JPH026961A - 感光体 - Google Patents
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
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- G03G5/14—Inert intermediate or cover layers for charge-receiving layers
- G03G5/147—Cover layers
- G03G5/14704—Cover layers comprising inorganic material
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は表面保護層を有する有機感光体に関する。
従来技術および課題
近年、有機光導電性材料を結着樹脂に配合した電子写真
感光体が広く用いられるにいたっている。
感光体が広く用いられるにいたっている。
この種の感光体はセレンや硫化カドミウム等を工性に優
れている点で工業的生産性に優れるという利点がある。
れている点で工業的生産性に優れるという利点がある。
しかし、これらの有機感光体は硬度に乏しく、繰り返し
使用における転写紙、クリーニング部材、現像剤等の摩
擦により感光体が削れ、傷付きやすい。
使用における転写紙、クリーニング部材、現像剤等の摩
擦により感光体が削れ、傷付きやすい。
そこで、そのような問題を解消するために有機感光体の
表面には、表面保護層を設ける技術か提案されているか
、表面保護層にとって、基本的に重要なことは、表面保
護層を設けることにより感光体特性の低下を招かないこ
とである。
表面には、表面保護層を設ける技術か提案されているか
、表面保護層にとって、基本的に重要なことは、表面保
護層を設けることにより感光体特性の低下を招かないこ
とである。
表面保護層の一種として、適当な有機化合物のブラスマ
重合膜が考えられているが(例えは特開昭60−320
55号公報等)を機態光層の表面上にプラズマ重合を施
した場合、有機感光層中に含有させた光電荷発生物質あ
るいは電荷輸送物質等かプラズマで劣化し、却って感光
体特性が悪くなるという問題がある。
重合膜が考えられているが(例えは特開昭60−320
55号公報等)を機態光層の表面上にプラズマ重合を施
した場合、有機感光層中に含有させた光電荷発生物質あ
るいは電荷輸送物質等かプラズマで劣化し、却って感光
体特性が悪くなるという問題がある。
即ち、ブラスマ重合することにより有機感光層の表面近
傍の構造が電子あるいはイオンの衝撃により破壊され、
有機感光層の表面が電荷輸送層の場合、その表面近傍の
層の輸送性か低下し、残留電位の発生を招き、有機感光
層の表面が電荷発生層の場合、電荷発生能が低下し、殆
ど感度がなくなるくらいまで低下する。電荷発生物質と
電荷輸送物質の混在する単層型構成の場合、上記劣化が
複合して発生する。
傍の構造が電子あるいはイオンの衝撃により破壊され、
有機感光層の表面が電荷輸送層の場合、その表面近傍の
層の輸送性か低下し、残留電位の発生を招き、有機感光
層の表面が電荷発生層の場合、電荷発生能が低下し、殆
ど感度がなくなるくらいまで低下する。電荷発生物質と
電荷輸送物質の混在する単層型構成の場合、上記劣化が
複合して発生する。
発明が解決I、ようとする課題
本発明は上記した問題点を解消し、耐久性に優れ、感光
体として機能するに充分満足のいく感光体特性(特に感
度、残留電位等)を有する、プラズマ重合膜を表面保護
層に有する有機感光体を提供することを目的にする。
体として機能するに充分満足のいく感光体特性(特に感
度、残留電位等)を有する、プラズマ重合膜を表面保護
層に有する有機感光体を提供することを目的にする。
課題を解決するための手段
本発明は導電性支持体(3)上に有機感光層(2)を有
する感光体において、該感光層の表面上に、真空蒸着法
、スパッタリング法またはイオンプレーティング法のい
ずれかで形成された金属化合物薄膜層(I b)および
該金属化合物薄膜層上にプラズマ重合法により生成され
た非晶質炭化水素膜(aC膜)からなる最表面層(l
a)の2層からなる表面保護層(4)を有することを特
徴とする感光体に関する。
する感光体において、該感光層の表面上に、真空蒸着法
、スパッタリング法またはイオンプレーティング法のい
ずれかで形成された金属化合物薄膜層(I b)および
該金属化合物薄膜層上にプラズマ重合法により生成され
た非晶質炭化水素膜(aC膜)からなる最表面層(l
a)の2層からなる表面保護層(4)を有することを特
徴とする感光体に関する。
感光層(2)は自体公知の有機系感光体を導電性基板(
3)上に設けたものであり、感光層(2)の内部構造は
、導電性基板上に光導電性材料と電荷輸送材料を結着剤
に配合した単層型構成の感光層、導電性支持体上に電荷
発生層と電荷輸送層が順次形成されている構成の感光層
、あるいは導電性支持体−ヒに電荷輸送層と電荷発生層
か順次形成されている構成いずれであってもよい。
3)上に設けたものであり、感光層(2)の内部構造は
、導電性基板上に光導電性材料と電荷輸送材料を結着剤
に配合した単層型構成の感光層、導電性支持体上に電荷
発生層と電荷輸送層が順次形成されている構成の感光層
、あるいは導電性支持体−ヒに電荷輸送層と電荷発生層
か順次形成されている構成いずれであってもよい。
上記有機感光層を有する何機系感光体はよく知られてお
り(例えは、NIKKEI NEW MATERI
ALS 1986年12月15日号第83頁〜第98
頁)、感度、帯電能、製造コスト面で優れた感光体であ
り実用化がなされている。
り(例えは、NIKKEI NEW MATERI
ALS 1986年12月15日号第83頁〜第98
頁)、感度、帯電能、製造コスト面で優れた感光体であ
り実用化がなされている。
般に、有機系感光層の作製に用いられる材料としては、
電荷発生に寄与する光導電性材料としては、例えばフタ
ロシアニン系顔料、アゾ系顔料、ペリレン系顔料等が用
いられ、電荷輸送に寄与する電荷輸送材料としては、例
えば、トリフェニルメタン化合物、トリフェニルアミン
化合物、ヒドラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリ
ン化合物、オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合
物等が用いられ、これらを分散塗布せしめるための結着
材料として、例えば、ポリエステル、ポリビニルブチラ
ール、ポリカーボネート、ボリアリレート、フェノキシ
、スチレンアクリル等の樹脂か用いられる。
電荷発生に寄与する光導電性材料としては、例えばフタ
ロシアニン系顔料、アゾ系顔料、ペリレン系顔料等が用
いられ、電荷輸送に寄与する電荷輸送材料としては、例
えば、トリフェニルメタン化合物、トリフェニルアミン
化合物、ヒドラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリ
ン化合物、オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合
物等が用いられ、これらを分散塗布せしめるための結着
材料として、例えば、ポリエステル、ポリビニルブチラ
ール、ポリカーボネート、ボリアリレート、フェノキシ
、スチレンアクリル等の樹脂か用いられる。
導電性基板(3)は、少なくとも最表面が導電性を示す
素材であればよく、また形状も円筒形、可視性ベルト状
、平板状等任意の形態をとることができる。
素材であればよく、また形状も円筒形、可視性ベルト状
、平板状等任意の形態をとることができる。
金属化合物薄膜層(I b)は、後でプラズマ重合法に
より最表面層(l a)を形成する際に、プラズマによ
り光導電層(2)が劣化し、残留電位や感度等の感光体
特性が低下することから保護する役割を担い、また有機
感光層と、後で形成する最表面層との接着性を改良する
働きをする。
より最表面層(l a)を形成する際に、プラズマによ
り光導電層(2)が劣化し、残留電位や感度等の感光体
特性が低下することから保護する役割を担い、また有機
感光層と、後で形成する最表面層との接着性を改良する
働きをする。
金属化合物薄膜層はプラズマにより劣化を受けないこと
、光か照射されたときに光がその層を透過し感光層に達
することがでさること、さらに感光層中で発生した電荷
の注入をうけて表面電荷を中和消滅させる事に障害とな
らないことが必要である。
、光か照射されたときに光がその層を透過し感光層に達
することがでさること、さらに感光層中で発生した電荷
の注入をうけて表面電荷を中和消滅させる事に障害とな
らないことが必要である。
これらの金属化合物材料としては5iO1Si02、T
iO2、S i C,MgO,MgF2、T10、Nb
2O,,5n02、ZnO,S i )N、、A203
、Z r O2、Ta2O,等か挙げられるが、好まし
いものとしてはSin、At□03、MgO。
iO2、S i C,MgO,MgF2、T10、Nb
2O,,5n02、ZnO,S i )N、、A203
、Z r O2、Ta2O,等か挙げられるが、好まし
いものとしてはSin、At□03、MgO。
Nb2O,等か挙げられる。
金属化合物薄膜層は真空蒸着法、スパッタリング法また
はイオンプレーティング法を用い、公知の装置を用いて
容易にしかも均一な厚さの薄膜を作製することができる
。
はイオンプレーティング法を用い、公知の装置を用いて
容易にしかも均一な厚さの薄膜を作製することができる
。
金属化合物薄膜層は核層に本発明の目的とする機能を付
与できる限りできるだけ薄く形成することが好ましく、
3μm以下、より好ましくは0.1〜2μmの膜厚に形
成する。その膜厚か0 、 l tlmより薄いときは
均一な薄膜を形成するのが難しく、また2μmより厚い
膜を形成すると透光性の悪化、体積抵抗の上昇等の問題
が生じる。
与できる限りできるだけ薄く形成することが好ましく、
3μm以下、より好ましくは0.1〜2μmの膜厚に形
成する。その膜厚か0 、 l tlmより薄いときは
均一な薄膜を形成するのが難しく、また2μmより厚い
膜を形成すると透光性の悪化、体積抵抗の上昇等の問題
が生じる。
a−C膜よりなる最表面層(1a)はそれ自体好適な帯
電能を有し、透光性に優れ、4a程度の硬度の高い傷の
付きにくい膜であるが、有機感光層上に直接設けると前
記したように、有機感光層がプラズマダメージを受け、
感度低下、残留電位上昇等の感光体特性か低下する問題
が生じるが、本発明により感光層とa−C層の間に前記
金属化合物薄膜層を設けることにより、先導7jL層の
機能を維持しなから、a−C層の有する好適な帯電能、
透光性、硬度等の長所を有する最表面層を形成すること
か可能となる。
電能を有し、透光性に優れ、4a程度の硬度の高い傷の
付きにくい膜であるが、有機感光層上に直接設けると前
記したように、有機感光層がプラズマダメージを受け、
感度低下、残留電位上昇等の感光体特性か低下する問題
が生じるが、本発明により感光層とa−C層の間に前記
金属化合物薄膜層を設けることにより、先導7jL層の
機能を維持しなから、a−C層の有する好適な帯電能、
透光性、硬度等の長所を有する最表面層を形成すること
か可能となる。
a−C膜中に含有される水素原子の量は特に制限はない
か、表面保護層の構造およびグロー放電という製造面か
ら必然的に制約され、その量は概ね5ないし60atm
ic%(以下ratm、%」と略す)となる。
か、表面保護層の構造およびグロー放電という製造面か
ら必然的に制約され、その量は概ね5ないし60atm
ic%(以下ratm、%」と略す)となる。
a−C膜中に含有される炭素原子、水素原子の量は、有
機元素分析、オージェ分析、SIMS分析等の手段によ
り知ることができる。
機元素分析、オージェ分析、SIMS分析等の手段によ
り知ることができる。
本発明の最表面層(1a)は、0.01ないし5μm、
好ましくは0.05ないし2μm1 より好ましくは0
.1ないしlpmの厚さに形成する。
好ましくは0.05ないし2μm1 より好ましくは0
.1ないしlpmの厚さに形成する。
0.012mより薄いと膜強度が低下し、傷が付きやす
くなる。また、5μmより厚いと透光性が低下し、照射
光を感光層中に有効に導くことができなくなり感度低下
を招く。
くなる。また、5μmより厚いと透光性が低下し、照射
光を感光層中に有効に導くことができなくなり感度低下
を招く。
最表面層(1a)はグロー放電プラズマ法により形成す
る。最表面層(1a)は気相状態の少なくとも炭素原子
および水素原子を含む分子を減圧下で放電し、発生した
プラズマ雰囲気中に含まれる活性中性種あるいは荷電種
を基板上に拡散、電気力あるいは磁気力等により誘導し
、基板上での再結合反応により固相として堆積させる、
いわゆるプラスマ反応(以下、P−CVD反応という)
することによりa−CrI!Xとして形成することかで
きる。
る。最表面層(1a)は気相状態の少なくとも炭素原子
および水素原子を含む分子を減圧下で放電し、発生した
プラズマ雰囲気中に含まれる活性中性種あるいは荷電種
を基板上に拡散、電気力あるいは磁気力等により誘導し
、基板上での再結合反応により固相として堆積させる、
いわゆるプラスマ反応(以下、P−CVD反応という)
することによりa−CrI!Xとして形成することかで
きる。
上記各分子は常温常圧において必ずしも気相で有る必要
はなく、加熱あるいは減圧等により溶融、蒸発、昇華等
を経て気化し得るものであれば、液相でも固相でも使用
可能である。
はなく、加熱あるいは減圧等により溶融、蒸発、昇華等
を経て気化し得るものであれば、液相でも固相でも使用
可能である。
少なくとも炭素原子および水素原子を含む分子としては
炭化水素、例えば飽和炭化水素、不飽和炭化水素、脂環
式炭化水素、芳香族炭化水素等を用いることができる。
炭化水素、例えば飽和炭化水素、不飽和炭化水素、脂環
式炭化水素、芳香族炭化水素等を用いることができる。
飽和炭化水素としては、例えは、メタン、エタン、プロ
パン、ブタン、ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタ
ン、イソブタン、インペンタン、ネオペンタン、インヘ
キサン、ネオヘキサン、ジメチルブタン、メチルヘキサ
ン、エチルペンタン、ンメチルベンタン、トリブタン、
メチルへブタン、ジメチルヘキサン、トリメチルペンタ
ン、イソナノン等を用いることができる。
パン、ブタン、ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタ
ン、イソブタン、インペンタン、ネオペンタン、インヘ
キサン、ネオヘキサン、ジメチルブタン、メチルヘキサ
ン、エチルペンタン、ンメチルベンタン、トリブタン、
メチルへブタン、ジメチルヘキサン、トリメチルペンタ
ン、イソナノン等を用いることができる。
不飽和炭化水素としては、例えは、エチレン、プロピレ
ン、インブチレン、ブテン、ペンテン、メチルブテン、
ヘキセン、テトラメチルエチレン、ヘプテン、オクテン
、アレン、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、
ヘキサジエン、シクロペンタンエン、オシメン、アロン
メン、ミルセン、ヘキサトリエン、アセチレン、メチル
アセチレン、ブチン、ペンチン、ヘキンン、ヘプチン、
オクチン、ブタジイン等を用いることかできる。
ン、インブチレン、ブテン、ペンテン、メチルブテン、
ヘキセン、テトラメチルエチレン、ヘプテン、オクテン
、アレン、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、
ヘキサジエン、シクロペンタンエン、オシメン、アロン
メン、ミルセン、ヘキサトリエン、アセチレン、メチル
アセチレン、ブチン、ペンチン、ヘキンン、ヘプチン、
オクチン、ブタジイン等を用いることかできる。
脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロベンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロプロペン、シクロブ
テン、シクロペンテン、/クロヘキセン、シクロヘプテ
ン、シクロオクテン、リモネン、テルヒルン、フエラン
ドレン、ンルベス!・エン、ツエン、カレン、ビイ、ン
、ポルニエン、カンフエン、フエンチェン、シクロブテ
ンチエン、トリシクレン、ピサポエン、ジンギベエン、
クルクメン、フムレン、カジ不ンセスキベニヘン、セリ
不ン、カリオフィレン、サンタレン、セドレン、カンホ
エン、フィロクラテン、ホトカルプレン、ミエン等を用
いることができる。
クロブタン、シクロベンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロプロペン、シクロブ
テン、シクロペンテン、/クロヘキセン、シクロヘプテ
ン、シクロオクテン、リモネン、テルヒルン、フエラン
ドレン、ンルベス!・エン、ツエン、カレン、ビイ、ン
、ポルニエン、カンフエン、フエンチェン、シクロブテ
ンチエン、トリシクレン、ピサポエン、ジンギベエン、
クルクメン、フムレン、カジ不ンセスキベニヘン、セリ
不ン、カリオフィレン、サンタレン、セドレン、カンホ
エン、フィロクラテン、ホトカルプレン、ミエン等を用
いることができる。
芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン、トルエン
、キンエン、ヘミメリテン、プソイドクメン、メンチエ
ン、プレニテン、インジュレン、ジュレン、ペンタメチ
ルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチルベンゼン、
フロビルベンゼン、メタン、スチレン、ヒフェニル、テ
ルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニルメタン、
ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタリン、テト
ラリン、アントラセン、フェナントレン等を用いること
ができる。
、キンエン、ヘミメリテン、プソイドクメン、メンチエ
ン、プレニテン、インジュレン、ジュレン、ペンタメチ
ルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチルベンゼン、
フロビルベンゼン、メタン、スチレン、ヒフェニル、テ
ルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニルメタン、
ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタリン、テト
ラリン、アントラセン、フェナントレン等を用いること
ができる。
とりわけ、不飽和結合を有する化合物は反応性に富むた
め、良質な膜生成の上で好ましい。中でも、成膜性、カ
スの取り扱い易さ、コストの面で、ブタン゛エン並ひに
プロピ1−ンは特に好ましい。
め、良質な膜生成の上で好ましい。中でも、成膜性、カ
スの取り扱い易さ、コストの面で、ブタン゛エン並ひに
プロピ1−ンは特に好ましい。
a−C膜中に含まれる水素原子の量は、成膜装置の形態
並びに成膜時の条件により変化し水素量か低くなる場合
としては、例えは、基板は度を高くする、圧力を低くす
る、原料炭化水素ガスの希釈率を低くする、水素量を率
の低い原料ガスを用いる、印加電力を高くする、交番電
界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめた直流電
界強度を高くする、等の場合が挙げられる。
並びに成膜時の条件により変化し水素量か低くなる場合
としては、例えは、基板は度を高くする、圧力を低くす
る、原料炭化水素ガスの希釈率を低くする、水素量を率
の低い原料ガスを用いる、印加電力を高くする、交番電
界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめた直流電
界強度を高くする、等の場合が挙げられる。
第2図および第3図は本発明の最表面層を形成するため
のグロー放電分解装置の一例を示す図である。第2図は
平行平板型P−CVD装置、第3図は円筒型1”−CV
D装置を示す。
のグロー放電分解装置の一例を示す図である。第2図は
平行平板型P−CVD装置、第3図は円筒型1”−CV
D装置を示す。
まず、第2図を用いて説明する。
第2図中(701)〜(706)は常温において気相状
態にある原料化合物およびキャリアガスを密封した第1
ないし第6タンクで、各々のタンクは第1ないし第6調
節弁(707)〜(712)と第1ないし第6流量制御
器(713)=−(718)に接続されている。
態にある原料化合物およびキャリアガスを密封した第1
ないし第6タンクで、各々のタンクは第1ないし第6調
節弁(707)〜(712)と第1ないし第6流量制御
器(713)=−(718)に接続されている。
キャリアガスとしては水素ガス、アルゴンガス、ヘリウ
ムガス等を用し゛ることかできる。
ムガス等を用し゛ることかできる。
図中(719)〜(721)は常温において液相または
固相状態にある原料化合物を封入した第1ないし第3容
器で、各々の容器は気化のため、第1ないし第3加熱器
(722)〜(724)により与熱可能であり、さらに
各々の容器は第7ないし第9調節弁(725)〜(72
7)と第7ないし第9流量制御器(728)〜(730
)に接続されている。
固相状態にある原料化合物を封入した第1ないし第3容
器で、各々の容器は気化のため、第1ないし第3加熱器
(722)〜(724)により与熱可能であり、さらに
各々の容器は第7ないし第9調節弁(725)〜(72
7)と第7ないし第9流量制御器(728)〜(730
)に接続されている。
これらのガスは混合器(731)で混合された後、主管
(732)を介して反応室(733)に送り込まれる。
(732)を介して反応室(733)に送り込まれる。
途中の配管は、常温において液相または固相状態であっ
た原料化合物か気化したガスで、途中で凝結しないよう
に、適宜配置された配管加熱器(734)により、与熱
可能とされている。
た原料化合物か気化したガスで、途中で凝結しないよう
に、適宜配置された配管加熱器(734)により、与熱
可能とされている。
反応室内には接地電極(735)と電力印加電極(73
6)が対向(7て設置され、各々の電極は電極加熱器(
737)により与熱可能とされている。
6)が対向(7て設置され、各々の電極は電極加熱器(
737)により与熱可能とされている。
電力印加電極(736)には、高周波電力用整合器(7
38)を介して高周波電源(739)、低周波電力用整
合器(740)を介して低周波電源(741)、ローパ
スフィルタ(742)を介して直流電源(743)が接
続されており、接続選択スイッチ(744)により周波
数の異なる電力、例えば、周波数IKHzないし100
0Kf(Zの低周波電力、あるいは1.3.56MHz
の高周波電力等が印加可能とされている。さらに、直流
電力を重畳することも可能である。
38)を介して高周波電源(739)、低周波電力用整
合器(740)を介して低周波電源(741)、ローパ
スフィルタ(742)を介して直流電源(743)が接
続されており、接続選択スイッチ(744)により周波
数の異なる電力、例えば、周波数IKHzないし100
0Kf(Zの低周波電力、あるいは1.3.56MHz
の高周波電力等が印加可能とされている。さらに、直流
電力を重畳することも可能である。
反応室(733)内の圧力は圧力制御弁(745)によ
り調整可能であり、反応室(733)内の減圧は、排気
系選択弁(746)を介して、拡散ポンプ(747)、
油回転ポンプ(748)、あるいは、冷却除外装置t(
749)、メカニカルブースタポンプ(750)、油回
転ポンプ(748)により行なわれる。
り調整可能であり、反応室(733)内の減圧は、排気
系選択弁(746)を介して、拡散ポンプ(747)、
油回転ポンプ(748)、あるいは、冷却除外装置t(
749)、メカニカルブースタポンプ(750)、油回
転ポンプ(748)により行なわれる。
排ガスについては、さらに適当な除外装置(753)に
より安全無害化した後、大気中に排気される。
より安全無害化した後、大気中に排気される。
これら排気系配管についても、常温において液相または
固相状態にあった原料化合物か気化したカスか、途中で
凝結しないように、適宜配置された配管加熱器(734
)により、与熱可能とされている。
固相状態にあった原料化合物か気化したカスか、途中で
凝結しないように、適宜配置された配管加熱器(734
)により、与熱可能とされている。
反応室(733)も同様の理由から反応室加熱器(75
1)により与熱可能とされ、内部に配された電極上に基
板(752)が設置される。
1)により与熱可能とされ、内部に配された電極上に基
板(752)が設置される。
これらの加熱器類は、使用される原料ガスの性質に応じ
て配するか否かを選択すればよいが、特に、原料ガスと
して常圧下での沸点が一50°Cないし+15°Cの有
機化合物を用いた場合においては不要となる場合が多く
、製造装置の簡素化か可能となり好ましい。
て配するか否かを選択すればよいが、特に、原料ガスと
して常圧下での沸点が一50°Cないし+15°Cの有
機化合物を用いた場合においては不要となる場合が多く
、製造装置の簡素化か可能となり好ましい。
一般に、沸点が一50°Cより低い有機化合物を原料ガ
スとして用いた場合には、反応室(733)内部での微
粉状重合物の発生を防止するために、沸点か+15°C
より高い有機化合物を原料ガスとして用いた場合には、
各種配管内での凝結防止のために、それぞれ上述の如き
各種加熱器を配することが望ましい。
スとして用いた場合には、反応室(733)内部での微
粉状重合物の発生を防止するために、沸点か+15°C
より高い有機化合物を原料ガスとして用いた場合には、
各種配管内での凝結防止のために、それぞれ上述の如き
各種加熱器を配することが望ましい。
第2図において基板(752)は接地電極(735)に
固定して配されているが、電力印加電極(736)に固
定して配されても良く、さらに双方に配されても良い。
固定して配されているが、電力印加電極(736)に固
定して配されても良く、さらに双方に配されても良い。
第3図に示した装置も基本的には第2図に示した装置と
同様であり、反応室(733)内の形態か基板(752
)か円筒形であることに応じて変更されているものであ
る。基板(752)は接地電極(735)を兼ね、電力
印加電極(736)および電極加熱器(737)共に円
筒形をなしている。まt;基板(752)は、外部より
駆動モータ(図示せず)を用いて、自伝り能となってい
る。
同様であり、反応室(733)内の形態か基板(752
)か円筒形であることに応じて変更されているものであ
る。基板(752)は接地電極(735)を兼ね、電力
印加電極(736)および電極加熱器(737)共に円
筒形をなしている。まt;基板(752)は、外部より
駆動モータ(図示せず)を用いて、自伝り能となってい
る。
以上の構成において、感光体製造に供する反応室は、拡
散ポンプにより予めlo−4ないしto−6Torr程
度にまで減圧し、真空度の確認ど装置内部に吸着したカ
スの脱離を行なう。
散ポンプにより予めlo−4ないしto−6Torr程
度にまで減圧し、真空度の確認ど装置内部に吸着したカ
スの脱離を行なう。
同時に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配
された基板を所定の温度まで昇温する。
された基板を所定の温度まで昇温する。
基板としては導Tt、性基板上に自体公知の有機系感光
層に金属化合物薄膜層を設けた感光体を用いる。このと
き有機系感光層の熱変性を防止するために基板温度は約
100°C以下に設定することか好ましい。
層に金属化合物薄膜層を設けた感光体を用いる。このと
き有機系感光層の熱変性を防止するために基板温度は約
100°C以下に設定することか好ましい。
次いで、第1ないし第6タンクiりよひ第1ないし第3
容器から原料カスを第1ないし第9流量制御器を用いて
定流量化しなから反応室内に導入し、圧力調整弁により
反応室内を概ね0.05Torrないし5.0′For
r程度の減圧状態に保つ。
容器から原料カスを第1ないし第9流量制御器を用いて
定流量化しなから反応室内に導入し、圧力調整弁により
反応室内を概ね0.05Torrないし5.0′For
r程度の減圧状態に保つ。
カス流量が安定化しj−渦、接続選択スインチにより、
例えは低周波電源を選択し、電力印加電極に低周波電力
を投入する。
例えは低周波電源を選択し、電力印加電極に低周波電力
を投入する。
両電極間には放電が開始され、時間とともに基板上に固
相の有機プラズマ重合膜が形成される。
相の有機プラズマ重合膜が形成される。
膜体積速度は10人/分〜3μm/分、好ましくは10
0人/分〜ltim/分、さらに好ましくは500人/
分〜500〇八/分であることが好ましい。膜堆積速度
がIO人/分より低い場合は、生産性の面で好ましくな
い。膜堆積速度が3μm/分より高い場合には膜荒れが
発生しやすく、必ずしも均質な膜か得られるとは限らな
くなり好ましくない。
0人/分〜ltim/分、さらに好ましくは500人/
分〜500〇八/分であることが好ましい。膜堆積速度
がIO人/分より低い場合は、生産性の面で好ましくな
い。膜堆積速度が3μm/分より高い場合には膜荒れが
発生しやすく、必ずしも均質な膜か得られるとは限らな
くなり好ましくない。
所定の膜厚に達したところで放電を停止し、本発明によ
るa−C膜を最表面層として仔する感光体を得る。
るa−C膜を最表面層として仔する感光体を得る。
本発明の最表面層a−C膜中には炭素、水素以外のへテ
ロ原子、例えばフッ素、塩素、臭素あるいはヨウ素等の
7・ロゲン原子、酸素原子、窒素原子、導電性支配物質
としての周期律表第■族元素(B、AI、Ga、In、
等)、周期律表第V族元素(P、AS、sl)等)を含
有させてもよい。
ロ原子、例えばフッ素、塩素、臭素あるいはヨウ素等の
7・ロゲン原子、酸素原子、窒素原子、導電性支配物質
としての周期律表第■族元素(B、AI、Ga、In、
等)、周期律表第V族元素(P、AS、sl)等)を含
有させてもよい。
ハロゲ;、・・ニーE−の導入は、表面の滑り性を良く
し、表面保護層の耐フィルミング性を向上させることか
できる。係る効果は7ノ素原子を導入したときに特に大
きい。
し、表面保護層の耐フィルミング性を向上させることか
できる。係る効果は7ノ素原子を導入したときに特に大
きい。
酸素原子または窒素原子の導入は各原子が耐湿性の向上
に効果か認められる。これはウィークポンド全、反応中
に強制的に切断して、その間を補填し、窒素/炭素原子
間、酸素/炭素原子間の強固な結合を形成し、結果、水
分の付着を阻止するl二めと考えられる。
に効果か認められる。これはウィークポンド全、反応中
に強制的に切断して、その間を補填し、窒素/炭素原子
間、酸素/炭素原子間の強固な結合を形成し、結果、水
分の付着を阻止するl二めと考えられる。
V族および■族元素の添加は、相対的に表面側をN型(
■族元素)、P型(■族元素)になるように導入する3
、そうすることにより、逆7)イアス効果をもたせるこ
とかでき、帯電能の向上、暗減衰の低減および感度の向
上等が達成される。
■族元素)、P型(■族元素)になるように導入する3
、そうすることにより、逆7)イアス効果をもたせるこ
とかでき、帯電能の向上、暗減衰の低減および感度の向
上等が達成される。
■族元素の添加は有害短波長光のカット効果があり、光
疲労を発生しやすい有機感光体に有効である。
疲労を発生しやすい有機感光体に有効である。
これらのへテロ原子は複数用いてもよいし、目的により
a−C最表面層内で特定の位置だけに混入してもよいし
、濃度分布等を有してもよい。
a−C最表面層内で特定の位置だけに混入してもよいし
、濃度分布等を有してもよい。
ハロゲン原子、酸素原子、窒素原子、周期律表第■族元
素、周期律表第■族元素、あるいは周期律表第V族元素
等のへテロ原子をa−C膜に混入させるには、これらの
元素を含む適当なガス状化合物を炭化水素ガスと共に、
プラズマ状態にして成膜すればよい。もちろんそれらの
化合物における相状態は常温常圧において必ずしも気相
である必要はなく、加熱あるいは減圧等により溶融、蒸
発、昇華等を経て気化しうるちのであれば、液相でも固
相でも使用可能である。
素、周期律表第■族元素、あるいは周期律表第V族元素
等のへテロ原子をa−C膜に混入させるには、これらの
元素を含む適当なガス状化合物を炭化水素ガスと共に、
プラズマ状態にして成膜すればよい。もちろんそれらの
化合物における相状態は常温常圧において必ずしも気相
である必要はなく、加熱あるいは減圧等により溶融、蒸
発、昇華等を経て気化しうるちのであれば、液相でも固
相でも使用可能である。
少なくともハロゲン原子を含む分子としては、例えは、
フッ素、塩素、臭素、ヨウ素、7ツ化水素、塩化水素、
臭化水素、ヨウ化水素、フッ化メチル、塩化メチル、臭
化メチル、ヨウ化メチル、フッ化エチル、フッ化プロピ
ル、フッ化ブチル、7ノ化アミル、フルオルベンゼン、
クロルベンゼン、フルオルスチレン、フルオロホルム、
クロオホルム、四フッ化炭素、フッ化ビニリデン、パー
フルオロエチレン、パーフルオロプロパン等を用いるこ
とができる。
フッ素、塩素、臭素、ヨウ素、7ツ化水素、塩化水素、
臭化水素、ヨウ化水素、フッ化メチル、塩化メチル、臭
化メチル、ヨウ化メチル、フッ化エチル、フッ化プロピ
ル、フッ化ブチル、7ノ化アミル、フルオルベンゼン、
クロルベンゼン、フルオルスチレン、フルオロホルム、
クロオホルム、四フッ化炭素、フッ化ビニリデン、パー
フルオロエチレン、パーフルオロプロパン等を用いるこ
とができる。
少なくとも酸素原子を含む分子としては、例えば、酸素
、水蒸気、亜酸化窒素、−酸化炭素、二酸化炭素、メタ
ノーノ呟エタノーノ呟ホルムアルデヒド、アセトアルデ
ヒド、ギ酸、酢酸、アセトン、エチルメチルケトン、メ
チルエーテル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ビ
ニルエーテル、a化エチエン、ジオキサン、ギ酸エチル
、酢酸メチル、7ラン、オキサソール等を用いることが
できる。これらの分子は複数用いてもよい。
、水蒸気、亜酸化窒素、−酸化炭素、二酸化炭素、メタ
ノーノ呟エタノーノ呟ホルムアルデヒド、アセトアルデ
ヒド、ギ酸、酢酸、アセトン、エチルメチルケトン、メ
チルエーテル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ビ
ニルエーテル、a化エチエン、ジオキサン、ギ酸エチル
、酢酸メチル、7ラン、オキサソール等を用いることが
できる。これらの分子は複数用いてもよい。
少なくとも窒素原子を含む分子としては、例えば、窒素
、アンモニア、亜酸化窒素、−酸化窒素、二酸化窒素、
メチルアミン、エチルアミン、ヒドラジン、アニリン、
メチルアニリン、トルイジン、ベンジルアミン、エチレ
ンジアミン、アセトニトリル、ピローノ呟オキサゾール
、チアゾール、イミダゾール、ピリジン、オキサジ〉・
、カルバソール、フエナントリジン、イミダゾチアゾー
ル等を用いることができる。
、アンモニア、亜酸化窒素、−酸化窒素、二酸化窒素、
メチルアミン、エチルアミン、ヒドラジン、アニリン、
メチルアニリン、トルイジン、ベンジルアミン、エチレ
ンジアミン、アセトニトリル、ピローノ呟オキサゾール
、チアゾール、イミダゾール、ピリジン、オキサジ〉・
、カルバソール、フエナントリジン、イミダゾチアゾー
ル等を用いることができる。
少なくとも周期律表第■族元素を含む分子としでは、例
えば、B2H6、BCi23、BBr、、BF、、B(
OC2H5)3、/1c123、A+1(CH3)II
、A12(OiC3H?)3、Ga(CzHs)3、I
n(C2)(S)1等を用いることかできる。
えば、B2H6、BCi23、BBr、、BF、、B(
OC2H5)3、/1c123、A+1(CH3)II
、A12(OiC3H?)3、Ga(CzHs)3、I
n(C2)(S)1等を用いることかできる。
少なくとも周期律表第■族元素を含む化合物としては、
例えば、SiHいS1□H,、(C2H5)3SiH1
SiFい5iHzC1z、512F2H2,5iC1,
、S i(OCH3)4、S i(OC2H、)、、S
i(OC3Hア)1、GeH,、GeC1いGeF、
、Ge、H,、Ge(QCHl)1、Ge(OC2H6
)4% Ge(C2+(S)4、(CH3)、 S n
、 S n(○CH、)イ(C2H、)4 S n、
S nCtt等を用いることかできる。
例えば、SiHいS1□H,、(C2H5)3SiH1
SiFい5iHzC1z、512F2H2,5iC1,
、S i(OCH3)4、S i(OC2H、)、、S
i(OC3Hア)1、GeH,、GeC1いGeF、
、Ge、H,、Ge(QCHl)1、Ge(OC2H6
)4% Ge(C2+(S)4、(CH3)、 S n
、 S n(○CH、)イ(C2H、)4 S n、
S nCtt等を用いることかできる。
少なくとも周期律表第V族元素を含む分子としては、例
えば、PH,、PF、、PF、、P(12F。
えば、PH,、PF、、PF、、P(12F。
PC02F、、PCQ3、PBr3、P O(OCt(
3)3、P(C2H5)3、POCQ、、AsH,、A
sCQ3、AsBr、、AsF、、AsF 5、AsC
Q、、SbH,,5bF1.5bC12x、5b(OC
zHs)x等を用いることができる。
3)3、P(C2H5)3、POCQ、、AsH,、A
sCQ3、AsBr、、AsF、、AsF 5、AsC
Q、、SbH,,5bF1.5bC12x、5b(OC
zHs)x等を用いることができる。
a−C膜中に含まれる上記へテロ原子の量は、プラズマ
CVD反応に用いるヘテロ原子を含む分子の量を増減す
ることにより調整することができる。a−C膜に含まれ
るヘテロ原子の量をa−C膜の深さ方向に対して不均一
に分布させるには、プラズマCVD反応中にヘテロ原子
を含む分子の量を増減することにより調整すればよい。
CVD反応に用いるヘテロ原子を含む分子の量を増減す
ることにより調整することができる。a−C膜に含まれ
るヘテロ原子の量をa−C膜の深さ方向に対して不均一
に分布させるには、プラズマCVD反応中にヘテロ原子
を含む分子の量を増減することにより調整すればよい。
ここで、ヘテロ原子の添加はO、l atm、%以上で
効果が現われる。上限は特に制限はなく、使用する原料
と、グIフー放電法という製法により必然的に定まる。
効果が現われる。上限は特に制限はなく、使用する原料
と、グIフー放電法という製法により必然的に定まる。
なお、°上記へテロ原子の含有量はオージェ分析、有機
元素分析等の手段により知ることができる。
元素分析等の手段により知ることができる。
剰■
ナタニルフタロンアニン(TiOPc)を抵抗加熱法を
用いてポート温度400°Cないし500°C1真空度
10−’ないし10−”Torrのもとて真空蒸着し、
直径80×長さ330mmの円筒状アルミニウム基板上
に、厚さ2500人のTiOPc蒸着膜を電荷発生層と
して形成した。
用いてポート温度400°Cないし500°C1真空度
10−’ないし10−”Torrのもとて真空蒸着し、
直径80×長さ330mmの円筒状アルミニウム基板上
に、厚さ2500人のTiOPc蒸着膜を電荷発生層と
して形成した。
次いで、p−ビスジエチルアミノテトラフェニルブタジ
ェン(特開昭62−30255号公報に記M、)1重量
部およびポリカーボネート(帝人化成社製に−1300
)1重量部をT I−(F 6重量部に溶解させ、この
溶液を電荷発生層上に乾燥膜厚が15μmnとなるよう
に塗布し、乾燥させて電荷輸送層を形成し、有機系感光
層を形成した。
ェン(特開昭62−30255号公報に記M、)1重量
部およびポリカーボネート(帝人化成社製に−1300
)1重量部をT I−(F 6重量部に溶解させ、この
溶液を電荷発生層上に乾燥膜厚が15μmnとなるよう
に塗布し、乾燥させて電荷輸送層を形成し、有機系感光
層を形成した。
さらに、この感光層の上にI X 10−’Torrの
真空下でSiOを蒸着し厚さ3500人の金属化合物薄
膜層を形成した。
真空下でSiOを蒸着し厚さ3500人の金属化合物薄
膜層を形成した。
最後に、第3図に示したプラズマ重合装置を用いて、下
記した条件で有機プラズマ重合膜からなる表面保護層を
形成した。
記した条件で有機プラズマ重合膜からなる表面保護層を
形成した。
使用ガス: 水素 300 secmブタジェ
ン losccm 四フッ化炭素 10105e 成膜条件: 圧力 Q、3Torr電源;低周
波電源 周波数 30KHz 電力 350W 基板温度 70°C 成膜時間 10分間 膜厚 1000八 評価 碍られた感光体の静電特性、耐刷試験および耐刷試験後
の静電特性を評価した。
ン losccm 四フッ化炭素 10105e 成膜条件: 圧力 Q、3Torr電源;低周
波電源 周波数 30KHz 電力 350W 基板温度 70°C 成膜時間 10分間 膜厚 1000八 評価 碍られた感光体の静電特性、耐刷試験および耐刷試験後
の静電特性を評価した。
静電特性は、光源をレーザー光学系(波長780 nm
)に変えた電子複写機(EP−14702(ミノルタカ
メラ社製))を用い、得られた感光体を上記複写機E
P −4702に搭載し、−6、2K Vでコロナ帯電
させたときの初期表面電位(V、)、その初期表面電位
全半減させるのに要した露光量E1/2(erg/ c
m2)、および色温度2200°にのハロケンランプを
60 (1ux−secl照射したときの残留電位Vr
(V)を測定した。
)に変えた電子複写機(EP−14702(ミノルタカ
メラ社製))を用い、得られた感光体を上記複写機E
P −4702に搭載し、−6、2K Vでコロナ帯電
させたときの初期表面電位(V、)、その初期表面電位
全半減させるのに要した露光量E1/2(erg/ c
m2)、および色温度2200°にのハロケンランプを
60 (1ux−secl照射したときの残留電位Vr
(V)を測定した。
耐刷試験は、上記EP−4702を用い、初期、500
0枚、7000枚、10000枚、20000枚、40
000枚、50000枚、70000枚、tooooo
枚後の画質を評価した。画質は、濃度低下およびカブリ
等の発生しなかった良好な画像が得られた場合を「O」
、濃度低下あるいはカブリか発生した場合を「△」、濃
度低下が著しくあるいはカブリの発生が著しい場合を「
X」として評価した。
0枚、7000枚、10000枚、20000枚、40
000枚、50000枚、70000枚、tooooo
枚後の画質を評価した。画質は、濃度低下およびカブリ
等の発生しなかった良好な画像が得られた場合を「O」
、濃度低下あるいはカブリか発生した場合を「△」、濃
度低下が著しくあるいはカブリの発生が著しい場合を「
X」として評価した。
耐刷試験後、再び静電特性■。、E1/2、■「を上記
と同様にして測定した。
と同様にして測定した。
以上の結果を表1に示した。
ス籏忽−1
長径80mmx長さ330mmの円筒状アルミニウム基
板上に、下記構造式[■]; のスチリル化合物1重量部とポリカーボネート樹脂(量
大化成社製に−1300)1重量部をジクロルメタン1
0重量部に溶解させた溶液を、乾燥後の膜厚か15μm
となるように塗布し、乾燥させて電荷輸送層を形成した
。
板上に、下記構造式[■]; のスチリル化合物1重量部とポリカーボネート樹脂(量
大化成社製に−1300)1重量部をジクロルメタン1
0重量部に溶解させた溶液を、乾燥後の膜厚か15μm
となるように塗布し、乾燥させて電荷輸送層を形成した
。
次いで、下記構造式[■1;
のアンサンスロン化合物5重量部、上記構造式[11の
スチリル化合物1重量部、およびポリカーポ不−1へ樹
脂(量大化成社製:に−1300)をボールミルで24
時間分散して調製した分散溶液を上記電荷輸送層上に乾
燥後の膜厚か5μmになるようにディッピング法により
塗布し、電荷発生層を形成した。
スチリル化合物1重量部、およびポリカーポ不−1へ樹
脂(量大化成社製:に−1300)をボールミルで24
時間分散して調製した分散溶液を上記電荷輸送層上に乾
燥後の膜厚か5μmになるようにディッピング法により
塗布し、電荷発生層を形成した。
さらに、真空度I X l O”’Torr、イオン比
電圧IQV/mm、電子ヒーム200−300mAでA
1□0.をイオンプレーティングし厚さ2000人の金
属化合物薄膜層を形成した。
電圧IQV/mm、電子ヒーム200−300mAでA
1□0.をイオンプレーティングし厚さ2000人の金
属化合物薄膜層を形成した。
最後に、第3図に示したプラズマ重合装置を用いて、下
記した条件で有機ブラスマ重合膜からなる表面保護層を
形成した。
記した条件で有機ブラスマ重合膜からなる表面保護層を
形成した。
使用ガス: 水素 300 secmプロピレ
ン lQsccm パーフルオロ70ピレン 5 secm 成膜条件: 圧力 Q 、 25 Torr電
源;高周波電源 周波数 13.56MHz 電力 150W 基板温度 50°C 成膜時間 15分間 膜厚 2000A 評価 得られた感光体の静電特性、耐刷試験および耐刷試験後
の静電特性を評価した。
ン lQsccm パーフルオロ70ピレン 5 secm 成膜条件: 圧力 Q 、 25 Torr電
源;高周波電源 周波数 13.56MHz 電力 150W 基板温度 50°C 成膜時間 15分間 膜厚 2000A 評価 得られた感光体の静電特性、耐刷試験および耐刷試験後
の静電特性を評価した。
静電特性は、帯電現像剤極性を反転するように改造した
電子複写機(EP−4702(ミノルタカメラ社製)を
用い、得られた感光体を上記複写機EP−4702に搭
載し、+6.5KVでコロナ帯電させたときの初期表面
電位(VO)、その初期表面電位を半減させるのに要し
た露光量E l/2(f2ux−see)、および色温
度2800°にのハロゲンランプを60 [1ux−s
ec]照射したときの残留電位Vr(V)を測定した。
電子複写機(EP−4702(ミノルタカメラ社製)を
用い、得られた感光体を上記複写機EP−4702に搭
載し、+6.5KVでコロナ帯電させたときの初期表面
電位(VO)、その初期表面電位を半減させるのに要し
た露光量E l/2(f2ux−see)、および色温
度2800°にのハロゲンランプを60 [1ux−s
ec]照射したときの残留電位Vr(V)を測定した。
耐刷試験は、上記EP−4702を用い、初期、500
0枚、7000枚、10000枚、20000枚、40
000枚、50000枚、70000枚、100000
枚後の画質を評価した。画質は、濃度低下およびカブリ
等の発生しなかった良好な画像が得られた場合をrOJ
、濃度低下あるいはカブリが発生した場合を「△」、濃
度低下が著しくあるいはカブリの発生か著しい場合を「
×」として評価した。
0枚、7000枚、10000枚、20000枚、40
000枚、50000枚、70000枚、100000
枚後の画質を評価した。画質は、濃度低下およびカブリ
等の発生しなかった良好な画像が得られた場合をrOJ
、濃度低下あるいはカブリが発生した場合を「△」、濃
度低下が著しくあるいはカブリの発生か著しい場合を「
×」として評価した。
耐刷試験後、再び静電特性V。、El/2、V「を上記
と同様にして6111定した。
と同様にして6111定した。
以上の結果を表1に示した。
実施例3
特殊α型銅フタロンアニン(東洋インキ社製)25重量
部、アクリルメラミン熱硬化性樹脂(犬日本インキ社製
A−405とスパーベ/カミンJ820の混合物)50
重量部、4−ジエチルアミノベンズアルデヒド−ジフェ
ニルヒト9フフ25重漬部、何機溶剤(キンレン7重量
部とブタノール3重量部の混合物)500重量部の混合
液をボールミルで10時間粉砕分散した。この分散液を
直径60×長さ290mmの円筒状アルミニウム基板上
に乾燥、焼き付けの後の膜厚が15μmとなるようにス
プレー法により塗布し、+50°Cで1時間焼き付けて
、有機感光層を形成した。
部、アクリルメラミン熱硬化性樹脂(犬日本インキ社製
A−405とスパーベ/カミンJ820の混合物)50
重量部、4−ジエチルアミノベンズアルデヒド−ジフェ
ニルヒト9フフ25重漬部、何機溶剤(キンレン7重量
部とブタノール3重量部の混合物)500重量部の混合
液をボールミルで10時間粉砕分散した。この分散液を
直径60×長さ290mmの円筒状アルミニウム基板上
に乾燥、焼き付けの後の膜厚が15μmとなるようにス
プレー法により塗布し、+50°Cで1時間焼き付けて
、有機感光層を形成した。
次いでl X l O−’Torrの真空度でMgOを
スパッタリングし、厚さ1500人の金属化合物薄膜層
を形成した。
スパッタリングし、厚さ1500人の金属化合物薄膜層
を形成した。
最後に、第3図に示したプラズマ重合装置を用いて、下
記した条件で有機プラズマ重合膜をからなる表面保護層
形成した。
記した条件で有機プラズマ重合膜をからなる表面保護層
形成した。
使用ガス: 水素 250 secmブタジェ
ン 60 secm 四フッ化炭素 60secm 成膜条件: 圧力 0.4Torr電源;低周
波電源 周波数 60KHz 電力 200W 基板温度 100°C 成膜時間 6分間 膜厚 200〇人 評価 得られた感光体の静電特性、耐刷試験および耐刷試験後
の静電特性を評価した。
ン 60 secm 四フッ化炭素 60secm 成膜条件: 圧力 0.4Torr電源;低周
波電源 周波数 60KHz 電力 200W 基板温度 100°C 成膜時間 6分間 膜厚 200〇人 評価 得られた感光体の静電特性、耐刷試験および耐刷試験後
の静電特性を評価した。
静電特性は、電子複写機(EP〜3502(ミノルタカ
メラ社製)を用い、得られた感光体を上記複写機EP−
3502に搭載し、+6.5KVでコロナ帯電させたと
きの初期表面電位(VO)、その初期表面電位を半減さ
せるのに要した露光量E1/2(12ux−sec)、
および色温度2800°にのハロゲンランプを60 [
1ux−secl照射したときの残留電位Vr(V)を
測定した。
メラ社製)を用い、得られた感光体を上記複写機EP−
3502に搭載し、+6.5KVでコロナ帯電させたと
きの初期表面電位(VO)、その初期表面電位を半減さ
せるのに要した露光量E1/2(12ux−sec)、
および色温度2800°にのハロゲンランプを60 [
1ux−secl照射したときの残留電位Vr(V)を
測定した。
耐刷試験は、上記EP−3502を用い、初期、500
0枚、7000枚、10000枚、20000枚、40
000枚、50000枚、70000枚、tooooo
枚後の画質を評価した。画質は、濃度低下およびカブリ
等の発生しなかった良好な画1象か得られた場合を「○
」、濃度低下あるいよりブリが発生した場合を「△」、
濃度低下が著しくあるいはカブリの発生が著しい場合を
「×」として評価した。
0枚、7000枚、10000枚、20000枚、40
000枚、50000枚、70000枚、tooooo
枚後の画質を評価した。画質は、濃度低下およびカブリ
等の発生しなかった良好な画1象か得られた場合を「○
」、濃度低下あるいよりブリが発生した場合を「△」、
濃度低下が著しくあるいはカブリの発生が著しい場合を
「×」として評価した。
耐刷試験後、再び静電特性V。、El、/2、Vrを上
記と同様にして測定した。
記と同様にして測定した。
以上の結果を表1に示した。
比較例I
実施例1において電荷輸送層上に金属化合物薄膜層およ
び表面保護層を形成しなかった以外は実施例1と同様に
感光体を調製した。
び表面保護層を形成しなかった以外は実施例1と同様に
感光体を調製した。
評価は実施例1と同様に行った。
結果を表1に示した。
比較例2
実施例2において電荷発生層上に金属化合物薄膜層およ
び表面保護層を形成しなかった以外は実施例2と同様に
感光体を調製した。
び表面保護層を形成しなかった以外は実施例2と同様に
感光体を調製した。
評価は実施例2と同様に行った。
結果を表1に示した。
比較例3
実施例3において感光層上に金属化合物薄膜層および表
面保護層を形成しなかった以外は実施例3と同様に感光
体を調製した。
面保護層を形成しなかった以外は実施例3と同様に感光
体を調製した。
評価は実施例3と同様に行った。
結果を表1に示した。
比較例4
実施例1において電荷輸送層上に金属化合物薄膜層を形
成しなかった以外は実施例1と同様に感光体を調製した
。
成しなかった以外は実施例1と同様に感光体を調製した
。
評価は実施例1と同様に行った。
結果を表1に示した。
比較例5
実施例2において電荷発生層上に金属化合物薄膜層を形
成しなかった以外は実施例2と同様番こ感光体を調製し
た。
成しなかった以外は実施例2と同様番こ感光体を調製し
た。
評価は実施例2と同様に行った。
結果を表1に示した。
比較例6
実施例3において感光層上に金属化合物薄膜層を形成し
なかったかった以外は実施例3と同様に感光体を調製[
7た。
なかったかった以外は実施例3と同様に感光体を調製[
7た。
評価は実施例3と同様に行った。
結果を表1に示した。
発明の効果
本発明により有機光導電層を有する有機感光体の表面保
護層の構成を金属化合物薄膜層およびa−C膜からなる
最表面保護層の2層構成とすることにより、本来有する
有機光導電性の感光体特性、特に感度、残留電位等は損
なわれずかつ耐久性に優れたものとなる。
護層の構成を金属化合物薄膜層およびa−C膜からなる
最表面保護層の2層構成とすることにより、本来有する
有機光導電性の感光体特性、特に感度、残留電位等は損
なわれずかつ耐久性に優れたものとなる。
m1図は感光体の模式的断面図を示す。
第2図および第3図は本発明に係わる感光体最表面層製
造用装置の一例を示す。 図中の記号は以下の通りである。 (1a)・・・最表面層 (1b)・・・金属化合物薄膜層 (2)・・・感光層 (3)・・導電性基板 (4)・・・表面保護層 (701)〜(706)・・・タンク (707)〜(712)・・・調節弁 (713)〜(718)・・・流量制御器(728)〜
(730)・・・流量制御器(719)〜(721)・
・・容器 (722)〜(724)・・・加熱器 (731)・・・混合器 (732)・・・主管 (733)・・・反応室 (734)・・・配管加熱器 (736)・・・電力印加電極 (737)・・・電極加熱器 (738)・・・高周波電力用整合器 (739)・・・高周波電源 (740)・・・低周波電力用整合器 (741)・・・低周波電源 (742)・・・ローパスフィルタ (743)・・・直流電源 (744)・・・接続選択スイッチ (745)・・・圧力調節弁 (746)・・・排気系選択弁 (747)・・・拡散ポンプ (748)・・・油回転ポンプ (749)・・・冷却除外装置 (750)・・・メカニカルブースターポンプ(751
)・・・反応室加熱器 (752)・・・基板 (753)・・・除外装置 第1図 特許出願人 ミノルタカメラ株式会社
造用装置の一例を示す。 図中の記号は以下の通りである。 (1a)・・・最表面層 (1b)・・・金属化合物薄膜層 (2)・・・感光層 (3)・・導電性基板 (4)・・・表面保護層 (701)〜(706)・・・タンク (707)〜(712)・・・調節弁 (713)〜(718)・・・流量制御器(728)〜
(730)・・・流量制御器(719)〜(721)・
・・容器 (722)〜(724)・・・加熱器 (731)・・・混合器 (732)・・・主管 (733)・・・反応室 (734)・・・配管加熱器 (736)・・・電力印加電極 (737)・・・電極加熱器 (738)・・・高周波電力用整合器 (739)・・・高周波電源 (740)・・・低周波電力用整合器 (741)・・・低周波電源 (742)・・・ローパスフィルタ (743)・・・直流電源 (744)・・・接続選択スイッチ (745)・・・圧力調節弁 (746)・・・排気系選択弁 (747)・・・拡散ポンプ (748)・・・油回転ポンプ (749)・・・冷却除外装置 (750)・・・メカニカルブースターポンプ(751
)・・・反応室加熱器 (752)・・・基板 (753)・・・除外装置 第1図 特許出願人 ミノルタカメラ株式会社
Claims (1)
- 1、導電性支持体(3)上に有機感光層(2)を有する
感光体において、該感光層の表面上に、真空蒸着法、ス
パッタリング法またはイオンプレーティング法のいずれ
かで形成された金属化合物薄膜層(1b)および該金属
化合物薄膜層上にプラズマ重合法により生成された非晶
質炭化水素膜(a−C膜)からなる最表面層(1a)の
2層からなる表面保護層(4)を有することを特徴とす
る感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15764888A JPH026961A (ja) | 1988-06-24 | 1988-06-24 | 感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15764888A JPH026961A (ja) | 1988-06-24 | 1988-06-24 | 感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH026961A true JPH026961A (ja) | 1990-01-11 |
Family
ID=15654320
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15764888A Pending JPH026961A (ja) | 1988-06-24 | 1988-06-24 | 感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH026961A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005088401A1 (ja) * | 2004-03-16 | 2005-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | 電子写真用感光体および電子写真用感光体の形成方法 |
WO2005088400A1 (ja) * | 2004-03-16 | 2005-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | 電子写真感光体 |
-
1988
- 1988-06-24 JP JP15764888A patent/JPH026961A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005088401A1 (ja) * | 2004-03-16 | 2005-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | 電子写真用感光体および電子写真用感光体の形成方法 |
WO2005088400A1 (ja) * | 2004-03-16 | 2005-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | 電子写真感光体 |
US7381510B2 (en) | 2004-03-16 | 2008-06-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic photosensitive member and producing method therefore |
US7498110B2 (en) | 2004-03-16 | 2009-03-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic photosensitive member |
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