JPS6175501A - 抵抗材料 - Google Patents

抵抗材料

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JPS6175501A
JPS6175501A JP59197655A JP19765584A JPS6175501A JP S6175501 A JPS6175501 A JP S6175501A JP 59197655 A JP59197655 A JP 59197655A JP 19765584 A JP19765584 A JP 19765584A JP S6175501 A JPS6175501 A JP S6175501A
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resistor
glass
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powder
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敏光 本多
正一 登坂
鬼形 和治
山岡 信立
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、非酸化性雰囲気中での焼成で厚膜抵抗体等ン
形成するための抵抗材料に関する。この抵抗材料を使用
すれば、共通のセラミック基板に厚膜抵抗体と卑金属配
線導体とを同時に形成することが出来る。
従来の技術 最近、電子回路装置を超小型化するために、多層セラミ
ック基板が使用されるようになった。この褌の多層セラ
ミック基板を低コスト化するために、配線導体をニッケ
ル等の卑金属で形成することが試みられて(゛る。
発明が解決しようとする問題点 上述の如く、卑金属で配線導体を形成する場合には、未
焼成セラミツクシート【化ジートノに導体ペーストyr
塗布したものケ非酸化性雰囲気中で焼成しなげればなら
ない。ところが、導体ペーストと同時に非酸化性雰囲気
中で焼成し、実用可能な特性乞得ることが出来る抵抗材
料はまだ開発されて(・ない。従って、卑金属で配線導
体l形成する従来の多層セラミック基板においては、各
セラミック/i6間に配線導体を設け、基板表面上に、
抵抗等の受動素子、トランジスタ等の能動素子、及びこ
れ等の配線導体を設けなければならなかった。
この結果、セラミック層中の配線パターンが粗であるに
も拘らず、セラミック基板表面における配線パターン及
び回路素子の配置が密になり、電子回路装置の小声化に
限界があった。上述の如き問題及びこれに類似した問題
は、非酸化性雰囲気中で焼成可能な抵抗材料が得られれ
ば解決される。
従って1本発明の目的は、非酸化性雰囲気中で焼成可能
な抵抗材料を提供することにある。
間順点ン解決するための手段 上記目的ビ達成するための本発明の抵抗材料は、硼化モ
リブデン 29.0〜75.0重量部、弗化カルシウム
、弗化ストロンチウム、及び弗化バリウムの内の少な(
とも1種の弗化金1i  1.0〜61.0zts、ガ
ラス 10.0〜7o、oxi部から成る。
作用 上記組成の抵抗材料を使用して抵抗体ペーストを作り、
これをセラミック生シート上に印刷し、非酸化性雰囲気
中で焼成すれば、実用可能な特性を有する厚膜抵抗を得
ることが出来る。従って、ニッケル等の卑金桃導体ペー
ストによる厚膜導体の形成と同時に卑金属厚膜抵抗Z形
成することか出来る。
実施例1 次に1本発明の実施例に係わる抵抗材料及びこれを利用
した多層セラミック回路基板の形成方法につU・て述べ
る。
まず、二酸化珪素(5iOtJ 78−0重量部、酸化
亜鉛(ZnOフ5.5N量部、酸化ジルコニラA(Zr
O,ノ12、O]1−1i部、炭酸力/l/ シウム(
CaCO3) 3−ON承部、及び酸化アルミニウム(
AI、OR) 1.5重量部を混合し、アルミナルツボ
中、1400℃で30分間浴融し、この溶融液ン水中に
投入し、急冷させた。
このガラス乞アルミナ乳鉢で約50/Im程度に粉砕し
、更にこれケエタノールと共にポリエチレン製ホットミ
ルの中に入れ、アルミナボールで150時間粉砕し、粒
径が10μm以下の粉本状のガラスを得た。
次に、上記ガラスと、 Mn、Bと、 CaFx トY
 第1表に示す割合に秤量し、ボールミルに入れて混合
した。次いで、この混合物をアルゴンガス雰囲気中12
00℃で1時間熱処理を行なった。そして、これケエタ
ノールと共にポリエチレン製のボットミル中に入れ、ア
ルミナボールで24時間粉砕し、10μm以下、好まし
くは5μm以下の抵抗材料の粉末7得た。なお、この粉
末(抵抗体m放物)のm或は、最初の原料の組成と笑質
的に同じである。しかる後、上記抵抗材料の粉末100
N量部と、有機バインダにトロセルロース10重量iヶ
プチルカルビトール90電量部で溶かしたもの)25重
量部とを3本ロールミルで混練して約800ボイズの抵
抗体ペーストとした。
一方、上記抵抗体ペーストラ印刷するための磁器生シー
トを次の方法で作製した。AI、0.粉末50iif 
量’Is、 S joy粉末20重量部、 SrO粉禾
粉末重量部、Li、0粉末1重量部、及びMgO粉末4
重量部からなるセラミック原料粉末と、アクリル酸エス
テルポリマーの水溶液からなるバインダーと、グリセリ
ンと、カルボン酸塩及び水と、をそれぞれボールミルに
入れて混合して、′スリップを作製し。
脱泡処理した後にドクターブレード法により厚さ200
μmの長尺の化ジートン作製した。そして。
この生シートから、9mmX9mmと6 mm X 9
 mmの2褌類の生シート片を切り抜−また。
次に、第1図に示す如く、前者の生シート片(11上に
、ニッケル(Ni)粉末と有機バインダとを3:1の比
で混練した導電性ペーストY:200メツシュのスクリ
ーンを用いて印刷し、125℃、10分間乾燥すること
によって第1図に示す如< Ni導体膜(2)を形成し
た。
次に、本発明に係わる抵抗体ペーストラ導電性ペースト
と同様にスクリーン印刷し、乾燥することによって、第
1図に示す如(抵抗体膜13)ヲ形成したO 次に、生シート片+11の上に鎖線で示す大きさのもう
一万の生シート片(4)ヲ槓層し、100℃。
150 kg/cmで熱圧着し、これを酸化性雰囲気中
500℃で熱処理して有機バインダをとばし、Nx (
98−5容積%)+H,(1,5容積%)の還元性雰囲
気中で1200′C,2時間焼成し、第2図に示す如(
、磁器層(1a〕(4a)の中に、厚膜導体(2a)と
厚膜抵抗体(3a)とを有する混成集積回路用の多層磁
器回路基板を完成させた。なお、抵抗体(3a)の導体
(2a)にかからない部分の大ぎさは、3mmX 3 
mmであり、膜厚は18μmである。
、次に、この抵抗体【3a)の25℃におけるシート抵
抗をブリッジ法で測定し、且つ、25℃から125℃の
温度範囲での抵抗温度係数ケ測定したところ、第1表の
結果が得られた。
よ述から明らかな如く、本実施例の抵抗体ベースト乞磁
器生シートに塗布して還元性雰囲気中で焼成することに
より、厚膜抵抗体が得られる。従って、Ni等の卑金属
ペーストと同時に焼成することが出来る。このため、磁
器層内に、Ni等のペーストによる厚膜導体と共に、厚
膜抵抗ビ受けることが可能になり、混成染檀回路の低コ
スト化、小型化が出来る。
また、第1表からり]らかなヌ目(。
ガラス  10.0〜70.0重1凱 Mo、B29.0〜75.0重:!l′s。
Cart     1.0〜61−0重量部の組成によ
って、シート抵抗172.5へ143080Ω/口の厚
膜抵抗ケ得ろことが出来る。従って。
組成比ン適宜選がすることによって、任意の抵抗値を得
ることが出来る。
また、抵抗温度係数は一970〜+i 20 ppm/
℃に収まるので、実用El能な抵抗を提供することが出
来る。
実施例2 ガラスの組成が変化しても、実施例1と同様な作用効果
が得られることを確かめるために、次の如(ガラス粉末
を作製した。二酸化珪素(SiO,J75.0重量部、
三酸化ニホウ素t BtOm]13.0重量部、戻酸カ
ルシウム(CaCO3)10.ONN郡部及び酸化アル
ミニウム(AI*Os ) 2− ON置部を混合し、
実施例1と同様の手法にて粉末状のガラスを得た。
矢に、このガラスとMoJ及びCaFl Y @ 2表
に示す比率に混合し、実施例1と同一の方法で抵抗体組
成物の粉末ケ得、これを使用して実施例1と同一の方法
で同一構造の多層磁器回路基板を形成し、実施例1と同
様に電気的特性を測定したところ、第2表の結果が得ら
れた。
この実施例2から明らかなように、ガラスの組成ケ変え
ても抵抗特性に大きな相違は見られな(・。
つまり1本発明において便用されるガラスは必ずしも特
定゛さnた1つの組成に限られるものではない。y、(
オ、実施例1におけるS iO,−ZnO−ZrO,−
CaOA1tOn糸ガラス、実施例2のsio、−B、
0s−CaO−A50.糸ガラスにも・ずれも作業点(
I X 10’ホイズとなる温度)が900〜1200
℃のガラスである。本発明の抵抗体組成物のガラスは、
笑施汐11及び2の組成のガラスに限ることなく、90
0〜1200℃の作業点ケ有し、且つ還元性雰囲気で焼
成する際に金属化されやす(・金属酸化物cPbO、5
nOhBi103等)を含まな(・ものであれ11、ど
のような組成物でもよいことが確かぬら九で一゛る0 実施例3 弗化金属が変化しても、実施例1と同様な作用効果が得
られることケ確かめるために、弗化金属)SrFtを用
意し、実施例1と同一組成のガラスとM o t Bと
SrF、とを第3表の割合に秤量し、これを使用して、
アルゴンガス雰囲気中の熱処理温度を900℃にした他
は、実施例1と同一方法で抵抗体組成物を形成した。し
かる後、実施例1と同一方法で、抵抗体ペーストラ作り
、更に多層磁器回路基板な作製し、電気的特性を測定し
たところ、第3表に示す結果が得られた。
この第3表から明らかな如< 、 SrF、 ン使用し
ても、CaF、の場合とほぼ同様な作用効果が得られる
実施例4 硼化モリブデンとしてMO2B、、弗化金属としてSr
F、を使用しても実施例1と同様な作用効果が得られる
こと乞確かめるために、実施例1と同一組成のガラス、
 Mo−0いSrF、 Y第4表に示す割合に秤量し、
アルゴンガス雰囲気中の熱処理温度を1000℃にした
他は、実施例1と同一方法で抵抗体m放物の粉本を作り
、これを使用して実施例1と同一方法で、抵抗体ペース
トラ作り、更に多層磁器基板ケ作り、その電気的特性を
測定したところ、第4表の結果が得ら扛た。
実施例5 実施例1の組成のガラスとMo、B、とBaF、とン第
5表に示す割合に秤量し、アルゴンガス雰囲気中の熱処
理温度馨900℃にした点を除いて実施例1と同一方法
で抵抗体組成物の粉末を作製し、これを使用して実施例
1と同一方法、抵抗体ペーストを作り、且つ多層磁器回
路基板な作り、電気的特性を測定したところ、第5表に
示す結果が得られた。この表から明らかな如(、硼化モ
リブデン、及び弗化金属の種類が変化しても実施例1と
同様な作用効果が得られる。
実1ffifII6 硼化モリブデン′1¥MOBとし、且つ弗化金属なりa
F、としても実施例1と同様な作用効果が得られること
を確かめるために、実施例1と同一組成のガラス、Mo
B b BaFxを第6表に示す1llJ合に秤量し、
実施例1と同一方法で抵抗体組成物の粉末を作り、これ
を使用して実施例1と同一方法で、ペーストを作り、更
に多層磁器回路基iを作り、電気的特性を測定したとこ
ろ、第6表の結果が得られた。
実施fJ 7 硼化モリブデンYMoBとし、且つ弗化金属ケ複数権類
としても実施例1と同様な作用効果が得られることを確
かめるために、実施例1と同一組成のガラス、MOB 
、 CaF、、5rFt’&第7表に示す割合に秤量し
、アルゴンガス中での熱処理温度ya′1100℃にし
た他は実施例1と同一方法で抵抗体組成物の粉末を作り
、これを使用して実施例1と同一方法で、ペーストラ作
り、更に多層磁器回路基板を作り、電気的特性を測定し
たところ、第7表の結果が得られた。この結果から明ら
かな如(、弗化金属を複数種としても、@計が1〜61
重量部の範囲内であれば、1種の場合と同様な作用効果
が得られる。
実施例8 硼化モリブデンiMo&とし、且つ弗化金属をS rF
、及びBaF、としても実施例1と同様な作用効果が得
られることY確かめるために、実施例1と同一組成のガ
ラス、M□Bl 、 SrF、、BaF、 l:第8表
に示す割合に秤量し、実施例1と同一方法で抵抗体組成
物の粉末を作り、これン使用して実施例1と同一方法で
、ペーストラ作り、更に多層磁器回路基板を作り、電気
的特性を測定したところ、第8表の結果が得られた。
変形例 本発明は上述の実施例に限定されるものでな(、例えば
次の変形例が可能なものである。
(al  弗化金属の種類”k3種類にした場合、また
硼化モリブデンk Mo2B 、 MoJH,Mc)B
 、 MoB1等の複数極の組み合せとした場合も実施
例1と同様な作用効果が得られることが確かめられてい
る。
(bl  ガラスと硼化モリブデンと弗化金属との混合
物の焼成温度を900〜1200℃の範囲にすることが
望ましいことが確認さ几て(゛る。また、この焼成は、
アルゴンガス以外の不活性雰囲気、又は真空中、又は中
性雰囲気、又は還元性雰囲気で行ってもよ(・。
(cl  抵抗体ペーストラ作るための有機バインダは
、エチルセルロース等の樹脂を、テレピン油、ブチルカ
ルピトールアセテート等の高沸点溶剤に溶かしたもので
もよい。また、このバインダの量は15〜35重量部権
度承部ましく・0(dl  生シートと共に抵抗体を焼
成する際の雰囲気は中性雰囲気であってもよい。
(el  非酸化性雰囲気中での化シート及び抵抗体及
び導体の焼JJy、は、1050〜1250℃の範囲で
行うことが望ましい。な忘、この焼成の前に、400〜
600℃の酸化性雰囲気で熱処理な施して有ト幾9勿l
′分解さぜることが望ましい。
発明の効果 上述から明らかな如く、本発明に係わる抵抗材料は、非
酸化性雰囲気で焼成用n目であるので、ニラクル等のし
y−金属による導体ペーストと共に焼成することが出来
る。従って、本発明は電子回路装置の小型化及び低コス
ト化に寄与する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係わる多層磁器回路基板を作
製する際の生シートと導体及び抵抗体のパターンを示す
平面図、第2図は第1図の■−■線に相当する部分の焼
成後の多層磁器回路基板を示す断直図である。 (11・・・生シート片、(2j・・・導体膜、(3)
・・・抵抗体膜、fJ・・・生シート片。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 硼化モリブデン 29.0〜75.0重量部、弗化カル
    シウム、弗化ストロンチウム、及び弗化バリウムの内の
    少なくとも1種の弗化金属 1.0〜61.0重量部、 ガラス 10.0〜70.0重量部 から成る抵抗材料。 (2)前記硼化モリブデンは、1硼化2モリブデン(M
    o_2B)、5硼化2モリブデン(Mo_2B_5)、
    1硼化1モリブデン(MoB)、及び2硼化1モリブデ
    ン (MoB_2)の内の少なくとも1種である特許請求の
    範囲第1項記載の抵抗材料。 (3)前記ガラスは、作業点が900〜1200℃の範
    囲のものである特許請求の範囲第1項又は第2項記載の
    抵抗材料。
JP59197655A 1984-09-20 1984-09-20 抵抗材料 Granted JPS6175501A (ja)

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