JPS6127690B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6127690B2
JPS6127690B2 JP4375381A JP4375381A JPS6127690B2 JP S6127690 B2 JPS6127690 B2 JP S6127690B2 JP 4375381 A JP4375381 A JP 4375381A JP 4375381 A JP4375381 A JP 4375381A JP S6127690 B2 JPS6127690 B2 JP S6127690B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scale
light
stripes
graduation
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP4375381A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57157118A (en
Inventor
Satoshi Oomori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority to JP4375381A priority Critical patent/JPS57157118A/ja
Priority to DE19823210614 priority patent/DE3210614A1/de
Priority to GB8208682A priority patent/GB2095399B/en
Publication of JPS57157118A publication Critical patent/JPS57157118A/ja
Publication of JPS6127690B2 publication Critical patent/JPS6127690B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/36Forming the light into pulses
    • G01D5/38Forming the light into pulses by diffraction gratings

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光電式変位検出装置に係り、特に、
直線変位測定器に用いるに好適な、光源と、該光
源より光が照射され、相互作用により影像を形成
可能な目盛縞がそれぞれ形成された第1スケール
及び第2スケールと、該第1スケール及び第2ス
ケールにより形成された影像が投射され、該影像
と相互作用を営む目盛縞が形成された第3スケー
ルと、該第3スケールからの出射光を受光する受
光素子とを有し、第1、第3スケールと第2スケ
ール間の相対移動に伴なう受光量の変化から相対
変位量を検出する光電式変位検出装置の改良に関
する。
一般に、物体の長さ等を測定する直線変位測定
器において、その本体に対する測定子の移動量、
コラムに対するスライダーの移動量等のように、
相対移動するものの移動量を測定する場合、一方
にメインスケール、他方にインデツクススケール
を含む検出器を固定し、メインスケールと検出器
の相対変位量を光電的に読み取るものが知られて
いる。
このような直線変位測定器においては、通常、
第1図に示すような光電式変位検出装置が用いら
れている。図において、10はランプ等の光源、
12は、該光源10より照射された光を平行光線
化するためのコリメータレンズ、14及び16は
測定対象の変位に応じて、例えばインデツクスス
ケール14に対してメインスケール16を図の矢
印A方向に往復動することにより、互いに相対移
動される、交互に配置された同一幅の光透過部と
光遮断部から成る目盛縞14a,16aがガラス
製の平板上に形成されて成るインデツクススケー
ル及びメインスケール、18は、メインスケール
16からの出射光を集光する集光レンズ、20
は、該集光レンズ18によつて集光された光を受
光する受光素子であり、光源10、コリメータレ
ンズ12、インデツクススケール14、集光レン
ンズ18、受光素子20は、例えば、略密閉構造
のケース内に収容されて、測定対象に固定され、
一方、メインスケール16は、ベースに固定され
ている。前記目盛縞14a,16aは、例えば、
スケールの基体となるガラス製の平板上に金属を
蒸着した後、光透過部をエツチングで除去するこ
とにより、スケールの表面上に形成されている。
このような光電式変位検出装置を備えた直線変
位測定器によれば、測定対象とベースの相対変位
に応じて、インデツクススケール14等に対して
メインスケール16が変位すると、受光素子20
における受光量が周期的に変化するため、この受
光量の変化から、測定対象とベースの相対移動量
を検出できるものであり、測定対象の変位をデジ
タル的に測定できるという特徴を有する。
ところで、このような光電式変位検出装置にお
いて、その分解能を高めるためには、目盛縞14
a,16aの光透過部と光遮断部の幅を狭くし、
読み取り精度を向上するためには、目盛縞14a
と16aの対向間隔(第1図B)を小さくする必
要があり、目盛縞の光透過部と光遮断部の幅と目
盛縞の対向間隔Bは略比例する。従つて、所望分
解能を得るべく光透過部と光遮断部の幅を所望値
に選定した時には、これに対応する目盛縞の対向
間隔Bが自動的に定まつてしまう。又、目盛縞間
の対向間隔Bの基準間隔に対する変動許容値も対
向間隔Bに略比例する。例えば、目盛縞の光透過
部と光遮断部の幅がそれぞれ20μmである場合、
目盛縞の対向間隔Bを30±10μmの範囲内に維持
する必要があり、又、目盛縞の光透過部と光遮断
部の幅がそれぞれ10μmである場合には、目盛縞
の対向間隔Bを20±5μmの範囲内に維持する必
要がある。即ち、目盛縞の対向間隔Bをいかに正
確に維持できるかが前記のような光電式変位検出
装置の重要な技術的課題であつた。
従つて従来は、目盛縞14a,16aを、イン
デツクススケール14、メインスケール16のそ
れぞれスケール対向面側に形成し、インデツクス
スケール14とメインスケール16の対向面の間
隔を、摺動駒或いはコーテイング等により確保し
ていた。しかしながら、このような従来の方法で
は、基準間隔(例えば30μm)を設定することは
比較的容易であるが、スケールの熱的変形、機械
的歪み等の影響から、スケール間の対向間隔Bの
変動を微細なる変動許容値(例えば±10μm)に
維持することが極めて困難であつた。
前記従来の、インデツクススケール及びメイン
スケールの2個のスケールを用いた2スケール型
の光電式変位検出装置における前記のような欠点
を解消し、スケール間の対向間隔の変動許容値を
大きくするものとして、第2図に示す如く、光源
10より光が照射され、相互作用により影像を形
成可能な目盛縞22a,24aがそれぞれ形成さ
れた第1スケール22及び第2スケール24と、
該第1スケール22及び第2スケール24により
形成された影像が投射され、該影像と相互作用を
営む目盛縞26aが形成された第3スケール26
とを用いて、第1、第3スケール22,26と、
第2スケール24間の相対移動に伴なう受光素子
20の受光量の変位から相対変位量を検出する3
スケール型の光電式変位検出装置も提案されてい
る。このような、スケールを3個用いた光電式変
位検出装置によれば、例えば第1スケール22及
び第3スケール26における目盛縞22a,26
aの光透過部と光遮断部の幅をそれぞれ20μm、
第2スケール24における目盛縞24aの光透過
部と光遮断部の幅をそれぞれ10μmとし、第1ス
ケール22の目盛縞22aと第2スケール24の
目盛縞24aの間隔Cと第2スケール24の目盛
縞24aと第3スケール26の目盛縞26aの間
隔Dを等しく設定した場合、各間隔C,Dの基準
間隔を5〜7mm、その変動許容値を1mm程度迄大
きくできるものである。しかしながら、このスケ
ールが3個用いられている光電式変位検出装置に
おいては、各目盛縞間の間隔の変動許容値だけで
なく、その基準間隔も大となるので、第1スケー
ル22及び第3スケール26の目盛縞22a,2
6aを、従来のスケールが2個用いられている2
スケール型の光電式変位検出装置のように、各ス
ケールの第2スケール24と対向する内側面に形
成したのでは、通常厚さ1mm程度の第1スケール
22及び第3スケール26の厚みとも相俟つて、
スケール部分が大型化してしまい、特に小型の直
線変位測定器には容易に組込むことができないと
いう問題点を有した。
本発明は、従来の欠点を解消するべく成された
もので、スケール間の間隔の変動許容値が大き
く、しかも、小型の変位測定器に対する組み込み
も容易な光電式変位検出装置を提供することを目
的とする。
本発明は、光源と該光源より光が照射され、相
互作用により影像を形成可能な目盛縞がそれぞれ
形成された第1スケール及び第2スケールと、該
第1スケール及び第2スケールにより形成された
影像が投射され、該影像と相互作用を営む目盛縞
が形成された第3スケールと、該第3スケールか
らの出射光を受光する受光素子とを有し、第1、
第3スケールと第2スケール間の相対移動に伴な
う受光量の変化から相対変位量を検出する光電式
変位検出装置において、前記第1乃至第3スケー
ルをいずれも光透過性物質製とし、前記第3スケ
ールと第1スケールを共用化すると共に、前記光
源及び受光素子を、共に第1スケールと第2スケ
ールの第1スケール側に配置し、前記第1スケー
ルの目盛縞を該第1スケールの光源及び受光素子
側面に、前記第2スケールの目盛縞を該第2スケ
ールの第1スケールと対向しない第1スケール非
対向面に形成するようにして、前記目的を達成し
たものである。
又、前記光源、第1、第3スケール及び受光素
子を共に固定し、第2スケールを移動可能とした
ものである。
更に、前記スケールの目盛縞を光透過性保護部
材により被覆したものである。
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に
説明する。
本発明の比較例は、第3図に示す如く、光源1
0、コリメータレンズ12、光透過部と光遮断部
の幅がそれぞれ20μmである目盛縞22aが形成
される第1スケール22、光透過部と光遮断部の
幅がそれぞれ10μmである目盛縞24aが形成さ
れる第2スケール、光透過部と光遮断部の幅がそ
れぞれ20μmである目盛縞26aが形成される第
3スケール26、集光レンズ18、受光素子20
を有する3スケール型の透過型光電式変位検出装
置において、他のいずれのスケールとも対向しな
いスケール非対向面22b,26bを有する第1
スケール22、第3スケール26の目盛縞22
a,26bを、該第1スケール22及び第3スケ
ール26の前記スケール非対向面22b,26
b、即ち第1スケール22の受光素子10側面及
び、第3スケール26の受光素子20側面に形成
したものである。他の点については前記従来例と
同様であるので説明は省略する。
本比較例においては、第1スケール22及び第
3スケール26のガラスの厚み(通常それぞれ1
mm程度)が目盛縞22a,26aの間隔C,D内
に吸収されており、無駄な大型化が防止される。
これに対して、第2図に示したような従来の3ス
ケール型の透過型光電式変位検出装置において
は、第1スケール22及び第3スケール26の厚
みが、それぞれ第1スケール22の目盛縞22a
の外側、第3スケール26の目盛縞26aの外側
に位置することとなり、第1スケール22、第3
スケール26のガラスの厚み分だけ余計なスペー
スを必要としていた。又、各スケール間の間隔
C,Dの変動許容値については、3スケール型の
長所として、本実施例においても、1mm程度に拡
大されているので、該変動許容値の維持が極めて
容易である。
尚、各第1乃至第3スケール22〜26の目盛
縞22a,24a,26aが形成されている面を
それぞれ反射防止膜を兼ねた光透過性保護部材2
8により被覆することができる。この場合には、
各スケールの目盛縞が形成されている面の清掃が
容易となり、スケール表面に付着する塵埃等によ
る光遮蔽或いは摺動障害等の弊害を防止すること
ができる。
本発明の実施例を第4図に示す。本実施例は、
本発明を、光源10、反射鏡11、コリメータレ
ンズ12、第3スケールと共用化された、光透過
部と光遮断部の幅がそれぞれ20μmである目盛縞
30aが形成される第1スケール30、光透過部
と光反射部の幅がそれぞれ10μmである目盛縞3
2aが形成される、反射型の第2スケール32、
集光レンズ18、反射鏡19、受光素子20を有
する反射型の光電式変位検出装置に適用したもの
で、第3スケールと共用化された第1スケール3
0だけでなく、反射型の第2スケール32もガラ
ス等の光透過性物質製とすると共に、前記第1ス
ケール30の目盛縞30aを該第1スケールの光
源及び受光素子側面30bに、前記第2スケール
32の目盛縞32aを該第2スケール32の第1
スケール30と対向しない第1スケール非対向面
32bに形成したものである。本実施例において
も、前記比隔例と同様に、第1スケール30及び
第2スケール32の目盛縞30a,32aが形成
されている面が、反射防止膜を兼ねた光透過性保
護部材28によつて被覆されている。
本実施例においては、第3スケールが第1スケ
ール30と共用化されて省略されてると共に、第
1スケール30の目盛縞30aと第2スケール3
2の目盛縞32bの間隔E内に、第1スケール3
0の厚み(通常1mm程度)及び第2スケール32
の厚み(通常2〜5mm程度)が吸収されるので、
第1図に示したような従来の2スケール型の透過
型光電式変位検出装置の場合におけるインデツク
ススケール14の光源10側面14bとメインス
ケール16の受光素子20側面16bの間隔F
(第1図)とほぼ変わらない厚さの中に第1スケ
ール30及び第2スケール32を収容できる。従
つて、従来の2スケール型の透過型光電式変位検
出装置に比べても殆んど装置を大型化することな
く、目盛縞30bと32b間の間隔Eの変動許容
値のみを約1mm程度と大幅に拡大できるものであ
る。
更に、本実施例においても、前記比較例と同様
に、第1スケール30及び第2スケール32の目
盛縞30a,32aが光透過性保護部材28によ
り保護されているので、各スケールの目盛縞が形
成されている面の清掃が容易となり、スケール表
面に付着する塵埃等による弊害を容易に防止でき
る。
尚前記比較例及び実施例においては、いずれ
も、第1、第3スケールの目盛縞の光透過部と光
遮断部の幅が20μmとされ、第2スケールの目盛
縞の光透過部と光遮断部の幅が10μmとされてい
たが、各スケールの目盛縞の光透過部の幅の絶対
値及びその相対的な関係(2:1:2)はこれに
限定されるものでなく、第1スケール及び第2ス
ケールに形成された目盛縞により影像が形成さ
れ、又、該影像と第3スケールに形成された目盛
縞が相互作用を営むことができるものであれば、
他の絶対値或いは相対関係であつても構わない。
尚前記比較例及び実施例においては、いずれ
も、第1乃至第3スケールがガラス製とされてい
たが、第1乃至第3スケールの材質はこれに限定
されず、例えばアクリルル樹脂等の他の光透過性
物質製とすることも可能である。
以上説明した通り、本発明によれば、従来の2
スケール型の透過型光電式変位検出装置に比べて
も、装置を殆ど大型化することなく、目盛縞の基
準間隔と変動許容値の関係を改善することがで
き、変動許容値のみを大幅に大きくすることがで
きる。従つて、装置の製造、調整等が極めて容易
となる。又、スケール対向面に目盛縞が形成され
ていないので、スケールに対向面の清掃が容易で
あり、スケール間に侵入する塵埃による弊害を容
易に防止することができる等の優れた効果を有す
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の2スケール型の透過型光電式変
位検出装置の原理を示す断面図、第2図は、同じ
く従来の3スケール型の透過型光電式変位検出装
置の原理を示す断面図、第3図は、本発明の比較
例の構成を示す断面図、第4図は、本発明に係る
光電式変位検出装置の実施例の構成を示す断面図
である。 10……光源、20……受光素子、22,30
……第1スケール、24,32……第2スケー
ル、26……第3スケール、22a,24a,2
6a,30a,32a……目盛縞、22b,26
b……スケール非対向面、30b……光源及び受
光素子側面、32b……第1スケール非対向面、
28……光透過性保護部材。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源と、該光源より光が照射され、相互作用
    により影像を形成可能な目盛縞がそれぞれ形成さ
    れた第1スケール及び第2スケールと、該第1ス
    ケール及び第2スケールにより形成された影像が
    投射され、該影像と相互作用を営む目盛縞が形成
    された第3スケールと、該第3スケールからの出
    射光を受光する受光素子とを有し、第1、第3ス
    ケールと第2スケール間の相対移動に伴なう受光
    量の変化から相対変位量を検出する光電式変位検
    出装置において、前記第1乃至第3スケールがい
    ずれも光透過性物質性とされ、前記第3スケール
    と第1スケールが共用化されると共に、前記光源
    及び受光素子が、共に第1スケールと第2スケー
    ルの第1スケール側に配置され、前記第1スケー
    ルの目盛縞が該第1スケールの光源及び受光素子
    側面に、前記第2スケールの目盛縞が該第2スケ
    ールの第1スケールと対向しない第1スケール非
    対向面に形成されていることを特徴とする光電式
    変位検出装置。 2 前記光源、第1、第3スケール及び受光素子
    が共に固定され、第2スケールが移動可能とされ
    ている特許請求の範囲第1項に記載の光電式変位
    検出器。 3 前記スケールの目盛縞が光透過性保護部材に
    より被覆されている特許請求の範囲第1項に記載
    の光電式変位検出装置。
JP4375381A 1981-03-24 1981-03-24 Photoelectric type displacement detecting device Granted JPS57157118A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4375381A JPS57157118A (en) 1981-03-24 1981-03-24 Photoelectric type displacement detecting device
DE19823210614 DE3210614A1 (de) 1981-03-24 1982-03-23 Fotoelektrische verschiebungsmessvorrichtung
GB8208682A GB2095399B (en) 1981-03-24 1982-03-24 Photoelectrical displacement-measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4375381A JPS57157118A (en) 1981-03-24 1981-03-24 Photoelectric type displacement detecting device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57157118A JPS57157118A (en) 1982-09-28
JPS6127690B2 true JPS6127690B2 (ja) 1986-06-26

Family

ID=12672520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4375381A Granted JPS57157118A (en) 1981-03-24 1981-03-24 Photoelectric type displacement detecting device

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPS57157118A (ja)
DE (1) DE3210614A1 (ja)
GB (1) GB2095399B (ja)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4478290A (en) * 1981-08-26 1984-10-23 Orthwein William G Anti-buckling device for mine-roof bolting machines
JPS5987318A (ja) * 1982-11-10 1984-05-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光電式位置検出器
DE3325803C2 (de) * 1983-07-16 1986-11-20 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Inkrementale, lichtelektrische Meßeinrichtung
JPS60161523A (ja) * 1984-02-02 1985-08-23 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 三次元測定機
US4684257A (en) * 1984-02-02 1987-08-04 Mitutoyo Mfg. Measuring instrument
GB8413955D0 (en) * 1984-05-31 1984-07-04 Pa Consulting Services Displacement measuring apparatus
GB2161262A (en) * 1984-07-05 1986-01-08 Co Operative Technology Ltd Digital instrumentation apparatus for the linear air-track
GB8432574D0 (en) * 1984-12-22 1985-02-06 Renishaw Plc Opto-electronic scale-reading apparatus
GB2181267A (en) * 1985-10-10 1987-04-15 Shibuya Kogyo Co Ltd Device for cooling reflecting mirror
GB8615196D0 (en) * 1986-06-21 1986-07-23 Renishaw Plc Opto-electronic scale reading apparatus
IN168444B (ja) * 1986-08-15 1991-04-06 Mitutoyo Mfg Co Ltd
US4943716A (en) * 1988-01-22 1990-07-24 Mitutoyo Corporation Diffraction-type optical encoder with improved detection signal insensitivity to optical grating gap variations
JPH07888Y2 (ja) * 1988-02-22 1995-01-11 株式会社ミツトヨ 光学式変位検出器
DE3823314A1 (de) * 1988-07-09 1990-01-11 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Lichtelektrische positionsmesseinrichtung
US5021649A (en) * 1989-03-28 1991-06-04 Canon Kabushiki Kaisha Relief diffraction grating encoder
DE4132941C2 (de) * 1990-10-20 1994-02-24 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Interferentielle Meßeinrichtung für wenigstens eine Meßrichtung
US5424833A (en) * 1992-09-21 1995-06-13 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Interferential linear and angular displacement apparatus having scanning and scale grating respectively greater than and less than the source wavelength
EP0590163B1 (de) * 1992-09-21 1996-01-03 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Längen- oder Winkelmesseinrichtung
DE59204951D1 (de) * 1992-09-21 1996-02-15 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Längen- oder Winkelmesseinrichtung
JPH0719965A (ja) * 1993-06-30 1995-01-20 Ando Electric Co Ltd 光波長計
ES2357016T3 (es) * 2009-03-02 2011-04-15 Fagor, S. Coop. Cabeza lectora para un dispositivo de lectura.
US9080899B2 (en) 2011-12-23 2015-07-14 Mitutoyo Corporation Optical displacement encoder having plural scale grating portions with spatial phase offset of scale pitch
US9029757B2 (en) 2011-12-23 2015-05-12 Mitutoyo Corporation Illumination portion for an adaptable resolution optical encoder
US9018578B2 (en) 2011-12-23 2015-04-28 Mitutoyo Corporation Adaptable resolution optical encoder having structured illumination and spatial filtering
DE102017201257A1 (de) 2017-01-26 2018-07-26 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1474049A (en) * 1974-01-12 1977-05-18 Leitz Ernst Gmbh Arrangement for the modulation of light
GB1504691A (en) * 1974-03-15 1978-03-22 Nat Res Dev Measurement apparatus
CH626169A5 (ja) * 1976-11-25 1981-10-30 Leitz Ernst Gmbh

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57157118A (en) 1982-09-28
GB2095399A (en) 1982-09-29
DE3210614A1 (de) 1982-10-14
DE3210614C2 (ja) 1987-08-13
GB2095399B (en) 1985-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6127690B2 (ja)
US4636076A (en) Displacement measuring apparatus and method
JP4266834B2 (ja) 光学エンコーダ
JPS63195513A (ja) 光学式非接触位置測定装置
CA1154585A (en) Photogrammetric measuring system
EP0234562B1 (en) Displacement sensor
US5559599A (en) Graduation scale having a continuous planar surface with a protective diffusion barrier layer thereon
JP3034899B2 (ja) エンコーダ
US4792695A (en) Contact-free measuring apparatus having an F-theta-corrected, catadioptric objective and method for using the same
JP7152159B2 (ja) 位置測定装置
JPS58135405A (ja) 光電式変位検出装置
JPS60161523A (ja) 三次元測定機
US3205768A (en) Optical element
JP2698446B2 (ja) 間隔測定装置
JPH0481612A (ja) 光学式エンコーダの目盛板及びこの目盛板を用いた光学式エンコーダ
Kolosov et al. Variants of nonmisadjustable optical systems of turning-angle sensors based on a BR-180° prism and a photoelectric autocollimator
JPH0638048B2 (ja) 反射型エンコーダ
JP2668948B2 (ja) 光センサー
JPH0543364Y2 (ja)
JPH044974Y2 (ja)
JP3429961B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPH0374769B2 (ja)
JP2003042807A (ja) エンコーダ装置
JPH0418252B2 (ja)
JPS6015127Y2 (ja) 光電式変位検出装置