JPS6148421A - 高純度シリカおよびその製法 - Google Patents

高純度シリカおよびその製法

Info

Publication number
JPS6148421A
JPS6148421A JP17036884A JP17036884A JPS6148421A JP S6148421 A JPS6148421 A JP S6148421A JP 17036884 A JP17036884 A JP 17036884A JP 17036884 A JP17036884 A JP 17036884A JP S6148421 A JPS6148421 A JP S6148421A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silica
reaction
content
less
acid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP17036884A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0124729B2 (ja
Inventor
Hiroyuki Kashiwase
弘之 柏瀬
Genichi Sato
源一 佐藤
Yutaka Konose
豊 木ノ瀬
Shozo Takatsu
高津 章造
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Chemical Industrial Co Ltd
Original Assignee
Nippon Chemical Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Chemical Industrial Co Ltd filed Critical Nippon Chemical Industrial Co Ltd
Priority to JP17036884A priority Critical patent/JPS6148421A/ja
Publication of JPS6148421A publication Critical patent/JPS6148421A/ja
Publication of JPH0124729B2 publication Critical patent/JPH0124729B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Silicon Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は珪酸アルカリから造られる高純度シリカおよび
その製法に関する。
文に詳しくは、工C封止剤用樹脂の充填材、基板、電子
材料や半導体製造装置用高純度シリカガラスの原料等の
用途に適する低放射性で侃めて高純度のシリカおよびそ
の製造方法に関する。
従来の技術 近年、電子産業の急速な発展につれて電子材料量や半導
体製造用などに高純度のシリカが使用されるようになっ
たが、製品の高度化につれてシリカに対する高純度化へ
の要望は一層強まっている。たとえば、LB工或は超L
SIの封止剤用のエポキシ樹脂の充填剤として純度のよ
いシリカ粉末が使用されているが、工Cの高性能化すな
わち集積度の増大に伴って封止剤中のU(ウラン)やT
h()リウム)から放射されるα−線に起因する工Cの
誤動作すなわちソフトエラーの問題が重要視されるよう
になった。このトラブルを回避するためにはエポキシ樹
脂組成物中に50〜90%もの比率で配合される充填剤
としてのシリカ中のα−放射線源となる放射性元素、特
にUおよびTh の低減が不可欠の要件となる。
従来、この種のエポキシ樹脂用充填剤のシリ、    
力としてはU、Th 等の放射性元素の含有率が低い良
質の天然珪砂を化学的に処理したものや良質の天然水晶
を溶融粉砕したものが主として使用されていたが、天然
の珪砂や水晶中には酸処理や精製処理を施した後でもU
やTh がそれぞれ数/ 0− / 00 ppb程度
含まれており、このようなシリカはソフトエラーのため
にコs6キロビツト以上の高集積度を対象とする工Cの
封止剤用の充填剤には全く不適当となる。
天然の水晶の中にはU、Th  の含有量の特に少いも
のも稀には産出するが、その入手は年々困難になりつつ
ある。
一方、UやTh が/ ppb以下の極めて高純度のシ
リカの製法としては、特に精製した四塩化珪素やテトラ
エチルシリケート等のシリカ源を加水分解して焼成する
方法や気相分解する方法があるが、いづれも原料自体が
高価であるとともに腐食性や可燃性を有するため取扱い
には特別な配慮を要し、極めて高価となる。
従来、珪酸アルカリをシリカ源として高純度のシリカを
製造する方法としては、■珪酸アルカリ水溶液をイオン
交換して酸性シリカゾルとし、これに塩類や界面活性剤
を加えてシリカを沈殿状に析出させて回収する方法(特
公昭8−/l:313号、特公昭J?−ダ、yoq号)
、■珪酸アルカリ水溶液をイオン交換してシリカゾルと
し、これにアンモニアを加えてpHを調整した後、冷却
凍結し、さらに加温融解してシリカを析出させて回収す
る方法(特公昭Jla−9tIIJ号)等が知られてい
るが何れも析出するシリカ沈殿の含水率が30%以上に
も達しf過、洗浄等が困難であって、5in2  純度
が99.3−9 ?、?S程度、不純物含有量はNa 
 I!rO〜300 ppmとされているが、本発明者
等の検討結果ではFθ!i0−/;Oppm 、  T
h / 00〜2 j Opp’b程度であり、更に酸
による処理を加えてもFe J ppm以下、’r:h
i。
ppb以下のシリカを得ることは困難であった。
■しかして、最近水素イオン振度/、j以下の条件でア
ルカリ金属ないしアルカリ土類金属の珪酸塩と鉱酸から
U / ppb以下の石英ガラスを製造する方法が提案
され7’c(%囲昭5 ?−ji、7J号)。しかしな
がら、この発明には最も除去が困難となっているTh 
の除去手段については全く開示がなされていない。
ところで鉱酸中に珪酸アルカリ水溶液を添加してシリカ
ゲルを沈殿させる方法は高純度シリカゲルを製造する手
段としては、その逆の添加方法に比べて不純物が若しく
少なくなる有利な方法であるが、反応条件の微妙な差異
によつ【シリカゲルの沈殿性状に著しい差異が認められ
【分離回収の際の操作に大きな影響があると同時に不純
物含有量についてもppm −? ppbの単位で論す
る場合に、反応条件により著しいバラツキが生じ、洗浄
操作では分離し得ない不純物が残留し、再現性にも欠け
る。
このように、アルカリ分、U、Th  などの不純物を
最少にし、しかもバラツキがなく再現性のある高純度の
シリカを珪酸アルカリ水溶液から製造することについて
いずれも従来の方法には開示がない。 。
発明が解決しようとする問題点 珪酸アルカリ水溶液から高純度シリカを製造するに当り
、シリカ中の不純物としてA1 が重要な成分であるこ
とが本発明者らの実験により確認された。
即ち、シリカ中にAJ 分が残留する場合、付着または
吸着ではな(、シリカ骨格構造中の81のゴ部をAL 
で置換する状態で残留するものと推定され、かかるAl
 分は単なる水洗または酸洗浄では除去されない。
しかして、この人1 の挙動を追跡すると、他の不純物
、例えばアルカリ、UおよびTh  との相関性が大き
いことがわかり、特にシリカ中のAJ がj ppm以
下の場合には、Th  もまた1ppb以下となる事実
を知見した。
このようなことから本発明は、上記の新たな知見に基づ
いて、硝酸水溶液と珪酸アルカリ水溶液との反応により
高純度のシリカを再現性よく工業的に製造することにあ
る。
問題点を解決するための手段および作用本発明は珪酸ア
ルカリおよび酸との湿式法によるシリカであって、アル
ミニウムが八1  としてj ppm以下であることを
特徴とする高純度シリカである。
更に云えば、他の不純物とにNaloppm以下、U 
/ ppb以下およびTh / ppb以下の高純度シ
リカである。
即ち、本発明にかかる高純度シリカにおいて、ムJがj
 ppm以下の場合、殆んどUおよびThも同時に上記
の関係にあり、特にTh については強い相関関係にあ
る。
これは、本発明者らの興味ある新らしい知見に基づいた
ものであり、シリカ中のAl成分を追跡し、その量がJ
 ppm以下にあれば極めて高純度のシリカとなってい
るということである。
かかる高純度シリカは、特にNa 、 UおよびTh等
の不純物成分の少い点において、従来電子材料用や高純
度シリカガラス用の原料として使用されていた良質の天
然珪砂や水晶の純度を上回るものであるため、それらに
代って使用可能であるばかりでなく、より高純度を必要
とする高集積度前IC用の封止剤、充填剤など高性能電
子材料用にも安定供給が可能となる点で良質のシリカ資
源に恵まれぬ我国にとって画期的な意義を有するもので
ある。
他方、上記高純度シリカは封止剤用充填剤として用いる
場合、これを溶融してシリカガラス体とするが含水率が
0.3−20重量%、二次粒子の平均粒子径がコ〜1o
ooμmの範囲にあることが好ましい。この理由は含水
率について云えば、この範囲外では二次粒子の粉体とし
ての流動性が悪く、例えば、火炎溶融法によって球状化
する場合にトラブルの原因となり、また発泡の原因とも
なる。
また、二次粒子の平均半粒子径も上記範囲を越えること
は充填剤用原料として不適当になる傾向にあるからであ
る。
かかる高純度シリカは珪酸ナトリウムと硝酸との反応に
よりシリカを生成させる方法において、硝酸酸性溶液中
に珪酸ナトリウム溶液を添加反応させ、かつ反応系の母
液組成を10.−NaNOl−H2O系で表わした場合
、反応終了時における母液組成が第1図および下記の表
に示される如<、A、B、O及びDで囲まれた組成領域
内となるようにシリカの沈殿を生成させ、次いで該沈殿
を分離回収することを特徴とすることにより製造できろ
表 各点の組成(2に量チ) 本発明の方法で使用する珪酸ナトリウムとしては、モル
比5i02/Na2Oがl−ダの市販の珪酸ナトリウム
溶液(水ガラス)あるいはそれらに予め何らかの精製処
理を施したもの等の何れも使用することができるが、モ
ル比の値が比較的大きいものが反応に必要とする硝酸の
量が少くてすむので経済的である。珪酸ナトリウム溶液
は水または硝酸す)IJウム水溶液で適宜希釈して使用
してもよい。使用濃度は、 Sin、  としてλθM
量チ以上、好ましくは一5ki−以上が好適である。
一方、本発明の方法で使用する硝酸酸性溶液としては硝
酸そのものの水溶液あるいは硝酸ナトリウムを含有する
硝酸の水溶液を使用することができる。使用濃度はHN
O、としてよ重量%以上、好ましくは70重量%以上が
好適である。
かかる原料を用いて、高純度シリカを製造するに当り、
本発明にかかる方法では、原料の添加順序および反応系
の母液組成、特に反応終了時の母液組成が上記のように
特定した状態でシリカの沈殿を生成させることが重要で
ある。
原料の添加順序を本発明とは逆にして珪酸ナトリウム溶
液中に硝酸酸性溶液を添加すると珪酸ナトリウム中の各
種の不純物が生成シリカの沈殿中にアルミニウムととも
に強固に捕捉されるためか本発明の目的とする高純度シ
リカは得!    られない。
このことは、反応終了時の母液組成が上記組成領域内で
あっても同様である。
しかしながら、硝酸酸性溶液中へ珪酸す)IJウム溶液
を添加する限りにおいては、反応終了時の母液組成であ
れば反応当初は必ずしも上記組成領域内である必要はな
い。
本発明の方法におい【、反応終了時の母液の組成を(H
NOi−NaNOi−H2O)  系の点A、B、C!
、Dに囲まれた特定の領域内となるような量的割合に限
定する理由は本発明者らの実験研究の結果に基くもので
ある。すなわち、図において反応終了時の母液の組成が
点A、Dを結ぶ線より外側(左上)となる場合は、ムJ
の除去が著しく不充分となるとともに分離できないTh
 やシリカ沈殿へのlJa  の吸着傾向が増大し、点
A、Bを結ぶ線の外側(左下)となる場合は多量の水分
を含む寒天状のシリカが析出して濾過分離や洗浄が困難
で各不純物成分の除去が極めて不充分となる傾向を示し
、一方、反応終了時の母液の組成を点C,Dを結ぶ線よ
り外側(右)とする場合は多量の硝酸が必要となるばか
りでなく廃液としての反応母液の中和処理に多量のアル
カリを必要とするので経済的に著しく不利となる。
つまり、硝酸酸性溶液からシリカを沈殿させる場合に母
液組成を上記に特定した範囲の領域で生成させることに
よりアルミニウム分の不純物量が実質的に最少となり、
また後述する洗浄処理により除去できると共に、粒子も
適度に凝集した二次粒子の形成によりf過性がよいので
、再現性よく高純度のシリカの沈殿を得ることができる
この詳細な作用については明らかではないが、恐らくは
、この領域内ではシリカの骨格構造へアルミナ成分の結
合によるアルミノシリケートへの反応が生じ難いために
、これに基づく洗浄による分離除去し難い他の不純物、
特にNa やTh の吸着等も結果的に生じないものと
推定される。
なお、反応時の温度は余り重要ではなく常温ないし約9
0℃の任意の温度で行うことができ、また、反応終了後
は暫時熟成攪拌を続けることが望ましい。
次いで、シリカの沈殿を常法により母液と分離、洗浄お
よび乾燥し人後回収する。
この場合、本発明においては母液分離後のシリカを再び
硝酸水溶液にて酸処理することが特に好ましい。
この処理によってアN iす成分をA、l  としてj
 ppm以下に信頼性よく保証することができ、この場
合に、Th は殆んど高い相関性をもって/ ppb以
下、Ha  も/ Oppm以下となる。
もつとも、シリカの沈殿においてAJ、が3’ppm以
下のものが回収される場合には酸処理を必ずしも必要と
するものではなく、水洗のみでも可能であることは云う
までもない。
かくして、精製した高純度シリカは乾燥または焼成した
後回収する。乾燥に当っては、含水率が00S−一〇重
itチの範囲となるよ5に行うことが好ましい。この理
由は、流動性のよい粉末となってその後の使用の際に好
適な物性を与えることによる。
実施例 以下実施例にて本発明を更に具体的に説明する。
実施例1 攪拌器付き反応種に硝酸水溶液(HIJO,/9,3重
量%)3コn4をとり、70℃に加温し、これに攪拌し
ながら珪酸ソーダ:rxs 、7号(Nano 9.2
重量%、5in2コg、r重量%、8102ハa20−
eル比J、10)コ10011  を約30分間を要し
て添加し、この間反応種の温度を70〜10℃に保持し
た。
溢加後、反応スラリーを90℃で1時間攪拌して熟成を
行った。このときの母液組成はHNO。
j、0重量%、Na1JJ / /、/  重量%であ
った。
この反応終了スラリーからシリカの沈殿f過分離し、こ
れを水中にリパルプして洗浄したのち、再びクリ力の沈
殿を濾過分離した。
分離したシリカを攪拌器付き酸処理槽にとり、j   
 3れに水と硝酸を加えて8ラリ−全量S′・7ラリー
中の硝酸濃度/Nとなるようにして調整し、攪拌しなが
らこのシリカスラリーを90℃で3時間加熱して酸処理
したのち、スラリーからシリカを濾過分離し、以下常温
により水によるりパルプ洗浄、固液分離、乾燥を行ない
、さらに900℃で2時間焼成した。
シリカ中の不純物含量その他を後記味1に示す。
実施例λ 実施例7と同様に、硝酸と珪酸ソーダを使用して低放射
性高純度シリカを合成した。反応にはH’MO,λJ、
1重量%の硝酸浴液Jλzzpと3号珪酸ソーダ(Na
20デ、−重量%、5102λg、5重量%、S L 
Oz/’Na 20 %ル比3.コo)xioogを用
い、実施例1と同様の方法で反応を行なった。反応終了
後の母液組成はHNO,?、?憲量チ、 NaN0i/
/、/ *量チであった。次いで、実施例1と同様にし
てOJNの硝酸にて?O℃で3時間攪拌して酸処理を行
った。
以下実施例1と同様に常法通つリパルプ水洗、固液分離
、乾燥、焼成の工程を経てシリカを得た。クリ力中の不
純物富有量その他を表1に併せて示す。
表1より明らかなように、シリカ中のAL はJ pp
m以下であり、U、’l”h  もそれぞれ/ pp’
b以下の低放射性高純度シリカが得られた。
実施例J 実施例1と同様に硝酸と珪酸ソーダを使用して低放射性
高純度シリカを合成した。反応にはHIJO、コロ、ダ
重i%の硝酸溶液コJ?/77と、水で希釈して510
2  コOX量チに調製した3号珪酸ソーダCNa2O
A、<<j i量チ、5iCh 20.0M11% )
−??≠9を用い実施例1と同様の方法で反応を行なっ
た。反応終了後の母液組成はHxos:s、。
NfikZ、およびNaNO3t t、t Km %で
あった。
医いで実施例1と同様の方法でシリカゲルの酸による処
理を行なった。使用し71c酸の種類と濃度14.温度
、時間の条件は全て実施例/と同様に操作した。焼成後
得られたシリカ中の不純物含有量を表1に併せて示す。
表1より明らかなように、シリカ中のムLはj ppm
以下であり、U、Thもそれぞれ/ ppb以下の低放
射性高純度シリカが得られた。
実施例亭 硝酸と珪酸ソーダを使用し、実施例1と同様にして低放
射性高純度シリカを合成した。反応にはHNOs/l!
1重量%の硝酸溶液コ900/iと3号珪酸ソーダ(N
a2Qり、−重Ek%、191022g、5fj(量チ
)/61011を用い、実施例1と同様の方法で反応を
行なった。反応終了後の母液組成はHNO,10,コ重
量%およびNaNO3J、1重−isであった。次いで
、固液分離したシリカを水でリパルプ洗浄してシリカに
付着するNa なとの不純物を洗い流した。乾燥、焼成
を経て得られたシリカ中の不純物は、Na//、λpp
m、 AJ、  3.7ppm 、 U / ppb以
下、Th 2.1ppbテ;fr) ッfc。次に焼成
前の乾燥シリカ5oonをslビーカーにとり、IN−
硝rRstを加えて9o”Cで、7時間酸洗浄したのち
、固液分離したシリカなりパルプ水洗、固液分離、乾燥
、焼成して得られたシリカ中の不純物を分析したところ
、Ra /、jppm 、 Al J、/ppm、 U
 / ppb以下、Th / ppb以下であった。こ
れより、反応終了の段階でALがJ ppm以上残留し
た場合でも酸処理でAJ をj ppm以下に除去でき
る場合は、Th  も/ ppb以下に除去できること
が明らかである。
比較例1 実施例1と同様に硝酸と珪酸ソーダを使用して低放射性
高純度シリカを合成した。反応にはHNO,I!r、!
r重fチの硝酸溶液−デJ亨Iと3号珪酸ソーダ(Na
20 ?、−重量%、SiOz λI 、j ’Xi:
E% )λ1qoliを用い、実施例/と同様の方法で
反応を行なった。このときの反応終了後の母液組成はH
MOi10重量%および1JaNO1/コ、J重tチで
あった。次いで実施例1と同様の方法で酸による処理を
行なった。使用した酸の種類と濃度、温度と時間等の条
件は全文実施例1と同様に操作した。焼成後、得られた
シリカ中の不純物含有量を表1に併せて示す。表1より
明らかなように反応終了時の母液組成が点A、B、C,
D で!   凹まれた領域外となる本比較例ではUは
/ ppb以下になっているが、AJは/J、J pp
m残留しており、Th  も4./ppb残留すること
が明らかである。
比較例コ 比較例1より得られた焼成前の乾燥シリカ30θlを5
!ビーカーにとり、/N硝酸Jjを加えて?0℃で3時
間酸処理したのち、固液分離したクリ力をりパルプ水洗
、固液分離、乾燥、焼成した。得られたシリカ中の不純
物を分析したところ、Na  O,デPpm、 Al 
 l/、l ppm 、 U /ppb以下Th j、
4II)I)bであった。この結果より、反応終了時の
母液組成が点ム、B、C,D  で囲まれた領域外とな
る本比較例ではシリカの酸洗浄をくり返した′場合でも
AJ がシリカ中にj ppm以上残留し、Th・も/
ppb以上残留しており、目的とする低放射性高純度シ
リカは得られないことが明らかである。
比較例J 攪拌器付き反応種に、HNOS/?1.73I量チの硝
酸溶液−7ダjlをとり、70℃に加温した。
攪拌しなうtら、5183号珪酸ソーダ(Na、0り、
−重量チ、5102コt、z電量チ)−り/よlを約2
0分間で添加した。添加終了時のスラリーの1)11は
0.Sであつfc(なお、このときの反応終了母液中の
HNO,酸度はo、sTt量%、NaN0i rIk度
はts、6Xfjkチであり、図のA、D線の外側の組
成であった〕。珪酸ソーダ添加終了後、反応終了スラリ
ーを90℃で1時間攪拌して熟成を行なった。以下実施
例/と同様の方法により固液分離、酸による洗浄、水に
ょろりパルプ洗浄、乾燥を行なったのち、シリカの一部
をtoo”cで2時間焼成した。得られたシリカ中の不
純物を表1に併せて示す。表1より、硝酸溶液に珪酸を
添加する反応において、反応終了スラリーのpHかOo
Sになるまで珪酸を添加しfc場合は、得られたシリカ
中のAJ がJ ppm以上残留し、またTh  も/
 ppb以上残留することが明らかである。
発静憾果 本発明の製造方法によれば、従来珪酸アルカリと酸との
反応では得られていない次の諸効果が達成される。
(1)不純物含有量が8%Th  ともK / pp′
b以下Ha10ppm以下、AL3ppm以下という極
めて高純駁のシリカが得られる。
(2)析出するシリカ沈殿は含水率が゛低くf過性もよ
く、分離や洗浄が容易である。
(3)  常に酸性域での反応ではあるが、必ずしも大
過剰の硝酸の使用を必要とせず経済的にも有利である。
(4)  本発明にかかる高純度シリカにおいて不純物
は実質的にAl を測定し追跡してALtl3ppmに
すれば他の不純物も実験的に存在しないことがわかるの
でAl をパラメーターとして扱えることに意義がある
【図面の簡単な説明】
図は珪酸ナトリウムと硝酸との反応における反応終了時
の母液の組成をHNOs−NalJO3−H2O系で表
わしたものであり、点ム、B、C及びDで囲まれた母液
組成における高純度シリカが本発明の方法において高純
度シリカの生成を表わす。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、珪酸アルカリおよび酸との湿式法によるシリカであ
    って、アルミニウムがAlとして3ppm以下であるこ
    とを特徴とする高純度シリカ。 2、Na10ppm以下、U/ppb以下およびTh/
    ppb以下である特許請求の範囲第1項記載の高純度シ
    リカ。 3、珪酸ナトリウム水溶液と硝酸との反応によりシリカ
    を生成させる方法において、硝酸酸性溶液中に珪酸ナト
    リウム溶液を添加反応させ、かつ反応系の母液組成をH
    NO_3−NaNO_3−H_2O系で表わした場合、
    反応終了時における母液組成が下記の点A、B、C及び
    Dで囲まれた組成領域内となるようにシリカの沈殿を生
    成させ、次いで該沈殿を分離回収することを特徴とする
    高純度シリカの製法。 ▲数式、化学式、表等があります▼ 4、シリカの分離回収において、酸処理する特許請求の
    範囲第3項記載の高純度シリカの製法。
JP17036884A 1984-08-17 1984-08-17 高純度シリカおよびその製法 Granted JPS6148421A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17036884A JPS6148421A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 高純度シリカおよびその製法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17036884A JPS6148421A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 高純度シリカおよびその製法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6148421A true JPS6148421A (ja) 1986-03-10
JPH0124729B2 JPH0124729B2 (ja) 1989-05-12

Family

ID=15903636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17036884A Granted JPS6148421A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 高純度シリカおよびその製法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6148421A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104212203A (zh) * 2013-06-03 2014-12-17 富士施乐株式会社 二氧化硅复合颗粒及其制造方法
JP2019026494A (ja) * 2017-07-27 2019-02-21 太平洋セメント株式会社 シリカの製造方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54141569A (en) * 1978-04-26 1979-11-02 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS554952A (en) * 1978-06-28 1980-01-14 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS5610947A (en) * 1979-07-10 1981-02-03 Toshiba Corp Semiconductor sealing resin composition
JPS56116647A (en) * 1980-02-20 1981-09-12 Hitachi Ltd Manufacturing of silica-alumina type filler for semiconductor memory element covering resin
JPS57195151A (en) * 1981-05-27 1982-11-30 Denki Kagaku Kogyo Kk Low-radioactive resin composition
JPS57212224A (en) * 1981-06-24 1982-12-27 Nitto Electric Ind Co Ltd Epoxy resin composition for encapsulation of semiconductor
JPS5954632A (ja) * 1982-09-21 1984-03-29 Mitsubishi Metal Corp 石英ガラス粉末の製造法
JPS6421092A (en) * 1987-07-15 1989-01-24 Seiko Epson Corp Production of electroformed metal mold

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54141569A (en) * 1978-04-26 1979-11-02 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS554952A (en) * 1978-06-28 1980-01-14 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS5610947A (en) * 1979-07-10 1981-02-03 Toshiba Corp Semiconductor sealing resin composition
JPS56116647A (en) * 1980-02-20 1981-09-12 Hitachi Ltd Manufacturing of silica-alumina type filler for semiconductor memory element covering resin
JPS57195151A (en) * 1981-05-27 1982-11-30 Denki Kagaku Kogyo Kk Low-radioactive resin composition
JPS57212224A (en) * 1981-06-24 1982-12-27 Nitto Electric Ind Co Ltd Epoxy resin composition for encapsulation of semiconductor
JPS5954632A (ja) * 1982-09-21 1984-03-29 Mitsubishi Metal Corp 石英ガラス粉末の製造法
JPS6421092A (en) * 1987-07-15 1989-01-24 Seiko Epson Corp Production of electroformed metal mold

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104212203A (zh) * 2013-06-03 2014-12-17 富士施乐株式会社 二氧化硅复合颗粒及其制造方法
CN104212203B (zh) * 2013-06-03 2018-05-01 富士施乐株式会社 二氧化硅复合颗粒及其制造方法
JP2019026494A (ja) * 2017-07-27 2019-02-21 太平洋セメント株式会社 シリカの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0124729B2 (ja) 1989-05-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5458864A (en) Process for producing high-purity silica by reacting crude silica with ammonium fluoride
US4981664A (en) Method of production of high purity silica and ammonium fluoride
JPH0481526B2 (ja)
US4857290A (en) Process for producing silica of high purity
EP0557740B1 (en) Method of preparing high-purity aqueous silica sol
CA2074518A1 (en) Method of production of high purity fusible silica
US4915705A (en) Production of silica and fluorine-containing coproducts from fluosilicic acid
US5165907A (en) Method of production of high purity silica and ammonium fluoride
US4308244A (en) Process for producing fluorine compounds and amorphous silica
JP2542797B2 (ja) 高純度シリカの製造方法
EP0094139A1 (en) Process for the preparation of pure silicon dioxide
JPS6148421A (ja) 高純度シリカおよびその製法
SE439477B (sv) Forfarande for produktion av huvudsakligen ren kiselsyra fran avfallskiselsyra
US3816591A (en) Process for the recovery of aluminium and fluorine from a dilute aqueous solution
JPH055766B2 (ja)
JP2694163B2 (ja) 高純度シリカの製造法
JP2787067B2 (ja) 有機ケイ素化合物の精製方法
JPS58502201A (ja) 弗化アルミニウムの製造時に生成される廃棄物より有用生成物を回収する方法
JPH0121092B2 (ja)
JP2864617B2 (ja) 珪弗化水素酸、珪弗化アンモニウム及び高純度シリカの製造法
JP2769113B2 (ja) 高純度シリカの製造方法
JPS6335414A (ja) 四ホウ酸ナトリウム五水塩の製法
JPH0516372B2 (ja)
JPS6117416A (ja) 高純度シリカおよびその製造方法
JPS6042218A (ja) 超高純度シリカの製造法