JPS6160889A - シヤドウマスクの製造方法 - Google Patents
シヤドウマスクの製造方法Info
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- JPS6160889A JPS6160889A JP59179247A JP17924784A JPS6160889A JP S6160889 A JPS6160889 A JP S6160889A JP 59179247 A JP59179247 A JP 59179247A JP 17924784 A JP17924784 A JP 17924784A JP S6160889 A JPS6160889 A JP S6160889A
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- H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
- H01J29/06—Screens for shielding; Masks interposed in the electron stream
- H01J29/07—Shadow masks for colour television tubes
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- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
- H01J9/14—Manufacture of electrodes or electrode systems of non-emitting electrodes
- H01J9/142—Manufacture of electrodes or electrode systems of non-emitting electrodes of shadow-masks for colour television tubes
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はカラー受像管j二用いられるシャドウマスクの
製造方法に係わり、特にそのエツチング方法に関するも
のである。
製造方法に係わり、特にそのエツチング方法に関するも
のである。
カラー受像管番=用いられるシャドウマスクは異なる発
光色の群からなる螢光面に近接対向して配置され、規則
正しく配列された多数の透孔な介して色選別機能を果た
す重要な部材である。このシャドウマスクは通常、帯状
の金属薄板からエッチングにより多数の透孔が穿設され
るが、その開孔形状、特に断面形状は板厚方向に貫通し
ている開孔径に対して螢光面側の表面の開孔領域は大き
く(以降大孔と称す)、電子銃側の表面の開孔領域は貫
通開孔径と同程度で螢光面側のそれよりは小さい(以降
小孔)と称す。
光色の群からなる螢光面に近接対向して配置され、規則
正しく配列された多数の透孔な介して色選別機能を果た
す重要な部材である。このシャドウマスクは通常、帯状
の金属薄板からエッチングにより多数の透孔が穿設され
るが、その開孔形状、特に断面形状は板厚方向に貫通し
ている開孔径に対して螢光面側の表面の開孔領域は大き
く(以降大孔と称す)、電子銃側の表面の開孔領域は貫
通開孔径と同程度で螢光面側のそれよりは小さい(以降
小孔)と称す。
このような複雑な断面形状を有する開孔をエツチングに
より穿設する場合、両面側からのエツチング或は両者の
組み合せ等のエツチング方法があげられる。しかし乍ら
その開孔径が小さくなる程その精度と再現性は低下し、
板厚より小さい開孔径を得ることは困難である。このよ
うな板厚より小さい開孔径を得る方法として、特公昭5
7−26345号公報では第2図及び第3図(、)乃至
(d)l:示すような提案がなされている。即ち、第3
図(a)に示すように金属板(1)のエツチングすべき
大小孔部1;相当する金属面(2)及び(3)が露出し
、他は耐エツチング性を有するレジスト膜(4)及び(
5)で覆われた金属板(1)の大孔(Da)を形成する
金属面を下にし、第2図(a)のゾーンにて第3図(b
)に示すように金属板(1)の両面より目的とする深さ
、つまり金rf4板残部厚(5)まで前段のエツチング
を行なった後、第2図(b)のゾーンで水洗し第2図(
C)のゾーンで乾燥する。次いで第31mtb)に示す
ように小孔(Db)を形成した金属板面にアスファルト
、パラフィン又は重合プラスチック等のエツチング液に
対して抵抗性を有する材料を第2図(dlのゾーンにて
スプレーし、第2図(1)のゾーンにて乾燥することに
よって抵抗層(6)を形成する。その後第3図fc)に
示すように大孔(Da)側のみから第2図(flのゾー
ンにて後段のエツチングを行ない、小孔(Db)を埋め
ている抵抗層(6)に到達し目的とする孔寸法になるま
でエツチングを続ける。エツチング終了後、水洗、抵抗
層及びレレスト膜剥離等の次工程(g)へ送り第3図(
d)に示すような透孔が得られる。このような方法(二
より金属板の板厚の40%程度の孔寸法を有するZヤド
クマスクが得られるとしている。
より穿設する場合、両面側からのエツチング或は両者の
組み合せ等のエツチング方法があげられる。しかし乍ら
その開孔径が小さくなる程その精度と再現性は低下し、
板厚より小さい開孔径を得ることは困難である。このよ
うな板厚より小さい開孔径を得る方法として、特公昭5
7−26345号公報では第2図及び第3図(、)乃至
(d)l:示すような提案がなされている。即ち、第3
図(a)に示すように金属板(1)のエツチングすべき
大小孔部1;相当する金属面(2)及び(3)が露出し
、他は耐エツチング性を有するレジスト膜(4)及び(
5)で覆われた金属板(1)の大孔(Da)を形成する
金属面を下にし、第2図(a)のゾーンにて第3図(b
)に示すように金属板(1)の両面より目的とする深さ
、つまり金rf4板残部厚(5)まで前段のエツチング
を行なった後、第2図(b)のゾーンで水洗し第2図(
C)のゾーンで乾燥する。次いで第31mtb)に示す
ように小孔(Db)を形成した金属板面にアスファルト
、パラフィン又は重合プラスチック等のエツチング液に
対して抵抗性を有する材料を第2図(dlのゾーンにて
スプレーし、第2図(1)のゾーンにて乾燥することに
よって抵抗層(6)を形成する。その後第3図fc)に
示すように大孔(Da)側のみから第2図(flのゾー
ンにて後段のエツチングを行ない、小孔(Db)を埋め
ている抵抗層(6)に到達し目的とする孔寸法になるま
でエツチングを続ける。エツチング終了後、水洗、抵抗
層及びレレスト膜剥離等の次工程(g)へ送り第3図(
d)に示すような透孔が得られる。このような方法(二
より金属板の板厚の40%程度の孔寸法を有するZヤド
クマスクが得られるとしている。
エツチングによって目的とする寸法形状の透孔を穿設す
る場合、金属板板厚方向にエツチングが進行すると同時
に横方向へのエンチング即ちサイドエツチングも進行し
、このrl、エツチングをどの程度に制御するかが重要
な問題となる。また最終的に貫通する透孔寸法を決定す
る小孔部のエツチングも重要である。従って金属板の両
面より同時にエツチングを行なう両面エツチングのみで
は板f4.(=対応したサイドエツチングが進行し孔寸
法が大きくなり、結果として小さな寸法の透孔な得るこ
とは困難である。またーナイドエッチング息を加味して
孔寸法を小さくする場合は、レジスト開孔部の寸法を小
さくしなければならずレジスト葭焼付用パターン寸法を
小さくする必要がある。
る場合、金属板板厚方向にエツチングが進行すると同時
に横方向へのエンチング即ちサイドエツチングも進行し
、このrl、エツチングをどの程度に制御するかが重要
な問題となる。また最終的に貫通する透孔寸法を決定す
る小孔部のエツチングも重要である。従って金属板の両
面より同時にエツチングを行なう両面エツチングのみで
は板f4.(=対応したサイドエツチングが進行し孔寸
法が大きくなり、結果として小さな寸法の透孔な得るこ
とは困難である。またーナイドエッチング息を加味して
孔寸法を小さくする場合は、レジスト開孔部の寸法を小
さくしなければならずレジスト葭焼付用パターン寸法を
小さくする必要がある。
しかし乍らパターン寸法が小さくなる程パターンむら品
位も低下し結果的に良い品位の透孔を得ることは困難と
なる。このような観点から第2図に示すエツチング方法
は透孔寸法を決定する小孔部を目的の寸法まで前段でエ
ツチングし、エツチング抵抗材で埋め保護するため、後
段の大孔側からのエツチング時も小孔側のサイドエツチ
ングの進行はない。即ち前段のサイドエツチング量が少
ない状態で寸法を固定できるためむら品位の少ない透孔
を、穿設することが可能となる。
位も低下し結果的に良い品位の透孔を得ることは困難と
なる。このような観点から第2図に示すエツチング方法
は透孔寸法を決定する小孔部を目的の寸法まで前段でエ
ツチングし、エツチング抵抗材で埋め保護するため、後
段の大孔側からのエツチング時も小孔側のサイドエツチ
ングの進行はない。即ち前段のサイドエツチング量が少
ない状態で寸法を固定できるためむら品位の少ない透孔
を、穿設することが可能となる。
しかし乍らンヤドクマスクの透孔は電子ビームが斜めに
入射通過する母を確保するため(二その最小孔径部の形
状が重要である。例えば、短形状の透孔な有するシャド
クマスクは第4図1=示すような透孔配列を有しており
A−入線(;沿うスリット断面とB−B線に沿うブリッ
ジ断面は極めて異なった形状を有している。第4図は螢
光面側から見た平面図である。この゛断面形状はエツチ
ング方法によって大きな差異を生ずる。スリット断面(
二対しては第2図に示すエツチング法では第5図(b)
に示すように大孔(3)と小孔(2)が合致した部分の
小孔(2)からの高さく1)が第5図(a)に示す両面
エツチングの場合に比較しその部分の壁が切り立ってい
るために斜めに入射する電子ビームの通過がその分だけ
妨たげられる。ブリッジ断面に対しては第2図に示すエ
ツチング法では第6図(b)に示すように大小孔の合致
した部分の幅(5)が第6図(a)(二示す両面エツチ
ングの場合に比較し大きくなるために同じく電子ビーム
の通過がその分だけ妨たげられる。
入射通過する母を確保するため(二その最小孔径部の形
状が重要である。例えば、短形状の透孔な有するシャド
クマスクは第4図1=示すような透孔配列を有しており
A−入線(;沿うスリット断面とB−B線に沿うブリッ
ジ断面は極めて異なった形状を有している。第4図は螢
光面側から見た平面図である。この゛断面形状はエツチ
ング方法によって大きな差異を生ずる。スリット断面(
二対しては第2図に示すエツチング法では第5図(b)
に示すように大孔(3)と小孔(2)が合致した部分の
小孔(2)からの高さく1)が第5図(a)に示す両面
エツチングの場合に比較しその部分の壁が切り立ってい
るために斜めに入射する電子ビームの通過がその分だけ
妨たげられる。ブリッジ断面に対しては第2図に示すエ
ツチング法では第6図(b)に示すように大小孔の合致
した部分の幅(5)が第6図(a)(二示す両面エツチ
ングの場合に比較し大きくなるために同じく電子ビーム
の通過がその分だけ妨たげられる。
これは両面エツチングにおいては、大小孔が合致し貫通
した後貫通孔をエツチング液が通り抜(するので突出し
た大小孔合致部が削られるためである。
した後貫通孔をエツチング液が通り抜(するので突出し
た大小孔合致部が削られるためである。
従って第2図に示すエツチング法では小孔部がエツチン
グ抵抗材で埋められているためエツチング液のエッテン
ゲ孔内通り抜けがなく新エツチング液との交換効率が悪
いため大小孔合致部の削れ速度が遅い。この結果両面エ
ツチング1;比較し、t(二関しては前段でエツチング
された小孔部板厚方向の深度がそのまま残り易く大きな
値を示し且つ壁が切り立っている。プリンア寸法に関し
ては、スリット部に比較し大小孔レジストパターン開口
部の配列状態の関係でエツチング液の衝撃力が弱いこと
と兼ね合ってスリット部より大小孔合致部の削れ量が少
なく太くなる。tが大きな場合、特に周辺部において電
子ビームが小孔金属板面側から大小孔合致部までで形成
される壁(二衝突しビーム欠(すを起すと共に、衝突反
射した散乱電子が目的とするマスク孔以外の孔を通って
他色の螢光体j二あたるため黒しずみが悪くなりコント
ラストの低下を招く。一方ブリッヂ寸法が所スのものよ
り太くなった場合には輝度が低下するとともに、例えば
螢光体13間に黒色の光吸収ストライブ層を形成する工
程でブリッヂ部での光量不足が生じくびれ金が増え、螢
光面の外観むら品位が低下する欠点を有する。
グ抵抗材で埋められているためエツチング液のエッテン
ゲ孔内通り抜けがなく新エツチング液との交換効率が悪
いため大小孔合致部の削れ速度が遅い。この結果両面エ
ツチング1;比較し、t(二関しては前段でエツチング
された小孔部板厚方向の深度がそのまま残り易く大きな
値を示し且つ壁が切り立っている。プリンア寸法に関し
ては、スリット部に比較し大小孔レジストパターン開口
部の配列状態の関係でエツチング液の衝撃力が弱いこと
と兼ね合ってスリット部より大小孔合致部の削れ量が少
なく太くなる。tが大きな場合、特に周辺部において電
子ビームが小孔金属板面側から大小孔合致部までで形成
される壁(二衝突しビーム欠(すを起すと共に、衝突反
射した散乱電子が目的とするマスク孔以外の孔を通って
他色の螢光体j二あたるため黒しずみが悪くなりコント
ラストの低下を招く。一方ブリッヂ寸法が所スのものよ
り太くなった場合には輝度が低下するとともに、例えば
螢光体13間に黒色の光吸収ストライブ層を形成する工
程でブリッヂ部での光量不足が生じくびれ金が増え、螢
光面の外観むら品位が低下する欠点を有する。
本発明は以上の点に鑑みてなされたもので、金属板板厚
より小さく且つ電子ビームの通過に最適な断面形状を有
する透孔な均一に形成することを目的とする。
より小さく且つ電子ビームの通過に最適な断面形状を有
する透孔な均一に形成することを目的とする。
本発明は、金属薄板の両面の所定の前記開孔領域と丁べ
き部分以外の部分を耐エンテングレンスト膜で被覆し、
前記金属薄板の一方の面のみが1段のエンチングを行な
って所定の凹部を形成し、前記前段のエツチングで形成
された回部を含む面をエツチング抵抗材で被覆保護し、
前記金属薄板のエンチング抵抗材を有さない他方の面の
み前段のエツデゾグ(=よる凹部に到達するまで後段の
エツチングを行ない透孔を貫通穿設し、前記金属薄板の
開孔領域を含む両面を露出させ、再度エツチングを行な
うことにより、目的とする孔寸法を得た後大小孔合致部
を優先的にエツチングし目的とする断面形状を得るもの
である。
き部分以外の部分を耐エンテングレンスト膜で被覆し、
前記金属薄板の一方の面のみが1段のエンチングを行な
って所定の凹部を形成し、前記前段のエツチングで形成
された回部を含む面をエツチング抵抗材で被覆保護し、
前記金属薄板のエンチング抵抗材を有さない他方の面の
み前段のエツデゾグ(=よる凹部に到達するまで後段の
エツチングを行ない透孔を貫通穿設し、前記金属薄板の
開孔領域を含む両面を露出させ、再度エツチングを行な
うことにより、目的とする孔寸法を得た後大小孔合致部
を優先的にエツチングし目的とする断面形状を得るもの
である。
以下本発明の実施例について詳細に説明する。
第7図(al乃至(flは本発明の実施例による工程ご
との金属板の構成図、第8図及び第1図は同じく各工程
を示す模式図である。
との金属板の構成図、第8図及び第1図は同じく各工程
を示す模式図である。
シャドグマスク材として板厚0.13 vanの平滑な
アルミキルド低炭素鋼板(1)を用い、両主面に牛乳カ
ゼイン酸アルカリと重クロム酸アンモニウムからなる感
光液を塗布乾燥して約5μmのレジスト膜を形成する。
アルミキルド低炭素鋼板(1)を用い、両主面に牛乳カ
ゼイン酸アルカリと重クロム酸アンモニウムからなる感
光液を塗布乾燥して約5μmのレジスト膜を形成する。
次いで金属薄板(1)の一方の主面に約80μmの円形
像を有するネガ原版を、他方の主面の対応部位に約15
0μmの円形像を有するネガ原版をそれぞれ密着配置し
、5KJlの水銀ランプを使用し1mの距離から30秒
間露光する。その後40’Cの温水でIKP/cylの
スプレー圧にて未露光未硬化部のレジスト膜部な溶解除
去し、小孔形成部及び大孔形成部にあたえる金属面(2
)、(3)を露出させる(第7図(a))。この後残存
レジスト膜(4)、(5)の耐エツチング性及び金属薄
板(1)との付着強度を向上させるため150°Cの雰
囲気で約2分間乾燥し、200℃の雰囲気で約2分間バ
ーニングを施こす。次いで金属板(1)の上側面に位置
する大孔側にポリエチレン・ポリプロピレン又は塩化ビ
ニル等の保護フィルム(力をはりつけ(第7図(b))
、金属板の下側に位置する小孔側のみにエツチング液(
9)を吹きつけ目的とする凹部(8)か形成されるまで
前段のエツチングを行った後(第8図(a))水洗する
(第8図(b))。
像を有するネガ原版を、他方の主面の対応部位に約15
0μmの円形像を有するネガ原版をそれぞれ密着配置し
、5KJlの水銀ランプを使用し1mの距離から30秒
間露光する。その後40’Cの温水でIKP/cylの
スプレー圧にて未露光未硬化部のレジスト膜部な溶解除
去し、小孔形成部及び大孔形成部にあたえる金属面(2
)、(3)を露出させる(第7図(a))。この後残存
レジスト膜(4)、(5)の耐エツチング性及び金属薄
板(1)との付着強度を向上させるため150°Cの雰
囲気で約2分間乾燥し、200℃の雰囲気で約2分間バ
ーニングを施こす。次いで金属板(1)の上側面に位置
する大孔側にポリエチレン・ポリプロピレン又は塩化ビ
ニル等の保護フィルム(力をはりつけ(第7図(b))
、金属板の下側に位置する小孔側のみにエツチング液(
9)を吹きつけ目的とする凹部(8)か形成されるまで
前段のエツチングを行った後(第8図(a))水洗する
(第8図(b))。
/clIでエツチングを行なう。次いで大孔側に保護フ
ィルム(7)をつけたまま小孔側から濃度15%、60
℃の水酸化ナトリクム液をスプレーし小孔側の残存レジ
スト膜をはがしく第8図(C) )、水洗(第8図(d
))する。次いで金属板を反転させて(第7図(C))
前段のエツチングで形成された凹部を上側とし、この面
にローラーコータにて水溶性のエツチング抵抗材、例え
ば牛乳カゼイン酸アルカリ、ポリビニルアルコール、エ
ポキシ系ダイスバージョン樹脂、又アルキド樹脂等を塗
布して(第8図(e))、小孔側の凹部な完全(=埋め
乾燥(第8図(f))することにより抵抗層(6)を形
成する(第7図(d))。水溶性のエツチング抵抗材の
種類:二より金属板が濡れた状態では凹部(8)内の水
との置換が迅速に行なわれないことがあるため、このよ
うな場合には残存レジスト膜剥離、水洗後乾燥して行な
うとよい。
ィルム(7)をつけたまま小孔側から濃度15%、60
℃の水酸化ナトリクム液をスプレーし小孔側の残存レジ
スト膜をはがしく第8図(C) )、水洗(第8図(d
))する。次いで金属板を反転させて(第7図(C))
前段のエツチングで形成された凹部を上側とし、この面
にローラーコータにて水溶性のエツチング抵抗材、例え
ば牛乳カゼイン酸アルカリ、ポリビニルアルコール、エ
ポキシ系ダイスバージョン樹脂、又アルキド樹脂等を塗
布して(第8図(e))、小孔側の凹部な完全(=埋め
乾燥(第8図(f))することにより抵抗層(6)を形
成する(第7図(d))。水溶性のエツチング抵抗材の
種類:二より金属板が濡れた状態では凹部(8)内の水
との置換が迅速に行なわれないことがあるため、このよ
うな場合には残存レジスト膜剥離、水洗後乾燥して行な
うとよい。
エツチング抵抗材の塗布膜厚としては、凹部(8)外の
金属板面上で5乃至10μmとなる範囲が適当である。
金属板面上で5乃至10μmとなる範囲が適当である。
この抵抗材の塗布法としてはローラーコート法以外1;
ナイフコート法、スプレー法、浸漬法又はパーコーター
法によって行なっても良い。また抵抗材としては耐エツ
チング性を有することが必要で、上記以外に非水溶性の
もの、例えばパラフィン、石油ピッチ、ラッカー等を用
いる場合は小孔側の残存レジスト膜(5)の剥離水洗後
乾燥して抵抗層(6)を形成するとよい。
ナイフコート法、スプレー法、浸漬法又はパーコーター
法によって行なっても良い。また抵抗材としては耐エツ
チング性を有することが必要で、上記以外に非水溶性の
もの、例えばパラフィン、石油ピッチ、ラッカー等を用
いる場合は小孔側の残存レジスト膜(5)の剥離水洗後
乾燥して抵抗層(6)を形成するとよい。
さて抵抗層(6)を形成した後大孔側の保護フィルム(
力をはがし、金属板の下側に位置する大孔側のみ(=塩
化第2鉄からなるエツチング液(9)を吹きつけて後段
のエツチングを行なう(第8図(g))ことにより、抵
抗m (6) l二人孔側凹部が到達して目的とする寸
法のシャドクマスク開孔を得る(第7図(e) )。
力をはがし、金属板の下側に位置する大孔側のみ(=塩
化第2鉄からなるエツチング液(9)を吹きつけて後段
のエツチングを行なう(第8図(g))ことにより、抵
抗m (6) l二人孔側凹部が到達して目的とする寸
法のシャドクマスク開孔を得る(第7図(e) )。
次いで水洗(第1図(h))後抵抗N(6)及びレジス
ト膜(4)をはがして(第1図(i))開孔形成工程が
終了する(第7図(f))。
ト膜(4)をはがして(第1図(i))開孔形成工程が
終了する(第7図(f))。
ここで前段の小孔側のみのエツチング及び後段の大孔側
のみのエツチングにおけるエツチング量はシャドウマス
クの孔寸法及び金属板板厚(二より異なるが、何れにせ
よ大孔側のエツチング量の方が大である。従って両者の
エツチング(=おける最適なエツチング量を得るために
、前段及び後段のエンtングテヤンパー長の比を変える
か、又はエツチング液の比重や液温或はスプレー圧等を
変化させるとよい。
のみのエツチングにおけるエツチング量はシャドウマス
クの孔寸法及び金属板板厚(二より異なるが、何れにせ
よ大孔側のエツチング量の方が大である。従って両者の
エツチング(=おける最適なエツチング量を得るために
、前段及び後段のエンtングテヤンパー長の比を変える
か、又はエツチング液の比重や液温或はスプレー圧等を
変化させるとよい。
この状態での透孔の断面形状は第7図(f)に示すよう
(二、第5図(blと同じく大小孔合致部分は小孔側か
らの高さくt)に相当する壁を有している。
(二、第5図(blと同じく大小孔合致部分は小孔側か
らの高さくt)に相当する壁を有している。
次に前段と後段のエツチングが終了し大小開孔領域を含
む両面が露出された金属板(1)は水洗(第1図(j)
)を経て再度エツチング槽に入る(第1図(k))。再
度エツチング法としてはスプレー法や浸漬法等を用いる
ことができるが、スプレー法はエツチング液の機械的当
りによるエツチング効率が良いため第5図または第6図
に示す(1)または(w)の寸法が小さくなる。しかし
開孔寸法が目的よりも大きくなり易く、且つ金属板上の
エンチング液の溜りやスプレーパターン当りの不均一等
によってばらつきが発生し易くあまり好ましくない。こ
れ合エツチング面で疲労した液と新液との交換が悪いと
エツチング速度が低下するのでエツチング液を撹拌し乍
ら行なうとよい。液撹拌には超音波法、バブリング法、
撹拌千法等を用いることができるが、撹拌効率の点から
超音波法が好ましい。
む両面が露出された金属板(1)は水洗(第1図(j)
)を経て再度エツチング槽に入る(第1図(k))。再
度エツチング法としてはスプレー法や浸漬法等を用いる
ことができるが、スプレー法はエツチング液の機械的当
りによるエツチング効率が良いため第5図または第6図
に示す(1)または(w)の寸法が小さくなる。しかし
開孔寸法が目的よりも大きくなり易く、且つ金属板上の
エンチング液の溜りやスプレーパターン当りの不均一等
によってばらつきが発生し易くあまり好ましくない。こ
れ合エツチング面で疲労した液と新液との交換が悪いと
エツチング速度が低下するのでエツチング液を撹拌し乍
ら行なうとよい。液撹拌には超音波法、バブリング法、
撹拌千法等を用いることができるが、撹拌効率の点から
超音波法が好ましい。
再度エツチング終了後金属板は水洗(第1図(1))、
乾燥(第1図(ホ))を経て次工程のカッティング(第
1図(n))へ送られ、切断枠抜きによって目的とする
フラットマスクが得られる。尚、第1図の再度エツチン
グでは金属仮押えローラなエツチング液上(=引き上げ
ることにより通常のエツチング液會と併用することがで
きる。
乾燥(第1図(ホ))を経て次工程のカッティング(第
1図(n))へ送られ、切断枠抜きによって目的とする
フラットマスクが得られる。尚、第1図の再度エツチン
グでは金属仮押えローラなエツチング液上(=引き上げ
ることにより通常のエツチング液會と併用することがで
きる。
第9図は本発明を矩形状の開孔を有するシャドウマスク
のエツチング1;適用した場合に得られる断面形状を!
45図(b)及び?A6図(b)に対応して模式的に示
すもので、スリット断面は第9図(a)に示すように小
孔側から大小孔合致部分の壁(1)が消失している。一
方ブリッジ断面は第9図(b) l二示すように大小孔
合致部分の鋭角状の突出部が消失し幅(1v)を小さく
することができた。
のエツチング1;適用した場合に得られる断面形状を!
45図(b)及び?A6図(b)に対応して模式的に示
すもので、スリット断面は第9図(a)に示すように小
孔側から大小孔合致部分の壁(1)が消失している。一
方ブリッジ断面は第9図(b) l二示すように大小孔
合致部分の鋭角状の突出部が消失し幅(1v)を小さく
することができた。
以上のように本発明(二よれば、概略目的とする寸法の
開孔を得た後再度エツチングを行なうことにより鋭角な
部分を優先的にエツチングし、電子ビームの通過に最適
な断面形状を得ることができる。従って板厚より小さな
開孔を均一に穿設すると共に電子ビームの4過に最適な
断面形状とすることができるので、むら品位に秀れ輝度
及びコントラストの低下の少ないシャドウマスクを提供
することができる。
開孔を得た後再度エツチングを行なうことにより鋭角な
部分を優先的にエツチングし、電子ビームの通過に最適
な断面形状を得ることができる。従って板厚より小さな
開孔を均一に穿設すると共に電子ビームの4過に最適な
断面形状とすることができるので、むら品位に秀れ輝度
及びコントラストの低下の少ないシャドウマスクを提供
することができる。
第1図は本発明の実施例による各工程を示す模式図、第
2図)X従来のエツチングによる各工程を示す模式図、
第3図(a)乃至(d)は第2図の各工程ごとの金属板
の、溝成因、第4図は矩形状透孔な有するシャドウマス
クの部分平面図、第5図(a)及び(b)は第4図のA
−A線に沿うスリット断面図、第6図(、)及び価)は
第4図のB−B線(;沿うブリッジ断面図、第7図(a
)乃至(f)は本発明の実施例(二よる工程ごとの金属
板の構成図、第8図は同じく各工程を示す模式図、第9
図(,1及び(b)は矩形孔のスリット及びブリッジ断
面図である。 (1)・・・金属板 (2) 、 (3)・・
・露出金属面(4) 、 (5)・・・レジスト膜 (
6)・・・抵抗層(力・・・保護フィルム (8)・
・・凹部(9)・・・エツテング液 第1図 第2図 第3図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 (cL)
2図)X従来のエツチングによる各工程を示す模式図、
第3図(a)乃至(d)は第2図の各工程ごとの金属板
の、溝成因、第4図は矩形状透孔な有するシャドウマス
クの部分平面図、第5図(a)及び(b)は第4図のA
−A線に沿うスリット断面図、第6図(、)及び価)は
第4図のB−B線(;沿うブリッジ断面図、第7図(a
)乃至(f)は本発明の実施例(二よる工程ごとの金属
板の構成図、第8図は同じく各工程を示す模式図、第9
図(,1及び(b)は矩形孔のスリット及びブリッジ断
面図である。 (1)・・・金属板 (2) 、 (3)・・
・露出金属面(4) 、 (5)・・・レジスト膜 (
6)・・・抵抗層(力・・・保護フィルム (8)・
・・凹部(9)・・・エツテング液 第1図 第2図 第3図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 (cL)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)金属薄板の一方の面の開孔領域が他方の面の対応す
る開孔領域とは異なる多数の規則的に配列された透孔を
穿設するシヤドウマスクの製造方法において、前記金属
薄板の両面の所定の前記開孔領域とすべき部分以外の部
分を耐エッチングレジスト膜で被覆し、前記金属薄板の
一方の面のみ前段のエッチングを行なつて所定の凹部を
形成し、前記前段のエッチングで形成された凹部を含む
面をエッチング抵抗材で被覆保護し、前記金属薄板のエ
ッチング抵抗材を有さない他方の面のみ前段のエッチン
グによる凹部に到達するまで後段のエッチングを行ない
透孔を貫通穿設し、前記金属薄板の開孔領域を含む両面
を露出させ、再度エッチングを行なうことを特徴とする
シヤドウマスクの製造方法。 2)前記再度エッチングがエッチング槽への浸漬法によ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のシヤド
ウマスクの製造方法。 3)前記再度エッチングは前記エッチング槽内のエッチ
ング液が撹拌され乍ら行なわれることを特徴とする特許
請求の範囲第2項記載のシヤドウマスクの製造方法。 4)前記撹拌が超音波によることを特徴とする特許請求
の範囲第3項記載のシヤドウマスクの製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59179247A JPS6160889A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | シヤドウマスクの製造方法 |
KR1019850004267A KR900001497B1 (ko) | 1984-08-30 | 1985-06-14 | 새도우 마스크의 제조 방법 |
US06/769,885 US4662984A (en) | 1984-08-30 | 1985-08-27 | Method of manufacturing shadow mask |
DE8585110891T DE3565742D1 (en) | 1984-08-30 | 1985-08-29 | Method of manufacturing shadow mask |
EP85110891A EP0173966B1 (en) | 1984-08-30 | 1985-08-29 | Method of manufacturing shadow mask |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59179247A JPS6160889A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | シヤドウマスクの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6160889A true JPS6160889A (ja) | 1986-03-28 |
JPH0530913B2 JPH0530913B2 (ja) | 1993-05-11 |
Family
ID=16062505
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59179247A Granted JPS6160889A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | シヤドウマスクの製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4662984A (ja) |
EP (1) | EP0173966B1 (ja) |
JP (1) | JPS6160889A (ja) |
KR (1) | KR900001497B1 (ja) |
DE (1) | DE3565742D1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2015139757A (ja) * | 2014-01-30 | 2015-08-03 | 大日本印刷株式会社 | フィルターおよびその製造方法 |
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US5338400A (en) * | 1993-02-25 | 1994-08-16 | Ic Sensors, Inc. | Micromachining process for making perfect exterior corner in an etchable substrate |
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1984
- 1984-08-30 JP JP59179247A patent/JPS6160889A/ja active Granted
-
1985
- 1985-06-14 KR KR1019850004267A patent/KR900001497B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1985-08-27 US US06/769,885 patent/US4662984A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-08-29 DE DE8585110891T patent/DE3565742D1/de not_active Expired
- 1985-08-29 EP EP85110891A patent/EP0173966B1/en not_active Expired
Patent Citations (2)
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Also Published As
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KR860002132A (ko) | 1986-03-26 |
JPH0530913B2 (ja) | 1993-05-11 |
EP0173966B1 (en) | 1988-10-19 |
EP0173966A3 (en) | 1986-12-30 |
US4662984A (en) | 1987-05-05 |
KR900001497B1 (ko) | 1990-03-12 |
DE3565742D1 (en) | 1988-11-24 |
EP0173966A2 (en) | 1986-03-12 |
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