JPS6175504A - 抵抗材料 - Google Patents
抵抗材料Info
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- JPS6175504A JPS6175504A JP59197658A JP19765884A JPS6175504A JP S6175504 A JPS6175504 A JP S6175504A JP 59197658 A JP59197658 A JP 59197658A JP 19765884 A JP19765884 A JP 19765884A JP S6175504 A JPS6175504 A JP S6175504A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、非酸化性雰囲気中での焼成で厚膜抵抗体部音
形成するための抵抗材料に関する。この抵抗材料を使用
すれば、共通のセラミック基板に厚膜抵抗体と卑金属配
線導体とを同時に形成することが出来る・ 従来の技術 最近、電子回路装置を超小型化するために、多層セラミ
ック基板が使用されるようになった。この梅の多層セラ
ミック基板を低コスト化するためIIC,、配線導体V
=ニッケルの卑金属で形成することが試みられている。
形成するための抵抗材料に関する。この抵抗材料を使用
すれば、共通のセラミック基板に厚膜抵抗体と卑金属配
線導体とを同時に形成することが出来る・ 従来の技術 最近、電子回路装置を超小型化するために、多層セラミ
ック基板が使用されるようになった。この梅の多層セラ
ミック基板を低コスト化するためIIC,、配線導体V
=ニッケルの卑金属で形成することが試みられている。
発明が解決しようとする問題点
上述の如く、卑金属で配線導体馨形成する場合には、未
焼成セラミツクシート(化ジートノに導体ペーストを塗
布したものを非酸化性雰囲気中で焼成しなけ才tばなら
ない。ところが、4体ペーストと同時に非酸化性雰囲気
中で焼成し、実用可能な特性を得ることが出来る抵抗材
料はまだ開発されていない。従って、卑金属で配線導体
を形成する従来の多層セラミック基板においては、各セ
ラミック層間に配線導体を設け、基板表面上に、抵抗等
の受動素子、トランジスタ等の能動素子、及びこ九等の
配線導体ケ設けなければならなかった。
焼成セラミツクシート(化ジートノに導体ペーストを塗
布したものを非酸化性雰囲気中で焼成しなけ才tばなら
ない。ところが、4体ペーストと同時に非酸化性雰囲気
中で焼成し、実用可能な特性を得ることが出来る抵抗材
料はまだ開発されていない。従って、卑金属で配線導体
を形成する従来の多層セラミック基板においては、各セ
ラミック層間に配線導体を設け、基板表面上に、抵抗等
の受動素子、トランジスタ等の能動素子、及びこ九等の
配線導体ケ設けなければならなかった。
この結果、セラミック層中の配線パターンが粗であるに
も拘らず、セラミック基板表面における配線パターン及
び−路素子の配置が密になり、電子回路装置の小型化に
限界があった。上述の如き問題及びこれに類似した問題
は、非酸化性雰囲気中で焼成可能な抵抗材料が得られれ
ば解決される。
も拘らず、セラミック基板表面における配線パターン及
び−路素子の配置が密になり、電子回路装置の小型化に
限界があった。上述の如き問題及びこれに類似した問題
は、非酸化性雰囲気中で焼成可能な抵抗材料が得られれ
ば解決される。
従って、本発明の目的は、非酸化性雰囲気中で焼成可能
な抵抗材料′(ll′提供することにある。
な抵抗材料′(ll′提供することにある。
問題点を解決するための手段
上記目的を達成するための本発明の抵抗材料は、珪化タ
ングステン 44.0〜94.0重量部、弗化カルシウ
ム、弗化スト豐ンチウム、及び弗化バリウムの内の少な
(とも1種の弗化金属 1.0〜41.0重量部、ガラ
ス 5.0〜55.0重量部から成る。
ングステン 44.0〜94.0重量部、弗化カルシウ
ム、弗化スト豐ンチウム、及び弗化バリウムの内の少な
(とも1種の弗化金属 1.0〜41.0重量部、ガラ
ス 5.0〜55.0重量部から成る。
作用
上記組成の抵抗材料を、使用して抵抗体ペーストを作り
、これをセラミック生シート上に印刷し。
、これをセラミック生シート上に印刷し。
非酸化性雰囲気中で焼成すれば、実用可能な特性を有す
る厚膜抵抗ン得ることが出来る。従って、ニッケル等の
卑金属導体ペーストによる厚膜導体の形成と同時に卑金
属厚膜抵抗を形成することが出来る口 実施例1 次に、本発明の実施例に係わる抵抗材料及びこれをオU
用した多層セラミック回路基板の形成方法について述べ
る。
る厚膜抵抗ン得ることが出来る。従って、ニッケル等の
卑金属導体ペーストによる厚膜導体の形成と同時に卑金
属厚膜抵抗を形成することが出来る口 実施例1 次に、本発明の実施例に係わる抵抗材料及びこれをオU
用した多層セラミック回路基板の形成方法について述べ
る。
まず、ガラスケ得るために、Sho、 53重量部。
ZnO7,O重量部、CaCO512−ON置部、 B
、0゜20.0重量部、 BaCO38,ON置部Z混
合し、アルミナルツボ中、1400℃で30分間溶融し
、この溶融液を水中に投入し、急冷させた。このガラス
をアルミナ乳鉢で約50μm程度に粉砕し、更にこれを
エタノールと共にポリエチレン製ポットミルの中に入れ
、アルミナボールで150F¥P間粉砕し、粒径が10
μm以下の粉末状のガラスビ得た。
、0゜20.0重量部、 BaCO38,ON置部Z混
合し、アルミナルツボ中、1400℃で30分間溶融し
、この溶融液を水中に投入し、急冷させた。このガラス
をアルミナ乳鉢で約50μm程度に粉砕し、更にこれを
エタノールと共にポリエチレン製ポットミルの中に入れ
、アルミナボールで150F¥P間粉砕し、粒径が10
μm以下の粉末状のガラスビ得た。
次ニ、上記ガラスと、%S5と、 CaF、とン第1表
に示す割合に秤量し、ボールミルに入れて混合した。次
いで、この混合物をアルゴンガス雰囲気中1200℃で
1時間熱処理を行なった。そして、こnetエタノール
と共にポリエチレン製のボットミル中に入れ、アルミナ
ボールで24時間粉砕し、10μm以下、好ましくは5
μm以下の抵抗材料の粉末を得た。なお、この粉末(抵
抗体組成@]の組成は、最初の原料の組成と実質的に同
じである。しかる後、上記抵抗材料の粉末100]if
部と、有機バインダにトロセルロースlO重量部ンプチ
ルカルビトール90重量部で溶かしたもの325重量部
とを3本ロールミルで混練して約800ボイズの抵抗体
ペーストとした。
に示す割合に秤量し、ボールミルに入れて混合した。次
いで、この混合物をアルゴンガス雰囲気中1200℃で
1時間熱処理を行なった。そして、こnetエタノール
と共にポリエチレン製のボットミル中に入れ、アルミナ
ボールで24時間粉砕し、10μm以下、好ましくは5
μm以下の抵抗材料の粉末を得た。なお、この粉末(抵
抗体組成@]の組成は、最初の原料の組成と実質的に同
じである。しかる後、上記抵抗材料の粉末100]if
部と、有機バインダにトロセルロースlO重量部ンプチ
ルカルビトール90重量部で溶かしたもの325重量部
とを3本ロールミルで混練して約800ボイズの抵抗体
ペーストとした。
−万、上記抵抗体ペーストケ印刷するための磁器生シー
トを次の方法で作製した。AI、0.粉末5Oxi部、
Sin、粉末20軍置部、 SrO粉末25M量部、L
i、O粉本I ME蓋部、及びMgO粉末4重量部から
なるセラミック原料粉末と、アクリル酸エステルポリマ
ーの水溶液からなるバインダーと、グリセリンと、カル
ボン酸塩及び水と、なそれぞれボールミルに入れて混合
して、スリップを作製し、脱泡処理した後にドクターブ
レード法により厚さ200μn〕の長尺の生シートケ作
製した。そして、この生シートから、9 mm X 9
mmと6 mm X 9 mmの2種類の生シート片
を切り抜いた。
トを次の方法で作製した。AI、0.粉末5Oxi部、
Sin、粉末20軍置部、 SrO粉末25M量部、L
i、O粉本I ME蓋部、及びMgO粉末4重量部から
なるセラミック原料粉末と、アクリル酸エステルポリマ
ーの水溶液からなるバインダーと、グリセリンと、カル
ボン酸塩及び水と、なそれぞれボールミルに入れて混合
して、スリップを作製し、脱泡処理した後にドクターブ
レード法により厚さ200μn〕の長尺の生シートケ作
製した。そして、この生シートから、9 mm X 9
mmと6 mm X 9 mmの2種類の生シート片
を切り抜いた。
次に、第1図に示す如(、前者の生シート片(1)上に
、ニッケル(Ni)粉末と有機バインダとを3=1の比
で混練した導電性ペーストを200メツシユのスクリー
ンを用いて印刷し、125℃、10分間乾燥することに
よって第1図に示す如< Ni導体膜+21を形成した
。
、ニッケル(Ni)粉末と有機バインダとを3=1の比
で混練した導電性ペーストを200メツシユのスクリー
ンを用いて印刷し、125℃、10分間乾燥することに
よって第1図に示す如< Ni導体膜+21を形成した
。
次に1本発明に係わる抵抗体ペーストン導電性ペースト
と同様にスクリーン印刷し、乾燥することによって、第
1図に示す如(抵抗体膜131ン形成した。
と同様にスクリーン印刷し、乾燥することによって、第
1図に示す如(抵抗体膜131ン形成した。
次に、生シート片(1)の上に鎖線で示す大きさのもう
一方の生シート片141 y積層し、100℃、150
kg/cm で熱圧着し、これン酸化性雰囲気中50
0℃で熱処理して有機バインダ乞とばし、N、 (98
,5容積%]+Ht (1,5容積%)の還元性雰囲気
中で1200℃、2時間焼成し、第2図に示す如(・磁
器層1)a)(4a)の中に、厚膜導体(2a〕と厚膜
抵抗体(3a)とを有する混成集積回路用の多層磁器回
路基板を完成させた。なお、抵抗体+ 3a)の導体(
2a)にかからない部分の大きさは、3mmX3mmで
あり、膜厚は18μmである。
一方の生シート片141 y積層し、100℃、150
kg/cm で熱圧着し、これン酸化性雰囲気中50
0℃で熱処理して有機バインダ乞とばし、N、 (98
,5容積%]+Ht (1,5容積%)の還元性雰囲気
中で1200℃、2時間焼成し、第2図に示す如(・磁
器層1)a)(4a)の中に、厚膜導体(2a〕と厚膜
抵抗体(3a)とを有する混成集積回路用の多層磁器回
路基板を完成させた。なお、抵抗体+ 3a)の導体(
2a)にかからない部分の大きさは、3mmX3mmで
あり、膜厚は18μmである。
次に、この抵抗体(3a)の25℃におけるシート抵抗
をブリッジ法で測定し、且つ、25℃から125℃の温
度範囲での抵抗温度係数ン測定したところ、第1表の結
果が得られた。
をブリッジ法で測定し、且つ、25℃から125℃の温
度範囲での抵抗温度係数ン測定したところ、第1表の結
果が得られた。
上述から明らかな如く、本実施例の抵抗体ペーストを磁
器生シートに塗布して還元性雰囲気中で焼成することに
より、厚膜抵抗体が得られる。従って、Ni等の卑金属
ペーストと同時に焼成することが出来る。このたぬ、磁
器層内に%Ni等のペーストによる厚膜導体と共に、厚
膜抵抗を設けることが可能になり、混成集積回路の低コ
スト化、小型化が出来る。
器生シートに塗布して還元性雰囲気中で焼成することに
より、厚膜抵抗体が得られる。従って、Ni等の卑金属
ペーストと同時に焼成することが出来る。このたぬ、磁
器層内に%Ni等のペーストによる厚膜導体と共に、厚
膜抵抗を設けることが可能になり、混成集積回路の低コ
スト化、小型化が出来る。
また、第1表から明らかな如く。
ガラス 5.0〜55.0重量部、
w5Si、 44.0〜94−0重量部、CaFt
1−0〜41−0 ’lf量部承部成によって、
シート抵抗47.2〜7912Ω/口の厚膜抵抗ya’
得ることが出来る。従って。
1−0〜41−0 ’lf量部承部成によって、
シート抵抗47.2〜7912Ω/口の厚膜抵抗ya’
得ることが出来る。従って。
組成比を適宜選択することによって、任意の抵抗値を得
ることが出来る。また、抵抗温度係数は−795〜+6
03 ppm/ ℃に収まるので、実用可能な抵抗を提
供することが出来る。
ることが出来る。また、抵抗温度係数は−795〜+6
03 ppm/ ℃に収まるので、実用可能な抵抗を提
供することが出来る。
実施例2
ガラスの組成が変化しても、実施例1と同様な作用効果
が得られることを確かめるために、次の如(ガラス粉末
を作製した。二酸化珪素(Stow)65.0重量部、
三酸化ニホウ素(B、O,)23.0重量部、炭酸カル
シウム(CaCO,) 8.0重量部、及び酸化アルミ
ニウム(AI!OjJ 4−0重量部を混合し、実施例
1と同様の手法にて粉末状のガラスを得た。
が得られることを確かめるために、次の如(ガラス粉末
を作製した。二酸化珪素(Stow)65.0重量部、
三酸化ニホウ素(B、O,)23.0重量部、炭酸カル
シウム(CaCO,) 8.0重量部、及び酸化アルミ
ニウム(AI!OjJ 4−0重量部を混合し、実施例
1と同様の手法にて粉末状のガラスを得た。
次に、このガラスとW、Sil及びCaF、’を第2表
に示す比率に混合し、実施例1と同一の方法で抵抗体組
成物の粉床を得、こnを使用して実施例1と同一の方法
で同一構造の多層磁器回路基板を形成し、実施例1と同
様に電気的特性ケ測定したところ1M2表の結果が得ら
れた。
に示す比率に混合し、実施例1と同一の方法で抵抗体組
成物の粉床を得、こnを使用して実施例1と同一の方法
で同一構造の多層磁器回路基板を形成し、実施例1と同
様に電気的特性ケ測定したところ1M2表の結果が得ら
れた。
この実施例2から明らかなように、ガラス組成を変えて
も抵抗特性に大きな相違は見られない。
も抵抗特性に大きな相違は見られない。
つまり1本発明にお−1で使用されるガラスは必ずしも
特定された1つの組成に限られるものではない。なお、
実施例1におけるSin、 −ZnO−CaO−B、
0l−BaO系ガラス、実施f!I 2の5i01−
B10B −Ca0−AI、O,糸ガラスはいずれも作
業点(IXIOホイズとなる温度]が900〜1200
℃のガラスである。本発明の抵抗体組成物のガラスは、
実施例1及び2の組成のガラスに限ることなく、900
〜1200℃の作業点を有し、且つ還元性雰囲気で焼成
する際に金属化されやすい金輌酸化物(PPbolSn
o、B1)01等]を含まないものであれば、どのよう
な組成物でもよいことが確かめられて(する。
特定された1つの組成に限られるものではない。なお、
実施例1におけるSin、 −ZnO−CaO−B、
0l−BaO系ガラス、実施f!I 2の5i01−
B10B −Ca0−AI、O,糸ガラスはいずれも作
業点(IXIOホイズとなる温度]が900〜1200
℃のガラスである。本発明の抵抗体組成物のガラスは、
実施例1及び2の組成のガラスに限ることなく、900
〜1200℃の作業点を有し、且つ還元性雰囲気で焼成
する際に金属化されやすい金輌酸化物(PPbolSn
o、B1)01等]を含まないものであれば、どのよう
な組成物でもよいことが確かめられて(する。
実IM例3
弗化金属が変化しても、実施例1と同様な作用効果が得
られることケ確かめるために、弗化金属の5rFtY用
意し、実施例1と同一組成のガラスと%SilとS r
F*とを第3表の割合に秤量し、これを使用して、アル
ゴンガス雰囲気中の熱処理温度ン900℃にした他は、
実施例1と同一方法で抵抗体組成物を形成した。しかる
後、実施例1と同一方法で、抵抗体ペーストラ作り、更
に多層磁器回路基板を作製し、電気的特性を測定したと
ころ、第3表に示す結果が得られた。
られることケ確かめるために、弗化金属の5rFtY用
意し、実施例1と同一組成のガラスと%SilとS r
F*とを第3表の割合に秤量し、これを使用して、アル
ゴンガス雰囲気中の熱処理温度ン900℃にした他は、
実施例1と同一方法で抵抗体組成物を形成した。しかる
後、実施例1と同一方法で、抵抗体ペーストラ作り、更
に多層磁器回路基板を作製し、電気的特性を測定したと
ころ、第3表に示す結果が得られた。
この第3表から明らかな如< −5rFz ’f使用し
て □も、CaF、の場合とけぼ同様な作用効果が得ら
れる。
て □も、CaF、の場合とけぼ同様な作用効果が得ら
れる。
実施例4
珪化タングステンとしてWSi、、弗化金鵬としてSr
F*Y使用しても実施例1と同様な作用効果が得られる
ことya−確かめるために、実施例1と同一組成のガラ
ス、 WSf、、 SrF、ン第4表に示す割合に秤量
し、アルゴンガス雰囲気での熱処理温度!1)00℃と
した他は、実施fll 1と同一方法で抵抗体組成物の
粉末ケ作り、これケ使用して実施例1と同一方法で、抵
抗体ペーストヶ作り、更に多層磁器基板7作り、その電
気的特性を測定したところ、第4表の結果が得られた。
F*Y使用しても実施例1と同様な作用効果が得られる
ことya−確かめるために、実施例1と同一組成のガラ
ス、 WSf、、 SrF、ン第4表に示す割合に秤量
し、アルゴンガス雰囲気での熱処理温度!1)00℃と
した他は、実施fll 1と同一方法で抵抗体組成物の
粉末ケ作り、これケ使用して実施例1と同一方法で、抵
抗体ペーストヶ作り、更に多層磁器基板7作り、その電
気的特性を測定したところ、第4表の結果が得られた。
実施例5
珪化タングステン’LWSitとし、且つ弗化金楕欠複
数種類としても実施例1と同様な作用効果が得られるこ
とを確かめるたぬに、実施例1と同−mgのガラス、W
Si、、 CaF、、 BaF、 ya−第5表に示す
割合に秤量し、実施例1と同一方法で抵抗体組成物の粉
末を作り、これケ使用して実施例1と同一方法で、ペー
ストを作り、更に多層磁器回路基板を作り、電気的特性
を測定したところ、第5表の結果が得られた。この結果
から明らかな如く、弗化金属を複数種としても、1〜4
1重量部の範囲内であれば、1種の場合と同様な作用効
果が得らnる。
数種類としても実施例1と同様な作用効果が得られるこ
とを確かめるたぬに、実施例1と同−mgのガラス、W
Si、、 CaF、、 BaF、 ya−第5表に示す
割合に秤量し、実施例1と同一方法で抵抗体組成物の粉
末を作り、これケ使用して実施例1と同一方法で、ペー
ストを作り、更に多層磁器回路基板を作り、電気的特性
を測定したところ、第5表の結果が得られた。この結果
から明らかな如く、弗化金属を複数種としても、1〜4
1重量部の範囲内であれば、1種の場合と同様な作用効
果が得らnる。
変形例
本発明は上述の実施例に限定されるものでなく。
例えば次の変形例が可能なものである。
(al 弗化金属の種類を3種類にした場−1&1
また珪化タングステンを複数種の組み合せとした場合も
実施例1と同様な作用効果が得られることが確かめられ
ている。
また珪化タングステンを複数種の組み合せとした場合も
実施例1と同様な作用効果が得られることが確かめられ
ている。
(b) ガラスと珪化タングステンと弗化金属との混
合物の焼成温度を900〜1200℃の範囲にすること
が望ましいことが確認されている。また、この焼成は、
アルゴンガス以外の不活性雰囲気、又は真空中、又は中
性雰囲気、又は還元性雰囲気で行ってもよ−1゜ (cl 抵抗体ペース)Y作るための有機バインダは
、エチルセルロース等の樹脂を、テレピン油、ブチルカ
ルピトールアセテート等の高沸点溶剤に溶かしたもので
もよ(・。また、このバインダの量は15〜35重量部
程度承部ましく・。
合物の焼成温度を900〜1200℃の範囲にすること
が望ましいことが確認されている。また、この焼成は、
アルゴンガス以外の不活性雰囲気、又は真空中、又は中
性雰囲気、又は還元性雰囲気で行ってもよ−1゜ (cl 抵抗体ペース)Y作るための有機バインダは
、エチルセルロース等の樹脂を、テレピン油、ブチルカ
ルピトールアセテート等の高沸点溶剤に溶かしたもので
もよ(・。また、このバインダの量は15〜35重量部
程度承部ましく・。
(di 生シートと共に抵抗体ン焼成する際の雰囲気
は中性雰囲気であってもよい。
は中性雰囲気であってもよい。
(el 非酸化性雰囲気中での生シート及び抵抗体及
び導体の焼成は、1050〜1250℃の範囲で行うこ
とが望ましく・。なお、この焼成の前に。
び導体の焼成は、1050〜1250℃の範囲で行うこ
とが望ましく・。なお、この焼成の前に。
400〜600℃の酸化性雰囲気で熱処理ケ施して有機
物を分解させることが望ましい。
物を分解させることが望ましい。
発明の効果
上述から明らかな如く、本発明に係わる抵抗材料は、非
酸化性雰囲気で焼成Ili]能であるので、ニッケル等
の卑金楕による導体ペーストと共に焼成することが出来
る。従って、不発明は電子回路装置の小型化及び低コス
ト化に寄与する。
酸化性雰囲気で焼成Ili]能であるので、ニッケル等
の卑金楕による導体ペーストと共に焼成することが出来
る。従って、不発明は電子回路装置の小型化及び低コス
ト化に寄与する。
第1図は本発明の冥施例に係わる多層磁器回路基板を作
製する際の生シートと導体及び抵抗体のパターンを示す
平面図、第2図は第1図の■−■線に相当する部分の焼
成後の多層磁器回路基板を示す断面図である。 +1) 、=生シート片、F2+・・・導体膜、(3)
・・・抵抗体膜、(4)・・・生シート片。
製する際の生シートと導体及び抵抗体のパターンを示す
平面図、第2図は第1図の■−■線に相当する部分の焼
成後の多層磁器回路基板を示す断面図である。 +1) 、=生シート片、F2+・・・導体膜、(3)
・・・抵抗体膜、(4)・・・生シート片。
Claims (3)
- (1)珪化タングステン 44.0〜94.0重量部、
弗化カルシウム、弗化ストロンチウム、及び弗化バリウ
ムの内の少なくとも1種の弗化金属 1.0〜41.0
重量部、 ガラス 5.0〜55.0重量部、 から成る抵抗材料。 - (2)前記珪化タングステンは、W_5Si_3、WS
i_2の内の少なくとも1種である特許請求の範囲第1
項記載の抵抗材料。 - (3)前記ガラスは、作業点が900〜1200℃の範
囲のものである特許請求の範囲第1項又は第2項記載の
抵抗材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59197658A JPS6175504A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 抵抗材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59197658A JPS6175504A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 抵抗材料 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6175504A true JPS6175504A (ja) | 1986-04-17 |
JPH024124B2 JPH024124B2 (ja) | 1990-01-26 |
Family
ID=16378162
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59197658A Granted JPS6175504A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 抵抗材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6175504A (ja) |
-
1984
- 1984-09-20 JP JP59197658A patent/JPS6175504A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH024124B2 (ja) | 1990-01-26 |
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