JPS6145790B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6145790B2 JPS6145790B2 JP53120893A JP12089378A JPS6145790B2 JP S6145790 B2 JPS6145790 B2 JP S6145790B2 JP 53120893 A JP53120893 A JP 53120893A JP 12089378 A JP12089378 A JP 12089378A JP S6145790 B2 JPS6145790 B2 JP S6145790B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- information
- under test
- logic
- command
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 4
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は論理装置用試験装置に関する。
第１図に示すように従来の被試験論理装置２の
試験時には、複数の外部接続線路ａ，ｂ，ｃ，…
…ｎに対応した論理装置用試験機１および周辺装
置（又は擬似周辺装置）３ｂ，３ｃ，……３ｎが
個々に接続されている。
試験時には、複数の外部接続線路ａ，ｂ，ｃ，…
…ｎに対応した論理装置用試験機１および周辺装
置（又は擬似周辺装置）３ｂ，３ｃ，……３ｎが
個々に接続されている。
したがつて、この種の試験機では、故障が発見
された場合の故障診断および故障分離に多大の時
間を必要とする上、試験のために多大な装置設置
面積を必要とするという大きな欠点がある。
された場合の故障診断および故障分離に多大の時
間を必要とする上、試験のために多大な装置設置
面積を必要とするという大きな欠点がある。
本発明の目的は短時間かつ少ない装置設置面積
で被試験論理装置の故障診断および故障分離を可
能とさせる論理装置用試験装置を提供することに
ある。
で被試験論理装置の故障診断および故障分離を可
能とさせる論理装置用試験装置を提供することに
ある。
本発明の装置は指令とテスト情報と期待値とを
記憶する情報記憶部と、 テスト動作指令と前記テスト情報との被試験論
理部への送出動作開始指令を指示する指示部と、 この指示部から指示された指令およびこれに引
き続く指令により前記テスト動作指令と前記テス
ト情報とを前記被試験論理部へ送出させるための
制御をする第１の制御部と、前記テスト動作指令
に基づいて前記被試験論理部から与えられる前記
テスト情報を予め定めた擬似動作で処理するよう
制御する第２の制御部と、前記擬似動作で処理さ
れた情報を前記被試験論理部に与えこの情報に基
づいて前記被試験論理部で処理した結果が与えら
れその試験結果と前記期待値とを比較する動作を
制御する第３の制御部とを備えた制御部と、 前記比較動作による比較結果を表示する表示部
とを含むことを特徴とする。
記憶する情報記憶部と、 テスト動作指令と前記テスト情報との被試験論
理部への送出動作開始指令を指示する指示部と、 この指示部から指示された指令およびこれに引
き続く指令により前記テスト動作指令と前記テス
ト情報とを前記被試験論理部へ送出させるための
制御をする第１の制御部と、前記テスト動作指令
に基づいて前記被試験論理部から与えられる前記
テスト情報を予め定めた擬似動作で処理するよう
制御する第２の制御部と、前記擬似動作で処理さ
れた情報を前記被試験論理部に与えこの情報に基
づいて前記被試験論理部で処理した結果が与えら
れその試験結果と前記期待値とを比較する動作を
制御する第３の制御部とを備えた制御部と、 前記比較動作による比較結果を表示する表示部
とを含むことを特徴とする。
本発明の特徴は、従来の周辺装置３と論理装置
用試験機１とで行なわれていた動作を論理装置用
試験装置４で行なわせることにある。
用試験機１とで行なわれていた動作を論理装置用
試験装置４で行なわせることにある。
すなわち従来の周辺装置で行なわれていた被試
験論理装置２からの動作指令に基づいてテスト動
作を行なわせその動作結果を前記被試験論理装置
に与えるような擬似動作および従来の論理装置用
試験機１で行なわれていた前記被試験論理装置２
へのテスト動作指令およびテスト情報の供給と前
記被試験論理装置２から与えられた試験結果と予
め記憶されていた期待値との比較動作の２つの動
作を論理装置用試験装置４で実現したことにあ
る。
験論理装置２からの動作指令に基づいてテスト動
作を行なわせその動作結果を前記被試験論理装置
に与えるような擬似動作および従来の論理装置用
試験機１で行なわれていた前記被試験論理装置２
へのテスト動作指令およびテスト情報の供給と前
記被試験論理装置２から与えられた試験結果と予
め記憶されていた期待値との比較動作の２つの動
作を論理装置用試験装置４で実現したことにあ
る。
次に本発明の一実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第２図は本発明の外部接続状態を示す図であ
り、第３図は、本発明で使用する外部接続論理装
置４の一実施例を示す図である。第２図および第
３図を参照して本発明を詳細に説明する。
り、第３図は、本発明で使用する外部接続論理装
置４の一実施例を示す図である。第２図および第
３図を参照して本発明を詳細に説明する。
第３図の線路整合部１１ａ，１１ｂ，１１ｃ…
…１１ｎでは被試験論理装置２に接続されている
外部接続線路ａ，ｂ，ｃ，……ｎと外部接続論理
装置４との整合がとられる。整合制御部１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ，……１２ｎでは線路整合部１１
ａ，１１ｂ，１１ｃ……１１ｎの動作が装置制御
部１５の指令により制御される。
…１１ｎでは被試験論理装置２に接続されている
外部接続線路ａ，ｂ，ｃ，……ｎと外部接続論理
装置４との整合がとられる。整合制御部１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ，……１２ｎでは線路整合部１１
ａ，１１ｂ，１１ｃ……１１ｎの動作が装置制御
部１５の指令により制御される。
情報記憶制御部１３では装置制御部１５からの
指令により、情報記憶部１４からの情報を整合制
御部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，……１２ｎや装置
制御部１５へ送出したり整合制御部１２ａ，１２
ｂ，１２ｃ，……１２ｎや装置制御部１５から情
報記憶部１４へ情報を送出することが制御され
る。情報記憶部１４には装置制御部１５および整
合制御部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ……１２ｎが必
要とする情報が格納される。装置制御部１５では
被試験論理装置２が必要とする情報を外部接続論
理装置４から送受できるように制御されかつ、外
部接続論理装置４内部のそれぞれが解折される。
操作員が実施したい指令は操作部１９から指示さ
れる。操作制御部１８では操作部１９からの指令
が解読および保持され装置制御部１５へ指示され
る。装置制御部１５の指令により表示する情報は
表示制御部１７で制御され操作員が一見して状況
の判断ができるよう表示部１６で表示される。
指令により、情報記憶部１４からの情報を整合制
御部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，……１２ｎや装置
制御部１５へ送出したり整合制御部１２ａ，１２
ｂ，１２ｃ，……１２ｎや装置制御部１５から情
報記憶部１４へ情報を送出することが制御され
る。情報記憶部１４には装置制御部１５および整
合制御部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ……１２ｎが必
要とする情報が格納される。装置制御部１５では
被試験論理装置２が必要とする情報を外部接続論
理装置４から送受できるように制御されかつ、外
部接続論理装置４内部のそれぞれが解折される。
操作員が実施したい指令は操作部１９から指示さ
れる。操作制御部１８では操作部１９からの指令
が解読および保持され装置制御部１５へ指示され
る。装置制御部１５の指令により表示する情報は
表示制御部１７で制御され操作員が一見して状況
の判断ができるよう表示部１６で表示される。
次に本発明の方式の一例の動作について詳細に
説明する。
説明する。
操作員の指示する操作部１９からの指令が操作
制御部１８にて解読され保持される。操作制御部
１８では解読結果および保持情報により装置制御
部１５に対して試験すべき種類の情報および試験
開始の指令が送出される。この指令により装置制
御部１５では情報記憶制御部１３に情報記憶部１
４を起動させるため指令が送出され情報記憶部１
４を起動状態とするとともに整合制御部１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ……１２ｎを起動させる。整合制
御部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ……１２ｎでは装置
制御部１５の起動指令により被試験論理装置２が
必要とする情報を装置制御部１５や情報記憶制御
部１３から受け取り線路整合部１１ａ，１１ｂ，
１１ｃ……１１ｎで整合させ外部接続線路ａ，
ｂ，ｃ……ｎを介して被試験論理装置２に対して
送出するという一連の動作指令を出力する。
制御部１８にて解読され保持される。操作制御部
１８では解読結果および保持情報により装置制御
部１５に対して試験すべき種類の情報および試験
開始の指令が送出される。この指令により装置制
御部１５では情報記憶制御部１３に情報記憶部１
４を起動させるため指令が送出され情報記憶部１
４を起動状態とするとともに整合制御部１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ……１２ｎを起動させる。整合制
御部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ……１２ｎでは装置
制御部１５の起動指令により被試験論理装置２が
必要とする情報を装置制御部１５や情報記憶制御
部１３から受け取り線路整合部１１ａ，１１ｂ，
１１ｃ……１１ｎで整合させ外部接続線路ａ，
ｂ，ｃ……ｎを介して被試験論理装置２に対して
送出するという一連の動作指令を出力する。
この指令に基づいて被試験論理装置２に与えら
れた試験情報により試験された試験結果が外部接
続線路ａ，ｂ，ｃ，……ｎ，線路整合部１１ａ，
１１ｂ，１１ｃ，…１１ｎ，整合制御部１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ…１２ｎおよび情報記憶制御部１
３を介して情報記憶部１４に格納される。
れた試験情報により試験された試験結果が外部接
続線路ａ，ｂ，ｃ，……ｎ，線路整合部１１ａ，
１１ｂ，１１ｃ，…１１ｎ，整合制御部１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ…１２ｎおよび情報記憶制御部１
３を介して情報記憶部１４に格納される。
この格納された試験結果は装置制御部１５で予
め定められた期待値と比較されることにより判断
されその判断結果が表示制御部装置１７に指示さ
れ、この指示により表示制御装置１７は前記判断
結果を表示部１６に表示させる。この表示された
結果により操作員は被試験論理装置２の故障診断
結果を短時間に発見することができ、切離すべき
被試験論理装置２の故障部分を容易に切離すこと
ができる。
め定められた期待値と比較されることにより判断
されその判断結果が表示制御部装置１７に指示さ
れ、この指示により表示制御装置１７は前記判断
結果を表示部１６に表示させる。この表示された
結果により操作員は被試験論理装置２の故障診断
結果を短時間に発見することができ、切離すべき
被試験論理装置２の故障部分を容易に切離すこと
ができる。
この発明には、周辺装置の擬似動作を試験装置
内で行なわせ分析すべき要因の数を減少させるこ
とにより被試験論理回路装置２の故障診断および
故障分離を短時間に行なえるとともにその設置面
積を最少限にするという効果がある。
内で行なわせ分析すべき要因の数を減少させるこ
とにより被試験論理回路装置２の故障診断および
故障分離を短時間に行なえるとともにその設置面
積を最少限にするという効果がある。
第１図は従来の論理装置用試験装置を示す図、
第２図は本発明の論理装置用試験装置と外部装置
との接続状態を示す図、および第３図は本発明の
一実施例を示す図である。 第１図から第３図において、１……論理装置用
試験機、２……被試験論理装置、３ｂ，３ｃ……
３ｎ……周辺装置、４……外部論理装置、ａ，
ｂ，ｃ……ｎ……外部接続線路、１１ａ，１１
ｂ，１１ｃ……１１ｎ……線路整合部、１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ……１２ｎ……整合制御部、１３
……情報記憶制御部、１４……情報記憶部、１５
……装置制御部、１６……表示制御部、１７……
表示部、１８……操作制御部、１９……操作部。
第２図は本発明の論理装置用試験装置と外部装置
との接続状態を示す図、および第３図は本発明の
一実施例を示す図である。 第１図から第３図において、１……論理装置用
試験機、２……被試験論理装置、３ｂ，３ｃ……
３ｎ……周辺装置、４……外部論理装置、ａ，
ｂ，ｃ……ｎ……外部接続線路、１１ａ，１１
ｂ，１１ｃ……１１ｎ……線路整合部、１２ａ，
１２ｂ，１２ｃ……１２ｎ……整合制御部、１３
……情報記憶制御部、１４……情報記憶部、１５
……装置制御部、１６……表示制御部、１７……
表示部、１８……操作制御部、１９……操作部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 指令とテスト情報と期待値とを記憶する情報
記憶部と、 テスト動作指令と前記テスト情報との被試験論
理部への送出動作開始指令を指示する指示部と、 この指示部から指示された指令およびこれに引
き続く指令により前記テスト動作指令と前記テス
ト情報とを前記被試験論理部へ送出するための制
御をする第１の制御部と、前記テスト動作指令に
基づいて前記被試験論理部から与えられる前記テ
スト情報を予め定めた擬似動作で処理するよう制
御する第２の制御部と、前記擬似動作で処理され
た情報を前記被試験論理部に与えこの情報に基づ
いて前記被試験論理部で処理した結果が与えられ
その試験結果と前記期待値とを比較する動作を制
御する第３の制御部とを備えた制御部と、 前記比較動作による比較結果を表示する表示部
とを含むことを特徴とする論理装置用試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12089378A JPS55143458A (en) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | Testing device for logic unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12089378A JPS55143458A (en) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | Testing device for logic unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55143458A JPS55143458A (en) | 1980-11-08 |
| JPS6145790B2 true JPS6145790B2 (ja) | 1986-10-09 |
Family
ID=14797589
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12089378A Granted JPS55143458A (en) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | Testing device for logic unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55143458A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01300348A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-04 | Fanuc Ltd | 試験方式 |
-
1978
- 1978-09-29 JP JP12089378A patent/JPS55143458A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55143458A (en) | 1980-11-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH01251141A (ja) | データバスおよびアドレスバスによって相互接続されたマイクロプロセッサならびにメモリを有する型式の装置をテストする方法 | |
| JPS6145790B2 (ja) | ||
| JPH09304129A (ja) | 統合システム試験装置及びその試験方法 | |
| JPS63255744A (ja) | システム診断方式 | |
| JPH09178821A (ja) | 電子回路のテスト装置 | |
| JPH0376352A (ja) | 擬似試験装置 | |
| JPH0561799A (ja) | 通信制御装置の試験方式 | |
| JPH066422A (ja) | 通信試験装置 | |
| JPH03263151A (ja) | チャネル試験処理方式 | |
| JPH0573446A (ja) | 擬似入出力装置、および入出力処理装置の試験診断方法 | |
| JPS6136664B2 (ja) | ||
| JPS5946561A (ja) | 電子機器検査装置 | |
| JPS60246454A (ja) | 入出力装置の試験方式 | |
| JPH05181698A (ja) | 統合監視装置の試験システム | |
| JPS6325740A (ja) | 自動診断装置付き監視装置 | |
| JPS61155779A (ja) | 多機能型試験機 | |
| JPS58195244A (ja) | 遠隔集中制御方式 | |
| JPS58181345A (ja) | 通信装置 | |
| JPS59105334A (ja) | 半導体集積回路のオ−トハンドリング装置 | |
| JPS61282940A (ja) | イベントテ−ブルを用いた制御プログラム検査方式 | |
| JPH10239392A (ja) | 試験装置 | |
| JPS6029132B2 (ja) | 集中制御用計算機システムのテスト方式 | |
| JP2001067121A (ja) | 情報処理装置の遠隔自動制御方法 | |
| JPS638945A (ja) | 中央処理装置の複数同時試験装置 | |
| JPS60107942A (ja) | インタロツク信号モニタ装置 |