JPS62132319A - ウエハ熱処理装置 - Google Patents

ウエハ熱処理装置

Info

Publication number
JPS62132319A
JPS62132319A JP27297785A JP27297785A JPS62132319A JP S62132319 A JPS62132319 A JP S62132319A JP 27297785 A JP27297785 A JP 27297785A JP 27297785 A JP27297785 A JP 27297785A JP S62132319 A JPS62132319 A JP S62132319A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
plate
cooling
conveying
cooling plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27297785A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Tomidokoro
誠 富所
Ikuo Fukao
深尾 郁雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP27297785A priority Critical patent/JPS62132319A/ja
Publication of JPS62132319A publication Critical patent/JPS62132319A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業−にの利用分野〕 この発明は、半導体ウェハの加熱処理後における冷却手
段に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、h導体ウェハの加熱、冷却処理を行なう熱処理工
程で、ウェハを加熱する機構としては例えば特開昭57
−138336壮公報に示されるものがある。
〔発明が解決しようとする開題点〕
通常、冷却後のウェハの温度精度としては、例えば室内
温度±0.5℃を目標値としている。ところが−1−記
種類の機構において、熱処理プレート、特に冷却プレー
トを用いてウェハを冷却する場合にあって、−に記[1
標値に近づけるために、室内温度±3℃程度以りまでウ
ェハの温度精度を上げるのを低コストで管理して行なう
ことは困難であるという問題点があった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、コーターデベロッパのステッパに入る前の半導体ウ
ェハを室内温度に近づけることに関する温度精度を低コ
ストで向上させることのできるウェハ熱処理装置を得る
ことを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るウェハ熱処理装置は、加熱プレートと強
制冷却プレートを具備する半導体ウェハの熱処理装置に
おいて、該熱処理装置の出口部に冷却プレートを設けて
上記ウェハを所要時間口熱冷却するとともに、該冷却プ
レートには、ウェハを搬送する搬送ベルトと搬送ブーり
とにより構成される出口搬送プレートを設け、駆動機構
により該出口搬送プレートを昇降させるようにしたもの
である。
〔作用〕
この発明はL記構酸をとり、ウニ/\を所要時間自然冷
却する第2冷却プレートを別途設けたから、ウェハを強
制冷却する第1冷却プレートl−独で冷却する場合と比
較して、第2冷却プレート−Lで所定時間放置されるの
で、熱処理後のウニl\の温度を次工程に移送する前に
、より室温近くにまで1゛1然冷却することができると
ともに、駆動機構により出口搬送プレートを昇降可能に
させているから、ウェハを所定時間自然冷却した後に次
工程に搬出することが可1艶となる。
〔実施例〕
以下この発明の一実施例を図に基づいて説明する。第1
図はウニ/\熱処理装置の平面図、第2図は第1図中の
II部の拡大平面図、第3図は第2図中のm−[線に沿
う11舊(+i図、第4図は第1図中のIV−IV線に
沿う拡大断面図である。図において(1)はr:導体ウ
ェハの熱処理装置、(2)は半導体ウェハの熱処理装置
(1)の枠体、(3)は加熱プレート(8)へ゛ト導体
つニ/\を搬送する入口部搬送プレートで、この部分に
は搬送ベル) (3a)と、この搬送ベル) (3a)
が巻掛けられている一対の搬送プーリ(3b) 、 (
3b)とが備えてあり、これらが対を成してウェハの流
れ方向に配置段されている。(4)は入口部搬送プレー
ト(3)を囲繞して設けられたコ字状の入口部ストッパ
プレートであり、ウニ/\の位置決めをするストッパピ
ン(4a)が複数個取付けられている。 (5)は入口
部搬送プレート(3)及び人口部ストッパプレート(4
)、加熱プレート(8)、第1冷却プレート(9)、第
2冷却プレート(lO)の全長に亘って配置段された1
−上移動ar濠な一対の上下ビームであり、第4図に示
すようにこの一対の上下ビーム(5)、(5)は加熱プ
レート(8)。
第1冷却プレート(9)、第2冷却プレート(10)の
一対の溝(5a)、(5a)内にそれぞれ収納されてい
るが、第1冷却プレート(9)と第2冷却プレート(l
O)間に配設された上下ビーム用エアシリンダ(6)の
操作により、上記プレート(8)、(9)、(to) 
hに出没可能にL下動するようになっている。(7)は
ウェハの搬送アームで、入口側から、第1アーム(7a
)、第2アーム(7b)、第3アーム(7C)を有し、
搬送アーム(7)及び上記アーム(7a) 、 (7b
) 。
(7c)はともにアームプレート(7d)に固定して取
付けられている。このアームプレート(7d)の駆動手
段として、リニアガイド(7e)、図示しない送りねじ
、モータ、カップリング等を有しており、搬送アーム(
7)及び昏アーム(7a) 、 (7b) 、 (7c
)を第1図中の左右方向に同時に移動できるようになっ
ている。上記アーム(7a)、 (7b) 、 (7c
)にはそれぞれ第3図に示すように、真空吸着孔をもつ
、受は川の吸着用配管(7f)が取付けられている。(
8)は加熱ヒータにより温度制御され、ウェハを加熱処
理する加熱プレー)、(9)は加熱プレート(8)で加
熱処理後のウェハを冷却するために、強制冷却水により
冷却制御されている強制冷却プレートである第1冷却プ
レー1−(10)はウェハを所要時間、自然冷却する冷
却プレートであってアルミ板からなり、強制的な冷却り
段を持たない第2冷却プレートである。(11)は第2
冷却プレー) (10)に載1ご【されたウェハ(24
)を次り程へ搬出する出口搬出機構であり、この出1−
J 4g出機構(11)は、第3図に示すように、一対
の搬送プーリ(llb) 、(llb)を搬送ベル) 
(lla)で掛は回されて搬送プーリ(llb)。
(llb’)が図示しない駆動機構により連動するよう
になされ、これらが対をなして出目搬送プレート(li
e)を形成している。この出口搬送プレート(lie)
はウェハの流れ方向に配設され、第2冷却プレート(1
0)に穿設された一対の長孔(10a)。
(10a)から該第2冷却プレー) (10)上に−L
下に昇降して出没するようになされている。この出口搬
送プレー) (lle)を昇降させて出没させる駆動機
構としては前後左右の各プーリ(llb)は連結部材(
llF)によって連結され、さらにこの連結部材(ll
f)は下方の連結部材(l1g)に眞直杆(llh)。
(llh)によって連結されている。そして、下方の連
結部材(l1g)はその下方の枠体(2)に1.’il
設された搬送プレートF、下用シリンダ(llc)に連
結し、このシリンダ(llc)の駆動によって出[l 
II出機構(11)の出口搬送プレート(lie)はリ
ニアガイド(lid) 、(lid)に従って、第3図
における破線部と実線部間を1−下動して、第2冷却プ
レート(10)の長孔(10a) 、 (10a)内を
出没するようになっている。さらに上動漏に位置した出
口搬送プレート(lie)(第3図中の破線部)は第2
冷却プレート(10)−,1−のウェハ(24)を次工
程へと搬出するように構成されている。したがって、出
口搬送プレート(lie)を昇降させる駆動機構は上記
のように構成されていることになる。
なお、(21)、(22)、(23)、(24)は半導
体ウェハを小す@ 次に動作について説明する。まず、スピンコーター等に
より前玉程で例えばレジスト液の塗/′11処理等が施
されたウェハが、半導体ウェハの熱処理装置(1)の人
口部に搬送ベルト(:lt)により搬送されてくる。こ
の搬送されたウェハはストッパビン(4a)に当接して
停市し位置決めされる。このウェハか大11部に搬入し
たことは1図示しないウェハ検出装置により検出される
。この時、他のウェハ(22)、(23) 、(24)
は、それぞれ加熱プレート(8)、第1冷却プレー)(
9)、第2冷却プレート(10)、)−に載置されてい
る。この状yEでウェハ(22) 、 (23)の約4
0秒間の熱処理が完了すると、上下ビーム(5)、(5
)の−1−動によりウェハ(21)、(22)、(23
)は」−に持ちにげられ、それまでウェハ(21)の位
置とウェハ(22)の位置の中間位置に待機していた第
1アーム(7a)が、−■−ドビーム(5) 、(5)
のL動の完了後、人[1部に近づいてウェハ(21)の
下まで移動する。この時、第2アーム(7b)、第3ア
ーム(7C)も、第1アーム(7a)と同様にアームプ
レート(7d)に固定されているので、第1アーム(7
a)と同様に第2アーム(7b)はウェハ(22)の下
へ、第3アーム(7C)はウェハ(23)の下へそれぞ
れ移動する。なお、L動した一L下ビーム(5)、(5
)はプレート(8)。
(9)、(10)の溝内にその下部が残るようにしであ
る。かくして、アーム(7a) 、 (7b) 、 (
7c)の移動が完rすると、L下ビーム用エアシリンダ
(6)の動作によりL下ビーム(5) 、(5)は駆動
し、このときウェハ(21)、(22) 、(23)は
アーム(7a)、(7b) 、(7c)にそれぞれ乗り
移るとともに、アーム(7a)、 (7b) 、(7c
)はそれぞれ吸着用配管(7f)の作動によりウェハ(
21)、(22) 、(23)を吸着して固定しつつ、
ウェハ(21)を(22)の位置へ、ウェハ(22)を
(23)の位置へ、ウェハ(23)を(24)の位置へ
それぞれ所定賃移動する。−・方、ウェハ(24)につ
いて説明すると。
−上記ウェハ(22)及び(23)の移動前の位置での
ウェハ(22)、(23)の熱処理が完了する直前に 
(約5秒前に) 、 (24)の位置のウェハは、搬送
プレート上下用シリンダ(lie)の動作によって出口
搬送プレー) (lie)が上昇することにより、一対
の搬送ベル)(lla)J二にウェハ(24)が・装置
されるとともに、一対の搬送プーリ(llb)及び前記
搬送ベルト(lla)が運転されることにより、ウェハ
(24)は該熱処理装置の出口部から次工程へ搬出され
ることになる。 従って、(24)の位置のウェハは、
ウェハ(22)、 (23)の熱処理時間(約40秒間
)から前記約5秒間を差引いた時間(即ち約35秒間)
だけ第2冷却プレー) (10) I−に静置されて自
然冷却される。
一方、アーム(7a)、(7b)’、(7c)によるウ
ェハ(21)、(22)、(23)の所定j七の移動が
されると、−Lドビー′ム(5)、(5)が1すび上昇
し、各ウェハ(21)、(22) 。
(23)を受は取る。これと同時にアームの吸着を解除
する。1−ドビーム(5)、(5)が完全に上昇すると
、アーム(7a) 、 (7b) 、 (7c)は再び
各ウェハの中間イ)7置のウェハと1渉しない位置まで
移動して待機する。次いで、−1=、下ビーム(5)、
(5)が下降し、各グレー) (8)、(9)、(!0
) I:にそれぞれウェハが置かれて吸着され、加熱プ
レート(8)、 、第1冷却プレー1− (9)−L、
では約40秒間、第2冷却プレート(]0)上では約3
5秒間熱処理が行なわれる。
以]二が繰返されて次々と゛ト導体ウェハの熱処理が行
なわれる。
この発明において、第2冷却プレー)(10)は、熱処
理装置(1)の出口部のスペースを利用して設けている
ので、:jS2冷却プレー) (10)を設けても、ス
ペースを小さくして構成できる。
また、第2冷却プレー) (10)は強制冷却り段を持
たないので、低コストで、ウェハの温度をより粘度高く
室温に近づけることができる。ちなみに、近年の寥導体
製造工場のクリーンルーム内の温度コントロールは高い
精度で行なわれており、±0.5°C〜±0.1℃とい
う範囲にコントロールされて来ている。
さらに、この発明では、第2冷却プレー) (10)で
のウェハの冷却は、加熱プレート(8)、第1冷却プレ
ート(9)での熱処理時間の範囲内で行なうようにして
いるから、ウェハ処理時間を大幅に増加することなしに
、ウェハの熱処理を行なうことができる。
なお、出口搬送プレート(11e)の搬送プーリ(ll
b)、(Ilb)は図示しない駆動機構により回転駆動
されているが、該搬送プーリ(llb) 、(llb)
は連続運転としてもよいが、出口搬送プレー) (li
e)が1−動端に位置してウェハを搬出する時にみ運転
する間欠運転としてもよい。
〔発明の効果〕
この発明は以に説明したとおり、熱処理装、1.yjの
if、fl1部に自然冷却の冷却プレートを設け、該冷
却プレーI・には搬送ベルトと搬送プーリからなる昇降
口イlな11冒1搬送プレートを設けるという1)j中
な構成をとったことから、より室温に近い温j氏となっ
たウェハを次上程に容易に搬出することがu1濠となる
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す11而図、第2図は
第1図中の■部の拡大モ面図、第3図は第2図中の■−
■線に沿う正面図、第4図は第11A中のIV−IV線
に沿う拡大断面図である。 (1)・・パト導体ウェハの熱処理装置(8)・・・加
熱プレート (9)・・・強制冷却プレート (第1冷却プレート)
(10)・・・冷却プレート (第2冷却プレート)(
lla)・・・搬送ベルト(llb)・・・搬送プーリ
(lle)・・・出口搬送プレート (21)〜(24)・・パr:導体ウェハなお、各図中
回−符号は同−又は相当部分を示す。 代  理  人   大  岩  増  雄第4図 手続補正書(自発) 昭和61年4 月17 日 2、発明の名称 ウニ/・熱処理装芒 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
 称  (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号6
 補正の内容 (1)明細書第2頁第12行の「コーターデベロッパの
ステッパ」という記載を「コーターデベロッパからステ
ッパ」と補正する。 (2)図面中温1図を別紙のとおり補正する。 7、添付書類の目録 図面              1 通以  上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 加熱プレートと強制冷却プレートを具備する半導体ウェ
    ハの熱処理装置において、該熱処理装置の出口部に、上
    記ウェハを所要時間自然冷却する冷却プレートを設け、
    該冷却プレートには、ウェハを搬送する搬送ベルトと搬
    送プーリからなる出口搬送プレートと、該出口搬送プレ
    ートを昇降させる駆動機構とを設けたことを特徴とする
    ウェハ熱処理装置。
JP27297785A 1985-12-04 1985-12-04 ウエハ熱処理装置 Pending JPS62132319A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27297785A JPS62132319A (ja) 1985-12-04 1985-12-04 ウエハ熱処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27297785A JPS62132319A (ja) 1985-12-04 1985-12-04 ウエハ熱処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62132319A true JPS62132319A (ja) 1987-06-15

Family

ID=17521426

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27297785A Pending JPS62132319A (ja) 1985-12-04 1985-12-04 ウエハ熱処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62132319A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62172150U (ja) * 1986-04-02 1987-10-31
US5074736A (en) * 1988-12-20 1991-12-24 Texas Instruments Incorporated Semiconductor wafer carrier design
US7011863B2 (en) * 1999-07-19 2006-03-14 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2007220983A (ja) * 2006-02-17 2007-08-30 Tokyo Electron Ltd 加熱装置、加熱方法、塗布装置及び記憶媒体

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62172150U (ja) * 1986-04-02 1987-10-31
US5074736A (en) * 1988-12-20 1991-12-24 Texas Instruments Incorporated Semiconductor wafer carrier design
US7011863B2 (en) * 1999-07-19 2006-03-14 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2007220983A (ja) * 2006-02-17 2007-08-30 Tokyo Electron Ltd 加熱装置、加熱方法、塗布装置及び記憶媒体
JP4670677B2 (ja) * 2006-02-17 2011-04-13 東京エレクトロン株式会社 加熱装置、加熱方法、塗布装置及び記憶媒体

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4954162B2 (ja) 処理システム
TW501164B (en) Heat and cooling treatment apparatus and substrate processing system
JP2008174361A (ja) 基板搬送装置
JPH07297258A (ja) 板状体の搬送装置
KR20010020971A (ko) 기판처리장치
JP2013048144A (ja) 基板熱処理装置
JP3914690B2 (ja) 基板受け渡し装置及び塗布現像処理システム
JPS62132319A (ja) ウエハ熱処理装置
KR100557027B1 (ko) 기판전달장치 및 도포현상 처리시스템
JP3485990B2 (ja) 搬送方法及び搬送装置
KR100935971B1 (ko) 처리방법 및 처리장치
KR101052946B1 (ko) 처리시스템
JP4657991B2 (ja) 加熱・冷却処理装置、基板処理装置および基板処理方法
JP3100839B2 (ja) 基板表面処理装置
JP3131938B2 (ja) 熱処理装置及び熱処理方法
JPH07171478A (ja) 基板処理装置
JPH07176472A (ja) 基板加熱装置
JP2929260B2 (ja) 塗布膜形成方法及びその装置
KR20020036741A (ko) 처리장치
JPS62132328A (ja) ウエハ搬送装置
JP2001168004A (ja) 基板処理装置
JPH11121910A (ja) 電子部品実装用樹脂の熱硬化装置および熱硬化方法
JP3410000B2 (ja) 熱処理装置
KR102304509B1 (ko) 디스플레이용 기판 처리 장치
JP4015015B2 (ja) 熱処理装置