JPS61265735A - デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は、たとえば光学ヘッドによる集束光を用い光
ディスクに対して情報の記録あるいは再生を行う光デイ
スク装置などのディスク装置に関する。

［発明の技術的背ＩＩ］ 近年、多量に発生する文書などの画像情報を２次元的な
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーあるいはソフトコピーとし
て再生出力し得る画像情報ファイル装置における画像記
録装置として最近、光デイスク装置が用いられている。

従来、このような光デイスク装置にあっては、スパイラ
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにより情報の記録あるいは再生が行われるようにな
っている。

［背景技術の問題点］ しかしながら、上記のような装置では、光学ヘッドにお
ける対物レンズのフォー力ッシングが適正に行われてい
る状態で、＾速アクセスを行うと、ジャストフォーカス
時、検出出力に高周波が乗り、焦点ぼけ検出信号（フォ
ーカス差信号）が許容範囲を越えてしまうため、フォー
カスずれが生じてしまうという欠点があった。

［発明の目的］ この発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、高速アクセス時、正確なフォー力ッシ
ングを行うことができるディスク装置を提供することに
ある。

［発明の概要］ この発明は、上記目的を達成するために、目的のアクセ
ス位置にアクセスする際に、目的のアクセス位置の手前
までの高速アクセス時、オフセット電圧を用いて適正焦
点位置より少しずれた点に焦点を合せて光学ヘッドを移
動するようにしたものである。

［発明の実施例］ 以下、この発明の一実施例を図面を参照しながら説明す
る。

図面は、この発明の光デイスク装置の概略構成を示すも
のである。すなわち、光ディスク１は、モータ（図示し
ない）によって光学ヘッド３に対して、線速一定で回転
駆動されるようになっている。上記光ディスク１は、た
とえばガラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成
された基板の表面に、テルルあるいはビスマスなどの金
属被膜層がドーナツ形にコーティングされている。上記
光ディスク１の裏側には、情報の記録、再生を行うため
の光学ヘッド３が設けられている。この光学ヘッド３は
、次のように構成される。すなわち、１１は半導体レー
ザ（光源）であり、この半導体レーザ１１からは発散性
のレーザ光りが発生される。この場合、情報を上記光デ
ィスク１の記録膜１ａに書き込む（記録）に際しては、
書き込むべき情報に応じてその光強度が変調されたレー
ザ光りが発生され、情報を光ディスク１の記録膜１ａか
ら読み出す（再生）際には、一定の光強度を有するレー
ザ光りが発生される。

そして、半導体レーザ１１から発生された発散性のレー
ザ光りは、コリメータレンズ１３によって平行光束に変
換され、偏光ビームスプリッタ１４に導かれる。この陽
光ビームスプリッタ１４に導かれたレーザ光りは、この
偏光ビームスプリッタ１４を通過した後、１／４波長板
１５を通過して対物レンズ１６に入射され、この対物レ
ンズ１６によって光ディスク１の記録１１１１８に向け
て集束される。ここで、対物レンズ１６は、その先軸方
向および光軸と直交する方向にそれぞれ移動可能に支持
されており、対物レンズ１６が所定位置に位置されると
、この対物レンズ１６から発せられた集束性のレーザ光
りのビームウェストが光ディスク１の記録膜１ａの表面
上に投射され、最小ビームスポットが光ディスク１の記
録膜１ａの表面上に形成される。この状態において、対
物レンズ１６は合焦状態および合トラック状態に保たれ
、情報の書き込みおよび読み出しが可能となる。

また、光ディスク１の記録！ｌ１１ａから反射された発
散性のレーザ光しは、合焦時には対物レンズ１６によっ
て平行光束に変換され、再び１／４波長板１５を通過し
て偏光ビームスプリッタ１４に戻される。レーザ光りが
１／４波長板１５を往復することによって、このレーザ
光りは偏光ビームスプリッタ１４を通過した際に比べて
偏波面が９０度回転しており、この９０度だけ偏波面が
回転したレーザ光りは、偏光ビームスプリッタ１４を通
過する。そして、偏光ビームスプリッタ１４を通過した
レーザ光りはハーフミラ−１７によって２系統に分けら
れ、その一方（トラックずれ検出系）のレーザ光しは第
１の投射レンズ１８によって第１の光検出器１９上に照
射される。この第１の光検出器１９は、第１の投射レン
ズ１８によって結像される光を、電気信号に変換する光
検出セル１９ａ、１９ｂによって構成されている。これ
らの光検出セル１９ａ、１９ｂによって出力される信号
としては、それぞれγ信号、β信号が出力されるように
なっている。

一方、ハーフミラ−１７によって分けられた他方（焦点
ぼけ検出系）のレーザ光りは、ナイフエッチ（光扱出し
部材）２０によって光軸から離間した領域を通過する成
分のみ抜出され、第２の投射レンズ２１を通過した後筒
２の光検出器２２上に照射される。この第２の光検出器
２２は、第２の投射レンズ２１によって結像される光を
、電気信号に変換する光検出セル２２ａ、２２ｂによっ
て構成されている。これらの光検出セル２２ａ。

２２ｂによって出力される信号としては、それぞれα信
号、β信号が出力されるようになっている。

上記光学ヘッド３の出力のうち光検出セル１９ａ、１９
ｂの出力は、トラッキングずれ補正用および再生信号用
に用いられるようになっている。

また、光検出セル２２ａ、２２ｂの出力は、フオーカッ
シング（焦点ぼけ）補正用に用いられるようになってい
る。

また、光検出セル２２ａ、２２ｂの出力は、それぞれ増
幅器３１．３２に供給される。上記増幅器３１の出力は
減算回路としての差動増幅器３３の非反転入力端に供給
され、この差動増幅器３３の反転入力端には上記増幅器
３２の出力が供給される。上記差動増幅器３３の出力は
加算器３６の一端に供給され、この加算器３６の他端に
は基準信号発生回路３７から基準信号が供給されている
。

上記基準信号発生回路３７は、対物レンズ１６によるビ
ームスポット（フォーカス位置）が最適位置となるよう
にするための、基準信号としてのバイアス電圧（オフセ
ット補正電圧）ΔＸを出力するものであり、その値は装
置への設定時にセツテングされるようになっている。ま
た、上記基準信号発生回路３７は、対物レンズ１６によ
るビームスポット（フォーカス位置）が最適位置より少
しずれた位置となるようにするための、基準信号として
のバイアス電圧（オフセット補正電圧）ΔＸ＋ａを出力
するものである。上記基準信号発生回路３７は図示しな
いＣＰＵから高速アクセス時に供給される切換信号に応
じて基準信号としてのバイアス電圧ΔＸをΔＸ＋ａに変
更して出力するようになっている。上記加算器３６の出
力は位相補償回路３８に供給される。この位相補償回路
３８は、加算器３６から供給される信号の位相が補償さ
れ、駆動回路３９に供給される。この駆動回路３９は、
位相補償回路３８から供給される信号に応じて、前記対
物レンズ１６を光ディスク１の記録面１ａに対して垂直
方向に駆動するコイル２４に対応する電流を供給するこ
とにより、対物レンズ１６を駆動して焦点ぼけの補正（
フォーカス位置の補正）を行うものである。

また、光検出セル１９ａ、１９ｋ）の出力は、それぞれ
増幅器４１．４２に供給される。上記増幅器４１の出力
は減算回路としての差動増幅器４３の非反転入力端に供
給され、この差動増幅器４３の反転入力端には上記増幅
器４２の出力が供給される。上記差動増幅器４３の出力
としてトラッキングずれ検出信号が得られるようになっ
ている。

上記差動増幅Ｗ１４３の出力は加算器４６の一端に供給
され、この加算器４６の他端には基準信号発生回路４７
から基準信号が供給されている。上記基準信号発生回路
４７は、対物レンズ１６によるビームスポット（トラッ
キング位りが最適位置となるようにするための、基準信
号としてのバイアス電圧（オフセット補正電圧）Δｙを
出力するものであり、その値は装置への設定時にセツテ
ングされるようになっている。上記加算器４６は、差動
増幅器４３からのトラッキングずれ検出信号に基準信号
発生回路３７から供給されるトラッキング位置のずれに
対応したオフセット補正電圧を加えるものである。上記
加算器４６の出力は位相補償回路４８に供給される。こ
の位相補償回路４８は、加算器４６から供給される信号
の位相が補償され、駆動回路４９に供給される。この駆
動回路４９は、位相補償回路４８から供給される信号に
応じて、前記対物レンズ１６を光ディスク１の記録面１
ａに対して水平方向に駆動するコイル２３に対応する電
流を供給することにより、対物レンズ１６を駆動してト
ラッキングずれの補正を行うものである。また、上記増
幅器４１．４２の出力は、加算器４４で加算され、２値
化回路４５に供給される。この２値化回路４５で２１ｉ
ｌ化された信号は読取信号（再生信号）として図示しな
いＣＰＵに供給されるようになっている。

次に、このような構成において動作を説明する。

たとえば今、半導体レーザ１１から発生された発散性の
レーザ光りは、コリメータレンズ１３によって平行光束
に変換され、偏光ビームスプリッタ１４に導かれる。こ
の偏光ビームスプリッタ１４に導かれたレーザ光りは、
この偏光ビームスプリッタ１４を通過した後、１／４波
長板１５を通過して対物レンズ１６に入射され、この対
物レンズ１６によって光ディスク１の記録１１１１ａに
向けて集束される。

この状態において、情報の記録を行う際には、強光度の
レーザ光束（記録ビーム光）の照射によって、光デイス
ク１上のトラックにビットが形成され、情報の再生を行
う際には、弱光度のレーザ光束（再生ビーム光）が照射
される。この再生ビーム光に対する光ディスク１からの
反射光は、対物レンズ１６によって平行光束に変換され
、再び１／４波長板１５を通過して偏光ビームスプリッ
タ１４に戻される。レーザ光りが１／４波長板１５を往
復することによって、このレーザ光りは偏光ビームスプ
リッタ１４を通過した際に比べて偏波面が９０度回転し
ており、この９０度だけ偏波面が回転したレーザ光りは
、偏光ビームスプリッタ１４を通過する。

そして、偏光ビームスプリッタ１４を通過したレーザ光
りはハーフミラ−１７によって２系統に分けられ、その
一方（トラックずれ検出系）のレーザビームしは第１の
投射レンズ１８によって第１の光検出器１９上に照射さ
れる。一方、ハーフミラ−１７によって分けられた他方
（焦点ぼけ検出系）のレーザ光しは、ナイフエッチ（光
抜出し部材）２０によって光軸から離間し°た領域を通
過する成分のみ後出され、第２の投射レンズ２１を通過
した後筒２の光検出器２２上に照射される。

したがッテ、光検出セル２２ａ、２２ｂ、１９ａ１１９
ｂから照射光に応じた信号が出力され、それらの信号が
それぞれ増幅器３１．３２．４１．４２に供給される。

このような状態において、フォー力ッシング動作につい
て説明する。すなわち、上記増幅器３１．３２からの信
号は差動増幅器３３、加算器３４に供給される。すると
、差動増幅器３３は光検出セル２２ａからの検出信号と
、光検出セル２２ｂからの検出信号との差を取ることに
より得られる信号（α−β）を加算器３６に出力する。

したがって、加算器３６は差動増幅器３３からの焦点ぼ
け検出信号にバイアス電圧（オフセット補正電圧）ΔＸ
を加えた信号「（α−β）＋ΔＸ」を位相補償回路３８
に出力する。そして、上記信号は位相補償回路３５で位
相補償され駆動回路３９に供給される。これにより、駆
動回路３９は位相補償回路３８からの信号に応じてコイ
ル２４に所定のｉｉ流を供給し、対物レンズ１６を垂直
方向に駆動して、フォー力ツシングを行う。この結果、
対物レンズ１６によるビームスポットを、対物レンズ１
６の機構的位置ずれが生じていたとしても、上記バイア
ス電圧により補正することにより、フォーカス位置に対
する最適位置（ジャストフォーカス点）とすることがで
きる。

また、トラッキング動作について説明する。すなわち、
上記増幅器４１．４２からの信号は差動増幅器４３に供
給される。すると、差動増幅器４３は光検出セル１９ａ
からの検出信号と、光検出セル１９ｂからの検出信号と
の差を取ることにより得られる信号（γ−６）つまりト
ラックずれ検出信号を加算器４６に出力する。

したがって、加算器４６は差動増幅器４３からのトラッ
クずれ検出信号にバイアス電圧（オフセット補正電圧）
Δｙを加えた信号「（γ−δ）＋Δｙ」を位相補償回路
４８に出力する。そして、上記信号は位相補償回路４８
で位相補償され駆動回路４９に供給される。これにより
、駆動回路４９は位相補償回路４８からの信号に応じて
コイル２３に所定の電流を供給し、対物レンズ１６を垂
直方向に駆動して、トラッキングを行う。この結果、対
物レンズ１６によるビームスポットを、対物レンズ１６
の機構的位置ずれが生じていたとしても、上記バイアス
電圧により補正することにより、トラッキング位置に対
する最適位置とすることができる。

また、所定のトラックへ高速アクセスを行う場合、ｃｐ
ｕ　＜図示しない）によりリニアモータが駆動され、光
学ヘッド３が移動する。この場合、ＣＰＵから基準信号
発生回路３７に切換信号が供給される。これにより、基
準信号発生回路３７から基準信号としてのバイアス電圧
（オフセット電圧）ΔＸをΔＸ＋ａに変更して加算器３
６に出力する。この結果、加算器３６は差動増幅器３３
からの焦点ぼけ検出信号にバイアス電圧（オフセット補
正電圧）ΔＸ＋ａを加えた信号［（α−β）＋Δｘ＋ａ
Ｊを位相補償回路３８に出力する。そして、上記信号は
位相補償回路３５で位相補償され駆動回路３９に供給さ
れる。これにより、駆動回路３９は位相補償回路３８か
らの信号に応じてコイル２４に所定の電流を供給し、対
物レンズ１６を垂直方向に駆動して、フォー力ッシング
を行う。この結果、対物レンズ１６によるビームスポッ
トを、上記バイアス電圧により補正することにより、フ
ォーカス位置に対する最適位１１（ジャストフォーカス
点）より少しずれた位置とすることができる。

したがって、高速アクセスを行う際の、ジャストフォー
カス時、検出出力に高周波が乗らず、焦点ぼけ検出信号
（フォーカス差信号）が許容範囲を越えないようにする
ことができ、フォーカスずれが生じることを防止するこ
とができる。

なお、前記実施例では、焦点ぼけの検出をナイフェツジ
を用いた場合について説明したが、これに限らず、非点
収差法により焦点ぼけに対する検出信号を得るようにし
ても良い。また、光検出器が２つの光検出セルで構成さ
れる場合について説明したが、これに限らず、他の構造
の光検出器を用いても同様に実施できる。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、高速アクセス時
、正確なフォー力ッシングを行うことができるディスク
装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示すディスク装置の構成を
概略的に示す図である。 １・・・光ディスク（ディスク）、３・・・光学ヘッド
、１１・・・光源（半導体レーザ）、１６・・・対物レ
ンズ、１９．２２−・・光検出器、１９ａ、１９ｂ、２
２ａ。 ２２ｂ・・・光検出セル、２３．２４・・・コイル、３
１．３２．４１．４２・・・増幅器、３３．４３・・・
差動増幅器、３６．４６・・・加算器、３７．４７・・
・基準信号発生回路、３８．４８・・・位相補償回路、
３９．４９・・・駆動回路。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）光学ヘッドによる集束光を用いディスクに対して
   情報の記録あるいは再生を行うディスク装置において、
   光源と、この光源から発せられた光を前記ディスク上に
   集束するための集束手段とを有する光学ヘッドを移動す
   る移動手段と、前記ディスクで反射した光を用いて少な
   くとも２種類の信号を検出する検出手段と、この検出手
   段で検出した検出信号により前記集束手段を駆動するこ
   とにより適正な焦点位置に移動する駆動手段と、前記移
   動手段による高速アクセス時、前記駆動手段を駆動する
   ことにより、目的のアクセス位置まで適正な焦点位置よ
   り少しずれた点に焦点を合せて移動する手段とを具備し
   たことを特徴とするディスク装置。
2. （２）前記検出手段による検出が焦点ぼけ検出であるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のディスク装
   置。
3. （３）前記適正な焦点位置より少しずれた点に焦点を合
   せる手段が、オフセット補正電圧を検出手段で検出した
   検出信号に加えることにより行うことを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載のディスク装置。