
μ7I程度の極めて薄い膜としてしか用いられず、キャ
リアはトンネル効果で膜中を通過するか、トンネル効果
が期待てきない場合には、実用上の残留電位としては問
題にならないですむ程度の薄い膜でしか用いられていな
い。
しかも、上記有機重合膜は基板、例えば、AQとの接着
性は必ずしも十分と云い難く、また、膜厚を薄くすると
余剰光が透過して、基板面で反射し、干渉縞やぼけの原
因となる。本発明は上記の問題を解決することを目的と
する。
性は必ずしも十分と云い難く、また、膜厚を薄くすると
余剰光が透過して、基板面で反射し、干渉縞やぼけの原
因となる。本発明は上記の問題を解決することを目的と
する。
本発明者らは、有機重合膜のa−8i感光体への応用を
検討しているうちに、本来絶縁性であると考えられてい
た有機重合膜がある水素含量になると、電気抵抗が低下
し、電荷輸送性を示し始める事を見出した。
検討しているうちに、本来絶縁性であると考えられてい
た有機重合膜がある水素含量になると、電気抵抗が低下
し、電荷輸送性を示し始める事を見出した。
本発明はその新たな知見を利用することにより、従来の
a −S i感光体の持つ問題点、すなわちa−8iの
膜厚、製造時間、製造コスト等における問題点等をすべ
て解消し、また従来とは全く使用目的も、特性も異なる
有機重合膜、特に有機プラズマ重合膜を使用した感光体
、特に本発明は感光体におi−する電荷輸送層として、
電荷輸送能に優れ、膜厚を5μm以上としても残留電位
が小さく物性面でも優れた水素含有炭素膜を有する感光
体を提供するものである。
a −S i感光体の持つ問題点、すなわちa−8iの
膜厚、製造時間、製造コスト等における問題点等をすべ
て解消し、また従来とは全く使用目的も、特性も異なる
有機重合膜、特に有機プラズマ重合膜を使用した感光体
、特に本発明は感光体におi−する電荷輸送層として、
電荷輸送能に優れ、膜厚を5μm以上としても残留電位
が小さく物性面でも優れた水素含有炭素膜を有する感光
体を提供するものである。
本発明の別の目的は、基板と有機重合膜の接着性を改良
し、干渉縞やぼけの発生しない感光体を提供することを
目的とする。
し、干渉縞やぼけの発生しない感光体を提供することを
目的とする。
問題点を解決するための手段
即ち本発明は、導電性基板上に、シリコン、ゲルマニウ
ムおよび金属から選ばれた少なくとも一種の元素と水素
含有炭素からなる接着層と、水素含有炭素を主成分とす
る電荷輸送層と、電荷発生層とを積層してなり、該水素
含有炭素が水素を総原子量に対して0.1〜67 at
mic%含有する感光体に関する。
ムおよび金属から選ばれた少なくとも一種の元素と水素
含有炭素からなる接着層と、水素含有炭素を主成分とす
る電荷輸送層と、電荷発生層とを積層してなり、該水素
含有炭素が水素を総原子量に対して0.1〜67 at
mic%含有する感光体に関する。
電子写真感光体として使用するためには電荷発生層およ
び電荷輸送層の積層においても暗抵抗が108・9cm
以上あり、明暗抵抗比(すなわちゲイン)が10’〜1
04程度必要とされる。
び電荷輸送層の積層においても暗抵抗が108・9cm
以上あり、明暗抵抗比(すなわちゲイン)が10’〜1
04程度必要とされる。
本発明感光体は少なくとも電荷発生層と電荷輸送層から
構成され、電荷輸送層として少なくとも一層の水素を含
む炭素(以下、C;H電荷輸送層と記す)の層を有し、
前記特性を満足することを特徴とする。
構成され、電荷輸送層として少なくとも一層の水素を含
む炭素(以下、C;H電荷輸送層と記す)の層を有し、
前記特性を満足することを特徴とする。
本発明にとって好ましいC:H電荷輸送層中の水素含量
は0 、1〜67 atomic%(以下、atm%と
記す)、好ましくは 1〜60atm、%、更に好まし
くは30〜60atm、%である。0 、1 atm。
は0 、1〜67 atomic%(以下、atm%と
記す)、好ましくは 1〜60atm、%、更に好まし
くは30〜60atm、%である。0 、1 atm。
%より小さいと電子写真に適した暗抵抗が得られず、6
7 atm、%より大きいと電荷輸送能がない。
7 atm、%より大きいと電荷輸送能がない。
本発明における水素含有炭素膜は、その水素含量並びに
製造方法によって非晶質乃至はダイヤモンド状となる。
製造方法によって非晶質乃至はダイヤモンド状となる。
大部分の場合、非晶質の形態をとり、膜自体は軟質で高
抵抗である。製造方法と条件によっては、例えば、プラ
ズマCVD法では水素含量を約40atm、%以下にす
ると、ダイヤモンド状の炭素膜を得ることができ、その
ような膜はビッカース硬度が2000以上と硬質で電気
抵抗は1011Ω・Cπ以上である。しかし、いずれの
炭素膜も高い電荷輸送性を示す。
抵抗である。製造方法と条件によっては、例えば、プラ
ズマCVD法では水素含量を約40atm、%以下にす
ると、ダイヤモンド状の炭素膜を得ることができ、その
ような膜はビッカース硬度が2000以上と硬質で電気
抵抗は1011Ω・Cπ以上である。しかし、いずれの
炭素膜も高い電荷輸送性を示す。
本発明のC:H電荷輸送層中の水素含量および構造は元
素分析、赤外吸収スペクI・十分+11、’II−NM
rえあるいは13C,−NMR等により定Qt−4−る
ことかできろ。
素分析、赤外吸収スペクI・十分+11、’II−NM
rえあるいは13C,−NMR等により定Qt−4−る
ことかできろ。
本発明のC1H電荷輸送層(J好I L < +J)に
学的エネルギーギャップE goptが1.5〜:(、
OcV、および比誘電率εが20〜6.0の範囲にある
のがよい。
学的エネルギーギャップE goptが1.5〜:(、
OcV、および比誘電率εが20〜6.0の範囲にある
のがよい。
E goptの小さい膜(<1..5eV)(Jバント
端近傍、即ち、伝導帯下端または充満帯の上端にへ「・
位を多く形成していると考えられる。従−て、そのよう
なCHI−(電荷輸送層はキャリアー移動度が小さく、
キャリアの寿命が短いために感光体としての電荷輸送層
としては必ずしも十分でない場合がある。Egoptの
大きい膜(>3.0cV)は、通常電子写真で使用され
ろ電荷発生層12′lおよび輸送])l料と障壁を形成
しやすく、電荷発生14 Fl 、1;よび輸送祠籾と
障壁を形成しやすく、電/1:工発生)A別および輸送
材11からE goptの大きいC・U電荷輸送層中の
キャリアーの注入がうまくいかないことが4(うり、そ
の結果、良好な感光体特性が得られ)、」“い場合があ
る。
端近傍、即ち、伝導帯下端または充満帯の上端にへ「・
位を多く形成していると考えられる。従−て、そのよう
なCHI−(電荷輸送層はキャリアー移動度が小さく、
キャリアの寿命が短いために感光体としての電荷輸送層
としては必ずしも十分でない場合がある。Egoptの
大きい膜(>3.0cV)は、通常電子写真で使用され
ろ電荷発生層12′lおよび輸送])l料と障壁を形成
しやすく、電荷発生14 Fl 、1;よび輸送祠籾と
障壁を形成しやすく、電/1:工発生)A別および輸送
材11からE goptの大きいC・U電荷輸送層中の
キャリアーの注入がうまくいかないことが4(うり、そ
の結果、良好な感光体特性が得られ)、」“い場合があ
る。
一方、比誘電率は、6.0より大きいと帯電能が低下1
.感度も悪くなる。尤もこれを改善するためにC工]電
荷輸送層の膜厚を厚くすることが考えられるが、製造」
二望ましくない。また、εを20以上とするのは、それ
以下であると物性特性がボリエヂレン的になり、電荷輸
送能が低下するためである。
.感度も悪くなる。尤もこれを改善するためにC工]電
荷輸送層の膜厚を厚くすることが考えられるが、製造」
二望ましくない。また、εを20以上とするのは、それ
以下であると物性特性がボリエヂレン的になり、電荷輸
送能が低下するためである。
EgOptおよびεは、C:I(電荷輸送層中の水素含
量が低い場合、その水素含量と比較的良い相関関係を有
する。一方水素含量が高いときは、低い場合と比べて相
関性に変動が見られる。これはE goptおよびε、
特にεはC:I−1電荷輸送層の構造的特徴が大きく影
響しているためと考えられる。
量が低い場合、その水素含量と比較的良い相関関係を有
する。一方水素含量が高いときは、低い場合と比べて相
関性に変動が見られる。これはE goptおよびε、
特にεはC:I−1電荷輸送層の構造的特徴が大きく影
響しているためと考えられる。
電荷発生層としては特に限定的ではなくアモルファスシ
リコン(a−8iX特性を変えるため種々の異種元素、
例えばC,01SSNSP、B。
リコン(a−8iX特性を変えるため種々の異種元素、
例えばC,01SSNSP、B。
ハロゲン、Ge等を含んでいてもよく、また多層構造で
あってもよい)、Se膜、5e−As膜、Se−’T’
e膜、CdS膜、酸化亜鉛等の無機物質およびビスア
ゾ系顔利、トリアリールメタン系染ネ・1、デアジン系
染料、オキサジン系染料、ギサンテン系染料、ノアニン
系色素、スヂリル系色素、ピリリウム系染料、アゾ系顔
料、キナクリドン糸面Fl、インジゴ系顔料、ペリレン
系顔料、多環ギノン系顔料、ビスベンズイミグゾール糸
面t・1、インダスロン系顔料、スクアリリウ1、糸面
訓、フタ[Jシアニン系顔料等の有機物質が例示される
。
あってもよい)、Se膜、5e−As膜、Se−’T’
e膜、CdS膜、酸化亜鉛等の無機物質およびビスア
ゾ系顔利、トリアリールメタン系染ネ・1、デアジン系
染料、オキサジン系染料、ギサンテン系染料、ノアニン
系色素、スヂリル系色素、ピリリウム系染料、アゾ系顔
料、キナクリドン糸面Fl、インジゴ系顔料、ペリレン
系顔料、多環ギノン系顔料、ビスベンズイミグゾール糸
面t・1、インダスロン系顔料、スクアリリウ1、糸面
訓、フタ[Jシアニン系顔料等の有機物質が例示される
。
これ以外であっても、光を吸収し極めて高い効率で電荷
担体を発生ずる材料であれば使用中ることができる。
担体を発生ずる材料であれば使用中ることができる。
N荀発生層は後述するごとく、感光体のどの位置に設(
Jてもよく、例えば最」二層、最下層、中間層いずれに
設けてもよい。層厚は、素材の種類、特にその分光吸収
特性、露光光源、目的等にもよるが、一般に555nm
の光に対し90%以−にの吸収となるように設定される
。a−3i:Trの場合で0.1〜Iμm程度である。
Jてもよく、例えば最」二層、最下層、中間層いずれに
設けてもよい。層厚は、素材の種類、特にその分光吸収
特性、露光光源、目的等にもよるが、一般に555nm
の光に対し90%以−にの吸収となるように設定される
。a−3i:Trの場合で0.1〜Iμm程度である。
本発明のC:H電荷輸送層に存在する水素は一部ハロゲ
ン、例えば、フッ素、塩素、臭素等で置き換えてらよい
。この様な膜は撥水性、耐摩耗性が改良される。通常の
電子写真用にはC:H電荷輸送層の厚さは5〜50μm
1特に7〜20μ「1が適当であり、5μmより薄いと
帯電能が低く充分な複写画像濃度を得ることができない
。50μmより厚いと生産性の点で好ましくない。この
CH電荷輸送層は透光性、高暗抵抗を有するとともに電
荷輸送性に富み、膜厚を」二足のように5μm以」二と
しても電荷トラップを生じることなくキャリアを輸送す
る。
ン、例えば、フッ素、塩素、臭素等で置き換えてらよい
。この様な膜は撥水性、耐摩耗性が改良される。通常の
電子写真用にはC:H電荷輸送層の厚さは5〜50μm
1特に7〜20μ「1が適当であり、5μmより薄いと
帯電能が低く充分な複写画像濃度を得ることができない
。50μmより厚いと生産性の点で好ましくない。この
CH電荷輸送層は透光性、高暗抵抗を有するとともに電
荷輸送性に富み、膜厚を」二足のように5μm以」二と
しても電荷トラップを生じることなくキャリアを輸送す
る。
本発明C:H電荷輸送層はイオン化蒸着、イオンビーム
蒸着等のイオン状態を経て形成する方法、直流、高周波
、マイクロ波プラズマ法等のプラズマ状態を経て形成す
る方法、減圧CVD法、真空蒸着法、スパッタリング法
、光CVD法等の中性の粒子から形成する方法、又はこ
れらの組合わせにより形成しても良い。しかし例えば、
電荷発生層を高周波プラズマまたはCVD法により形成
する場合には、C:H電荷輸送層も同様の方法で成膜し
た方が、製造装置コスト・工程の省力化にっながり好ま
しい。
蒸着等のイオン状態を経て形成する方法、直流、高周波
、マイクロ波プラズマ法等のプラズマ状態を経て形成す
る方法、減圧CVD法、真空蒸着法、スパッタリング法
、光CVD法等の中性の粒子から形成する方法、又はこ
れらの組合わせにより形成しても良い。しかし例えば、
電荷発生層を高周波プラズマまたはCVD法により形成
する場合には、C:H電荷輸送層も同様の方法で成膜し
た方が、製造装置コスト・工程の省力化にっながり好ま
しい。
C:H?a荷輸送層を形成するための炭素源としては、
C2■−■7、Cd(e、c 、r−r、、C,TI6
、crr、、C41(10,C4H1l、 C,4H8
、Cs1−TIlq Cl13CCII、C3l−Ie
、C1o■−■+6等が例示される。
C2■−■7、Cd(e、c 、r−r、、C,TI6
、crr、、C41(10,C4H1l、 C,4H8
、Cs1−TIlq Cl13CCII、C3l−Ie
、C1o■−■+6等が例示される。
キャリアガスとしてはI−I 3、Ar SNe 、l
−1c等が適当である。
−1c等が適当である。
プラズマ法等においてC:T−1電荷輸送層を形成する
際、水素含有量が40aLm%以下のグイアモント状炭
素の層を得るには、飽和炭化水素を水素で希釈した原料
を用いるのが好ましい。特に好ましい飽和炭化水素はメ
タン、エタン、プロパン、ブタン等である。反応室内圧
力は低く、高電圧で処理するダイアモンド状炭素の層を
プラズマ法J:たはイオンビーム法て形成させる条件は
、例えば、ジャーナル・オブ・アプライド・フィジクス
(、I。
際、水素含有量が40aLm%以下のグイアモント状炭
素の層を得るには、飽和炭化水素を水素で希釈した原料
を用いるのが好ましい。特に好ましい飽和炭化水素はメ
タン、エタン、プロパン、ブタン等である。反応室内圧
力は低く、高電圧で処理するダイアモンド状炭素の層を
プラズマ法J:たはイオンビーム法て形成させる条件は
、例えば、ジャーナル・オブ・アプライド・フィジクス
(、I。
Appl、 Phys、) 52 (I O) Oct
、、 ] 981、第6151〜6157頁に記載さ
れている。ららろん、ダイアモンド状炭素の製造法はこ
れに限定されるものではなく、スパッタリング法等で形
成してもよい。
、、 ] 981、第6151〜6157頁に記載さ
れている。ららろん、ダイアモンド状炭素の製造法はこ
れに限定されるものではなく、スパッタリング法等で形
成してもよい。
ダイアモンド状炭素は耐摩耗性、耐湿性に優れているた
め、これを含む電荷輸送層を表面側に配置してもよい。
め、これを含む電荷輸送層を表面側に配置してもよい。
また、基板側に設けると電荷の注入を抑止する。また、
この」−に電荷発生層を高周波プラズマで形成させると
き、プラズマダメージを防止する等の利点がある。
この」−に電荷発生層を高周波プラズマで形成させると
き、プラズマダメージを防止する等の利点がある。
CHI(電荷輸送層は前述した通り、非晶質炭素であっ
てもよく、その場合、水素含量は40〜67 atm%
程度である。この様な非晶質炭素層はC2T−1いC、
H6、C7H2等の不飽和炭化水素で希釈して、プラズ
マ放電やイオンビーム法により形成させることができる
。プラズマ放電時の反応機内圧は、ダイアモンド状炭素
膜の場合より高く、電力は低くする。
てもよく、その場合、水素含量は40〜67 atm%
程度である。この様な非晶質炭素層はC2T−1いC、
H6、C7H2等の不飽和炭化水素で希釈して、プラズ
マ放電やイオンビーム法により形成させることができる
。プラズマ放電時の反応機内圧は、ダイアモンド状炭素
膜の場合より高く、電力は低くする。
非晶質炭素層は電荷輸送層としてa−8t重電荷生層と
組合せたとき、a−8■単層のときより、帯電能および
感度において優れた感光体を得ることができる。また、
基板側に配置することにより、電荷注入防止層としての
作用も果す。また、表面硬度の向上、耐刷性、耐湿性、
耐コロナ性、接、1′T性を向上させる。
組合せたとき、a−8■単層のときより、帯電能および
感度において優れた感光体を得ることができる。また、
基板側に配置することにより、電荷注入防止層としての
作用も果す。また、表面硬度の向上、耐刷性、耐湿性、
耐コロナ性、接、1′T性を向上させる。
非晶質炭素膜の内、比較的多くの水素(55atm。
%以上)含むものは、重合膜、例えばプラズマ重合膜と
称される。プラズマ重合膜は、通常の重合膜と異なり、
高度に架橋した網目構造を有し、そのため、高密度で剛
直、耐薬品性および耐熱性に優れている。また、この膜
はフリーラジカル力月・ラップされているため、通常の
重合膜に比べて誘電損失が大きいと云う特徴がある。代
表的プラズマ重合膜であるプラズマ重合ポリエチレン膜
では水素原子/炭素原子比が約2.7/2であり、通常
のポリエチレンの融点は存せず、330℃以」二の耐熱
性を有している。
称される。プラズマ重合膜は、通常の重合膜と異なり、
高度に架橋した網目構造を有し、そのため、高密度で剛
直、耐薬品性および耐熱性に優れている。また、この膜
はフリーラジカル力月・ラップされているため、通常の
重合膜に比べて誘電損失が大きいと云う特徴がある。代
表的プラズマ重合膜であるプラズマ重合ポリエチレン膜
では水素原子/炭素原子比が約2.7/2であり、通常
のポリエチレンの融点は存せず、330℃以」二の耐熱
性を有している。
本発明においては、上記のごときC:I−r電荷輸送層
の帯電特性を調節するために、IIIA族またはVA族
元素を混入させてもよい。
の帯電特性を調節するために、IIIA族またはVA族
元素を混入させてもよい。
感光体を十帯電で用いるときは、相対的に基板側をP型
にし、表面側をN型にし、−帯電で用いるききは基板側
をN型にし、表面側を411対的に1〕型にすることに
より、逆バイアス効果をもたせる。
にし、表面側をN型にし、−帯電で用いるききは基板側
をN型にし、表面側を411対的に1〕型にすることに
より、逆バイアス効果をもたせる。
これにより、帯電能の向上、暗減衰の低減および感度の
向上等の効果が達成される。
向上等の効果が達成される。
即ち、C:H電荷輸送層」二に電荷発生層を積層してな
る本発明の感光体では、十帯工時に表面側である電荷発
生層をN型に、基板側である電荷輸送層の特に基板近傍
をP型にし、また、−帯電時はその逆とする。これによ
り表面電荷の注入が防止され、且つ、基板からの電荷の
注入が防止できる。また電荷輸送性も向上する。P型に
調整するためには第■A族を、N型とするには第VA族
を含有する。また後述する接着層も電荷輸送層と同じに
極性調製してもよい。
る本発明の感光体では、十帯工時に表面側である電荷発
生層をN型に、基板側である電荷輸送層の特に基板近傍
をP型にし、また、−帯電時はその逆とする。これによ
り表面電荷の注入が防止され、且つ、基板からの電荷の
注入が防止できる。また電荷輸送性も向上する。P型に
調整するためには第■A族を、N型とするには第VA族
を含有する。また後述する接着層も電荷輸送層と同じに
極性調製してもよい。
この様な極性調整は単一層内でのIIIA族またはVA
族元素の含量を徐々に基板側または表面側に増加させる
ことによって行なってもよく、あるいは、均一な濃度の
IIIA族またはVA族元素を含有する単一のC:I−
I電荷輸送層を基板側または表面側に設()てもよい。
族元素の含量を徐々に基板側または表面側に増加させる
ことによって行なってもよく、あるいは、均一な濃度の
IIIA族またはVA族元素を含有する単一のC:I−
I電荷輸送層を基板側または表面側に設()てもよい。
また、必要ならば複数の濃度の異なるCHM荷輸送層を
接合領域に空乏層が形成されろように設(Jてもよ円 本発明は上記のごとき C: l■電6:エ輸送層と電
イ′:i発牛層を有する感光体において、電荷輸送層と
j、l;板との間に第1図に示すごとく接着層(4)を
設(2)ろ。図中、(1)は基板、(2)fJ重電荷輸
送層および(3)は電荷発生層を示す。この接着層は水
素含有炭素とSl、Geお3Lび/まノこは金属を含む
1゜接着層に混入されるものとしてfJ: S i、G
Cの他、後述するごとく多数の金属をjlj独てJ:た
(51組み合わU゛て使用できる。特に好ましくは、S
! J’;よび/土たはGeであり、これらS+、G
O1金属を(M)で表したとき、混入量はM/(C−1
−M)のatomic%(以下atm、%と記オ)で層
厚方向に均一濃度に含有させる場合、5〜95aLm
%、特に20〜80atm %が好ましい。また接
i“1層の膜厚は001〜5μ屑とし、電荷輸送層は5
〜50μm1電荷発生層は01〜E+1tmlオろ。
接合領域に空乏層が形成されろように設(Jてもよ円 本発明は上記のごとき C: l■電6:エ輸送層と電
イ′:i発牛層を有する感光体において、電荷輸送層と
j、l;板との間に第1図に示すごとく接着層(4)を
設(2)ろ。図中、(1)は基板、(2)fJ重電荷輸
送層および(3)は電荷発生層を示す。この接着層は水
素含有炭素とSl、Geお3Lび/まノこは金属を含む
1゜接着層に混入されるものとしてfJ: S i、G
Cの他、後述するごとく多数の金属をjlj独てJ:た
(51組み合わU゛て使用できる。特に好ましくは、S
! J’;よび/土たはGeであり、これらS+、G
O1金属を(M)で表したとき、混入量はM/(C−1
−M)のatomic%(以下atm、%と記オ)で層
厚方向に均一濃度に含有させる場合、5〜95aLm
%、特に20〜80atm %が好ましい。また接
i“1層の膜厚は001〜5μ屑とし、電荷輸送層は5
〜50μm1電荷発生層は01〜E+1tmlオろ。
接着層(4)への金属元素の導入は第2図に示4−ごと
く層厚方向に均一濃度に行なってもよく、第3図から第
8図のごとく層厚方向に不均一に行ム′−・てもよい。
く層厚方向に均一濃度に行なってもよく、第3図から第
8図のごとく層厚方向に不均一に行ム′−・てもよい。
好ましくは、電荷輸送層側により炭素が多くなるよう分
布させる。濃度勾配を設ける方が接着性、反射防l二性
の点で望ましい。
布させる。濃度勾配を設ける方が接着性、反射防l二性
の点で望ましい。
なお、第2図〜第8図中、(M)はSl、Geおよび/
または金属、(C)は炭素を示す。第3図は、(C)の
含有量が基板(])側では僅かで(M)が大であるが、
層厚方向に(C)が増大、(M)が減少しC:II電荷
輸送層と接する面では(C)が1100at、%の例を
示す。このような(C)と(M)の濃度勾配は第4〜第
8図の通りでもよい。
または金属、(C)は炭素を示す。第3図は、(C)の
含有量が基板(])側では僅かで(M)が大であるが、
層厚方向に(C)が増大、(M)が減少しC:II電荷
輸送層と接する面では(C)が1100at、%の例を
示す。このような(C)と(M)の濃度勾配は第4〜第
8図の通りでもよい。
Sl、Ge、金属元素を接着層に導入する方法は、それ
らを含む蒸気またはガスと炭素原子を含む蒸気ガスとを
混合して前述のごときプラズマ法で成膜ずればよい。も
ちろんこれに限定されるものではない。本発明に使用し
得るSi、Ge、金属と成膜に際して使用し得る金属化
合物の例を以下に挙げる。
らを含む蒸気またはガスと炭素原子を含む蒸気ガスとを
混合して前述のごときプラズマ法で成膜ずればよい。も
ちろんこれに限定されるものではない。本発明に使用し
得るSi、Ge、金属と成膜に際して使用し得る金属化
合物の例を以下に挙げる。
八! ・へ克(Oi−C3IT 7)3 、(CH3)
3A兇、(C、J−1、)3A、ju、 (i−CJ
(o)3A j乙、AIC克。
3A兇、(C、J−1、)3A、ju、 (i−CJ
(o)3A j乙、AIC克。
Ra : T3 a(OC2H5)3Ca : C
a(OC2FI5)3 Fe : Fe(Oi C3H7)3 、(Cdl
s:hFe 。
a(OC2FI5)3 Fe : Fe(Oi C3H7)3 、(Cdl
s:hFe 。
Fe(CO)5
Ga : Ga(Oj−CaI2)3、(C1−L+
)*Ga 。
)*Ga 。
(C2H5)3Ga 、GaCf13、GaT3r:+
Gc : Ge1(、、GeCL、G e(OC2H
5)1 、ce(c 2r−rj4 Hf : I(f(01−CsH7)tIn : I
n(01C3H7)3、(C2T−I51+T nK
: K()+−C3H7 L i : L io 1−C3H7Nb :
La(Oi−C3H7)tMg : Mg(OC2H5
)? 、(CpHs)2MgNa : Na0i−
C3H7 Nb ・ N b(OCpH5)5 Sb : 5b(OC2H3)3 、SbCL 、5
bllsSr : 5r(OCH,)2 Ti : Ti(Oi−C3H7)4、Ti(OC
4ble)い’picj2.4 8i : 5iHz、5iJ(e、(C2H5)3
SiH1S iF 4.5iH2C(22,5icQ4
、S t(OCH3)い s +(o C2H3)4T
e : I(2Te Se : ll2Se T a + T a(OCvH5)sV : VO
(OC2H51+ 、VO(OtC4Hs)3Y
: Y(01Cql−I 7)sZn : Z
n(OC7Hs)7、(CH3)2Zn 。
Gc : Ge1(、、GeCL、G e(OC2H
5)1 、ce(c 2r−rj4 Hf : I(f(01−CsH7)tIn : I
n(01C3H7)3、(C2T−I51+T nK
: K()+−C3H7 L i : L io 1−C3H7Nb :
La(Oi−C3H7)tMg : Mg(OC2H5
)? 、(CpHs)2MgNa : Na0i−
C3H7 Nb ・ N b(OCpH5)5 Sb : 5b(OC2H3)3 、SbCL 、5
bllsSr : 5r(OCH,)2 Ti : Ti(Oi−C3H7)4、Ti(OC
4ble)い’picj2.4 8i : 5iHz、5iJ(e、(C2H5)3
SiH1S iF 4.5iH2C(22,5icQ4
、S t(OCH3)い s +(o C2H3)4T
e : I(2Te Se : ll2Se T a + T a(OCvH5)sV : VO
(OC2H51+ 、VO(OtC4Hs)3Y
: Y(01Cql−I 7)sZn : Z
n(OC7Hs)7、(CH3)2Zn 。
(C2H5)2 Z n
Zr : Zr(Of−03■(7)+Sn : (
CH3)tsn 、(C2H5)4sn 。
CH3)tsn 、(C2H5)4sn 。
SnC兇4
Cd ・ (CH3)2Cd
Co : C02(GO)5
Cr : Cr(Co)e
M n : M n 2 (CO) +。
Mo : Mo(Co)IISMoFe 、MoCl。
W : Wo(Go)e 、WCj2.e、WF6a
−8iCの接着層は、高暗抵抗で注入防止効果があり、
またa−GeCのアンダーコ−1・層(J反射防止に有
用である。
−8iCの接着層は、高暗抵抗で注入防止効果があり、
またa−GeCのアンダーコ−1・層(J反射防止に有
用である。
本発明の接着層に含まれる水素含有炭素!lll1ij
述したC1■電荷輸送層で述べたのと同じもので、Si
、Ge、金属を含む以外は同様にして形成することがで
きる。水素の含有量は全原子に対して、0.1〜67a
tm、%、好ましくは] −50arm、%である。水
素含量が多すぎるとCll5ij軟質となり、接着性が
低下する。水素の少なくとも−・部はハロゲンで置換し
ていてもよい。ハロゲンとしてはCfl、FSBr等が
特に好ましい。
述したC1■電荷輸送層で述べたのと同じもので、Si
、Ge、金属を含む以外は同様にして形成することがで
きる。水素の含有量は全原子に対して、0.1〜67a
tm、%、好ましくは] −50arm、%である。水
素含量が多すぎるとCll5ij軟質となり、接着性が
低下する。水素の少なくとも−・部はハロゲンで置換し
ていてもよい。ハロゲンとしてはCfl、FSBr等が
特に好ましい。
ハロゲンの導入により、屈折率が小となり反則防止性が
向上する。
向上する。
ハロゲンの導入方法は、金属の導入と同様、例えば炭素
含有ガスとハロゲン含有ガスとの混合カスをプラズマ法
により成膜ずればよい。この様な方法に使用し得るハロ
ゲン化合物としては0!7、F7、HC,12,、IT
Br、 HPSC2115(4SC?+1□c4、CI
(3Br、C0Cj2,7、Cl−IC4F7、CC克
、、F、CC克、F2、CCLF3、CF、、CTIF
3、C2F 8、C3F s 、CB r F 3、c
c4.。
含有ガスとハロゲン含有ガスとの混合カスをプラズマ法
により成膜ずればよい。この様な方法に使用し得るハロ
ゲン化合物としては0!7、F7、HC,12,、IT
Br、 HPSC2115(4SC?+1□c4、CI
(3Br、C0Cj2,7、Cl−IC4F7、CC克
、、F、CC克、F2、CCLF3、CF、、CTIF
3、C2F 8、C3F s 、CB r F 3、c
c4.。
CHCL s、CI−T 2 Cfl 7、CH3C1
,、NF3等が例示される。
,、NF3等が例示される。
さらに必要によりS、B、PSAsを導入してもよい。
Sの導入は、黒色被覆を形成するため、余剰光の基板」
二での反射を抑制する。また光の干渉を防止する。Bや
P、Asは前述のごとき極性調整にn用である。また、
第1図に示した感光体は電荷発生層」二に表面保護層を
形成してもよい。
二での反射を抑制する。また光の干渉を防止する。Bや
P、Asは前述のごとき極性調整にn用である。また、
第1図に示した感光体は電荷発生層」二に表面保護層を
形成してもよい。
第1図に示す態様の感光体において、例えば十帯電し続
いて画像露光すると、電荷発生層(3)でヂャージキャ
リアが発生し電子は表面電荷を中和する。一方、正孔は
C:H電荷輸送層(2)の優れた電荷輸送性に保証され
て基板(1)側へ輸送される。十帯工時には、電荷発生
層として特に極性調整を行なっていないa−8iを用い
、これを十帯電で使用するときは、相対的にC:H電荷
輸送層はP型に調整するのが好ましい。即ち、a−8i
はそれ自体弱いN型乃至は真性であるから、表面からの
正電荷の注入を防止し、またP型に調整したc:r−r
電荷輸送層は正孔の移動を容易とオろ。
いて画像露光すると、電荷発生層(3)でヂャージキャ
リアが発生し電子は表面電荷を中和する。一方、正孔は
C:H電荷輸送層(2)の優れた電荷輸送性に保証され
て基板(1)側へ輸送される。十帯工時には、電荷発生
層として特に極性調整を行なっていないa−8iを用い
、これを十帯電で使用するときは、相対的にC:H電荷
輸送層はP型に調整するのが好ましい。即ち、a−8i
はそれ自体弱いN型乃至は真性であるから、表面からの
正電荷の注入を防止し、またP型に調整したc:r−r
電荷輸送層は正孔の移動を容易とオろ。
P型調整のために使用する■Δ族元索と1.て(」、B
、ΔQ、Ga、In等が例示されるが、13が!l’、
’iに好ましい。a−8i重電荷生層にVA族元素、例
えばりんを混入させて、表面層を相対的に更に強いN型
としてもよい。この場合乙 C:T−1電荷輸送層の極
性をP型に調整してもよい。第1図の感光体を一帯電で
用いるときは、」1記と反対にC:II電荷輸送層(2
)にりんを含有してN型に調整すればよく、電荷発生層
(3)としてa−8iを用いろときはBを含有してもよ
い。
、ΔQ、Ga、In等が例示されるが、13が!l’、
’iに好ましい。a−8i重電荷生層にVA族元素、例
えばりんを混入させて、表面層を相対的に更に強いN型
としてもよい。この場合乙 C:T−1電荷輸送層の極
性をP型に調整してもよい。第1図の感光体を一帯電で
用いるときは、」1記と反対にC:II電荷輸送層(2
)にりんを含有してN型に調整すればよく、電荷発生層
(3)としてa−8iを用いろときはBを含有してもよ
い。
第9図の感光体はC: I−1電荷輸送層(2)を最に
層として用いた例で、十帯電で用いるとき(」、C:H
電荷輸送層(2)の極性は第VΔ族元素等を用い電荷発
生層(3)に対し、相対的にN型として電子の移動を容
易とする。−帯電で用いるときiJl l’(等を含有
してその逆に調整すればよい。
層として用いた例で、十帯電で用いるとき(」、C:H
電荷輸送層(2)の極性は第VΔ族元素等を用い電荷発
生層(3)に対し、相対的にN型として電子の移動を容
易とする。−帯電で用いるときiJl l’(等を含有
してその逆に調整すればよい。
第10図に示す感光体は、C: I−1電荷輸送層(2
)を電荷発生層(3)の上下に用いた例で、−1帯電で
使用する時は、上層のC: I(電荷輸送層(2)+、
J電荷発生層(3)に対してよりN型になるようにして
電子の移動を容易とするとともに、下層のCH電荷輸送
層(2)はP型に調整するのが好ましい。
)を電荷発生層(3)の上下に用いた例で、−1帯電で
使用する時は、上層のC: I(電荷輸送層(2)+、
J電荷発生層(3)に対してよりN型になるようにして
電子の移動を容易とするとともに、下層のCH電荷輸送
層(2)はP型に調整するのが好ましい。
第1I〜13図に示す感光体は、第1図、第9図および
第10図において示した感光体においてさらにオーバー
コート層(5)として厚さ001〜5μmの表面保護層
を設けた例で、電荷発生層(3)あるいはC・I−I電
荷輸送層(2)の保護と初期表面電位の向上を図ったも
のである。表面保護層は公知の物質を用いればよく、本
発明においては、有機プラズマ重合によって設けること
が製造工程の面等から望ましい。本発明C:H電荷輸送
層を使用してもよい。この保護層(4)にも必要により
第11A、第VA族元素をドープしてもよい。
第10図において示した感光体においてさらにオーバー
コート層(5)として厚さ001〜5μmの表面保護層
を設けた例で、電荷発生層(3)あるいはC・I−I電
荷輸送層(2)の保護と初期表面電位の向上を図ったも
のである。表面保護層は公知の物質を用いればよく、本
発明においては、有機プラズマ重合によって設けること
が製造工程の面等から望ましい。本発明C:H電荷輸送
層を使用してもよい。この保護層(4)にも必要により
第11A、第VA族元素をドープしてもよい。
第■IΔ族元索をC:H電荷輸送層に混入させるには、
これらの元素を含む適当なガス状化合物を炭化水素ガス
と共に、イオン化状態またはプラズマ状態にして成膜す
ればよい。また、形成されたC : I−T電荷輸送層
をIIIA族元素を含む化合物ガスに曝してドープして
もよい。
これらの元素を含む適当なガス状化合物を炭化水素ガス
と共に、イオン化状態またはプラズマ状態にして成膜す
ればよい。また、形成されたC : I−T電荷輸送層
をIIIA族元素を含む化合物ガスに曝してドープして
もよい。
本発明に使用し得ろBを含む化合物として(j、B(O
C、I−15)、、B10,1、RC、ij 、、T3
I3 r41.13 P O等が例示される。
C、I−15)、、B10,1、RC、ij 、、T3
I3 r41.13 P O等が例示される。
八!を含む化合物としてはΔ兇(O1−Ca1lJa、
(CI−1,)3Δ!、(C2I−I5)3Δ!、(i
C41L)3Δ!、A、f7,0児。等が例示される
3゜ Gaを含む化合物としてはGa(Oi−CaHJ3、(
CH3)3Ga% (C2H5)3Ga、GaC,9a
、(1:aBr3等がある。
(CI−1,)3Δ!、(C2I−I5)3Δ!、(i
C41L)3Δ!、A、f7,0児。等が例示される
3゜ Gaを含む化合物としてはGa(Oi−CaHJ3、(
CH3)3Ga% (C2H5)3Ga、GaC,9a
、(1:aBr3等がある。
Inを含む化合物としてはI n(Oi−Cal−17
)a、(C21T 5)31 n等がある。
)a、(C21T 5)31 n等がある。
■Δ族元索の導入量は炭素原子に対し、20000pp
m以下、より好ましくは3〜l OOOppmである。
m以下、より好ましくは3〜l OOOppmである。
極性調整に用いられるVA族元素としては、P。
Δs、Sbがあるが、I)が特に好ましい。このVA族
元素もHA族元素と同様にしてCI■電荷輸送層に導入
ずろことができる。
元素もHA族元素と同様にしてCI■電荷輸送層に導入
ずろことができる。
本発明に用い得るVA族元素を含む化合物として(J1
以下のものがある。
以下のものがある。
■)を含む化合物としては、P O((’) CI−T
3)3、(Cpl(s:hP 、 Pi(3、PO(
43等;ASを含む化合物としてA s H3、AsC
1,3、AsBr3等、Sbを含む化合物としてS b
(OCzI(J!A、 S bCflz、S b I−
T 、1等が例示される。
3)3、(Cpl(s:hP 、 Pi(3、PO(
43等;ASを含む化合物としてA s H3、AsC
1,3、AsBr3等、Sbを含む化合物としてS b
(OCzI(J!A、 S bCflz、S b I−
T 、1等が例示される。
VΔ族元素の導入量は、炭素原子に対し20000pp
m以下、より好ましくは1〜IO00ppm程度である
。
m以下、より好ましくは1〜IO00ppm程度である
。
本発明感光体の電荷発生層には、更に別の元素を導入し
てその特性を調整してもよい。
てその特性を調整してもよい。
電荷輸送層はその作製条件(結合状態)、不純物により
青色(例えば、黄色、青色、茶色)することがあるが、
第2図〜第4図、第5図、第6図、第8図〜第12図の
構成では、それを利用して電荷発生層への有害光カット
の効果を持たせることができろ。
青色(例えば、黄色、青色、茶色)することがあるが、
第2図〜第4図、第5図、第6図、第8図〜第12図の
構成では、それを利用して電荷発生層への有害光カット
の効果を持たせることができろ。
電荷輸送層にSi、Geを添加してバンドギャップの調
整を行ない電荷発生層との界面障壁を小さくすることも
可能である。
整を行ない電荷発生層との界面障壁を小さくすることも
可能である。
本発明の感光体のC:H電荷輸送層にはさらに窒素、酸
素、硫黄および/または各種金属類を混人させてもよく
、あるいは水素の一部をハ[Jゲンで置換してもよい。
素、硫黄および/または各種金属類を混人させてもよく
、あるいは水素の一部をハ[Jゲンで置換してもよい。
一般に窒素源としてはN3、N I−(3、N、O,N
01No2、C2H5N I−T 2、HCN、(CT
I3)3N。
01No2、C2H5N I−T 2、HCN、(CT
I3)3N。
CH3N I−I 7等が用いられ、これを混入するこ
とにより電荷発生層との界面障壁を小さくすることがで
きる。
とにより電荷発生層との界面障壁を小さくすることがで
きる。
酸素源としては、02.03、N、01NO1CO1C
O2、CHaOCHa、CI−I 3CT(O等が例示
されるが、これを混入することによって帯電能が向上す
る。また、プラズマCVD法の場合、酸素(0)を導入
することで成膜スピードを」二げられるという副次的な
効果もある。
O2、CHaOCHa、CI−I 3CT(O等が例示
されるが、これを混入することによって帯電能が向上す
る。また、プラズマCVD法の場合、酸素(0)を導入
することで成膜スピードを」二げられるという副次的な
効果もある。
硫黄源としてはC82、(C21−T5)2S、 i−
1,s。
1,s。
SF6、SO2等が例示される。硫黄の混入は光の吸収
、干渉防止に有効である。また硫黄(S)を導入するこ
とで成膜スピードを上げられるという副次的な効果もあ
る。
、干渉防止に有効である。また硫黄(S)を導入するこ
とで成膜スピードを上げられるという副次的な効果もあ
る。
導入し得る金属としては、先に挙げた接着層に導入し得
る金属を挙げることができ、例えば、少量のSiSGe
(5atm、%より少ない債)を入れることにより耐摩
耗性や撥水性のある硬い膜を形成することができる。ま
た両者の導入は電荷発生層からの電荷の注入を容易にし
、残留電位の低下や感度」1昇に好ましい効果を与える
。
る金属を挙げることができ、例えば、少量のSiSGe
(5atm、%より少ない債)を入れることにより耐摩
耗性や撥水性のある硬い膜を形成することができる。ま
た両者の導入は電荷発生層からの電荷の注入を容易にし
、残留電位の低下や感度」1昇に好ましい効果を与える
。
またC:H電荷輸送層中の水素の一部をハロゲンに代え
ることにより、撥水性、摩耗性、透光性が向」ニし、特
にフッ素では一〇F、−CF2、−CF 3等が形成さ
れて、屈折率nが小さくなり(1,39)、反射防止効
果が現れる。
ることにより、撥水性、摩耗性、透光性が向」ニし、特
にフッ素では一〇F、−CF2、−CF 3等が形成さ
れて、屈折率nが小さくなり(1,39)、反射防止効
果が現れる。
さらに本発明により得られたC9H電荷輸送層をアルゴ
ンで後処理した後、大気と接触させると、カルボニル基
が導入され表面が活性化され、また−CI’;’ 、−
はCPとなる。
ンで後処理した後、大気と接触させると、カルボニル基
が導入され表面が活性化され、また−CI’;’ 、−
はCPとなる。
炭素およびハロゲン源としては、CtH5G l、c、
I−r3cl、CH3Cl、CH3B r、 COCi
、 t、CCi 、F 7、 CI−I Cl
F 2、 CF’ い I(C,9、cl、、
F7等が例示される。
I−r3cl、CH3Cl、CH3B r、 COCi
、 t、CCi 、F 7、 CI−I Cl
F 2、 CF’ い I(C,9、cl、、
F7等が例示される。
本発明感光体は電荷発生層、電荷輸送層および接着層と
を有する。従ってこれを製造するには少なくとも三工程
を必要とする。電荷発生層として、例えばグロー放電分
解装置を用いて形成したa−6i層を用いるときは、同
一の真空装置を用いてプラズマ重合を行なうことが可能
であり、従ってC:I−IN電荷輸送層表面保護層、接
着層等はプラズマ重合法により行なうのが特に好ましい
。
を有する。従ってこれを製造するには少なくとも三工程
を必要とする。電荷発生層として、例えばグロー放電分
解装置を用いて形成したa−6i層を用いるときは、同
一の真空装置を用いてプラズマ重合を行なうことが可能
であり、従ってC:I−IN電荷輸送層表面保護層、接
着層等はプラズマ重合法により行なうのが特に好ましい
。
第14図および第15図は、本発明に係る感光体の製造
装置で容量結合型プラズマCV D装置を示す。第14
図は平行平板型プラズマCV I)装置、第15図は円
筒型プラズマCVD装置を示す。両装置は、第14図中
においては電極板(22)、(25)おにび基板(24
)が平板型であり、第15図中においては電極板(30
)および基板(31)が円筒型でありるという点で相違
している。また本発明いおいては、別に誘導結合型プラ
ズマCV I)装置によっても作製することができる。
装置で容量結合型プラズマCV D装置を示す。第14
図は平行平板型プラズマCV I)装置、第15図は円
筒型プラズマCVD装置を示す。両装置は、第14図中
においては電極板(22)、(25)おにび基板(24
)が平板型であり、第15図中においては電極板(30
)および基板(31)が円筒型でありるという点で相違
している。また本発明いおいては、別に誘導結合型プラ
ズマCV I)装置によっても作製することができる。
本発明感光体の製造法を平行平板型プラズマCVD装置
(第14図)を例にとり説明する。図中(6)〜(10
)は夫々C,Hい1−I 2、B2H8、SiHいN2
0ガスが密閉された第1乃至第5タンクで、夫々のタン
ク(J第1〜第5IMP弁(Il、)〜(15)とマス
フローコントローラー(16)〜(20)に接続されて
いる。これらのガスは主管(2])を介して反応室(2
3)に送り込まれる。
(第14図)を例にとり説明する。図中(6)〜(10
)は夫々C,Hい1−I 2、B2H8、SiHいN2
0ガスが密閉された第1乃至第5タンクで、夫々のタン
ク(J第1〜第5IMP弁(Il、)〜(15)とマス
フローコントローラー(16)〜(20)に接続されて
いる。これらのガスは主管(2])を介して反応室(2
3)に送り込まれる。
反応室(23)にはコンデンサを介して高周波電源(2
6)に接続される平板型電極板(22)と電気的に接地
されるとともに、A、9の如き導電性平板型基板(24
)が載置される平板型アース電極板(25)が対向配置
して設けられている。また上記平板型電極板(22)は
コイル(27)を介して直流電圧源(28)に接続され
ており、高周波電源(26)からの電力印加に加え直流
バイアス電圧り月−乗せ印加されるようになっている。
6)に接続される平板型電極板(22)と電気的に接地
されるとともに、A、9の如き導電性平板型基板(24
)が載置される平板型アース電極板(25)が対向配置
して設けられている。また上記平板型電極板(22)は
コイル(27)を介して直流電圧源(28)に接続され
ており、高周波電源(26)からの電力印加に加え直流
バイアス電圧り月−乗せ印加されるようになっている。
また電極板(25)上に載置される導電性基板(24)
は図示しない加熱手段によって、例えば室温〜350℃
に加熱されるようになっている。
は図示しない加熱手段によって、例えば室温〜350℃
に加熱されるようになっている。
以上の構成において、例えば第1図に示した感光体を製
造する場合、反応室(23)を一定の真空状態としてか
ら主管(21)を介して第1タンク(6)よりC、T−
14ガス、第2タンク(7)よりキャリアガスとしてH
2ガス、第4タンク(9)よりSiH,ガスを供給する
。一方、高周波電源(26)より電極板(22)に30
watts〜I kw、の電力を印加し、両電極板間に
プラズマ放電を起こし、予め加熱された基板(24)上
に厚さ0.01〜5μmの水素含有炭素とSiを含む接
着層を形成する。このとき、炭素とSiの含有セに勾配
ができるようにしてもよい。
造する場合、反応室(23)を一定の真空状態としてか
ら主管(21)を介して第1タンク(6)よりC、T−
14ガス、第2タンク(7)よりキャリアガスとしてH
2ガス、第4タンク(9)よりSiH,ガスを供給する
。一方、高周波電源(26)より電極板(22)に30
watts〜I kw、の電力を印加し、両電極板間に
プラズマ放電を起こし、予め加熱された基板(24)上
に厚さ0.01〜5μmの水素含有炭素とSiを含む接
着層を形成する。このとき、炭素とSiの含有セに勾配
ができるようにしてもよい。
次に接着層(4)上に第1タンクよりc 、 tr 、
ガス、第2タンクよりH2ガスを流してプラズマ放電を
起こし厚さ5〜50μmのC:H電荷輸送層(2)を形
成する。この水素含有量は出発原料ガスの種類、原料ガ
スと希釈ガス(H2、不活性ガス)比、放電パワー、圧
力、基板温度、DCバイアス電圧、アニール温度、放電
周波数等の製造条件にも依存するが直流電圧源(28)
から50V−IKVのバイアス電圧を印加することによ
り制御できる。即ち、水素含有量はバイアス電圧を大き
くすることによって減少し、C:H電荷輸送層自体の硬
度を高くすることができる。こうして形成されたC :
H電荷輸送層は透光性、暗抵抗に優れ、チャージキャ
リアの輸送性に著しく優れている。尚、この層に、例え
ば第3タンク(8)よりB 2 I−T Rガス、また
は第5タンク(10)よりN、Oガスを導入してP型に
制御して電荷輸送性を一層高めても良い。B t He
ガスの代わりにPH3ガスを使用すればN型に制御する
ことも可能である。
ガス、第2タンクよりH2ガスを流してプラズマ放電を
起こし厚さ5〜50μmのC:H電荷輸送層(2)を形
成する。この水素含有量は出発原料ガスの種類、原料ガ
スと希釈ガス(H2、不活性ガス)比、放電パワー、圧
力、基板温度、DCバイアス電圧、アニール温度、放電
周波数等の製造条件にも依存するが直流電圧源(28)
から50V−IKVのバイアス電圧を印加することによ
り制御できる。即ち、水素含有量はバイアス電圧を大き
くすることによって減少し、C:H電荷輸送層自体の硬
度を高くすることができる。こうして形成されたC :
H電荷輸送層は透光性、暗抵抗に優れ、チャージキャ
リアの輸送性に著しく優れている。尚、この層に、例え
ば第3タンク(8)よりB 2 I−T Rガス、また
は第5タンク(10)よりN、Oガスを導入してP型に
制御して電荷輸送性を一層高めても良い。B t He
ガスの代わりにPH3ガスを使用すればN型に制御する
ことも可能である。
次に電荷発生層(3)は、第2及び第4タンク(7)、
(9)よりH2、SiH4ガスを導入することによりa
−8iを母体とする層として形成される。
(9)よりH2、SiH4ガスを導入することによりa
−8iを母体とする層として形成される。
Egoptは、出発原料ガスの種類、原料ガスと希釈ガ
ス(HP、不活性ガス)比、放電パワー、圧力、基板温
度、DCバイアス電圧、アニール温度、放電周波数等に
依存する。この中でも特に放電パワー、基板温度、アニ
ール温度がE goptを大きく変えうる要因となる。
ス(HP、不活性ガス)比、放電パワー、圧力、基板温
度、DCバイアス電圧、アニール温度、放電周波数等に
依存する。この中でも特に放電パワー、基板温度、アニ
ール温度がE goptを大きく変えうる要因となる。
本発明によるE goptは、f雇T丁−hν (式中
、αは吸収係数を、hνは光エネルギーを表す)プロッ
トによる吸収端より算出できる。
、αは吸収係数を、hνは光エネルギーを表す)プロッ
トによる吸収端より算出できる。
C−H電荷輸送層の比誘電率は特に出発原料ガス、放電
電力、放電により発生(または外部から印加)する直流
バイアス等に依存し、それらを変化させることにより比
誘電率の異なった膜が得られろ。
電力、放電により発生(または外部から印加)する直流
バイアス等に依存し、それらを変化させることにより比
誘電率の異なった膜が得られろ。
尚、第16図に示才容量結合〕(リプラズマCV 1.
)装置は、C,l I−T電荷輸送層源としてC,□I
−18のごときモノマーを用いたときのもので、恒〆晶
槽(32)tJよりモノマー(33)を加熱するととし
に、反応室に連結された管(34)も加熱1.て、モノ
マーを蒸気として反応室(23)内に導入するものであ
る4、その余の構成(」第14図と同一・である3、以
下、実施例を挙げて本発明を説明−1゛ろ。
)装置は、C,l I−T電荷輸送層源としてC,□I
−18のごときモノマーを用いたときのもので、恒〆晶
槽(32)tJよりモノマー(33)を加熱するととし
に、反応室に連結された管(34)も加熱1.て、モノ
マーを蒸気として反応室(23)内に導入するものであ
る4、その余の構成(」第14図と同一・である3、以
下、実施例を挙げて本発明を説明−1゛ろ。
宋−施pロー
(D 環4摺−9−形承、−
第14図に示すグロー放電分解装置において、反応室(
23)の内部を予めI O−’Torr +、:=i圧
し、第1、第2、第3および第4調節弁(11)、(1
2)、(13)および(14)を開放し、第1タンク(
6)から0゜1−14カス、第2タンク(7)からI−
T 、ガス、第3タンク(8)からB、H,ガスおよび
第4タンク(9)から5IH4カスをそれぞれマスフロ
ーコン)・[1−プ(16)、(17)、(18)およ
び(19)にJ−リ、表 1に示す量となるよう調節し
て反応室(23)に導入した3、各ガス流量が安定した
後、反応室の内圧が10’T’、orrとなるよう調節
した。一方、導電性基板(2Il)としては厚さ3mm
の50X50mmのアルミニウム基板を用い、これを予
め250℃に加熱しておき、ガス流量および内圧が安定
した状態で高周波電源(26)を投入し、電極板(22
)に15ワツトの711力を印加して約20分プラズマ
重合を行ない、基板(24)上に接着層を形成した。ガ
ス流量、成膜条件、膜特性を表−1に示す。
23)の内部を予めI O−’Torr +、:=i圧
し、第1、第2、第3および第4調節弁(11)、(1
2)、(13)および(14)を開放し、第1タンク(
6)から0゜1−14カス、第2タンク(7)からI−
T 、ガス、第3タンク(8)からB、H,ガスおよび
第4タンク(9)から5IH4カスをそれぞれマスフロ
ーコン)・[1−プ(16)、(17)、(18)およ
び(19)にJ−リ、表 1に示す量となるよう調節し
て反応室(23)に導入した3、各ガス流量が安定した
後、反応室の内圧が10’T’、orrとなるよう調節
した。一方、導電性基板(2Il)としては厚さ3mm
の50X50mmのアルミニウム基板を用い、これを予
め250℃に加熱しておき、ガス流量および内圧が安定
した状態で高周波電源(26)を投入し、電極板(22
)に15ワツトの711力を印加して約20分プラズマ
重合を行ない、基板(24)上に接着層を形成した。ガ
ス流量、成膜条件、膜特性を表−1に示す。
(II) 慢ニー用叫荷槍堡則豚底−ユ電源を一時停
止し、反応室の内部を1.0−2Torrの真空にした
。
止し、反応室の内部を1.0−2Torrの真空にした
。
第1および第2yA節弁(]1)および(J2)を開放
し、第1タンク(6)および第2タンク(7)からそれ
ぞれC2H、およびI(、ガスをマスフローコントロー
ラ(16)および(17)を介して反応室内(23)へ
導入した。ガス流量が安定化した後、反応室内圧を I
O’rorrに設定し、高周波電源(26)を投入し、
電極板(24)に100Wの電力を印加してプラズマ重
合させた。成膜条件、ガス流量を表−1に示す。
し、第1タンク(6)および第2タンク(7)からそれ
ぞれC2H、およびI(、ガスをマスフローコントロー
ラ(16)および(17)を介して反応室内(23)へ
導入した。ガス流量が安定化した後、反応室内圧を I
O’rorrに設定し、高周波電源(26)を投入し、
電極板(24)に100Wの電力を印加してプラズマ重
合させた。成膜条件、ガス流量を表−1に示す。
(ITI) 町一旦LlW包】V用層!1之成−ど−
電源を一時停止し、反応室の内部をIO″′”rorr
の真空にした。
電源を一時停止し、反応室の内部をIO″′”rorr
の真空にした。
第2および第4調整弁(12)および(14)を開放し
、第2タンク(7)および第4タンク(9)からTI、
ガスおよび5jFriプfスをそれぞれマスフロ−ニJ
ント「1−ラ(17)および(19)を介して表−1に
示−’(−!?X反応室(23)内へ導入した。ガス流
量が安定化I刀こ後、反応室内圧を1.0Torrに設
定し、高周波電源(26)を投入し、電極板(22)に
IOWの電力(周波数13.56MHz )を印加して
、グロー放電させた。成膜条件および得られた感光体の
特性を表−1に示す。B2T(e十H?はB10.(第
3ボンベ)とH2(第2ボンベ)を開いた合計を示−(
1’oなお残留電位および繰り返し安定性の評価におい
て○は極めて良好、△は良好、×は使用不能であること
を示す。「剥離性」は基板と接着層との接着性を示し、
「電荷輸送層との接着性1とiJ、電荷輸送層と接着層
との接着性を示し、○は剥離がなかった、△は端部が剥
がれた、×は完全に剥離したことを示・l−6−40= 130°C185%RHで一晩放置後の基板との接着性 実施例2〜34 表2〜34に示す成膜条件を採用する以外、実施例1と
同様にして感光体を得た。得られた感光体の特性を同じ
く表2〜34に示す。
、第2タンク(7)および第4タンク(9)からTI、
ガスおよび5jFriプfスをそれぞれマスフロ−ニJ
ント「1−ラ(17)および(19)を介して表−1に
示−’(−!?X反応室(23)内へ導入した。ガス流
量が安定化I刀こ後、反応室内圧を1.0Torrに設
定し、高周波電源(26)を投入し、電極板(22)に
IOWの電力(周波数13.56MHz )を印加して
、グロー放電させた。成膜条件および得られた感光体の
特性を表−1に示す。B2T(e十H?はB10.(第
3ボンベ)とH2(第2ボンベ)を開いた合計を示−(
1’oなお残留電位および繰り返し安定性の評価におい
て○は極めて良好、△は良好、×は使用不能であること
を示す。「剥離性」は基板と接着層との接着性を示し、
「電荷輸送層との接着性1とiJ、電荷輸送層と接着層
との接着性を示し、○は剥離がなかった、△は端部が剥
がれた、×は完全に剥離したことを示・l−6−40= 130°C185%RHで一晩放置後の基板との接着性 実施例2〜34 表2〜34に示す成膜条件を採用する以外、実施例1と
同様にして感光体を得た。得られた感光体の特性を同じ
く表2〜34に示す。
なお、表23中の電荷発生層は以下のごとくして設けた
・ 重nt部 スチレン 200メヂル
メタクリレート 160アクリル酸n
−ブヂル 75β−ヒドロキシプロ
ピルアクリレ−ト55マレイン酸
8過酸化ベンゾイル
75エヂレングリコールモノメチルエーテル
+50前記組成の混合物を、キン12350重17を部
を含み105℃に保たれた反応容器に、窒素気流中攪拌
しながら2時間か1プて滴下して反応させ、重合開始後
2時聞手たってから、さらに過酸化ベンゾイル05重量
部を加え、加熱および攪拌しながら8時間反応させ、不
揮発分50%、粘度800 cpsのヒドロキシル基含
有熱硬化性アクリル樹脂を得た。
・ 重nt部 スチレン 200メヂル
メタクリレート 160アクリル酸n
−ブヂル 75β−ヒドロキシプロ
ピルアクリレ−ト55マレイン酸
8過酸化ベンゾイル
75エヂレングリコールモノメチルエーテル
+50前記組成の混合物を、キン12350重17を部
を含み105℃に保たれた反応容器に、窒素気流中攪拌
しながら2時間か1プて滴下して反応させ、重合開始後
2時聞手たってから、さらに過酸化ベンゾイル05重量
部を加え、加熱および攪拌しながら8時間反応させ、不
揮発分50%、粘度800 cpsのヒドロキシル基含
有熱硬化性アクリル樹脂を得た。
このヒドロキシル基含有熱硬化性アクリル樹脂34重里
部とメラミン樹脂(スーパーベッカミンJ820、大日
本インキ(株)製)6重量部とを結着剤とし、これらと
2.4,5.7−テトラニトロ−9−フルオレノン05
重量部、ε型銅フタロシアニン(東洋インキ(株)製)
20重量部、セロソルブアセテート40重量部、メチル
エチルケトン40重量部をボールミルポットに入れ、3
0時間混練して光導電性塗料を調製し、この塗料を表2
3のC:I−I電荷輸送層(2)の」二に塗布、乾燥後
、加熱硬化させ、1μm厚の光導電層を有する電子写真
用感光体を得た。結果を表23にまとめた。
部とメラミン樹脂(スーパーベッカミンJ820、大日
本インキ(株)製)6重量部とを結着剤とし、これらと
2.4,5.7−テトラニトロ−9−フルオレノン05
重量部、ε型銅フタロシアニン(東洋インキ(株)製)
20重量部、セロソルブアセテート40重量部、メチル
エチルケトン40重量部をボールミルポットに入れ、3
0時間混練して光導電性塗料を調製し、この塗料を表2
3のC:I−I電荷輸送層(2)の」二に塗布、乾燥後
、加熱硬化させ、1μm厚の光導電層を有する電子写真
用感光体を得た。結果を表23にまとめた。
130℃、85%RHで一晩放置後の基板との接着性’
30℃、85%RHで一晩放置後の基板との接着性。
30℃、85%RHで一晩放置後の基板との接着性。
25分間で60sccmからOsccmに徐々に′変え
た。
た。
表−5(実施例5)
表−9(実施例9)
表−12(実施例1.2)
表−14(実施例14)
方−17(1て施例17)
表−18(実施例+8)
=60−
表−19(実施例19)
表−20(実施例20)
表−21(実施例21)
表−22(実施例22)
表−24(実施例24)
表−25(実施例25)
=67−
*CI−T4ガスを使用した3゜
表−29(実施例29)
* C3H,ガスを使用した。
ll−
*1−04H+。ガスを使用した。
*C3T−Lガスを使用した。
*CH4ガスを使用した。
130℃、85%RHで一晩放置
比較例1
実施例1において、工程(I[XC:H電荷輸送層の形
成)を省略し、工程(I[I)と同一条件で膜厚5It
mのa−9t:H層を形成せしめ、a−8i:H感光体
を得た。
成)を省略し、工程(I[I)と同一条件で膜厚5It
mのa−9t:H層を形成せしめ、a−8i:H感光体
を得た。
得られた感光体は初期表面電位(V o) −−io。
Vで半減露光量E1/2は0.71ux−secであり
、」−極性では充分な帯電能を示さず、良好な作像は行
えなかった。また、残留電位、繰り返し安定性の点から
も実用に供するものでなく、基板との接着性も悪かった
。
、」−極性では充分な帯電能を示さず、良好な作像は行
えなかった。また、残留電位、繰り返し安定性の点から
も実用に供するものでなく、基板との接着性も悪かった
。
本発明による電荷輸送層が帯電能の向上に著しく寄与し
、かつ好適な輸送性を有する事が理解された。
、かつ好適な輸送性を有する事が理解された。
比較例2
実施例1の工程(I)(接着層の形成)を省略し、工程
(TI)で作製された本発明による電荷輸送層の代わり
に、ポリエチレン膜を有機重合の常法により作製し、そ
の上に工程(I)を施し、a−9i層(0,5μπ)を
作製した。水素含量は67atm、%であり、初期表面
電位は一600■で、a −S i層に起因オろわずか
の電位減衰を(1゛オろ程度で、下祿値には至らないも
のであった。また、残留電位、繰り返し安定性の点から
も実用に(Jい)“る乙のてノイかった。本発明の電荷
輸送層の優位性が認められノこ。
(TI)で作製された本発明による電荷輸送層の代わり
に、ポリエチレン膜を有機重合の常法により作製し、そ
の上に工程(I)を施し、a−9i層(0,5μπ)を
作製した。水素含量は67atm、%であり、初期表面
電位は一600■で、a −S i層に起因オろわずか
の電位減衰を(1゛オろ程度で、下祿値には至らないも
のであった。また、残留電位、繰り返し安定性の点から
も実用に(Jい)“る乙のてノイかった。本発明の電荷
輸送層の優位性が認められノこ。
坦棉−鯉失
第17図に示すアーク放電蒸着装置を用い、工程(1)
を施さず、水素を含有しない炭素11Ωを形成した。第
17図において、真空容器(40)内に(j電源(41
)に接続された電極支持棒(42,42)が設0られ、
夫々に炭素電極(43)、(44)が形成されている基
板保持台(45)上にAρ基板(46)を載置し、容器
内の圧力をl O−5Torr、炭素電極への通電電流
を50Aとしてアーク放電を生起せしめΔQ基板上に厚
さ5μ次の水素を含有しない炭素膜を作成した。
を施さず、水素を含有しない炭素11Ωを形成した。第
17図において、真空容器(40)内に(j電源(41
)に接続された電極支持棒(42,42)が設0られ、
夫々に炭素電極(43)、(44)が形成されている基
板保持台(45)上にAρ基板(46)を載置し、容器
内の圧力をl O−5Torr、炭素電極への通電電流
を50Aとしてアーク放電を生起せしめΔQ基板上に厚
さ5μ次の水素を含有しない炭素膜を作成した。
得られた炭素膜は100Ω・C,m以下の抵抗しか有せ
」゛、電子写真用感光体には使用てきないものてあった
。
」゛、電子写真用感光体には使用てきないものてあった
。
また、炭素膜」−に実施例1と同一の条件でa−8i
: H層(0,571m)を積層したところ、膜剥離が
生じノこ。
: H層(0,571m)を積層したところ、膜剥離が
生じノこ。
十仁士交十吐/(−
接着層を設(ジない以外、実施例1と同様にして感光体
を得た。
を得た。
電荷輸送層はC: I−I電荷輸送層よりなり、その厚
さは55μmであり、電荷発生層はa−8iよりなり、
その厚さは0.5μmであった。
さは55μmであり、電荷発生層はa−8iよりなり、
その厚さは0.5μmであった。
得られた感光体を30°C185%RHの環境下で一晩
放置したところ、基板から完全に剥離した。
放置したところ、基板から完全に剥離した。
本発明による接着層が、接着性の向上に著しく寄Ijシ
、かつ好適な特性を損なわないことが理解され〕こ。
、かつ好適な特性を損なわないことが理解され〕こ。
坦枳L」〜13
実施例と同様の手順で表35〜43に示す感光体を得た
。
。
−80=
*SiH,ガス使用
表−38(比較例8)
*SiH*ガス使用
*SiH4ガス使用
表−41(比較例II)
表−42(比較例12)
表−43(比較例13)
発明の効果
本発明による炭素膜を電荷輸送層に有する感光体は電荷
輸送性、帯電能に優れ、膜厚が薄くても充分な表面電位
を得ることができ、かつ良好な画像を得ることができる
。本発明に従えば、電荷発生層にa−8iを使用する場
合、従来のa−8i感光体では達成することのできなか
った薄膜の感光体を得ることができる。
輸送性、帯電能に優れ、膜厚が薄くても充分な表面電位
を得ることができ、かつ良好な画像を得ることができる
。本発明に従えば、電荷発生層にa−8iを使用する場
合、従来のa−8i感光体では達成することのできなか
った薄膜の感光体を得ることができる。
本発明感光体は高感度で電荷輸送性に優れ、高い帯電能
を示す。さらに、接着層を設けることにより、干渉縞や
ボケの防止が達成され、基板との接着性が改良される。
を示す。さらに、接着層を設けることにより、干渉縞や
ボケの防止が達成され、基板との接着性が改良される。
本発明感光体はその原料が安価であり、必要な各層が同
一の槽内で成膜できるとともに、膜厚が薄くてよいので
、製造コストが安く、かつ製造時間が短くて済む。
一の槽内で成膜できるとともに、膜厚が薄くてよいので
、製造コストが安く、かつ製造時間が短くて済む。
本発明による炭素膜は、薄膜に形成してもピンホールが
生じにく、均質に形成することができるので、薄膜化が
容易である。さらに耐コロナ性、耐酸性、耐湿性、耐熱
性および剛直性にも優れているので、表面保護層として
使用すると感光体の耐久性が向上する。
生じにく、均質に形成することができるので、薄膜化が
容易である。さらに耐コロナ性、耐酸性、耐湿性、耐熱
性および剛直性にも優れているので、表面保護層として
使用すると感光体の耐久性が向上する。
第1図および第9図〜第13図は本発明感光体の模式的
断面図を示す。 第2図から第8図は、接着層の金属と炭素の分布を示す
図である。 第14図〜第16図は本発明感光体製造用装置の一例を
示す図であり、第17図(J比較のために用いたアーク
放電蒸着装置の構成を示す図である、。 図中の記号は以下の通りである。 (1)一基板 (2)・・C:I−[m荷輸送
層(3)・電荷発生層 (4)・・接着層(5)・・
・オーバーコート層 (6)〜(10)・・・タンク (11)〜(15)・
・・調節弁(16)〜(20)マスフローコントローラ
ー(21)・主管 (22)・平板型市極板(
23)・反応室 (24)・・平板型基板(25
)・・平板型アース電極板 (26)・高周波電源 (27)・・・コイル(28
)・・直流電圧源 (29)・・・真空ポンプ(30
)・円筒型電極板 (31)・・円筒型基板(32)・
・恒温槽 (33)・・モノマー(34)・・・
連結管 (40)・・真空容器(41)・・・電
源 (42)・・・電極支持棒(43)、(4
4)・・・炭素電極(45)・・・基板保持台(46)
・・・へρ基板 ふ、) 1 図
?[シ 2121戸3図 第6
図 第9図 第10図 第3図 第4図 第7図 第8図 第 第1頁の絖き ■発明者中村 先便 大阪市東区安土町2丁目3幡地 大阪国際ビル ミノル
タカメラ株式会社内
断面図を示す。 第2図から第8図は、接着層の金属と炭素の分布を示す
図である。 第14図〜第16図は本発明感光体製造用装置の一例を
示す図であり、第17図(J比較のために用いたアーク
放電蒸着装置の構成を示す図である、。 図中の記号は以下の通りである。 (1)一基板 (2)・・C:I−[m荷輸送
層(3)・電荷発生層 (4)・・接着層(5)・・
・オーバーコート層 (6)〜(10)・・・タンク (11)〜(15)・
・・調節弁(16)〜(20)マスフローコントローラ
ー(21)・主管 (22)・平板型市極板(
23)・反応室 (24)・・平板型基板(25
)・・平板型アース電極板 (26)・高周波電源 (27)・・・コイル(28
)・・直流電圧源 (29)・・・真空ポンプ(30
)・円筒型電極板 (31)・・円筒型基板(32)・
・恒温槽 (33)・・モノマー(34)・・・
連結管 (40)・・真空容器(41)・・・電
源 (42)・・・電極支持棒(43)、(4
4)・・・炭素電極(45)・・・基板保持台(46)
・・・へρ基板 ふ、) 1 図
?[シ 2121戸3図 第6
図 第9図 第10図 第3図 第4図 第7図 第8図 第 第1頁の絖き ■発明者中村 先便 大阪市東区安土町2丁目3幡地 大阪国際ビル ミノル
タカメラ株式会社内
Claims (1)
- 1、導電性基板上に、シリコン、ゲルマニウムおよび金
属から選ばれた少なくとも一種の元素と水素含有炭素か
らなる接着層と、水素含有炭素を主成分とする電荷輸送
層と、電荷発生層とを積層してなり、該水素含有炭素が
水素を総原子量に対して0.1〜67atmic%含有
する感光体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60-207897 | 1985-09-19 | ||
JP20789785 | 1985-09-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62148965A true JPS62148965A (ja) | 1987-07-02 |
JPH07107607B2 JPH07107607B2 (ja) | 1995-11-15 |
Family
ID=16547385
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61220616A Expired - Lifetime JPH07107607B2 (ja) | 1985-09-19 | 1986-09-17 | 感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07107607B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01163751A (ja) * | 1986-09-26 | 1989-06-28 | Canon Inc | 電子写真用感光体 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5928162A (ja) * | 1982-08-10 | 1984-02-14 | Toshiba Corp | 電子写真感光体 |
JPS59136742A (ja) * | 1983-01-25 | 1984-08-06 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
JPS629355A (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-17 | ゼロツクス コ−ポレ−シヨン | 無定形炭素を含有する電子写真像形成部材 |
JPS6227748A (ja) * | 1985-07-29 | 1987-02-05 | Pentel Kk | 電子写真用の印刷ドラム |
JPS6263939A (ja) * | 1985-09-17 | 1987-03-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子写真感光体 |
-
1986
- 1986-09-17 JP JP61220616A patent/JPH07107607B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5928162A (ja) * | 1982-08-10 | 1984-02-14 | Toshiba Corp | 電子写真感光体 |
JPS59136742A (ja) * | 1983-01-25 | 1984-08-06 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
JPS629355A (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-17 | ゼロツクス コ−ポレ−シヨン | 無定形炭素を含有する電子写真像形成部材 |
JPS6227748A (ja) * | 1985-07-29 | 1987-02-05 | Pentel Kk | 電子写真用の印刷ドラム |
JPS6263939A (ja) * | 1985-09-17 | 1987-03-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子写真感光体 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01163751A (ja) * | 1986-09-26 | 1989-06-28 | Canon Inc | 電子写真用感光体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07107607B2 (ja) | 1995-11-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |