JPS61289595A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPS61289595A
JPS61289595A JP60129826A JP12982685A JPS61289595A JP S61289595 A JPS61289595 A JP S61289595A JP 60129826 A JP60129826 A JP 60129826A JP 12982685 A JP12982685 A JP 12982685A JP S61289595 A JPS61289595 A JP S61289595A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
function
supplied
memory device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60129826A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH079751B2 (ja
Inventor
Yasunori Yamaguchi
山口 泰紀
Jun Miyake
順 三宅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP60129826A priority Critical patent/JPH079751B2/ja
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to KR1019860004695A priority patent/KR950007447B1/ko
Priority to US06/874,106 priority patent/US4766570A/en
Publication of JPS61289595A publication Critical patent/JPS61289595A/ja
Priority to US07/224,375 priority patent/US4951251A/en
Priority to US07/570,525 priority patent/US5068829A/en
Priority to US07/729,337 priority patent/US5206832A/en
Priority to US08/254,416 priority patent/US5444665A/en
Publication of JPH079751B2 publication Critical patent/JPH079751B2/ja
Priority to KR1019950011909A priority patent/KR950008441B1/ko
Priority to US08/467,971 priority patent/US5523981A/en
Priority to JP8012515A priority patent/JP2605659B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/76Television signal recording
    • H04N5/907Television signal recording using static stores, e.g. storage tubes or semiconductor memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、半導体記憶装置に関するもので、例えば、
画像処理用のRAM (ランダム・アクセス・メモリ)
に利用して有効な技術に関するものである。
〔背景技術〕
文字及び図形をCRT (陰極線管)の画面上に表示さ
せる画像処理用のRAMとして、例えば、日経マグロウ
ヒル社1985年2月11日イ寸「日経エレクトロニク
ス」頁219〜頁229に記載されたシリアルアクセス
メモリが公知である。このRAMは、アドレス信号を形
成するカウンタ回路を外部端子から供給される制御信号
とタイミング信号で動作させることにより、メモリアレ
イのワード線の選択信号を形成するものである。また、
メモリアレイのデータ線をスイッチ回路を介してデータ
レジスタにパラレルに接続させ、このデータレジスタと
外部端子との間でデータをシリアルに授受させるように
するものである。これにより、外部端子とのデータの授
受は、シリアルに行われるので、CRTのラスクスキャ
ンタイミングに同期した画素データの取り出しが容易に
行えるものとなる。しかし、上記画像処理用のRAMに
あっては、見かけ上はRAMでありながら、実質的には
その記憶容量分のビット数を持つシフトレジスタとして
の動作しか行えない、このため、1つのメモリセルに対
しては全ピット分のアドレッシングに一回のアクセスし
かできず、図形作成や変更を伴い画像処理動作が遅くな
ってしまうという問題がある。
画像処理のためには、ランダム・アクセス動作を行うR
AMの方が便利である。そこで、本願発明者は、×4ビ
ットのように複数ビットの単位でアクセスが行われるR
AM (例えば、■日立製作所、昭和58年9月発行の
r日立ICメモリデータプンクJ参照)を用いて、上記
4ビツトの信号に対して赤、青、緑及び輝度信号を割り
当てて、カラー画像処理用の画像処理用のRAM (い
わゆるビディオRAM)を構成することを考えた。しか
しながら、このようなRAMにあっても、図形の作成や
その変更において、画素データをいったん読み出して、
それと新な画素データや表示条件との論理演算を行い、
変更すべき画素データを作成して再びもとのアドレスに
書き込むという複数サイクルにわたるメモリアクセス動
作及びマイクロプロセッサの動作が必要になる。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、高速画像データの処理に通した多機
能を持つ半導体記憶装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される実施例のうち代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記の通りである。すなわち、
実質的なチップ選択信号に先立って供給された所定の制
御信号のレベルを判定して、上記チップ選択信号に同期
してアドレス端子から供給された信号をファンクション
信号として取り込み、そのファンクション信号により種
々のデータ処理を行う内部回路を設けるものである。
(実施例〕 第1図には、この発明の一実施例のブロック図が示され
ている。同図の各回路ブロックは、公知の半導体集積回
路の製造技術によって、特に制限されないが、単結晶シ
リコンのような1個の半導体基板上において形成される
この実施例の半導体記憶装置は、×4ビット構成のダイ
ナミック型RAMを基本構成として、以下に説明するよ
うに画像処理動作を高速に行うための内部回路が付加さ
れる。特に制限されないが、同図におけるメモリ部RA
Mは、4組のメモリアレイ、センスアンプ及びアドレス
デコーダ回路から構成される。メモリアレイ部RAMは
、マトリックス配置されたアドレス選択用MO5FET
 (絶縁ゲート型電界効果トランジスタ)と情報記憶用
のキャパシタとからなるダイナミック型メモリセルを含
んでいる。上記メモリセルのアドレス選択用MOSFE
Tは、そのゲートが対応するワード線に結合され、ドレ
インが対応する一方のデータ線に結合される。このよう
なメモリ部RAMの構成は、後に詳細に説明する。
メモリアレイにおける相補データ線の信号は、それぞれ
例示的に示されているスイッチMO3FETQI O,
Ql 1等を介して合計4組からなるシフトレジスタS
Rの各ビットにパラレルに転送される。これらのMO3
FETQI O,Ql 1は、そのゲートに共通に供給
されたタイミング信号φSによって制御され、上記信号
の転送タイミングが制御される。このようなメモリアレ
イにおけるIワード線分の記憶情報をパラレルに読み出
して合計4組からなるシフトレジスタSRから外部端子
Dsへ4ピツ)・の信号をシリアルに送出させる機能は
、CRTのラスクスキャンタイミングに同期して表示す
べきカラー画素を構成する赤、青、緑及び輝度の図形デ
ータを発生させる上で便利なものとなる。
ロウアドレスバッファR−ADHは、ロウアドレススト
ローブ信号RASにより形成されたタイミング信号φr
に同期して外部アドレス信号AXO〜A X tを取込
み、ロウアドレスデコーダに伝える内部相補アドレス(
8号を形成する。メモリ部RAMに含まれるロウアドレ
スデコーダは、後述するように、そのアドレス信号の解
読を行うとともに、ワード線選択タイミング信号に同期
して所定のワード線及びダミーワード線の選択動作を行
う。
カラムアドレスバッファC−ADBは、通常のメモリア
クセスにあっては遅れて供給されるカラムアドレススト
ローブ信号CASにより形成されたタイミング信号φC
に同期して外部アドレス信号AYO〜AYiを取込みカ
ラムアドレスデコーダに伝える。メモリ部RAMに含ま
れるカラムアドレスデコーダは、そのアドレス信号の解
読を行うとともに、データ線選択タイミング信号に同期
してデータ線の選択動作を行う、この実施例において、
カラムアドレスバッファC−ADBは、上記のようなア
ドレス信号AYO=AYiの取り込みの他に一定の動作
条件のもとで上記アドレス端子から取り込んだ信号をフ
ァンクション信号としてファンクラン設定回路FNに伝
える。
上記ファンクション設定回路FNは、後述するタイミン
グ制御回路TCにより形成されたタイミング信号φfn
により、それが動作状態にされたとき、上記カラムアド
レスバッファc−ADB’f−illして取り込まれた
信号を解読して、特に制限されないが、論理演算回路L
LIの演算モードを設定する演算モード信号fn、デー
タ入力回路IBの動作を選択的に無効にさせるマスク信
号msk及び上記データ入力回路IBの出力信号を論理
演算回路LUを通されないでそのままメモリ部RAMの
人出力ノードI10に伝えるゲート回路Gをili制御
するバス信号ps等を発生させる。
上記論理演算回路LUは、上記4組のメモリ部RAMに
対応した4組の回路からなり、その一方の入力に設けら
れたランチ回F@Fに保持された信号と、データ入力回
路IBを通して外部端子Diから供給された蒼き込み信
号とを受け、アンド(AND) 、ナンド(NAND)
 、オア(OR)、ノア(NOR) 、反転及び排他的
論理和動作等の各種論理演算動作を、その演算モード信
号Inに従って行うものである。上記ランチ回路Fは、
その入力端子が対応するメモリ部RAMの入出力ノード
I10に結合され、選択されたメモリセルの記憶情報を
保持するものである。論理演算回路LUは、複数の論理
ゲート回路と、その信号伝達径路を切り換えるマルチプ
レクサ回路との組み合わせから構成される。このため、
外部端子Diから供給された書き込み信号をそのまま書
き込む場合に、その書き込み信号を上記のような論理ゲ
ート回路やマルチプレクサ回路からなる論理演算回路L
Uを通すと、その分信号伝達時間が遅くなってしまう。
ゲート回路Gは、上記パス信号psにより上記データ入
力回路IBの出力信号をそのままメモリ部RAMの入出
力ノードI10に伝える。
このような動作によって、畜き込み動作を高速に行うこ
とができる。
データ入力回路IBは、合計4組の回路がらなり、その
動作タイミング信号φinにより動作状態にされたとき
、外部端子Diから供給された4ビツトの書き込み信号
をそれぞれ増幅して、内部書き込み信号を形成する。デ
ータ入力回路IBは、上記ファンクション設定回路FN
により形成されたマスク信号mskに従い、上記タイミ
ング信号φinによる動作状態が選択的に無効にされる
。言い換えるならば、上記4組の回路のうち、任意の回
路の動作が無効にされる。このような外部書き込み信号
に対するマクス動作は、赤、青、緑及び輝度信号からな
る1つの画素データの中のいずれか工ないし3の信号を
選択的に入力する場合に便利な機能とされる。
データ出力回l1BOBは、合計4組の回路からなり、
その動作夕・イミング信号φOpにより動作状態にされ
たとき、メモリ部RAMの対応する入出力ノードの合計
4ビツトの信号をそれぞれ増幅し°ζ外部端子DOへ送
出させる。
タイミング制御回路′rCは、外部から供給されたアド
レスストローブ信号RAS、CAS、ライトイネーブル
信号WEとシフトレジスタSRの動作のためのクロック
信号CLKを受け、動作モードの1別と、それに応じた
上記例示的に示されたタイミング信号φC1φr、φf
n等の他、内部回路の動作に必要とされる各種動作タイ
ミング信号を形成する。
リフレッシュ制御回路REFCは、特に制限されないが
、リフレッシュ用アドレス信号を形成するリフレッシュ
アドレスカウンタ回路を含んでいる。リフレッシュアド
レスカウンタ回路は、上記タイミング制御回路TCによ
りロウアドレスストローブ信号RASに先立ってカラム
アドレスストローブ信号CASががロウレベルにされた
ことを検出することにより形成されたリフレッシュ信号
φrfを受けて、上記信号RASのロウレベル毎に上記
歩進(計数動作)を行う、リフレッシュ動作モードのと
き、上記リフレッシュ制御回路REFCで形成されたリ
フレッシュ用アドレス信号は、上記リフレッシュモード
のとき、ロウアドレスバッファR−ADBの入力に伝え
られ、このロウアドレスバッファR−ADBを通してメ
モリ部RAMのロウデコーダに供給される。
第3図には、上記メモリ部RAMの一実施例の回路図が
示されている。
1ビツトのメモリセルMCは、その代表として示されて
いるように情報記憶キャパシタC3とアドレス選択用M
O3FETQmとからなり、論理“1”、“0”の情報
はキャパシタCsに電荷が有るか無いかの形で記憶され
る。情報の読み出しは、MO5FE’T’Qmをオン状
態にしてキャパシタCsを共浦のデータ線DLにつなぎ
、データ線DLの電位がキャパシタCsに蓄積された電
荷量に応じてどのような変化が起きるかをセンスするこ
とによって行われる。
メモリセルM Cを小さく形成し、かつデータ線DLに
多くのメモ+、+セルを結合して高集積大容量のメモリ
マトリックスにしであるため、上記キャパシタCsと、
データ線DLの図示しない浮遊容量COとの比CS/G
oは非常に小さな値になる。
したがって、上記キャパシタCsに1nljされた電荷
量によるデータ線DI、の電位変化は、非常に微少な信
号となっている。
このような微少な信号を検出するための基準としてダミ
ーセルDCが設けられている。このダミーセルDCは、
特に制限されないが、そのキャパシタCdの容量値がメ
モリセルMCのキャパシタCsのはり半分であることを
除き、メモリセルMCと同じ製造条件、同じ設計定数で
作られている。
キャパシタcdは、アドレッシングに先立って、MOS
FETQd’によって接地電位に放電される。このよう
に、キャパシタCdは、キャパシタCsの約半分の容量
値に設定されているので、メモリセルMCからの読み出
し信号のはり半分に等しい基準電圧を形成することにな
る。
一対の並行に配置された相補データ線DL、Dτ(折り
返しピント線、又はディジット線)に結合されるメモリ
セルの数は、検出精度を上げるため等しくされる。特に
制限されないが、相補データIn1DL、DLのそれぞ
れに1イ固ずつのダミーセルDCが結合されている。ま
た、各メモリセルMCは、1本のワード線W Lと相補
対データ線の一方との間に結合される。各ワード線WL
は双方のデータ線対と交差しているので、ワード線WL
に生じる雑音成分が静電結合によりデータ線にのっても
、その雑音成分が双方のデータ線対DL、D〒に等しく
現れ、後述する差動型のセンスアンプSAによって相段
される。アドレッシングにおいて、相補データ線対DL
、DLの一方に結合されたメモリセルMCが選択された
場合、他方のデータ線には必ずダミーセルDCが結合さ
れるように一対のダミーワード線DWL、L)WLの一
方が選択される。
センス7ンプSAは、特に制限されないが、一対の交差
結線されたM OS F E T Q l 、 Cal
 2を有し、これらの正帰還作用により、相補データ線
DL、DLに現れた微少な信号を差動的に増幅する。
この正帰還動作は、2股回に分けておこなわれ比較的小
さいコンダクタンスにされたM OS F E TQ7
が比較的早いタイミング信号φpalによって導通し始
めると同時に開始され、アドレッシングによって相補デ
ータ線DL、DLに与えられた電位差に基づき高い方の
データ線電位は遅い速度で、低い方のそれは速い速度で
共にその差が広がりなから−3;降していく。この時、
上記電圧差がある程度大きくなったタイミングで比較的
大きいコンダクタンスにされたMO3FETQ8がタイ
ミング信号φρa2によって導通するので、上記低い方
のデータ線電位が急速に低下する。このように2段階に
わけてセンスアンプSAの動作を行わせることによって
、上記高い方の電位落ち込みを防止する。こうして低い
方の電位が交差結合MOSFETのしきい値電圧以下に
低下したとき正帰還動作が終了し、高い方の電位の下降
は電源電圧Vccより低く上記しきい値電圧より高い電
位に留まるとともに、低い方の電位は最終的に接地電位
(OV)に到達する。
上記のアドレッシングの際、一旦破壊されかかったメモ
リセルMCの記憶情報は、このセンス動作によって得ら
れたハイレベル若しくはロウレベルの電位をそのまま受
は取ることによって回復する。しかしながら、前述のよ
うにハイレベルが電源電圧Vccに対して一定以上落ち
込むと、何回かの読み出し、再書込みを繰り返している
うちに論理“0”として読み取られるところの誤動作が
生じる。この誤動作を防ぐために設けられるのがアクテ
ィブリストア回路ARである。このアクティブリストア
回路ARは、ロウレベルの信号に対して何ら影響を与え
ずハイレベルの信号にのみ選択的に電源電圧Vccの電
位にブースト(昇圧)する働きがある。
同図において代表として示されているデータ線対DL、
DLは、カラムスイッチCWを構成するMO3FETQ
3.Q4を介してコモン相補データ線対CDL、CDL
に接続される。他の代表として示されているデータ線対
についても同様なMO3FETQ5.Q6を介してコモ
ン相補データ線対CDL、CDLに接続される。このコ
モン相補データ線対CDL、CDLは、上記第1図に示
した入出力ノードI10に対応している。
また、上記構成のメモリアレイMARYにおける相補デ
ータ線DL、DLは、前記第1図に示したようなスイッ
チMO3FETQI O,Ql 1等を介してシフトレ
ジスタSRの対応するビ・ノドに結合される。すなわち
、上記センスアンプSAとアクティブリストア回路AR
の動作によって相補データ線DL、DLに現れた1本の
ワード線に結合されたメモリセルの読み出し信号は、タ
イミング信号φSに同期してパラレルにシフトレジスタ
SRに伝達される。
ロウアドレスデコーダR−DCR及びカラムアドレスデ
コーダC−DCRは、前記ロウアドレスバッファR−A
 D B及びカラムアドレスバッファC−ADBでそれ
ぞれ形成された内部相補アドレス信号を受けて、1本の
ワード線及びダミーワード線並びにカラムスイッチ選択
信号を形成してメモリセル及びダミーセルのアドレッシ
ングを行う。
すなわち、ロウアドレスデコーダR−DCRは、ロウア
ドレスバッファR−ADBにより形成された内部相補ア
ドレス信号を解読して、ワード線選択タイミング信号φ
Xに同期して、1本のワード線とこれに対応したダミー
ワード線の選択動作を行・)。カラムアドレスデコーダ
C−DCRは、カラムアドレスパンツ1C−A D B
により形成された内部相補アトし・大信号を解読して、
データ線選択タイミング信号φyに同期して、一対の相
補デ−タ線を共通相補データ線に結合させるカラムスイ
ッチMO3FETのゲートに伝えられる選択信号を形成
する。
次に、第2図に示したタイミング図に従って、この実施
例の半導体記憶装置の動作の一例を説明する。
ロウアドレスストローブ信号RASがハイレベルからロ
ウレベルに変化する前に、カラムアドレスストローブ信
号CASとライトイネーブル信号WEをロウレベルにす
る。すると実質的なチップ選択信号であるロウアドレス
ストローブ信号RASがハイレヘルからロウレベルにさ
れるタイミングで内部回路が動作状態にされ、タイミン
グ制御回路TCは、上記タイミングでカラムアドレスス
トローブ信号CASがロウレベルであることを判定して
、リフレッシュ制御信号φrfを発生させて、リフレッ
シュサイクルのための各種タイミング信号を発生させる
(CASビフォワーRASリフレッシュ)、これにより
、リフレッシュ制御回路REFCで形成されたリフレッ
シュアドレス信号は、ロウアドレスバッファR−A D
 Bを介してロウアドレスデコーダR−DCRに伝えら
れ、ワード線の選択動作、センス7ンプSA及びアクテ
ィプリ、11.1−7回路ARの一連の動作によるリフ
レッシュ動作が行われる。このとき、ロウアドレスバッ
ファRADBの入力端子は、上記リフ【・ノシュ制御化
RE l・Cと結合され、外部アトレスメjイとは分離
され−(いる。
タイミング制御回1aTCは、上記カラムアドレススト
ローブ信号CASと上記ライトイネーブル信号W Eが
共にロウレー・ルであること)fc検出すると、上記し
ウアドレスストローブfS号RASのロウレベルl\の
変化タイミングにより、カラムアドレス八ソファC−A
 D Bを活性化さゼるタイミング信号φCとファンク
ション設定回路FNを起動させるタイミング信号φfn
を発生させる。上記リフレッシュ動作におていは、デー
タ線選択タイミング信号φyが発生されないから、カラ
ムアドレスデコーダC−DCRは、実質的に非動浮状態
に置かれる。したがって、上記力ラムアドレスハソファ
C−ADBを通したファンクション信号Fは、この時動
作状態にされたファンクション設定回路FNに取り込ま
れる。ファンクション設定回路FNは、上記取り込んだ
ファンクション信号Fを保持するともとに、それを解読
して次の動作のための各種動作モード信号を形成する。
このようにして、リフレッシュ動作と、ファンクション
信号Fの取り込み動作が同じメモリサイクル(リフレッ
シュサイクル)中で並行して行われる。
上記アドレスストローブ信号RAS、CAS、及びライ
トイネーブル信号qπ)ハイレベルにして内部回路をい
ったんリセット状態にする。このリセット状態において
も上記ファンクション設定回路FNは、上記取り込んだ
ファンクション信号Fを保持している。
次に、ロウアドレスストローブ信号RASをハイレベル
からロウレベルに変化させると、タイミング制御化TC
は、タイミング信号φrを発生させてロウアドレスバッ
ファR−ADBを動作状態にし、外部アドレス端子から
供給されたアドレス信号をロウアドレス信号AX(AX
O〜AXi)として取り込む、この後、上記タイミング
制御回路TCは、図示しないが前記ワード線選択タイ・
ミング信号φX、センスアンプ動作タイミング信号φp
aLφpa2及びアクティブリストア動作タイミング信
号φr3を時系列的に発生させて、ロウ系の選択動作を
行う。
次いで、カラムアドレスストローブ信号CASをハイレ
ベルからロウレベルに変化させると、タイミング制御化
TCは、タイミング信号φCを発生させてカラムアドレ
ス八ソファC−ADHを動作状態にし、外部アドレス端
子から供給されたアドレス信号をカラムアドレス信号A
Y (AYO〜AY i)として取り込む、この後、上
記タイミング制御回路TCは、図示しないが前記データ
線選択タイミング信号φyに発生させて、データ線の選
択動作を行・)。これにより、共通相補データ線CDL
、CDL (入出力ノードl10)の信号は、言い換え
るならば、上記アドレス信号AXとAYで指定されたメ
モリセルの記憶情報DAはラッチ回路Fに取り込まれる
ライトイネーブル信号W丁をロウレベルにされた書き込
み動作モードにおいては、外部端子Diから供給された
書き込み信号DBがデータ入力回路IBを介して取り込
まれる。前記ファンクション設定によってファンクシラ
ン設定回路FNが、例えば論理演算回路LUに対してア
ンド演算を指示したなら、論理演算回路LUは、上記ラ
ッチ回路Fの信号DAと上記書き込み信号DBのアンド
信号DA−DBを形成して、上記入出力ノードI10に
伝える。これによって、上記選択されたメモリセルには
上記信号DA −DBが書き込まれる。
これにより、1サイクルの書き込み動作によって、メモ
リセルの記憶情報をそれと外部端子から供給された書き
込み信号の論理演算に従った画素データに置き換えるこ
とができる。
上記ファンクション設定により、合計4個の論理演算回
路LUのうちの1ないし3個を非動作状態にさせると、
非動作状態にされた論理演算回路LUに対応されたメモ
リ部RAMのメモリアレイは、もとの記憶情報を維持す
るものとなる。この結果、メモリ部RAMに対して3な
いし1ビツトのみ上記論理演算結果の書き込みを行うこ
とができる。
ファンクション設定による他の動作形態は、メモリセル
の記憶情報を外部端子から供給された書き込み信号に置
き換える場合、バス信号psが形成される。これによっ
て、データ入力回路IBを通した書き込み信号は、上記
論理演算回路LUに代えて、ゲート回路(トライステー
トバッファ)Gを通して直接にメモリ部RAMの入出力
ノード(メモリアレイMARYの共通相補データ線)に
伝えられる。これによって、従来のダイナミック型RA
Mと同様に高速に書き込み動作を行うことができる。
ファンクション設定による更に他の動作形態は、外部端
子から供給される4ビツトの書き込み信号のうちの特定
のビットのみを書き込む場合、マスク信号m s kが
設定される。このマスク信号mskは、それに対応した
データ入力回路IBを非動作状態にさせる。これによっ
て、外部端子に供給された畜き込み信号が無効にされる
。すなわち、このマスク機能は、メモリ部RAMのアド
レッシングによって同時に選択される合計4個のメモリ
セルのうち、特定のメモリセルに対してのみ外部端子か
ら供給される信号を書き込む場合に利用される。このよ
うな機能は、上記バイパスモードの時に、ゲート回路G
を選択的に動作させることによっても実現できるもので
ある。
上記のようなファンクションの設定は、その変更を行う
ことによってiηの状態が解除され、新たに設定したフ
ァンクションに置き換えられる。このようにすることに
よって、ファンクション設定のための動作サイクルを少
なくできるものである。
通常、画像処理にあっては、1つの図形を構成する画素
又は特定のエリアを構成する画像は、多数のドツト(ビ
ット)の集合からなるものであるので、その変更には同
じ論理演算が上記多数のドツトに対して繰り返して行う
必要があるから、上記ファンクション設定の解除を新た
な設定により置き換えることが便利なものとなる。
なお、読み出し動作は、従来の×4ビット構成のダイナ
ミック型RAMと同様であるので、その説明を省略する
。この場合、4ビツトの画素信号のうち、特定のピント
にマスクする機能を設けるものであってもよいが、この
ような動作は、マイクロプロセッサ側でそのビットの処
理を行うないようにすることによって実現できる。
さらに、シリアル読み出し動作は、前記公知のシリアル
メモリとはり類似の動作により行うことができる。この
場合、この実施例では、ロウアドレスを外部端子から供
給されるアドレス信号によって任急に設定できるから、
表示画面のスクロール機能を実現できる。すなわち、C
RTの最初のマスクに同期して設定されるロウアドレス
の変更によりて表示画面上の図形を上又は下方向に移動
させることが可能になる。
〔効 果〕
(1)実質的なチップ選択信号の供給タイミングと、他
のタイミング信号ないし制御信号のレヘルの組み合わせ
により、メモリアクセス動作と類似の動作によってアド
レス端子からの信号をファンクション信号として取り込
むことができるから、ファンクション設定が容易に行え
るという効果が得られる。
(2)実質的なチップ選択信号であるロウアドレススト
ローブ信号RASの立ち下がりタイミングに先立ってカ
ラムアドレスストローブ信号CASとライトイネーブル
信号WEがロウレベルであることを識別してアドレス端
子から供給された信号としてファンクション信号の取り
込むことにより、ファンクション設定動作と、CASビ
フォヮーHSリフレッシュ動作とを同時に並行して行え
るという効果が得られる。
(3)アドレス端子からファンクション信号を取り込む
ことにより、多ビットからなるファンクション信号を構
成することができる。これによって、多種類のファンク
ション設定が可能になるという効果が得られる。
+41 RA M内に演算回路を設けることより、1回
の書き込みサイクル内でそのアドレッシングによって選
択されたメモリセルの記憶情報を、その記憶情報と外部
端子から供給された書き込み信号との演算結果に置き換
えることができる。これによって、図形の作成や変更の
ための画像処理が高速に行えるという効果が得られる。
(5)ファンクションモードの1の機能として、複数ビ
ットの信号のうちの任意の特定のビットに対してマスク
することにより、変更したく無いメモリセルの記憶情報
を配慮することなく、外部端子からの書き込み信号やそ
の演算を行うことができるから、図形の作成や変更が容
易に行えるという効果が得られる。
(6)上記(4)、 (51により、マイクロプロセッ
サないし画像プロセッサ等での処理負担が軽減されると
ともに、そのプログラムが容易に行えるという効果が得
られる。
(7)演算回路を通さないで、データ入力回路の出力信
号を直接メモリ部の入出力ノードに伝達させるバイパス
回路を設けることにより、演算を伴わない畜き込み動作
の高速化を実現できるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもな、い。例えば、データ入力
回路の入力端子と、データ出力回路の出力端子は、共通
の外部端子に結合して外部端子数を減らすようにするも
のであってもよい、この場合、上記データ入力回路とデ
ータ出力回路の動作を制御するための出力イネーブル信
号をタイミング制御回路に供給してその動作制御が行わ
れる。なお、上記出力イネーブル信号を実質的なチップ
選択信号の前に通常の動作と異なるレベルにして、上記
メモリア部RAMの記憶情報をシフトレジスタSRにパ
ラレルに出力させるタイミング信号を形成するようにす
るものであってもよい。演算回路は、論理演算の他算術
演算を行うものであってもよい。ロウ(X)及びカラム
(Y)アドレス信号は、それぞれ独立した外部端子から
供給するもので菖っでもよい、この場合、チップ選択信
号によってRAMのアクセスが開始されるから、ライト
イネーブル信号との組み合わせにより、上記いずれかの
アドレス端子とその信号を受けるアドレスバッファを介
して、ファンクション設定動作を実現できるものである
。リフレッシュ動作は、外部端子から供給されるリフレ
ッシュ制御信号により行うようにするものであってもよ
い。この場合には、外部端子からリフレッシュ周期を設
定できるから、リフレッシュ動作と並行して上記シリア
ル読み出し動作のためのシフトレジスタへのパラレル転
送を行うようにすることもできる。さらに、ファンクシ
ョン設定の解除は、設定動作後の書き込みサイクルの終
了・とあもに自動的に行うようにするものであってもよ
い。メモリアレイは、スタティック型メモリセルにより
構成するものであってもよい。
〔利用分野〕
この発明は、画像処理の他、各種データ処理機能を備え
た半導体記憶装置として広く利用できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示すブロック図、 第2図は、その動作の一例を示すタイミング図、第3図
は、第1図におけるメモリ部の一実施例を示す回路図で
ある。 RAM・・メモリ部、MC・・メモリセル、DC・・ダ
ミーセル、CW・・カラムスイッチ、SA・・センス?
ンブ、AR・・アクティブリストア回路、R−DCR・
・ロウアドレスデコーダ、C−DCR・・カラムアドレ
スデコーダ、R−ADB・・ロウアドレスデコーダ、C
−ADB・・カラムアドレスバッファ、OB・・データ
出力回路、IB・・データ入力回路、TC・・タイミン
グ制御回路、REFC・・リフレッシュ制御回路、FN
・・ファンクション設定回路、LU・・演算回路、G・
・ゲート回路、F・・ラッナ回路、SR・・シフトレジ
スタ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、実質的なチップ選択信号に先立って供給された所定
    の制御信号のレベルを判定して、上記チップ選択信号に
    同期してアドレス端子から供給された信号をファンクシ
    ョン信号として取り込む回路と、上記ファンクション信
    号によりその動作モードが指定される内部回路とを含む
    ことを特徴とする半導体記憶装置。 2、上記内部回路は、上記ファンクション信号に従って
    内部記憶情報と外部端子から供給された書き込み信号と
    の演算を行い選択されたメモリセルに書き込むべき信号
    を形成する演算回路を含むものであることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の半導体記憶装置。 3、上記内部回路は、上記ファンクション信号に従って
    外部端子から供給された書き込み信号をそのまま伝える
    バイパス回路を含むものであることを特徴とする特許請
    求の範囲第2項記載の半導体記憶装置。 4、上記内部回路は、上記ファンクション信号に従って
    複数個の外部端子から供給される複数ビットからなる書
    き込み信号に対して任意の1ないし複数ビットの信号を
    無効にさせる回路を含むものであることを特徴とする特
    許請求の範囲第1、第2又は第3項記載の半導体記憶装
    置。 5、上記チップ選択信号はロウアドレスストローブ信号
    であり、上記所定の制御信号はカラムアドレスストロー
    ブ信号とライトイネーブル信号であり、上記ファンクシ
    ョン信号の取り込みと内部で形成されたリフレッシュア
    ドレス信号に従ったリフレッシュ動作とが並行して行わ
    れるものであることを特徴とする特許請求の範囲第1、
    第2、第3又は第4項記載の半導体記憶装置。
JP60129826A 1985-06-17 1985-06-17 半導体記憶装置 Expired - Lifetime JPH079751B2 (ja)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60129826A JPH079751B2 (ja) 1985-06-17 1985-06-17 半導体記憶装置
KR1019860004695A KR950007447B1 (ko) 1985-06-17 1986-06-13 반도체 기억장치
US06/874,106 US4766570A (en) 1985-06-17 1986-06-13 Semiconductor memory device
US07/224,375 US4951251A (en) 1985-06-17 1988-07-26 Semiconductor memory device
US07/570,525 US5068829A (en) 1985-06-17 1990-08-21 Semiconductor memory device
US07/729,337 US5206832A (en) 1985-06-17 1991-07-12 Semiconductor memory device
US08/254,416 US5444665A (en) 1985-06-17 1994-06-06 Semiconductor memory device
KR1019950011909A KR950008441B1 (ko) 1985-06-17 1995-05-15 데이타 처리시스템
US08/467,971 US5523981A (en) 1985-06-17 1995-06-06 Semiconductor memory device
JP8012515A JP2605659B2 (ja) 1985-06-17 1996-01-29 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60129826A JPH079751B2 (ja) 1985-06-17 1985-06-17 半導体記憶装置
JP8012515A JP2605659B2 (ja) 1985-06-17 1996-01-29 半導体記憶装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8012515A Division JP2605659B2 (ja) 1985-06-17 1996-01-29 半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61289595A true JPS61289595A (ja) 1986-12-19
JPH079751B2 JPH079751B2 (ja) 1995-02-01

Family

ID=50070887

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60129826A Expired - Lifetime JPH079751B2 (ja) 1985-06-17 1985-06-17 半導体記憶装置
JP8012515A Expired - Lifetime JP2605659B2 (ja) 1985-06-17 1996-01-29 半導体記憶装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8012515A Expired - Lifetime JP2605659B2 (ja) 1985-06-17 1996-01-29 半導体記憶装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4766570A (ja)
JP (2) JPH079751B2 (ja)
KR (1) KR950007447B1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4951251A (en) * 1985-06-17 1990-08-21 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory device
JPS62250593A (ja) * 1986-04-23 1987-10-31 Hitachi Ltd ダイナミツク型ram
US5217917A (en) * 1990-03-20 1993-06-08 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory device with improved substrate arrangement to permit forming a plurality of different types of random access memory, and a testing method therefor
DE4114744C1 (ja) * 1991-05-06 1992-05-27 Siemens Ag, 8000 Muenchen, De
JPH06111010A (ja) * 1992-09-29 1994-04-22 Ricoh Co Ltd Dram及びコントローラ
US5392241A (en) * 1993-12-10 1995-02-21 International Business Machines Corporation Semiconductor memory circuit with block overwrite
JPH0845269A (ja) * 1994-07-27 1996-02-16 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US5802587A (en) * 1995-04-25 1998-09-01 Oki Data Corporation Memory controller adapted for rapid block access operations
DE19742597A1 (de) * 1997-09-26 1999-04-08 Siemens Ag Digitaler Speicher und Betriebsverfahren für einen digitalen Speicher
KR100381370B1 (ko) * 2000-04-26 2003-04-23 박수민 마이크로 캡슐의 제조방법
GB0705733D0 (en) * 2007-03-26 2007-05-02 Calrec Audio Ltd Digital signal processing

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58118135A (ja) * 1982-01-06 1983-07-14 Hitachi Ltd ダイナミック型ram
JPS58196671A (ja) * 1982-05-10 1983-11-16 Hitachi Ltd 半導体記憶素子

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6079593A (ja) * 1983-10-07 1985-05-07 Hitachi Ltd 半導体集積回路システム
JPH0787034B2 (ja) * 1984-05-07 1995-09-20 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58118135A (ja) * 1982-01-06 1983-07-14 Hitachi Ltd ダイナミック型ram
JPS58196671A (ja) * 1982-05-10 1983-11-16 Hitachi Ltd 半導体記憶素子

Also Published As

Publication number Publication date
US4766570A (en) 1988-08-23
JPH079751B2 (ja) 1995-02-01
JPH08263982A (ja) 1996-10-11
KR870000700A (ko) 1987-02-20
KR950007447B1 (ko) 1995-07-11
JP2605659B2 (ja) 1997-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5276642A (en) Method for performing a split read/write operation in a dynamic random access memory
KR960001778B1 (ko) 이중포트메모리 및 그 데이터 전송방법
US5134589A (en) Semiconductor memory device having a flash write function
US5440517A (en) DRAMs having on-chip row copy circuits for use in testing and video imaging and method for operating same
JPS60136086A (ja) 半導体記憶装置
US5307314A (en) Split read/write dynamic random access memory
JPS61289595A (ja) 半導体記憶装置
JPS61288240A (ja) 半導体記憶装置
JPH10269779A (ja) 同期式ランダムアクセスメモリ
JPH04252489A (ja) 半導体記憶装置
US6310818B1 (en) Semiconductor memory device and method of changing output data of the same
JPH04184785A (ja) 半導体記憶装置
US5383160A (en) Dynamic random access memory
US5341332A (en) Semiconductor memory device capable of flash writing and method of flash writing
JP2575090B2 (ja) 半導体記憶装置
JP2937717B2 (ja) メモリ装置
JPS61289596A (ja) 半導体記憶装置
JPS621182A (ja) 半導体記憶装置
JP2860403B2 (ja) ダイナミック型半導体記憶装置
KR950008441B1 (ko) 데이타 처리시스템
JPS62121997A (ja) ダイナミツク型ram
JPH02137184A (ja) 半導体記憶装置
JPH025285A (ja) ランダムアクセスメモリおよびその書込み/読取り方法
JP2725597B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6089891A (ja) 半導体メモリ

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term