JPS61276128A

JPS61276128A - デイスク装置

Info

Publication number: JPS61276128A
Application number: JP11815285A
Authority: JP
Inventors: Takashi Abiko; 安孫子　隆志
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1985-05-31
Filing date: 1985-05-31
Publication date: 1986-12-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の技術分野］この発明は、たとえば集束光を用い光ディスクに対して
情報の記録あるいは再生を行う光ディス近年、多量に発
生する文書などの画像情報を２次元的な光走査により光
電変換し、この光電変換された画像情報を画像記録装置
に記録し、あるいはそれを必要に応じて検索、再生し、
ハードコピーあるいはソフトコピーとして再生出力し得
る画像情報ファイル装置における画像記録装置として最
近、光デイスク装置が用いられている。

従来、このような光デイスク装置にあっては、スパイラ
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにより情報の記録あるいは再生が行われるようにな
っている。このような装置では、光デ′イスク上にデー
タを記録した後、おるいはデータを再生した後、データ
の再生状態として弱いレーザパワーで同一トラックを照
射するようになっている。しかし、弱いレーザパワーで
あっても同一トラックを長時間照射すると記録データを
破壊したりするという欠点があった。そこで、データの
保護という立場から、レーザの発光を止めたり、データ
の部分に光学ヘッドをアクセスしたり、同一エリアでの
レーザ照射を禁止する方法が考えられる。ところが、デ
ータの高速検索という観点からみると、レーザを消した
場合はフォーカスの引込み直し、データ無しの部分へア
クセスした場合はデータエリアに再度アクセスしなけれ
ばならず、データを検索する際、余計な時間を要すると
いう欠点があった。

［発明の目的］この発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、データ記録後、あるいはデー、９再生
後の待機時に、再生状態のままで、データの保護を行う
とともに、高速のアクセスを行うことが可能なディスク
装置を提供することにある。

［発明の概要］この発明は、上記目的を達成するために、データ記録後
、あるいはデータ再生後の待機時に、フォー力ツシング
はそのままの状態にしてデータがディスクの溝部分に記
録されている場合は、とて部分にトラッキングを写し、
とて部分に記録されている場合は溝部分にトラッキング
を写すようにしたものである。

［発明の実施例］以下、この発明の一実施例を図面を参照しながら説明す
る。

図面は、この発明の光デイスク装置の概略構成を示すも
のである。すなわち、光ディスク１は、モータ（図示し
ない）によって光学ヘッド３に対して、線速一定で回転
駆動されるようになっている。上記光ディスク１は、た
とえばガラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成
された基板の表面に、テルルあるいはビスマスなどの金
属被膜層がドーナツ形にコーティングされている。上記
光ディスク１の裏側には、情報の記録、再生を行うため
の光学ヘッド３が設けられている。この光学ヘッド３は
、次のように構成される。すなわち、１１は半導体レー
ザ（光源）であり、この半導体レーザ１１からは発散性
のレーザ光りが発生される。この場合、情報を上記光デ
ィスク１の記録膜１ａに塵き込む（記録）に際しては、
書き込むべき情報に応じてその光強度が変調されたレー
ザ光りが発生され、情報を光ディスク１の記録膜１ａか
ら読み出す（再生）際には、一定の光強度を有するレー
ザ光りが発生される。

そして、半導体レーザ１１から発生された発散性のレー
ザ光りは、コリメータレンズ１３によって平行光束に変
換され、偏光ビームスプリッタ１４辷導かれる。この偏
光ビームスプリッタ１４に導かれたレーザ光りは、この
偏光ビームスプリッタ１４を通過した後、１／４波長板
１５を通過して対物レンズ１６に入射され、この対物レ
ンズ１６によって光ディスク１の記録膜１ａに向けて集
束される。ここで、対物レンズ１６は、その光軸方向お
よび光軸と直交する方向にそれぞれ移動可能に支持され
ており、対物レンズ１６が所定位置に位置されると、こ
の対物レンズ１６から発せられた集束性のレーザ光りの
ビームウェストが光ディスク１の記録膜１ａの表面上に
投射され、最小ビームスポットが光ディスク１の記録膜
１ａの表面上に形成される。この状態において、対物レ
ンズ１６は合焦状態および合トラック状態に保たれ、情
報の書き込みおよび読み出しが可能となる。

また、光ディスク１の記録膜１ａから反射された発散性
のレーザ光りは、合焦時には対物レンズ１６によって平
行光束に変換され、再び１／４波長板１５を通過して偏
光ビームスプリッタ１４に戻される。レーザ光りが１／
４波長板１５を往復することによって、このレーザ光り
は偏光ビームスプリッタ１４を通過した際に比べて偏波
面が９０度回転しており、この９０度だけ偏波面が回転
したレーザ光りは、偏光ビームスプリッタ１４を通過す
る。そして、偏光ビームスプリッタ１４を通過したレー
ザ光りはハーフミラ−１７によって２系統に分けられ、
その一方（トラックずれ検出系）のレーザ光りは第１の
投射レンズ１８によって第１の光検出器１９上に照射さ
れる。この第１の光検出器１９は、第１の投射レンズ１
８によって結像される光を、電気信号に変換する光検出
セル１９ａ、１９ｂによって構成されている。これらの
光検出セル１９ａ、１９ｂによって出力される信号とし
ては、それぞれγ信号、δ信号が出力されるようになっ
ている。

一方、ハーフミラ−１７によって分けられた他方（焦点
ぼけ検出系、）のレーザビームＬは、ナイフエッチ（光
後出し部材＞２０によって光軸から離間した領域を通過
する成分のみ後出され、第２の投射レンズ２１を通過し
た後筒２の光検出器２２上に照射される。この第２の光
検出器２２は、第２の投射レンズ２１によって結像され
る光を、電気信号に変換する光検出セル２２ａ、２２ｂ
によって構成されている。これらの光検出セル２２ａ、
２２ｂによって出力される信号としては、それぞれα信
号、β信号が出力されるようになっている。

上記光学ヘッド３の出力のうち光検出セル１９ａ、１９
ｂの出力は、トラッキングずれ補正用および再生信号用
に用いられるようになっている。また、光検出セル２２
ａ、２２ｂの出力は、フォー力ツシング（焦点ぼけ）補
正用に用いられるようになっている。

また、光検出セル２２ａ、２２ｂの出力は、それぞれ増
幅器３１．３２に供給される。上記増幅器３１の出力は
差動増幅器３３の非反転入力端に供給され、この差動増
幅器３３の反転入力端には増幅器３２の出力が供給され
ている。上記差動増幅器３３は増幅器３１．３２から供
給される信号の差を取ることにより、焦点ぼけ検出信号
（α−β）が得られるようになっている。上記差動増幅
器３３の出力は波形整形回路３４に供給される。この波
形整形回路３４は、差動増幅器３３から供給される信号
の波形が整形され、駆動回路３５に供給される。この駆
動回路３５は、波形整形回路３４から供給される信号に
応じて、前記対物レンズ１６を光ディスク１の記録面１
ａに対して垂直方向に駆動するコイル２４に対応する電
流を供給することにより、対物レンズ１６を駆動して焦
点ぼけ（フォー力ツシング）の補正を行うものである。

また、光検出セル１９ａ、１９ｂの出力は、それぞれ増
幅器４１．４２に供給される。上記増幅器４１の出力は
差動増幅器４３で増幅された後、差動増幅器４４の非反
転入力端に供給される。また、上記増幅器４２の出力は
差動増幅器４５の非反転入力端に供給され、この差動増
幅器４５の反転入力端には基準信号発生回路４６からの
基準信号が供給されている。上記基準信号発生回路４６
は、対物レンズ１６によるビームスポット（トラッキン
グ位置）が溝部分からとて部分に変更されるようにする
ための、基準信号としてのバイアス電圧（オフセット補
正電圧）ΔＸを図示しないＣＰＵからの制御信号に応じ
て出力するものであり、その値は装置への設定時にセツ
テングされるようになっている。

上記差動増幅器４５の出力は上記差動増幅器４４の反転
入力端に供給される。上記差動増幅器４４は差動増幅器
４３．４５から供給される信号の差を取ることにより、
トラッキングずれ検出信号が得られるようになっている
。これにより、記録時、再生時の待機時に、ビームスポ
ット（トラッキング位置）を溝部分からとて部分に移動
することができるようになっている。上記差動増幅器４
４の出力は波形整形回路４７に供給される。この波形整
形回路４７は、差動増幅器４４から供給される信号の波
形が整形され、駆動回路４８に供給される。この駆動回
路４８は、波形整形回路４７から供給される信号に応じ
て、前記対物レンズ１６を光ディスク１の記録面１ａに
対して水平方向に駆動するコイル２３に対応する電流を
供給することにより、対物レンズ１６を駆動してトラッ
キングずれの補正を行うものである。

次に、このような構成において動作を説明する。

たとえば今、半導体レーザ１１から発生された発散性の
レーザ光りは、コリメータレンズ１３によって平行光束
に変換され、偏光ビームスプリッタ１４に導かれる。こ
の偏光ビームスプリッタ１４に導かれたレーザ光りは、
この偏光ビームスプリッタ１４を通過した後、１／４波
長板１５を通過して対物レンズ１６に入射され、この対
物レンズ１６によって光ディスク１の記録１１１’ｌａ
に向けて集束される。

この状態において、情報の記録を行う際には、強光度の
レーザ光束（記録ビーム光）の照射によって、光デイス
ク１上のトラックにピットが形成され、情報の再生を行
う際には、弱光度のレーザ光束（再生ビーム光）が照射
される。この再生ビーム光に対する光ディスク１からの
反射光は、対物レンズ１６によって平行光束に変換され
、再び１／４波長板１５を通過して偏光ビームスプリッ
タ１４に戻される。レーザ光りが１／４波長板１５を往
復することによって、このレーザ光りは偏光ビームスプ
リッタ１４を通過した際に比べて偏波面が９０度回転し
ており、この９０度だけ偏波面が回転したレーザ光りは
、偏光ビームスプリッタ１４を通過する。

そして、偏光ビームスプリッタ１４を通過したレーザ光
りはハーフミラ−１７によって２系統に分けられ、その
一方（トラックずれ検出系）のレーザビームしは第１の
投射レンズ１８によって第１の光検出器１９上に照射さ
れる。一方、ハーフミラ−１７によって分けられた他方
（焦点ぼけ検出系）のレーザ光りは、ナイフエッチ（光
抜出し部材＞２０によって光軸から離間した領域を通過
する成分のみ後出され、第２の投射レンズ２１を通過し
た後筒２の光検出器２２上に照射される。

したがって、光検出セル２０ａ、２０ｂ、１９ａ。

１９ｂから照射光に応じた信号が出力され、それらの信
号がそれぞれ増幅器３１．３２．４１．４２に供給され
る。

このような状態において、フォー力ツシング動作につい
て説明する。すなわち、上記増幅器３１．３２からの信
号は差動増幅器３３に供給される。

すると、差動増幅器３３は光検出セル２２ａからの検出
信号と、光検出セル２２ｂからの検出信号との差を取る
ことにより得られる焦点ぼけ検出信号（α−β）を波形
整形回路３４に出力する。

すると、波形整形回路３４は供給される信号の波形整形
を行い駆動回路３５に出力する。これにより、駆動回路
３５は波形整形回路３４からの信号に応じてコイル２４
に所定の電流を供給し、対物レンズ１６を垂直方向に駆
動して、フォー力ツシングを行う。この結果、対物レン
ズ１６によるビームスポットを、フォーカス位置に対す
る最適位置とすることができる。

また、通常のトラッキング動作について説明する。すな
わち、上記増幅器４１．４２からの信号はそれぞれ差動
増幅器４３．４５を介して差動増幅器４４に供給される
。すると、差動増幅器４４は光検出セル１９ａからの検
出信号と、光検出セル１９ｂからの検出信号との差を取
ることにより得られるトラッキングずれ検出信号（γ−
δ）を出力する。そして、上記信号は波形整形回路４７
で波形整形され駆動回路４８に供給される。これにより
、駆動回路４８は波形整形回路４７からの信号に応じて
コイル２３に所定の電流を供給し、対物レンズ１６を水
平方向に駆動して、トラッキングを行う。この結果、対
物レンズ１６によるビームスポットを、トラッキング位
置くつまり対応するトラックの溝部分）に対する最適位
置とすることができる。

また、再生時も、上記記録時の再生と同様に動作し、し
かもトラッキング、フォー力ツシングが行われるように
なっている。

上記のような、記録時あるいは再生時において、待機状
態が所定時間（５分間）経過した際、図示しないＣＰＬ
Ｉからの切換信号により基準信号発生回路４６からの基
準信号が、差動増幅器４５に供給される。これにより、
差動増幅器４４は光検出セル１９ａからの検出信号と、
光検出セル１９ｂからの検出信号に基準信号を加えた信
号との差を取ることにより得られるトラッキングずれ検
出信＠（γ−δ＋ΔＸ）を出力する。そして、上記信号
は波形整形回路４７で波形整形され駆動回路４８に供給
される。これにより、駆動回路４８は波形整形回路４７
からの信号に応じてコイル２３に所定の電流を供給し、
対物レンズ１６を水平方向に駆動して、トラッキングを
行う。

この結果、対物レンズ１６によるビームスポットを、ト
ラッキング位置に対するすぐ隣のとて部分に設定するこ
とができる。これにより、次にデータを再生あるいはデ
ータの記録を開始する際はトラッキング位置をどて部分
から溝部分に（オフセット電圧を印加しないことにより
）変更し、その前までアクセスされていた位置に移動す
ることができる。したがって、再生状態のままでもデー
タが保護され、フォーカスの引込み直し、データ無しエ
リアからの再アクセスを行わなくても、直ぐつまり高速
にデータの記録あるいは再生を行うことができる。

なお、前記実施例では、焦点ぼけの検出をナイフェツジ
を用いた場合について説明したが、これに限らず、非点
収差法により焦点ぼけに対する検出信号を得るようにし
ても良い。また、光検出器が２つの光検出セルで構成さ
れる場合について説明したが、これに限らず、他の構造
の光検出器を用いても同様に実施できる。

［発明の効果］以上詳述したようにこの発明によれば、データ記録俊、
あるいはデータ再生後の待機時に、再生状態のままで、
データの保護を行うとともに、高速のアクセスを行うこ
とが可能なディスク装置を提供できる。

の構成を概略的に示す図である。

１・・・光ディスク（ディスク）、３・・・光学ヘッド
、１１・・・光源（半導体レーザ）、１６・・・対物レ
ンズ、１９．２２−・・光検出器、１９ａ、１９ｂ、２
２ａ。

２２ｂ・・・光検出セル、２３．２４・・・コイル、３
１．３２．４１．４２・・・増幅器、３３．４３．４４
．４５・・・差動増幅器、３６・・・基準信号発生回路
、３４．４７・・・波形整形回路、３５．４８・・・駆
動回路。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）集束光を用いディスクに対して情報の記録あるい
は再生を行うディスク装置において、光源と、この光源
から発せられた光を前記ディスク上に集束するための集
束手段と、前記ディスクで反射した光を用いて少なくと
も２種類の信号を検出する検出手段と、この検出手段で
検出した検出信号に基準電圧を加える手段と、この手段
により基準電圧が加えられる検出信号により前記集束手
段を駆動する駆動手段とを具備したことを特徴とするデ
ィスク装置。
（２）前記検出手段による検出がトラッキングずれ検出
であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のデ
ィスク装置。
（３）前記駆動手段が、データが溝部分に記録されてい
る場合、前記光源のトラッキングをどて部分に設定し、
あるいはデータがどて部分に記録されている場合、前記
光源のトラッキングを溝部分に設定するものであること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のディスク装置
。
（４）前記基準電圧がオフセット補正電圧であることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のディスク装置。