JPS62132319A - ウエハ熱処理装置 - Google Patents
ウエハ熱処理装置Info
- Publication number
- JPS62132319A JPS62132319A JP27297785A JP27297785A JPS62132319A JP S62132319 A JPS62132319 A JP S62132319A JP 27297785 A JP27297785 A JP 27297785A JP 27297785 A JP27297785 A JP 27297785A JP S62132319 A JPS62132319 A JP S62132319A
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- Japan
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- wafer
- plate
- cooling
- conveying
- cooling plate
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業−にの利用分野〕
この発明は、半導体ウェハの加熱処理後における冷却手
段に関するものである。
段に関するものである。
従来、h導体ウェハの加熱、冷却処理を行なう熱処理工
程で、ウェハを加熱する機構としては例えば特開昭57
−138336壮公報に示されるものがある。
程で、ウェハを加熱する機構としては例えば特開昭57
−138336壮公報に示されるものがある。
通常、冷却後のウェハの温度精度としては、例えば室内
温度±0.5℃を目標値としている。ところが−1−記
種類の機構において、熱処理プレート、特に冷却プレー
トを用いてウェハを冷却する場合にあって、−に記[1
標値に近づけるために、室内温度±3℃程度以りまでウ
ェハの温度精度を上げるのを低コストで管理して行なう
ことは困難であるという問題点があった。
温度±0.5℃を目標値としている。ところが−1−記
種類の機構において、熱処理プレート、特に冷却プレー
トを用いてウェハを冷却する場合にあって、−に記[1
標値に近づけるために、室内温度±3℃程度以りまでウ
ェハの温度精度を上げるのを低コストで管理して行なう
ことは困難であるという問題点があった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、コーターデベロッパのステッパに入る前の半導体ウ
ェハを室内温度に近づけることに関する温度精度を低コ
ストで向上させることのできるウェハ熱処理装置を得る
ことを目的とする。
で、コーターデベロッパのステッパに入る前の半導体ウ
ェハを室内温度に近づけることに関する温度精度を低コ
ストで向上させることのできるウェハ熱処理装置を得る
ことを目的とする。
この発明に係るウェハ熱処理装置は、加熱プレートと強
制冷却プレートを具備する半導体ウェハの熱処理装置に
おいて、該熱処理装置の出口部に冷却プレートを設けて
上記ウェハを所要時間口熱冷却するとともに、該冷却プ
レートには、ウェハを搬送する搬送ベルトと搬送ブーり
とにより構成される出口搬送プレートを設け、駆動機構
により該出口搬送プレートを昇降させるようにしたもの
である。
制冷却プレートを具備する半導体ウェハの熱処理装置に
おいて、該熱処理装置の出口部に冷却プレートを設けて
上記ウェハを所要時間口熱冷却するとともに、該冷却プ
レートには、ウェハを搬送する搬送ベルトと搬送ブーり
とにより構成される出口搬送プレートを設け、駆動機構
により該出口搬送プレートを昇降させるようにしたもの
である。
この発明はL記構酸をとり、ウニ/\を所要時間自然冷
却する第2冷却プレートを別途設けたから、ウェハを強
制冷却する第1冷却プレートl−独で冷却する場合と比
較して、第2冷却プレート−Lで所定時間放置されるの
で、熱処理後のウニl\の温度を次工程に移送する前に
、より室温近くにまで1゛1然冷却することができると
ともに、駆動機構により出口搬送プレートを昇降可能に
させているから、ウェハを所定時間自然冷却した後に次
工程に搬出することが可1艶となる。
却する第2冷却プレートを別途設けたから、ウェハを強
制冷却する第1冷却プレートl−独で冷却する場合と比
較して、第2冷却プレート−Lで所定時間放置されるの
で、熱処理後のウニl\の温度を次工程に移送する前に
、より室温近くにまで1゛1然冷却することができると
ともに、駆動機構により出口搬送プレートを昇降可能に
させているから、ウェハを所定時間自然冷却した後に次
工程に搬出することが可1艶となる。
以下この発明の一実施例を図に基づいて説明する。第1
図はウニ/\熱処理装置の平面図、第2図は第1図中の
II部の拡大平面図、第3図は第2図中のm−[線に沿
う11舊(+i図、第4図は第1図中のIV−IV線に
沿う拡大断面図である。図において(1)はr:導体ウ
ェハの熱処理装置、(2)は半導体ウェハの熱処理装置
(1)の枠体、(3)は加熱プレート(8)へ゛ト導体
つニ/\を搬送する入口部搬送プレートで、この部分に
は搬送ベル) (3a)と、この搬送ベル) (3a)
が巻掛けられている一対の搬送プーリ(3b) 、 (
3b)とが備えてあり、これらが対を成してウェハの流
れ方向に配置段されている。(4)は入口部搬送プレー
ト(3)を囲繞して設けられたコ字状の入口部ストッパ
プレートであり、ウニ/\の位置決めをするストッパピ
ン(4a)が複数個取付けられている。 (5)は入口
部搬送プレート(3)及び人口部ストッパプレート(4
)、加熱プレート(8)、第1冷却プレート(9)、第
2冷却プレート(lO)の全長に亘って配置段された1
−上移動ar濠な一対の上下ビームであり、第4図に示
すようにこの一対の上下ビーム(5)、(5)は加熱プ
レート(8)。
図はウニ/\熱処理装置の平面図、第2図は第1図中の
II部の拡大平面図、第3図は第2図中のm−[線に沿
う11舊(+i図、第4図は第1図中のIV−IV線に
沿う拡大断面図である。図において(1)はr:導体ウ
ェハの熱処理装置、(2)は半導体ウェハの熱処理装置
(1)の枠体、(3)は加熱プレート(8)へ゛ト導体
つニ/\を搬送する入口部搬送プレートで、この部分に
は搬送ベル) (3a)と、この搬送ベル) (3a)
が巻掛けられている一対の搬送プーリ(3b) 、 (
3b)とが備えてあり、これらが対を成してウェハの流
れ方向に配置段されている。(4)は入口部搬送プレー
ト(3)を囲繞して設けられたコ字状の入口部ストッパ
プレートであり、ウニ/\の位置決めをするストッパピ
ン(4a)が複数個取付けられている。 (5)は入口
部搬送プレート(3)及び人口部ストッパプレート(4
)、加熱プレート(8)、第1冷却プレート(9)、第
2冷却プレート(lO)の全長に亘って配置段された1
−上移動ar濠な一対の上下ビームであり、第4図に示
すようにこの一対の上下ビーム(5)、(5)は加熱プ
レート(8)。
第1冷却プレート(9)、第2冷却プレート(10)の
一対の溝(5a)、(5a)内にそれぞれ収納されてい
るが、第1冷却プレート(9)と第2冷却プレート(l
O)間に配設された上下ビーム用エアシリンダ(6)の
操作により、上記プレート(8)、(9)、(to)
hに出没可能にL下動するようになっている。(7)は
ウェハの搬送アームで、入口側から、第1アーム(7a
)、第2アーム(7b)、第3アーム(7C)を有し、
搬送アーム(7)及び上記アーム(7a) 、 (7b
) 。
一対の溝(5a)、(5a)内にそれぞれ収納されてい
るが、第1冷却プレート(9)と第2冷却プレート(l
O)間に配設された上下ビーム用エアシリンダ(6)の
操作により、上記プレート(8)、(9)、(to)
hに出没可能にL下動するようになっている。(7)は
ウェハの搬送アームで、入口側から、第1アーム(7a
)、第2アーム(7b)、第3アーム(7C)を有し、
搬送アーム(7)及び上記アーム(7a) 、 (7b
) 。
(7c)はともにアームプレート(7d)に固定して取
付けられている。このアームプレート(7d)の駆動手
段として、リニアガイド(7e)、図示しない送りねじ
、モータ、カップリング等を有しており、搬送アーム(
7)及び昏アーム(7a) 、 (7b) 、 (7c
)を第1図中の左右方向に同時に移動できるようになっ
ている。上記アーム(7a)、 (7b) 、 (7c
)にはそれぞれ第3図に示すように、真空吸着孔をもつ
、受は川の吸着用配管(7f)が取付けられている。(
8)は加熱ヒータにより温度制御され、ウェハを加熱処
理する加熱プレー)、(9)は加熱プレート(8)で加
熱処理後のウェハを冷却するために、強制冷却水により
冷却制御されている強制冷却プレートである第1冷却プ
レー1−(10)はウェハを所要時間、自然冷却する冷
却プレートであってアルミ板からなり、強制的な冷却り
段を持たない第2冷却プレートである。(11)は第2
冷却プレー) (10)に載1ご【されたウェハ(24
)を次り程へ搬出する出口搬出機構であり、この出1−
J 4g出機構(11)は、第3図に示すように、一対
の搬送プーリ(llb) 、(llb)を搬送ベル)
(lla)で掛は回されて搬送プーリ(llb)。
付けられている。このアームプレート(7d)の駆動手
段として、リニアガイド(7e)、図示しない送りねじ
、モータ、カップリング等を有しており、搬送アーム(
7)及び昏アーム(7a) 、 (7b) 、 (7c
)を第1図中の左右方向に同時に移動できるようになっ
ている。上記アーム(7a)、 (7b) 、 (7c
)にはそれぞれ第3図に示すように、真空吸着孔をもつ
、受は川の吸着用配管(7f)が取付けられている。(
8)は加熱ヒータにより温度制御され、ウェハを加熱処
理する加熱プレー)、(9)は加熱プレート(8)で加
熱処理後のウェハを冷却するために、強制冷却水により
冷却制御されている強制冷却プレートである第1冷却プ
レー1−(10)はウェハを所要時間、自然冷却する冷
却プレートであってアルミ板からなり、強制的な冷却り
段を持たない第2冷却プレートである。(11)は第2
冷却プレー) (10)に載1ご【されたウェハ(24
)を次り程へ搬出する出口搬出機構であり、この出1−
J 4g出機構(11)は、第3図に示すように、一対
の搬送プーリ(llb) 、(llb)を搬送ベル)
(lla)で掛は回されて搬送プーリ(llb)。
(llb’)が図示しない駆動機構により連動するよう
になされ、これらが対をなして出目搬送プレート(li
e)を形成している。この出口搬送プレート(lie)
はウェハの流れ方向に配設され、第2冷却プレート(1
0)に穿設された一対の長孔(10a)。
になされ、これらが対をなして出目搬送プレート(li
e)を形成している。この出口搬送プレート(lie)
はウェハの流れ方向に配設され、第2冷却プレート(1
0)に穿設された一対の長孔(10a)。
(10a)から該第2冷却プレー) (10)上に−L
下に昇降して出没するようになされている。この出口搬
送プレー) (lle)を昇降させて出没させる駆動機
構としては前後左右の各プーリ(llb)は連結部材(
llF)によって連結され、さらにこの連結部材(ll
f)は下方の連結部材(l1g)に眞直杆(llh)。
下に昇降して出没するようになされている。この出口搬
送プレー) (lle)を昇降させて出没させる駆動機
構としては前後左右の各プーリ(llb)は連結部材(
llF)によって連結され、さらにこの連結部材(ll
f)は下方の連結部材(l1g)に眞直杆(llh)。
(llh)によって連結されている。そして、下方の連
結部材(l1g)はその下方の枠体(2)に1.’il
設された搬送プレートF、下用シリンダ(llc)に連
結し、このシリンダ(llc)の駆動によって出[l
II出機構(11)の出口搬送プレート(lie)はリ
ニアガイド(lid) 、(lid)に従って、第3図
における破線部と実線部間を1−下動して、第2冷却プ
レート(10)の長孔(10a) 、 (10a)内を
出没するようになっている。さらに上動漏に位置した出
口搬送プレート(lie)(第3図中の破線部)は第2
冷却プレート(10)−,1−のウェハ(24)を次工
程へと搬出するように構成されている。したがって、出
口搬送プレート(lie)を昇降させる駆動機構は上記
のように構成されていることになる。
結部材(l1g)はその下方の枠体(2)に1.’il
設された搬送プレートF、下用シリンダ(llc)に連
結し、このシリンダ(llc)の駆動によって出[l
II出機構(11)の出口搬送プレート(lie)はリ
ニアガイド(lid) 、(lid)に従って、第3図
における破線部と実線部間を1−下動して、第2冷却プ
レート(10)の長孔(10a) 、 (10a)内を
出没するようになっている。さらに上動漏に位置した出
口搬送プレート(lie)(第3図中の破線部)は第2
冷却プレート(10)−,1−のウェハ(24)を次工
程へと搬出するように構成されている。したがって、出
口搬送プレート(lie)を昇降させる駆動機構は上記
のように構成されていることになる。
なお、(21)、(22)、(23)、(24)は半導
体ウェハを小す@ 次に動作について説明する。まず、スピンコーター等に
より前玉程で例えばレジスト液の塗/′11処理等が施
されたウェハが、半導体ウェハの熱処理装置(1)の人
口部に搬送ベルト(:lt)により搬送されてくる。こ
の搬送されたウェハはストッパビン(4a)に当接して
停市し位置決めされる。このウェハか大11部に搬入し
たことは1図示しないウェハ検出装置により検出される
。この時、他のウェハ(22)、(23) 、(24)
は、それぞれ加熱プレート(8)、第1冷却プレー)(
9)、第2冷却プレート(10)、)−に載置されてい
る。この状yEでウェハ(22) 、 (23)の約4
0秒間の熱処理が完了すると、上下ビーム(5)、(5
)の−1−動によりウェハ(21)、(22)、(23
)は」−に持ちにげられ、それまでウェハ(21)の位
置とウェハ(22)の位置の中間位置に待機していた第
1アーム(7a)が、−■−ドビーム(5) 、(5)
のL動の完了後、人[1部に近づいてウェハ(21)の
下まで移動する。この時、第2アーム(7b)、第3ア
ーム(7C)も、第1アーム(7a)と同様にアームプ
レート(7d)に固定されているので、第1アーム(7
a)と同様に第2アーム(7b)はウェハ(22)の下
へ、第3アーム(7C)はウェハ(23)の下へそれぞ
れ移動する。なお、L動した一L下ビーム(5)、(5
)はプレート(8)。
体ウェハを小す@ 次に動作について説明する。まず、スピンコーター等に
より前玉程で例えばレジスト液の塗/′11処理等が施
されたウェハが、半導体ウェハの熱処理装置(1)の人
口部に搬送ベルト(:lt)により搬送されてくる。こ
の搬送されたウェハはストッパビン(4a)に当接して
停市し位置決めされる。このウェハか大11部に搬入し
たことは1図示しないウェハ検出装置により検出される
。この時、他のウェハ(22)、(23) 、(24)
は、それぞれ加熱プレート(8)、第1冷却プレー)(
9)、第2冷却プレート(10)、)−に載置されてい
る。この状yEでウェハ(22) 、 (23)の約4
0秒間の熱処理が完了すると、上下ビーム(5)、(5
)の−1−動によりウェハ(21)、(22)、(23
)は」−に持ちにげられ、それまでウェハ(21)の位
置とウェハ(22)の位置の中間位置に待機していた第
1アーム(7a)が、−■−ドビーム(5) 、(5)
のL動の完了後、人[1部に近づいてウェハ(21)の
下まで移動する。この時、第2アーム(7b)、第3ア
ーム(7C)も、第1アーム(7a)と同様にアームプ
レート(7d)に固定されているので、第1アーム(7
a)と同様に第2アーム(7b)はウェハ(22)の下
へ、第3アーム(7C)はウェハ(23)の下へそれぞ
れ移動する。なお、L動した一L下ビーム(5)、(5
)はプレート(8)。
(9)、(10)の溝内にその下部が残るようにしであ
る。かくして、アーム(7a) 、 (7b) 、 (
7c)の移動が完rすると、L下ビーム用エアシリンダ
(6)の動作によりL下ビーム(5) 、(5)は駆動
し、このときウェハ(21)、(22) 、(23)は
アーム(7a)、(7b) 、(7c)にそれぞれ乗り
移るとともに、アーム(7a)、 (7b) 、(7c
)はそれぞれ吸着用配管(7f)の作動によりウェハ(
21)、(22) 、(23)を吸着して固定しつつ、
ウェハ(21)を(22)の位置へ、ウェハ(22)を
(23)の位置へ、ウェハ(23)を(24)の位置へ
それぞれ所定賃移動する。−・方、ウェハ(24)につ
いて説明すると。
る。かくして、アーム(7a) 、 (7b) 、 (
7c)の移動が完rすると、L下ビーム用エアシリンダ
(6)の動作によりL下ビーム(5) 、(5)は駆動
し、このときウェハ(21)、(22) 、(23)は
アーム(7a)、(7b) 、(7c)にそれぞれ乗り
移るとともに、アーム(7a)、 (7b) 、(7c
)はそれぞれ吸着用配管(7f)の作動によりウェハ(
21)、(22) 、(23)を吸着して固定しつつ、
ウェハ(21)を(22)の位置へ、ウェハ(22)を
(23)の位置へ、ウェハ(23)を(24)の位置へ
それぞれ所定賃移動する。−・方、ウェハ(24)につ
いて説明すると。
−上記ウェハ(22)及び(23)の移動前の位置での
ウェハ(22)、(23)の熱処理が完了する直前に
(約5秒前に) 、 (24)の位置のウェハは、搬送
プレート上下用シリンダ(lie)の動作によって出口
搬送プレー) (lie)が上昇することにより、一対
の搬送ベル)(lla)J二にウェハ(24)が・装置
されるとともに、一対の搬送プーリ(llb)及び前記
搬送ベルト(lla)が運転されることにより、ウェハ
(24)は該熱処理装置の出口部から次工程へ搬出され
ることになる。 従って、(24)の位置のウェハは、
ウェハ(22)、 (23)の熱処理時間(約40秒間
)から前記約5秒間を差引いた時間(即ち約35秒間)
だけ第2冷却プレー) (10) I−に静置されて自
然冷却される。
ウェハ(22)、(23)の熱処理が完了する直前に
(約5秒前に) 、 (24)の位置のウェハは、搬送
プレート上下用シリンダ(lie)の動作によって出口
搬送プレー) (lie)が上昇することにより、一対
の搬送ベル)(lla)J二にウェハ(24)が・装置
されるとともに、一対の搬送プーリ(llb)及び前記
搬送ベルト(lla)が運転されることにより、ウェハ
(24)は該熱処理装置の出口部から次工程へ搬出され
ることになる。 従って、(24)の位置のウェハは、
ウェハ(22)、 (23)の熱処理時間(約40秒間
)から前記約5秒間を差引いた時間(即ち約35秒間)
だけ第2冷却プレー) (10) I−に静置されて自
然冷却される。
一方、アーム(7a)、(7b)’、(7c)によるウ
ェハ(21)、(22)、(23)の所定j七の移動が
されると、−Lドビー′ム(5)、(5)が1すび上昇
し、各ウェハ(21)、(22) 。
ェハ(21)、(22)、(23)の所定j七の移動が
されると、−Lドビー′ム(5)、(5)が1すび上昇
し、各ウェハ(21)、(22) 。
(23)を受は取る。これと同時にアームの吸着を解除
する。1−ドビーム(5)、(5)が完全に上昇すると
、アーム(7a) 、 (7b) 、 (7c)は再び
各ウェハの中間イ)7置のウェハと1渉しない位置まで
移動して待機する。次いで、−1=、下ビーム(5)、
(5)が下降し、各グレー) (8)、(9)、(!0
) I:にそれぞれウェハが置かれて吸着され、加熱プ
レート(8)、 、第1冷却プレー1− (9)−L、
では約40秒間、第2冷却プレート(]0)上では約3
5秒間熱処理が行なわれる。
する。1−ドビーム(5)、(5)が完全に上昇すると
、アーム(7a) 、 (7b) 、 (7c)は再び
各ウェハの中間イ)7置のウェハと1渉しない位置まで
移動して待機する。次いで、−1=、下ビーム(5)、
(5)が下降し、各グレー) (8)、(9)、(!0
) I:にそれぞれウェハが置かれて吸着され、加熱プ
レート(8)、 、第1冷却プレー1− (9)−L、
では約40秒間、第2冷却プレート(]0)上では約3
5秒間熱処理が行なわれる。
以]二が繰返されて次々と゛ト導体ウェハの熱処理が行
なわれる。
なわれる。
この発明において、第2冷却プレー)(10)は、熱処
理装置(1)の出口部のスペースを利用して設けている
ので、:jS2冷却プレー) (10)を設けても、ス
ペースを小さくして構成できる。
理装置(1)の出口部のスペースを利用して設けている
ので、:jS2冷却プレー) (10)を設けても、ス
ペースを小さくして構成できる。
また、第2冷却プレー) (10)は強制冷却り段を持
たないので、低コストで、ウェハの温度をより粘度高く
室温に近づけることができる。ちなみに、近年の寥導体
製造工場のクリーンルーム内の温度コントロールは高い
精度で行なわれており、±0.5°C〜±0.1℃とい
う範囲にコントロールされて来ている。
たないので、低コストで、ウェハの温度をより粘度高く
室温に近づけることができる。ちなみに、近年の寥導体
製造工場のクリーンルーム内の温度コントロールは高い
精度で行なわれており、±0.5°C〜±0.1℃とい
う範囲にコントロールされて来ている。
さらに、この発明では、第2冷却プレー) (10)で
のウェハの冷却は、加熱プレート(8)、第1冷却プレ
ート(9)での熱処理時間の範囲内で行なうようにして
いるから、ウェハ処理時間を大幅に増加することなしに
、ウェハの熱処理を行なうことができる。
のウェハの冷却は、加熱プレート(8)、第1冷却プレ
ート(9)での熱処理時間の範囲内で行なうようにして
いるから、ウェハ処理時間を大幅に増加することなしに
、ウェハの熱処理を行なうことができる。
なお、出口搬送プレート(11e)の搬送プーリ(ll
b)、(Ilb)は図示しない駆動機構により回転駆動
されているが、該搬送プーリ(llb) 、(llb)
は連続運転としてもよいが、出口搬送プレー) (li
e)が1−動端に位置してウェハを搬出する時にみ運転
する間欠運転としてもよい。
b)、(Ilb)は図示しない駆動機構により回転駆動
されているが、該搬送プーリ(llb) 、(llb)
は連続運転としてもよいが、出口搬送プレー) (li
e)が1−動端に位置してウェハを搬出する時にみ運転
する間欠運転としてもよい。
この発明は以に説明したとおり、熱処理装、1.yjの
if、fl1部に自然冷却の冷却プレートを設け、該冷
却プレーI・には搬送ベルトと搬送プーリからなる昇降
口イlな11冒1搬送プレートを設けるという1)j中
な構成をとったことから、より室温に近い温j氏となっ
たウェハを次上程に容易に搬出することがu1濠となる
効果がある。
if、fl1部に自然冷却の冷却プレートを設け、該冷
却プレーI・には搬送ベルトと搬送プーリからなる昇降
口イlな11冒1搬送プレートを設けるという1)j中
な構成をとったことから、より室温に近い温j氏となっ
たウェハを次上程に容易に搬出することがu1濠となる
効果がある。
第1図はこの発明の一実施例を示す11而図、第2図は
第1図中の■部の拡大モ面図、第3図は第2図中の■−
■線に沿う正面図、第4図は第11A中のIV−IV線
に沿う拡大断面図である。 (1)・・パト導体ウェハの熱処理装置(8)・・・加
熱プレート (9)・・・強制冷却プレート (第1冷却プレート)
(10)・・・冷却プレート (第2冷却プレート)(
lla)・・・搬送ベルト(llb)・・・搬送プーリ
(lle)・・・出口搬送プレート (21)〜(24)・・パr:導体ウェハなお、各図中
回−符号は同−又は相当部分を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄第4図 手続補正書(自発) 昭和61年4 月17 日 2、発明の名称 ウニ/・熱処理装芒 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
称 (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号6
補正の内容 (1)明細書第2頁第12行の「コーターデベロッパの
ステッパ」という記載を「コーターデベロッパからステ
ッパ」と補正する。 (2)図面中温1図を別紙のとおり補正する。 7、添付書類の目録 図面 1 通以 上
第1図中の■部の拡大モ面図、第3図は第2図中の■−
■線に沿う正面図、第4図は第11A中のIV−IV線
に沿う拡大断面図である。 (1)・・パト導体ウェハの熱処理装置(8)・・・加
熱プレート (9)・・・強制冷却プレート (第1冷却プレート)
(10)・・・冷却プレート (第2冷却プレート)(
lla)・・・搬送ベルト(llb)・・・搬送プーリ
(lle)・・・出口搬送プレート (21)〜(24)・・パr:導体ウェハなお、各図中
回−符号は同−又は相当部分を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄第4図 手続補正書(自発) 昭和61年4 月17 日 2、発明の名称 ウニ/・熱処理装芒 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
称 (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号6
補正の内容 (1)明細書第2頁第12行の「コーターデベロッパの
ステッパ」という記載を「コーターデベロッパからステ
ッパ」と補正する。 (2)図面中温1図を別紙のとおり補正する。 7、添付書類の目録 図面 1 通以 上
Claims (1)
- 加熱プレートと強制冷却プレートを具備する半導体ウェ
ハの熱処理装置において、該熱処理装置の出口部に、上
記ウェハを所要時間自然冷却する冷却プレートを設け、
該冷却プレートには、ウェハを搬送する搬送ベルトと搬
送プーリからなる出口搬送プレートと、該出口搬送プレ
ートを昇降させる駆動機構とを設けたことを特徴とする
ウェハ熱処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27297785A JPS62132319A (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | ウエハ熱処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27297785A JPS62132319A (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | ウエハ熱処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62132319A true JPS62132319A (ja) | 1987-06-15 |
Family
ID=17521426
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27297785A Pending JPS62132319A (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | ウエハ熱処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62132319A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62172150U (ja) * | 1986-04-02 | 1987-10-31 | ||
US5074736A (en) * | 1988-12-20 | 1991-12-24 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor wafer carrier design |
US7011863B2 (en) * | 1999-07-19 | 2006-03-14 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP2007220983A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Tokyo Electron Ltd | 加熱装置、加熱方法、塗布装置及び記憶媒体 |
-
1985
- 1985-12-04 JP JP27297785A patent/JPS62132319A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62172150U (ja) * | 1986-04-02 | 1987-10-31 | ||
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US7011863B2 (en) * | 1999-07-19 | 2006-03-14 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP2007220983A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Tokyo Electron Ltd | 加熱装置、加熱方法、塗布装置及び記憶媒体 |
JP4670677B2 (ja) * | 2006-02-17 | 2011-04-13 | 東京エレクトロン株式会社 | 加熱装置、加熱方法、塗布装置及び記憶媒体 |
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