JPS61280647A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPS61280647A
JPS61280647A JP60107768A JP10776885A JPS61280647A JP S61280647 A JPS61280647 A JP S61280647A JP 60107768 A JP60107768 A JP 60107768A JP 10776885 A JP10776885 A JP 10776885A JP S61280647 A JPS61280647 A JP S61280647A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
input transistor
transistor
type
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60107768A
Other languages
English (en)
Inventor
Noboru Haraguchi
昇 原口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP60107768A priority Critical patent/JPS61280647A/ja
Publication of JPS61280647A publication Critical patent/JPS61280647A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/0203Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0214Particular design considerations for integrated circuits for internal polarisation, e.g. I2L
    • H01L27/0229Particular design considerations for integrated circuits for internal polarisation, e.g. I2L of bipolar structures
    • H01L27/0233Integrated injection logic structures [I2L]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は半導体装置、特KI ILとその入力トランジ
スタを同一島領域に集積化した半導体装置に関する。
(ロ)従来の技術 ディジタル信号を入力しIIL論理素子で信号処理する
場合、第6図に示す如く、ディジタル信号を抵抗分割後
NPN)ランジスタより成る入力トランジスタ(21)
を介してIIL論理素子(22に入力している。斯る回
路構成に依れば分割抵抗(イ)と入力トランジスタr2
】)によりスレッシュホールド電圧を自由に決められる
利点を有する。
なおIILとしては例えば特開昭59−145563号
公報等で周知である。
上述した回路構成を集積回路化する方法として第4図忙
示す構造がある。1つの島領域(ハ)内に工IL素子器
と入力トランジスタ0】)とを集積化している。IIL
素子のはP型のインジェクタ領域(財)と逆NPNトラ
ンジスタを形成するP型のペース領域(ハ)とN型のコ
レクタ領域(1)より成り、入力トランジスタ121)
はインジェクタ領域(2をよりかなり離間したP型ベー
ス領域額とN型エミッタ領域(至)より成りている。
また他の方法として第5図に示す構造がある。
1つの島領域(ハ)にIIL素子(社)を組み込み、他
の島領域−に入力トランジスタel)となるNPNトラ
ンジスタを組み込んでいる。
(ハ)発明が解決しようとする問題点 第4図に示す構造では1つの島領域+231内にIIL
素子器と入力トランジスタ(2])とを集積化するので
、占有面積を小さくできる利点を有する。しかしながら
入力トランジスタ121)のベース領域(資)と島領域
(ハ)とインジェクタ領域Q4で形成される寄生PNP
)ランジスタ(至)Kよりインジェクタ領域(財)から
注入電流が流入し、分割抵抗に発生する電圧で入力トラ
ンジスタr21)が常時ON状態となる欠点があった。
また第5図に示す構造では上述した寄生PNPトランジ
スタ(至)の発生は防止できるが、別アイランドとする
ために占有面積が小さくできない欠点がある。
に)問題点を解決するための手段 本発明は断点に鑑みてなされ、入力トランジスタ(6)
の周辺に阻止領域αJを形成して注入電流の流入を抑制
して、従来の欠点を大巾に改善した半導体装置を提供す
るものである。
(ホ)作用 本発明に依れば入力トランジスタ(6)の周辺に設けた
阻止領域(13により寄生PNPトランジスタによる注
入電流は阻止領域u3からアースに吸い出されるので、
注入電流の入力トランジスタ(6)への流入は防止でき
る。
(へ)実施例 第1図および第2図は本発明に依る半導体装置を説明す
る上面図および断面図であり、第3図はその等価回路図
である。
本実施例では、P型半導体基板(1)上に積層したNW
エピタキシャル層(2)をP+型の分離領域(3)で分
離して1つの島領域(4)を形成している。この島領域
(4)にはIIL素子(5)と入力トランジスタ(6)
とを集積化している。IIL素子(5)はPfilのイ
ンジェクタ領域(7)と逆方向NPN)ランジスタを形
成するP型ベース領域(8)とNff1コレクタ領域(
9)とで形成され、島領域(4)底面のN+型の埋め込
み1顛とN型エピタキシャル層(2)とがエミッタ領域
として働く。またインジェクタ領域(力とNuエピタキ
シャル層<21とベース領域(8)とでラテラルPNP
 )ランジスタを形成している。入力トランジスタ(6
)としてはNPN)ランジスタを用い、Nuエピタキシ
ャル層(2)がコレクタ領域となり、P型ベース領域(
11)およびN型エミッタ領域αりで形成されている。
本発明の特徴は阻止領域<13にある。阻止領域(13
1はP型で形成され、ベース領域(8)と同時に拡散さ
れる。阻止領域(13)2人力トランジスタ(6)への
インジェクタ領域(力からの注入電流を防止する様に人
力トランジスタ(6)の周辺に形成され、望ましくは入
力トランジスタ(6)の全周に設けるのが好ましい。
しかしながら占有面積の関係から制約があれば、インジ
ェクタ領域(7)からの注入電流の注入経路を阻止でき
る範囲で良く、インジェクタ領域(7)と対向した入力
トランジスタ(6)のベース領域(113周辺に設けて
も良い。斯る阻止領域Q阻マアースされ、注入電流をほ
とんど全部アースに吸い出している。
第3図は本発明に依る半導体装置の等価回路図であり、
抵抗R1、R1は分割抵抗であり、トランジスタT+ 
は入力トランジスタ(6)であり、トランジスタT1、
T、はIIL素子(5)を形成するラテラルPNP )
ランジスタと逆方向NPN)ランジスタであり、トラン
ジスタT4は寄生PNP )ランジスタである。本図か
らも明らかな様にインジェクタ領域(刀エピタキシャル
層(2)およびベース領域(11)で形成されろ寄生P
NP)ランジスタのコレクタ領域は阻止領域03によっ
て接地されるので、寄生PNPトランジスタに依る注入
電流はほとんどアースに逃げてしまい、入力トランジス
タ(6)への流入は防止できる。
(ト)  発明の効果 本発明に依れば同一島領域(4)内にIIL素子(5)
と入力トランジスタ(6)とを集積化できるので占有面
積の縮小を図れる。
また阻止領域α3により入力トランジスタ(6)の周辺
を囲んでいるのでインジェクタ領域(7)から入力トラ
ンジスタ(6)への注入電流を抑制でき、入力トランジ
スタ(6)が常時ONすることを防止できる。
この結果入力トランジスタ(6)のベースに接続した分
割抵抗を大きい値に設定でき、入力インピーダンスを高
く設定できる利点を有し、又入力のスレッシュホールド
電圧の選択も自由に行なえる利点も有する。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明に依る半導体装置を説明す
る上面図および断面図、第3図は本発明に依る半導体装
置の等価回路図、第4図および第5図は従来の半導体装
置を説明する上面図、第6図は従来の半導体装置の等価
回路図である。 主な図番の説明 (4)は島領域、 (5)はIIL素子、 (6)は入
力トランジスタ、 αJは阻止領域である。 出願人 三洋電機株式会社 外1名 代理人 弁理士  佐 野 靜 失 策2図 U41 第3図 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)1つの島領域にIILと入力トランジスタとを組
    み込んだ半導体装置に於いて、IILのインジェクタ領
    域からの注入電流を阻止する様に前記入力トランジスタ
    の周辺に阻止領域を設け、注入電流の前記入力トランジ
    スタへの流入を防止することを特徴とする半導体装置。
JP60107768A 1985-05-20 1985-05-20 半導体装置 Pending JPS61280647A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60107768A JPS61280647A (ja) 1985-05-20 1985-05-20 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60107768A JPS61280647A (ja) 1985-05-20 1985-05-20 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61280647A true JPS61280647A (ja) 1986-12-11

Family

ID=14467512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60107768A Pending JPS61280647A (ja) 1985-05-20 1985-05-20 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61280647A (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5649560A (en) * 1979-09-28 1981-05-06 Hitachi Ltd Semiconductor ic device
JPS5651857A (en) * 1979-10-03 1981-05-09 Hitachi Ltd Logic integrated circuit device
JPS57167671A (en) * 1981-04-08 1982-10-15 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5649560A (en) * 1979-09-28 1981-05-06 Hitachi Ltd Semiconductor ic device
JPS5651857A (en) * 1979-10-03 1981-05-09 Hitachi Ltd Logic integrated circuit device
JPS57167671A (en) * 1981-04-08 1982-10-15 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06232346A (ja) 静電放電保護用回路および構造
EP0103306B1 (en) Semiconductor protective device
JP4775684B2 (ja) 半導体集積回路装置
EP0142253A2 (en) Integrated circuit comprising bipolar and field effect devices
US4115711A (en) Threshold circuit with hysteresis
JPH0521344B2 (ja)
JPS61280647A (ja) 半導体装置
EP0630523B1 (en) Circuit construction for controlling saturation of a transistor
JP2741797B2 (ja) Cmos半導体集積回路装置
JP2005101397A (ja) 半導体装置
JP4775683B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH0440273Y2 (ja)
JP3117260B2 (ja) 半導体集積回路
JPS5848957A (ja) 半導体出力回路
JPS58127364A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0364955A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0523065B2 (ja)
JPH05160349A (ja) 入力保護回路を具えた半導体装置
JPS63161658A (ja) 半導体集積回路装置
JPH09306999A (ja) 半導体装置
JP2822395B2 (ja) Ccd
JPH05129530A (ja) 半導体集積回路
JPH06120412A (ja) 半導体保護装置
JPH05283418A (ja) バイポーラ集積回路装置
JPS6083361A (ja) 半導体装置