JPS61246933A - デイスク装置 - Google Patents

デイスク装置

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JPS61246933A
JPS61246933A JP8774885A JP8774885A JPS61246933A JP S61246933 A JPS61246933 A JP S61246933A JP 8774885 A JP8774885 A JP 8774885A JP 8774885 A JP8774885 A JP 8774885A JP S61246933 A JPS61246933 A JP S61246933A
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JP
Japan
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light
signal
detection
supplied
circuit
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JP8774885A
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English (en)
Inventor
Mikio Yamamuro
美規男 山室
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、たとえば集束光を用い光ディスクに対して
情報の記録あるいは再生を行う光デイスク装置などのデ
ィスク装置に関する。
[発明の技術的背景] 近年、多層に発生する文書などの画像情報を2次元的な
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーあるいはソフトコと−とし
て再生出力し得る画像情報ファイル装置における画像記
録装置として最近、光デイスク装置が用いられている。
従来、このような光デイスク装置にあっては、スパイラ
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにより情報の記録あるいは再生が行われるようにな
っている。このような装置では、光学ヘッドにおける対
物レンズのフォー力ッシングあるいはトラッキングを行
う場合、取付は誤差等により適正な位置にビームが照射
されない。このため、フォー力ッシング用の2種類の検
出信号の差を取り、その信号差に応じた電流を対物レン
ズ駆動用のボイスコイルに流すことにより、対物レンズ
を合焦点位置に駆動するようになっている。また、トラ
ッキング用の2種類の検出信号の差を取り、それらの信
号差に応じた電流を対物レンズ駆動用のコイルに流すこ
とにより、対物レンズを正しいトラック位置に駆動する
ようになっている。
この場合、フォー力ツシング制御、トラッキング制御を
行う際、それらが記録時、再生時に光ディスクからの反
射信号の検出レベルが異なった場合に対しても、安定に
動作させるために、駆動信号を正規化する割算器が用い
られている。また、検出器の感度誤差、取付は位置によ
る誤差などの物理的誤差を補正するために、オフセット
補正電圧を駆動信号に加えるようになっている。
[背景技術の問題点] しかしながら、上記のような装置では、オフセット補正
電圧「ΔY」が差信号rX−YJに加えらた後に正規化
rx−y−ΔY/X+Y+ΔY」されているため、オフ
セット補正電圧の持つ物理的意味が、正規化信号の値に
よって変化してしまうという欠点があった。すなわち、
最初の設定では「1ボルト」の変化が「1ミクロン」の
駆動であるのに対して、状況により「1ボルト」の変化
が「0.1ミクロン」の駆動などに変化してしまい、適
正な補正ができなかった。したがって、正確なフォー力
ツシング、トラッキングを行うことができないという欠
点があった。
[発明の目的] この発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、正確なフォー力ツシング、トラッキン
グを行うことができるディスク装置を提供することにあ
る。
[発明の概要] この発明は、上記目的を達成するために、集束光を用い
ディスクに対して情報の記録あるいは再生を行うものに
おいて、光源から発せられた光を集積手段を用いて上記
ディスク上に集束し、上記ディスクで反射した光を用い
て少なくとも2種類の信号を検出し、この検出した検出
信号を正規化手段で正規化し、この正規化後、基準電圧
を加え、この基準電圧が加えられる検出信号により上記
集束手段を駆動するようにしたものである。
[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図面を参照しながら説明す
る。
図面は、この発明の光デイスク装置の概略構成を示すも
のである。すなわち、光ディスク1は、モータ(図示し
ない)によって光学ヘッド3に対して、線速一定で回転
駆動されるようになっている。上記光ディスク1は、た
とえばガラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成
された基板の表面に、テルルあるいはビスマスなどの金
属被膜層がドーナツ形にコーティングされている。上記
光ディスク1の裏側には、情報の記録、再生を行うため
の光学ヘッド3が設けられている。この光学ヘッド3は
、次のように構成される。すなわち、11は半導体レー
ザ(光源)であり、この半導体レーザ11からは発散性
のレーザ光りが発生される。この場合、情報を上記光デ
ィスク1の記録膜1aに書き込む(記録)に際しては、
書き込むべき情報に応じてその光強度が変調されたレー
ザ光りが発生され、情報を光ディスク1の記録膜1aか
ら読み出す(再生)際には、一定の光強度を有するレー
ザ光りが発生される。
そして、半導体レーザ11から発生された発散性のレー
ザ光りは、コリメータレンズ13によって平行光束に変
換され、偏光ビームスプリッタ14に導かれる。この偏
光ビームスプリッタ14に導かれたレーザ光りは、この
偏光ビームスプリッタ14を通過した後、1/4波長板
15を通過して対物レンズ16に入射され、この対物レ
ンズ16によって光ディスク1の記録膜1aに向けて集
束される。ここで、対物レンズ16は、その光軸方向お
よび光軸と直交する方向にそれぞれ移動可能に支持され
ており、対物レンズ16が所定位置に位置されると、こ
の対物レンズ16から発せられた集束性のレーザ光りの
ビームウェストが光ディスク1の記録膜1aの表面上に
投射され、最小ビームスポットが光ディスク1の記録1
11aの表面上に形成される。この状態において、対物
レンズ16は合焦状態および合トラック状態に保たれ、
情報の書き込みおよび読み出しが可能となる。
また、光ディスク1の記録111aから反射された発散
性のレーザ光りは、合焦時には対物レンズ16によって
平行光束に変換され、再び1/4波長板15を通過して
偏光ビームスプリッタ14に戻される。レーザ光りが1
/4波長板15を往復することによって、このレーザ光
しは偏光ビームスプリッタ14を通過した際に比べて偏
波面が90度回転しており、この90度だけ偏波面が回
転したレーザ光りは、偏光ビームスプリッタ14を通過
せずに、この偏光ビームスプリッタ14で反射される。
そして、偏光ビームスプリッタ14で反射したレーザ光
りはハーフミラ−17によって2系統に分けられ、その
一方(トラックずれ検出系)のレーザ光しは第1の投射
レンズ18によって第1の光検出器19上に照射される
。この第1の光検出器19は、第1の投射レンズ18に
よって結像される光を、電気信号に変換する光検出セル
19a、19bによって構成されている。これらの光検
出セル19a、19bによって出力される信号としては
、それぞれγ信号、β信号が出力されるようになってい
る。
一方、ハーフミラ−17によって分けられた他方(焦点
ぼけ検出系)のレーザビームLは、ナイフエッチ(光抜
出し部材)20によって光軸から離間した領域を通過す
る成分のみ抜出され、第2の投射レンズ21を通過した
後筒2の光検出器22上に照射される。この第2の光検
出器22は、第2の投射レンズ21によって結像される
光を、電気信号に変換する光検出セル22a、22bに
よって構成されている。これらの光検出セル22a、2
2bによって出力される信号としては、それぞれα信号
、β信号が出力されるようになっている。
上記光学ヘッド3の出力のうち光検出セル19a、19
bの出力は、トラッキングずれ補正用および再生信号用
に用いられるようになっている。また、光検出セル22
a、22bの出力は、フォー力ッシング(焦点ぼけ)補
正用に用いられるようになっている。
また、光検出セル22a、22bの出力は、それぞれ増
幅器31.32に供給される。上記増幅器31の出力は
減算回路としての差動増幅器33の非反転入力端に供給
され、この差動増幅器33の反転入力端には上記増幅器
32の出力が供給される。また、上記増幅器31.32
の出力は加算回路としての加算器34の入力端に供給さ
れる。
上記差動増幅器33の出力および加算器34の出力は正
規化回路35に供給される。この正規化回路35は割算
回路(除算回路)によって構成され、差動増幅器33か
ら供給される信号を加算器34から供給される加算信号
で除算するものである。
たとえば、差信号「α−β」を加算信号「α+β」で除
算することにより、正規化信号 「α−β/α+β」つまり焦点ぼけ検出信号が得られる
ようになっている。これにより、記録時、再生時のよう
に、上記光検出器の検出レベルがレーザ光りの強度の違
いにより異なっている場合でも、常に所定の検出レベル
の信号が得られるようになっている。
上記正規化回路35の出力は加算器36の一端に供給さ
れ、この加算器36の他端には基準信号発生回路37か
ら基準信号が供給されている。上記基準信号発生回路3
7は、対物レンズ16によるビームスポット(フォーカ
ス位置)が最適位置となるようにするための、基準信号
としてのバイアス電圧(オフセット補正電圧)ΔXを出
力するものであり、その値は装置への設定時にセツテン
グされるようになっている。上記加算器36は、正規化
回路35からの焦点ぼけ検出信号に基準信号発生回路3
7から供給されるフォーカス位置のずれに対応したオフ
セット補正電圧を加えるものである。上記加算器36の
出力は位相補償回路38に供給される。この位相補償回
路38は、加算器36から供給される信号の位相が補償
され、駆動回路39に供給される。この駆動回路39は
、位相補償回路38から供給される信号に応じて、前記
対物レンズ16を光ディスク1の記録面1aに対して垂
直方向に駆動するコイル24に対応する電流を供給する
ことにより、対物レンズ16を駆動して焦点ぼけの補正
(フォーカス位置の補正)を行うものである。
また、光検出セル19a、19bの出力は、それぞれ増
幅器41.42に供給される。上記増幅器41の出力は
減算回路としての差動増幅器43の非反転入力端に供給
され、この差動増幅器43の反転入力端には上記増幅器
42の出力が供給される。また、上記増幅器41.42
の出力は加算回路としての加算器44の入力−に供給さ
れる。
上記差動増幅器43の出力および加算器44の出力は正
規化回路45に供給される。この正規化回路45は割算
回路(除算回路)によって構成され、差動増幅器43か
ら供給される信号を加算器44から供給される加算信号
で除算するものである。
たとえば、差信号「γ−δ」を加算信号「γ+δ」で除
算することにより、正規化信号 「γ−δ/γ+δ」つまりトラッキングずれ検出信号が
得られるようになっている。これにより、記録時、再生
時のように、上記光検出器の検出レベルがレーザ光りの
強度の違いにより異なっている場合でも、常に所定の検
出レベルの信号が得られるようになっている。
上記正規化回路45の出力は加算器46の一端に供給さ
れ、この加算器46の他端には基準信号発生回路47か
ら基準信号が供給されている。上記基準信号発生回路4
7は、対物レンズ16によるビームスポット(トラッキ
ング位置)が最適位置となるようにするための、基準信
号としてのバイアス電圧(オフセット補正電圧)Δyを
出力するものであり、その値は装置への設定時にセツテ
ングされるようになっている。上記加算器46は、正規
化回路45からのトラッキングずれ検出信号に基準信号
発生回路37から供給されるトラッキング位置のずれに
対応したオフセット補正電圧を加えるものである。上記
加算器46の出力は位相補償回路48に供給される。こ
の位相補償回路48は、加算器46から供給される信号
の位相が補償され、駆動回路49に供給される。この駆
動回路49は、位相補償回路48から供給される信号に
応じて、前記対物レンズ16を光ディスク1の記録面1
aに対して水平方向に駆動するコイル23ド対応する電
流を供給することにより、対物レンズ16を駆動してト
ラッキングずれの補正を行うものである。
次に、このような構成において動作を説明する。
たとえば今、半導体レーザ11から発生された発散性の
レーザ光りは、コリメータレンズ13によって平行光束
に変換され、偏光ビームスプリッタ14に導かれる。こ
の偏光ビームスプリッタ14に導かれたレーザ光しは、
この偏光ビームスプリッタ14を通過した後、1/4波
長板15を通過して対物レンズ16に入射され、この対
物レンズ16によって光ディスク1の記録膜1aに向け
て集束される。
この状態において、情報の記録を行う際には、強光度の
レーザ光束(記録ビーム光)の照射によって、光デイス
ク1上のトラックにビットが形成され、情報の再生を行
う際には、弱光度のレーザ光束(再生ビーム光)が照射
される。この再生ビーム光に対する光ディスク1からの
反射光は、対物レンズ16によって平行光束に変換され
、再び1/4波長板15を通過して偏光ビームスプリッ
タ14に戻される。レーザ光りが1/4波長板15を往
復することによって、このレーザ光しは偏光ビームスプ
リッタ14を通過した際に比べて偏波面が90度回転し
ており、この90度だけ偏波面が回転したレーザ光りは
、偏光ビームスプリッタ14を通過せずに、この偏光ビ
ームスプリンタ14で反射される。
そして、偏光ビームスプリッタ14で反射したレーザ光
りはハーフミラ−17によって2系統に分けられ、その
一方(トラックずれ検出系)のレーザビームしは第1の
投射レンズ18によって第1の光検出器19上に照射さ
れる。一方、ハーフミラ−17によって分けられた他方
(焦点ぼけ検出系)のレーザ光りは、ナイフエッチ(光
抜出し部材)20によって光軸から離間した領域を通過
する成分のみ抜出され、第2の投射レンズ21を通過し
た後筒2の光検出器22上に照射される。
したがって、光検出セル22a、22b、19a119
bから照射光に応じた信号が出力され、それらの信号が
それぞれ増幅器31.32.41.42に供給される。
このような状態において、フォー力ッシング動作につい
て説明する。すなわち、上記増幅器31.32からの信
号は差動増幅器33、加算器34に供給される。すると
、差動増幅器33は光検出セル22aからの検出信号と
、光検出セル22bからの検出信号との差を取ることに
より得られる信号(α−β)を正規化回路35に出力す
る。また、加算器34は光検出セル22aからの検出信
号と、光検出セル221)からの検出信号との和を取る
ことにより得られる信号(α+β)を正規化回路35に
出力する。これにより、正規化回路35は、差動増幅B
33から供給される差信号を、加算器34から供給され
る和信号で除算することにより得られる正規化信号(α
−β/α+β)つまり焦慮ぼけ検出信号が加算器36に
供給される。
したがって、加算!134は正規化回路35からの焦点
ぼけ検出信号にバイアス電圧〈オフセット補正電圧)Δ
Xを加えた信号 [(α−β/α+β)+ΔX]を位相補償回路35に出
力する。そして、上記信号は位相補償回路35で位相補
償され駆動回路39に供給される。
これにより、駆動回路39は位相補償回路38からの信
号に応じてコイル24に所定の電流を供給し、対物レン
ズ16を垂直方向に駆動して、フォー力ツシングを行う
。この結果、対物レンズ16によるビームスポットを、
対物レンズ16の機構的位置ずれが生じていたとしても
、上記バイアス電圧により補正することにより、フォー
カス位置に対する最適位置とすることができる。
また、トラッキング動作について説明する。すなわち、
上記増幅器41.42からの信号は差動増幅器43、加
算器44に供給される。すると、差動増幅器43は光検
出セル19aからの検出信号と、光検出セル19bから
の検出信号との差を取ることにより得られる信号(γ−
δ)を正規化回路45に出力する。また、加算器44は
光検出セル19aからの検出信号と、光検出セル19b
からの検出信号との和を取ることにより得られる信号(
γ+δ)を正規化回路45に出力する。これにより、正
規化回路45は、差動増幅器43から供給される差信号
を、加算器44から供給される和信号で除算することに
より得られる正規化信号(γ−δ/γ+δ)つまりトラ
ックずれ検出信号が加算器46に供給される。
したがって、加算器44は正規化回路45からのトラッ
クずれ検出信号にバイアス電圧(オフセット補正電圧)
Δyを加えた信号 「(γ−δ/γ+δ)+Δy」を位相補償回路45に出
力する。そして、上記信号は位相補償回路45で位相補
償され駆動回路49に供給される。
これにより、駆動回路49は位相補償回路48からの信
号に応じてコイル23に所定の電流を供給し、対物レン
ズ16を垂直方向に駆動して、トラッキングを行う。こ
の結果、対物レンズ16によるビームスポットを、対物
レンズ16の機構的位置ずれが生じていたとしても、上
記バイアス電圧により補正することにより、トラッキン
グ位置に対する最適位置とすることができる。
したがって、記録時、再生時のように検出レベルが違う
場合であっても、オフセット補正電圧ΔXあるいはΔy
の物理的意味が変動せずに、一定に保つことができ、安
定な制御を行うことができる。これにより、正確なフォ
ー力ツシング、トラッキングを行うことができる なお、前記実施例では、焦点ぼけの検出をナイフェツジ
を用いた場合について説明したが、これに限らず、非点
収差法により焦点ぼけに対する検比信号を得るようにし
ても良い。また、光検出器が2つの光検出セルで構成さ
れる場合について説明したが、これに限らず、他の構造
の光検出器を用いても同様に実施できる。
また、正規化回路に割算器を用いて、差信号を和信号で
除算していたが、入力信号の変動量があらかじめ予測で
きる場合は、和信号のかわりに外部からの信号で除算す
るようにしても良い。さらに、入力信号の変動量が段階
的に変化する場合は、割算器の替わりにアッテネータを
等を用いて、サーボゲインを段階的に変化させるように
しても良い。
[発明の効果] 以上詳述したようにこの発明によれば、正確なフォー力
ツシング、トラッキングを行うことができるディスク装
置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
図面はこの発明の一実施例を示すディスク装置の構成を
概略的に示す図である。 1・・・光ディスク(ディスク)、3・・・光学ヘッド
、11・・・光源(半導体レーザ)、16・・・対物レ
ンズ、19.22−・・光検出器、19a、19b、2
2a。 22b・・・光検出セル、23.24・・・コイル、3
1.32.41.42・・・増幅器、33.43・・・
差動増幅器、34.44・・・加算器、35.45・・
・正規化回路、36.46・・・加算器、37.47・
・・基準信号発生回路、38.48・・・位相補償回路
、39.49・・・駆動回路。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)集束光を用いディスクに対して情報の記録あるい
    は再生を行うディスク装置において、光源と、この光源
    から発せられた光を前記ディスク上に集束するための集
    束手段と、前記ディスクで反射した光を用いて少なくと
    も2種類の信号を検出する検出手段と、この検出手段で
    検出した検出信号を正規化する正規化手段と、この正規
    化手段による正規化後、基準電圧を加える手段と、この
    手段により基準電圧が加えられる検出信号により前記集
    束手段を駆動する駆動手段とを具備したことを特徴とす
    るディスク装置。
  2. (2)前記検出手段による検出が焦点ぼけ検出あるいは
    トラッキングずれ検出であることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載のディスク装置。
  3. (3)前記正規化手段が、前記検出手段で検出した2種
    類の検出信号の差信号を和信号で除算するものであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のディスク装
    置。
  4. (4)前記基準電圧がオフセット補正電圧であることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のディスク装置。
JP8774885A 1985-04-24 1985-04-24 デイスク装置 Pending JPS61246933A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0349045A (ja) * 1989-04-20 1991-03-01 Olympus Optical Co Ltd 光学式情報記録再生装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0349045A (ja) * 1989-04-20 1991-03-01 Olympus Optical Co Ltd 光学式情報記録再生装置

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