JPS6159758A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置

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JPS6159758A
JPS6159758A JP59183006A JP18300684A JPS6159758A JP S6159758 A JPS6159758 A JP S6159758A JP 59183006 A JP59183006 A JP 59183006A JP 18300684 A JP18300684 A JP 18300684A JP S6159758 A JPS6159758 A JP S6159758A
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JP
Japan
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resin
semiconductor device
film
filler
packing material
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JP59183006A
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Hideaki Arima
有馬 秀明
Junichi Mihashi
三橋 順一
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は樹脂封止型半導体装置に関し、特に、熱硬化
性樹脂と充填材とからなる鼠硬化性樹脂組成物によって
半導体素子を封止した樹脂封止型半導体装置に関するも
のである。
[従来技術] 従来、この種の装置として第1図に示すものがあった。
第1図は、従来の樹脂封止型半導体装置の一例で、大規
模集積回路のパッケージとして多用されているデュアル
・イン・ライン型パッケージ(以下、DIPと略記する
)の断面図である。
まず、第1図に示す従来の樹脂封止型半導体装置の構成
′について説明する。図において、半導体素子2はロウ
材3によりダイパッド4に固着されている。半導体素子
2上にはアルミニウム配置17が所定の間隔で形成され
ており、アルミニウム配線7のボンディング・パッド部
分はボンディング・ワイヤ5によってリード・フレーム
1の一端に接続されている。なお、この接続工程をワイ
ヤリングという。半導体素子2の表面上には、半導体素
子2の表面を不一性化して保護するためのパッシベーシ
ョン膜8が形成されている。エポキシ樹meI3よび充
填材9からなるa+脂組成物によって、上述のリード・
フレーム1の端部と、半導体装置2と、ロウ材3と、ダ
イパッド4と、アルミニウム配置1117と、パッシベ
ーション膜8と、ボンディング・ワイヤ5とが一体に形
成されている。
次に、充填材9について説明する。充填材9としては石
英ガラス粉、ジルコン粉、アルミナ粉、マグネシア粉、
シリカ粉などを使用することができるが、特に大規模集
積回路においてはシリカ粉が従来から一般的に用いられ
ている。充填材を使用する目的については、特公昭57
−16743および特公昭58−3382において詳細
に開示されており、以下に簡単に説明する。
上記充填材のIK膨張係数は1.5X10−’/℃以下
であり、これらの充填材をエポキシ樹脂6に配合するこ
とにより半導体素子2およびボンディング・ワイヤ5の
綜膨張係数に近い値のa膨張係数を有する樹脂組成物を
得ることができる。したがって、エポキシ樹脂6に充填
材9として上述のシリカ粉などを配合したものを成形材
料として用いて半導体素子2を封止することにより、半
導体装置の熱機械特性を改善することができる。充填材
9として通常用いられるシリカ粉は溶融シリカであるが
、高い熱伝導性を必蔓とする場合には結晶シリカが用い
られ、特に大規模集積回路ではほとんどの場合結晶シリ
カが用いられている。この結晶シリカはへき開性を有す
るため、微粒粉にした場合鋭角の多面体となる。
第2図は、第1図に示した樹脂封止型半導体装置におい
て微粒粉にした結晶シリカを充填材として用いた場合の
その拡大断面図である。図において、参照番号2,3.
4.6.7.8.9は第1図と同一または相当部分を示
し、10は大規模集、積回路の種類によって異なるが、
通常は燐・ガラス膜で形成されるスムースコート膜であ
る。この図においては、簡単のためスムースコート膜1
0の下の構造を省略して・いる。
ところで、特公昭57−16743.特公昭58−33
82の各公報に開示されるように、エポキシ樹脂6に充
填材9を充填すると、次のような問題点を生ずるおそれ
がある。すなわち、結晶シリカなどの充填材9は鋭角構
造を有しているため、これが樹脂注入時の圧力(第2図
中の矢印方向)を受けてパッシベーション膜8に突き刺
さり、その下のアルミニウム配線7やスムースコートm
10に達する可能性がある。その場合、外部から侵入し
た湿気が、パッシベーションFJ8と充填材9との境界
面を伝わって、アルミニウム配置17やスムースコート
膜10に達する。このため、アルミニウム配F!7の腐
蝕などを招き、半導体装置の信頼性の上で問題が生じる
おそれがある。但し、充填材9の外径寸法よりもパッシ
ベーション118の膜厚の方が厚い場合には、第2図か
られかるように、充填材9がパッシベーションff1a
中に埋もれてしまい、樹脂注入時の圧力が緩和されて、
充填材9がアルミニウム配線7やスムースコート膜10
に達せずにパッシベーション膜8中に密まってしまう。
従来の樹脂封止型半導体装置は以上のように構成されて
いるが、パッシベーション膜8のm厚が1〜2ミクロン
であるのに対して、充填材9の外径寸法は最大数10ミ
クロンにわたって分布しているため、パッシベーション
118に突き刺さった充填材9が下層のアルミニウム配
線7やスムースコート1110に達してしまうことがあ
る。このため、半導体装Iに外部からの水分の侵入を誘
発する可能性があり、その耐湿性や信頼性が低下するお
それがあるという欠点があった。
[発明の概要] この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、それゆえに、この発明の主たる目
的は、溶融石英を霧状に噴射することによりほぼ球状に
形成された充填材を使用することにより、充填材がパッ
シベーション膜へ突き刺さってアルミニウム配線やスム
ースコート膜に達す、るのを防止することができる信頼
性の高い樹脂封止型半導体装置を提供することである。
[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図によって説明する。第3
図は、この発明の一実施例である樹脂封止型半導体装置
の断面図である1図において、参照番号2.3.4.6
.7.8GE第1rIJjjJ:(Fl2因と同一また
は相当部分を示す。第3図に示した実施例の構成は、以
下の点を除いて第1図および第2図に示した従来の樹脂
封止型半導体装置の構成と同じである。すなわち、この
発明に係る充填材9oは、従来の充填材9のように鋭角
Ili造ではな(、はぼ球状の溶融石英粉である。
このほぼ球状の充填材90は、石英を溶融状態にして霧
状に噴射して形成される。すなわち、噴射の際、r8a
石英はその表面張力によってほぼ球状になり、鋭利な角
は発生しなくなる。
次に、この充填材9oの作用について説明する。
充填材を前述のようにほぼ球状とすることにより、樹脂
注入時の圧力により充填材90がバッジベージジン膜8
に突き刺さることがないため、充填材90がアルミニウ
ム配1l17やスムースコート膜10に達しない。した
がって、外部から侵入した湿気が、パッシベーション膜
8と充填材9oとの境界面を伝わってアルミニウム配線
7やスムースコート膜10に達するということはなく、
アルミニウムl!i!′/1fA7の腐蝕などによる破
損を防止することができる。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、熱硬化性樹脂組成物
に含まれる充填材として、溶融石英を霧状に噴射するこ
とによりほぼ球状に形成された溶融石英粉を用いるよう
にしたので、充填材がパッシベーション膜などへ突き刺
さることがなく、外部から侵入した湿気によるアルミニ
ウム配線の腐蝕等の破損を防止することかでき、信頼性
の高い樹脂封止型半導体装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の樹脂封止型半導体装置の一例の断面図
である。 第2図は、第1図に示した従来の樹脂封止型半導体装置
の拡大断面図である。′ 第3図は、この発明の一実施例である樹脂封止型半導体
装置の断面図である。 図において、1はリード・フレーム、2は半導体素子、
3はロウ材、4はダイパッド、5はボンディング・ワイ
ヤ、6はエポキシ樹脂、7はアルミニウム配線、8はバ
ッジベージジン膜、9.90は充填材である。 なお各図中同一符号は同一または相当部分を示すものと
する。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体素子と、 前記半導体素子上に形成されたパッシベーション膜と、 熱硬化性樹脂と、溶融石英を霧状に噴射することにより
    ほぼ球状に形成された充填材とからなり、前記半導体素
    子と、前記パッシベーション膜とを封止する熱硬化性樹
    脂組成物とを含む樹脂封止型半導体装置。
  2. (2)前記熱硬化性樹脂はエポキシ樹脂である特許請求
    の範囲第1項記載の樹脂封止型半導体装置。
JP59183006A 1984-08-30 1984-08-30 樹脂封止型半導体装置 Pending JPS6159758A (ja)

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JP59183006A JPS6159758A (ja) 1984-08-30 1984-08-30 樹脂封止型半導体装置

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JP59183006A JPS6159758A (ja) 1984-08-30 1984-08-30 樹脂封止型半導体装置

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JPS6159758A true JPS6159758A (ja) 1986-03-27

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61190961A (ja) * 1985-02-19 1986-08-25 Nitto Electric Ind Co Ltd 半導体装置
US6205603B1 (en) * 1997-12-19 2001-03-27 Maytag Corporation Front water injection for front loading washing machine
US7303224B2 (en) 2005-10-31 2007-12-04 Hyundai Motor Company Apparatus for locking a trunk of a vehicle

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