JPS6124732B2 - - Google Patents
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- JPS6124732B2 JPS6124732B2 JP53138689A JP13868978A JPS6124732B2 JP S6124732 B2 JPS6124732 B2 JP S6124732B2 JP 53138689 A JP53138689 A JP 53138689A JP 13868978 A JP13868978 A JP 13868978A JP S6124732 B2 JPS6124732 B2 JP S6124732B2
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- JP
- Japan
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- parity
- package
- input
- circuit
- integrated circuit
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパツケージ、特に故障検出可能なパツ
ケージに関する。
ケージに関する。
従来、装置の故障を検出するには、パリテイチ
ツク回路やパリテイ有測回路のように機能単位に
故障を検出する回路を設けており、パツケージご
とには設けていなかつた。
ツク回路やパリテイ有測回路のように機能単位に
故障を検出する回路を設けており、パツケージご
とには設けていなかつた。
しかし、このような装置では、故障を検出した
後診断プログラムの実行などによりどのパツケー
ジの故障かを判断しなければならなかつたため、
平均故障修理時間が大きくなつていた。
後診断プログラムの実行などによりどのパツケー
ジの故障かを判断しなければならなかつたため、
平均故障修理時間が大きくなつていた。
これは、故障検出単位が、複数枚のパツケージ
にまたがる機能単位になつていたからである。
にまたがる機能単位になつていたからである。
本発明の目的は、複数のパツケージで構成され
た装置において、各パツケージ中の論理回路の入
出力端子2の故障を検出した時点で、故障検出表
示によりこれと1対1に対応したパツケージが故
障であるか否かを指摘することができるパツケー
ジを提供するものである。
た装置において、各パツケージ中の論理回路の入
出力端子2の故障を検出した時点で、故障検出表
示によりこれと1対1に対応したパツケージが故
障であるか否かを指摘することができるパツケー
ジを提供するものである。
本発明のパツケージは、論理回路と、この論理
回路の入出力信号がそれぞれ偶数個に分岐して供
給されるパリテイ発生回路とで構成される。
回路の入出力信号がそれぞれ偶数個に分岐して供
給されるパリテイ発生回路とで構成される。
本発明は、パツケージ中の論理回路への入出力
信号及び出力信号がそれぞれ偶数個所でパリテイ
発生回路の入力となれば、奇数個の故障(単一故
障も含む)が発生すれば、そのパツケージ内で発
生するパリテイ信号は必ず奇数になるので故障検
出が可能になるという原理に基いている。
信号及び出力信号がそれぞれ偶数個所でパリテイ
発生回路の入力となれば、奇数個の故障(単一故
障も含む)が発生すれば、そのパツケージ内で発
生するパリテイ信号は必ず奇数になるので故障検
出が可能になるという原理に基いている。
次に、本発明の実枝例について図面を参照して
説明する。
説明する。
まず、本発明の理解を容易にするために、最も
簡単な実施例について説明する。
簡単な実施例について説明する。
第1図は本発明による故障検出可能なパツケー
ジの一実施例を示すブロツク図である。
ジの一実施例を示すブロツク図である。
パツケージ80には、論理回路20と、パリテ
イ発生回路30とが塔載されており、パツケージ
入力端子91,92に供給された信号が論理回路
20で処理され、処理結果がパツケージ出力端子
93,94から出力されることにより、所要の論
理機能がパツケージ80で達成される。
イ発生回路30とが塔載されており、パツケージ
入力端子91,92に供給された信号が論理回路
20で処理され、処理結果がパツケージ出力端子
93,94から出力されることにより、所要の論
理機能がパツケージ80で達成される。
しかし、このようにパツケージではパツケージ
入力端子91,92に正常な信号が与えられ、論
理回路20も正常であつても、正常の出力信号が
パツケージ出力端子93,94に与えられるとは
限らない。すなわち、パツケージ入力端子91,
92およびパツケージ出力端子93,94と論理
回路20との接続が正常でない場合は正常な出力
信号が得られず、故障となる。パリテイ発生回路
30は、このような故障を検出しようとするもの
で、論理回路20に供給されるパツケージ入力端
子91,92の信号は入力信号線141,142
でともに偶数(本例ではともに2個)に分岐され
パリテイ発生回路30に供給される。また、この
パリテイ発生回路30には、論理回路20からパ
ツケージ出力端子93,94に出力される信号が
出力信号線251,351でともに偶数に分岐さ
れ供給される。
入力端子91,92に正常な信号が与えられ、論
理回路20も正常であつても、正常の出力信号が
パツケージ出力端子93,94に与えられるとは
限らない。すなわち、パツケージ入力端子91,
92およびパツケージ出力端子93,94と論理
回路20との接続が正常でない場合は正常な出力
信号が得られず、故障となる。パリテイ発生回路
30は、このような故障を検出しようとするもの
で、論理回路20に供給されるパツケージ入力端
子91,92の信号は入力信号線141,142
でともに偶数(本例ではともに2個)に分岐され
パリテイ発生回路30に供給される。また、この
パリテイ発生回路30には、論理回路20からパ
ツケージ出力端子93,94に出力される信号が
出力信号線251,351でともに偶数に分岐さ
れ供給される。
これによつて、パリテイ発生回路30では、ど
の信号も偶数個づつ供給されるため、排他的論理
和は各信号について論理“0”となり、パツケー
ジパリテイ出力端子95には、常に論理“0”が
出力されることになる。
の信号も偶数個づつ供給されるため、排他的論理
和は各信号について論理“0”となり、パツケー
ジパリテイ出力端子95には、常に論理“0”が
出力されることになる。
ここでパツケージ入力端子91と論理回路20
との間で故障があり、パリテイ発生回路30には
入力信号線141から分岐される2つの信号の一
方しか入力されなかつたとすれば、この信号は排
他的論理和回路で構成されるパリテイ発生回路で
相殺されずに残るため、論理“1”信号が発生
し、パツケージパリテイ出力端子95に論理値
“1”が発生して、このパツケージに故障がある
ことが検出される。
との間で故障があり、パリテイ発生回路30には
入力信号線141から分岐される2つの信号の一
方しか入力されなかつたとすれば、この信号は排
他的論理和回路で構成されるパリテイ発生回路で
相殺されずに残るため、論理“1”信号が発生
し、パツケージパリテイ出力端子95に論理値
“1”が発生して、このパツケージに故障がある
ことが検出される。
なお、ここで、入力されなかつた場合常に論理
“0”が与えられる構成になつている場合、入力
される方の論理信号は論理“0”、論理“1”の
いずれもあるが、検出は論理“1”が与えられた
ときになされる。
“0”が与えられる構成になつている場合、入力
される方の論理信号は論理“0”、論理“1”の
いずれもあるが、検出は論理“1”が与えられた
ときになされる。
すなわち、パリテイ発生回路に偶数に分岐され
た信号が供給されると、論理“0”と論理“0”
との排他的論理和も、論理“1”と論理“1”の
排他的論理和もともにその出力は論理“0”とな
る。これは2個でなくとも4個に分岐されてもあ
るいは6個、8個に分岐されても同一であり、偶
数に分岐されれば、いつもこのようになる。
た信号が供給されると、論理“0”と論理“0”
との排他的論理和も、論理“1”と論理“1”の
排他的論理和もともにその出力は論理“0”とな
る。これは2個でなくとも4個に分岐されてもあ
るいは6個、8個に分岐されても同一であり、偶
数に分岐されれば、いつもこのようになる。
次により実際的なパツケージについて第2図を
参照して説明する。
参照して説明する。
第2図は第1図に示す論理回路20が論理回路
120,220,320に分割され、また、第1
図に示すパリテイ発生回路30がパリテイ発生回
路130,230,330に分割されたものであ
るが、これは何分割されてもよいものである。
120,220,320に分割され、また、第1
図に示すパリテイ発生回路30がパリテイ発生回
路130,230,330に分割されたものであ
るが、これは何分割されてもよいものである。
パツケージ80は、集積回路110,210,
310と該パツケージに入力されるパツケージ入
力端子91,92と該パツケージから出力される
パツケージ出力端子93,94およびパツケージ
パリテイ出力端子95からなる。
310と該パツケージに入力されるパツケージ入
力端子91,92と該パツケージから出力される
パツケージ出力端子93,94およびパツケージ
パリテイ出力端子95からなる。
集積回路110,210,310はいずれも論
理回路と、これらの論理回路の入出力信号が供給
されるパリテイ発生回路を含んだ例である。
理回路と、これらの論理回路の入出力信号が供給
されるパリテイ発生回路を含んだ例である。
例えば、集積回路210は、論理回路220と
該論理回路220の第1の入力となる集積回路入
力端子241と第2の入力となる集積回路入力端
子242と該論理回路の出力となる集積回路出力
端子251と、集積回路パリテイ入力端子26
1,262と前記端子241,242,251,
252,261,262から供給される信号のパ
リテイ信号が発生させるパリテイ発生回路230
とその出力となる集積回路パリテイ出力端子27
1からなる。なお、集積回路110,210,3
10の入出力端子数及び論理回路120,22
0,320で達成される論理機能は必ずしも同一
である必要はない。
該論理回路220の第1の入力となる集積回路入
力端子241と第2の入力となる集積回路入力端
子242と該論理回路の出力となる集積回路出力
端子251と、集積回路パリテイ入力端子26
1,262と前記端子241,242,251,
252,261,262から供給される信号のパ
リテイ信号が発生させるパリテイ発生回路230
とその出力となる集積回路パリテイ出力端子27
1からなる。なお、集積回路110,210,3
10の入出力端子数及び論理回路120,22
0,320で達成される論理機能は必ずしも同一
である必要はない。
次に、第2図を用いて本発明による故障検出の
動作について説明する。通常機能の動作として
は、パツケージ入力端子91,92からの論理入
力信号がそれぞれ集積回路110,210の集積
回路入力端子141,242と142に入力さ
れ、論理回路120,220,320で論理的な
処理がなされ、その結果がパツケージ出力端子9
3,94に出力される。
動作について説明する。通常機能の動作として
は、パツケージ入力端子91,92からの論理入
力信号がそれぞれ集積回路110,210の集積
回路入力端子141,242と142に入力さ
れ、論理回路120,220,320で論理的な
処理がなされ、その結果がパツケージ出力端子9
3,94に出力される。
これらの通常機能として使用される集積回路1
10,210,310の集積回路入出力端子14
1,142,241,242,251,341,
342,351の故障を検出する為に、パツケー
ジ入力端子91,92と各集積回路110,21
0,310の集積回路出力端子151,251,
351の信号のうち奇数個の信号がパリテイ発生
回路130,230,330のいずれかへ入力さ
れているもの(すなわち端子92,151,35
1の信号)を偶数個の信号になるようにどこかの
集積回路の集積回路パリテイ入力端子(自分自身
のでもよい)へ接続し、必ず偶数個所でパリテイ
ジエネレートされるように回路を構成する。すな
わちパツケージ入力端子92を集積回路パリテイ
入力端子362へ、集積回路出力端子261,3
63へ接続している。
10,210,310の集積回路入出力端子14
1,142,241,242,251,341,
342,351の故障を検出する為に、パツケー
ジ入力端子91,92と各集積回路110,21
0,310の集積回路出力端子151,251,
351の信号のうち奇数個の信号がパリテイ発生
回路130,230,330のいずれかへ入力さ
れているもの(すなわち端子92,151,35
1の信号)を偶数個の信号になるようにどこかの
集積回路の集積回路パリテイ入力端子(自分自身
のでもよい)へ接続し、必ず偶数個所でパリテイ
ジエネレートされるように回路を構成する。すな
わちパツケージ入力端子92を集積回路パリテイ
入力端子362へ、集積回路出力端子261,3
63へ接続している。
さらに、集積回路パリテイ出力端子をどこかの
集積回路パリテイ入力端子(自分自身を除く)へ
接続していくと、最終的に1つだけ残つた集積回
路パリテイ出力端子がこのパツケージ内の信号の
パリテイ信号を示すことになる。すなわち、集積
回路パリテイ出力端子171,271をそれぞれ
集積回路パリテイ入力端子262,361に接続
し、集積回路パリテイ出力端子371をパツケー
ジ内で配線された全信号のパリテイ信号としてパ
ツケージパリテイ出力端子95に接続している。
集積回路パリテイ入力端子(自分自身を除く)へ
接続していくと、最終的に1つだけ残つた集積回
路パリテイ出力端子がこのパツケージ内の信号の
パリテイ信号を示すことになる。すなわち、集積
回路パリテイ出力端子171,271をそれぞれ
集積回路パリテイ入力端子262,361に接続
し、集積回路パリテイ出力端子371をパツケー
ジ内で配線された全信号のパリテイ信号としてパ
ツケージパリテイ出力端子95に接続している。
このように構成した回路において、いま、集積
回路110の集積回路出力端子151が故障した
場合、パリテイ発生回路群への奇数個の入力端子
(この例では、集積回路入力端子241,342
と集積回路パリテイ入力端子261の3個)が異
常な値を示すことになる。
回路110の集積回路出力端子151が故障した
場合、パリテイ発生回路群への奇数個の入力端子
(この例では、集積回路入力端子241,342
と集積回路パリテイ入力端子261の3個)が異
常な値を示すことになる。
なお、正常動作中は、各信号が偶数個所でパリ
テイビツトが発生されるように回路が構成されて
いるので、次の関数が成立することは明らかであ
る。
テイビツトが発生されるように回路が構成されて
いるので、次の関数が成立することは明らかであ
る。
(端子151のLSI内の値)(端子241,
342,261のパリテイ)(端子151,2
41,342,261以外の全端子のパリテイ)
=“0” つまり、パツケージ内の全信号のパリテイを示
すパリテイ出力端子371は正常動作時は、常に
“0”を示している。
342,261のパリテイ)(端子151,2
41,342,261以外の全端子のパリテイ)
=“0” つまり、パツケージ内の全信号のパリテイを示
すパリテイ出力端子371は正常動作時は、常に
“0”を示している。
また、前記関係式において、正常時には、
(端子151のLSI内の値)(端子241,
342,261のパリテイ)=“0” になることも容易にわかる。
342,261のパリテイ)=“0” になることも容易にわかる。
しかし端子151が故障して、端子241,3
42,261が常に固定的な値を示す状態になる
と、端子151のLSI内の値が前記固定的な値と
逆の値になつたときに (端子151のLSI内の値)(端子241,
342,261のパリテイ)=“1” となり、端子371が“1”となつて故障が検出
されることになる。
42,261が常に固定的な値を示す状態になる
と、端子151のLSI内の値が前記固定的な値と
逆の値になつたときに (端子151のLSI内の値)(端子241,
342,261のパリテイ)=“1” となり、端子371が“1”となつて故障が検出
されることになる。
またここでは、集積回路110の集積回路出力
端子151の故障を例にとつて説明したが、パツ
ケージのパリテイ信号を示す集積回路パリテイ出
力端子371を除くどの集積回路の入出力端子が
故障しても、同様に故障が検出されるのはいうま
でもない。
端子151の故障を例にとつて説明したが、パツ
ケージのパリテイ信号を示す集積回路パリテイ出
力端子371を除くどの集積回路の入出力端子が
故障しても、同様に故障が検出されるのはいうま
でもない。
従つて、集積回路パリテイ出力端子371(つ
まりパツケージパリテイ出力端子95)を常に監
視しておけば、この端子の値が“1”になつたと
きにそのパツケージが故障したと判断できること
になる。
まりパツケージパリテイ出力端子95)を常に監
視しておけば、この端子の値が“1”になつたと
きにそのパツケージが故障したと判断できること
になる。
なお、通常、装置が複数のパツケージで構成さ
れるので、どのパツケージで故障を検出したかを
示すために各パツケージのパリテイ信号(すなわ
ち、パツケージパリテイ出力端子95の出力)
を、保守パネルへ表示したり、割込により報告さ
れた自分自身または他の装置のプログラムにより
操作員へ通知することなどが必要になるが、これ
らの処理は従来の通常の技術で容易に実現できる
ことは明らかである。
れるので、どのパツケージで故障を検出したかを
示すために各パツケージのパリテイ信号(すなわ
ち、パツケージパリテイ出力端子95の出力)
を、保守パネルへ表示したり、割込により報告さ
れた自分自身または他の装置のプログラムにより
操作員へ通知することなどが必要になるが、これ
らの処理は従来の通常の技術で容易に実現できる
ことは明らかである。
また以上の説明では集積回路の個数を3個とし
て説明したが、集積回路の個数がいくつであつて
も同様のことがいえることは明らかである。
て説明したが、集積回路の個数がいくつであつて
も同様のことがいえることは明らかである。
さらにパリテイ発生回路の出力は偶数パリテイ
ビツトを発生させるものとして説明しているが、
奇数パリテイビツト発生回路においても容易に実
現できることは明らかである。ただし、パツケー
ジ内の集積回路が奇数個のときは、どこかの1つ
の集積回路パリテイ入力端子を固定的に“1”に
設定しておく必要がある。
ビツトを発生させるものとして説明しているが、
奇数パリテイビツト発生回路においても容易に実
現できることは明らかである。ただし、パツケー
ジ内の集積回路が奇数個のときは、どこかの1つ
の集積回路パリテイ入力端子を固定的に“1”に
設定しておく必要がある。
本発明は以上説明したように、集積回路の全入
出力端子のパリテイを発生するパリテイ発生回路
に、1信号は必ず偶数個所でパリテイ発生回路へ
入力されるようにパツケージを構成することによ
り、論理回路の入出力端子故障の検出をパツケー
ジ単位で行うことが可能になるという効果があ
る。
出力端子のパリテイを発生するパリテイ発生回路
に、1信号は必ず偶数個所でパリテイ発生回路へ
入力されるようにパツケージを構成することによ
り、論理回路の入出力端子故障の検出をパツケー
ジ単位で行うことが可能になるという効果があ
る。
また、パリテイ発生回路への入力の一要素とな
る集積回路への集積回路パリテイ入力端子を設け
て各集積回路にパリテイ発生機能を分散すること
により、特別なパリテイビツト発生専用の集積回
路が不要になるという効果がある。
る集積回路への集積回路パリテイ入力端子を設け
て各集積回路にパリテイ発生機能を分散すること
により、特別なパリテイビツト発生専用の集積回
路が不要になるという効果がある。
なお、故障発生時に即座に故障を検出するので
間欠故障の検出、診断にも適用できるという効果
がある。
間欠故障の検出、診断にも適用できるという効果
がある。
第1図は、本発明によるパツケージの一実施例
を示すブロツク図、第2図は、第1図に示す機能
回路およびパリテイ発生回路を複数に分割したと
きのブロツク図である。 図において、80……パツケージ、110,21
0,310……集積回路、20,120,22
0,320……論理回路、30,130,23
0,330……パリテイ発生回路、91,92…
…パツケージ入力端子、93,94……パツケー
ジ出力端子、95……パツケージパリテイ出力端
子、141,142,241,242,341,
342……集積回路入力端子、151,251,
351……集積回路出力端子、161,261,
262,361,362……集積回路パリテイ入
力端子、171,271,371……集積回路パ
リテイ出力端子、である。
を示すブロツク図、第2図は、第1図に示す機能
回路およびパリテイ発生回路を複数に分割したと
きのブロツク図である。 図において、80……パツケージ、110,21
0,310……集積回路、20,120,22
0,320……論理回路、30,130,23
0,330……パリテイ発生回路、91,92…
…パツケージ入力端子、93,94……パツケー
ジ出力端子、95……パツケージパリテイ出力端
子、141,142,241,242,341,
342……集積回路入力端子、151,251,
351……集積回路出力端子、161,261,
262,361,362……集積回路パリテイ入
力端子、171,271,371……集積回路パ
リテイ出力端子、である。
Claims (1)
- 1 論理回路と、前記論理回路に供給される入力
信号および前記論理回路の処理結果である出力信
号がそれぞれ偶数の信号に分岐され供給されたこ
れらの信号からパリテイ信号を発生するパリテイ
発生回路とを含むことを特徴とする故障検出可能
なパツケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13868978A JPS5566030A (en) | 1978-11-10 | 1978-11-10 | Package of fault detection capability |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13868978A JPS5566030A (en) | 1978-11-10 | 1978-11-10 | Package of fault detection capability |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5566030A JPS5566030A (en) | 1980-05-19 |
JPS6124732B2 true JPS6124732B2 (ja) | 1986-06-12 |
Family
ID=15227804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13868978A Granted JPS5566030A (en) | 1978-11-10 | 1978-11-10 | Package of fault detection capability |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5566030A (ja) |
-
1978
- 1978-11-10 JP JP13868978A patent/JPS5566030A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5566030A (en) | 1980-05-19 |
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