JPS6124467B2 - - Google Patents
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- JPS6124467B2 JPS6124467B2 JP56049126A JP4912681A JPS6124467B2 JP S6124467 B2 JPS6124467 B2 JP S6124467B2 JP 56049126 A JP56049126 A JP 56049126A JP 4912681 A JP4912681 A JP 4912681A JP S6124467 B2 JPS6124467 B2 JP S6124467B2
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- JP
- Japan
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- plasma
- magnetic field
- supplied
- electrodes
- generated
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- Expired
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- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 8
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/505—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using radio frequency discharges
- C23C16/509—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using radio frequency discharges using internal electrodes
- C23C16/5096—Flat-bed apparatus
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はプラズマ化学気相成長(CVD)装
置の改良に関するものである。
置の改良に関するものである。
第1図は従来のプラズマCVD装置の構成を示
す模式断面図で、図において、1はチヤンバ、2
はチヤンバ1内を排気する排気口、3は上部電
極、4は下部電極、5は上部電極3の内部通路を
経てチヤンバ1内へ送給する反応ガスを導入する
反応ガス導入口、6は反応ガス噴出孔、7は下部
電極4の上に置かれた被加工基板、8は上部電極
3および下部電極4間に高周波電圧を印加する高
周波電源である。
す模式断面図で、図において、1はチヤンバ、2
はチヤンバ1内を排気する排気口、3は上部電
極、4は下部電極、5は上部電極3の内部通路を
経てチヤンバ1内へ送給する反応ガスを導入する
反応ガス導入口、6は反応ガス噴出孔、7は下部
電極4の上に置かれた被加工基板、8は上部電極
3および下部電極4間に高周波電圧を印加する高
周波電源である。
この装置では、排気口2から図示しない真空ポ
ンプを用いてチヤンバ1内部を所定の低圧になる
ように排気し、次に所要の反応ガスを反応ガス導
入口5から反応ガス噴出孔6を通してチヤンバ1
内へ導入し、高周波電源8を動作せ、上部電極3
および下部電極4間に高周波電圧を印加して、両
電極間にプラズマを発生させて下部電極4上に載
置した被加工基板7の上に反応生成物を堆積させ
る。
ンプを用いてチヤンバ1内部を所定の低圧になる
ように排気し、次に所要の反応ガスを反応ガス導
入口5から反応ガス噴出孔6を通してチヤンバ1
内へ導入し、高周波電源8を動作せ、上部電極3
および下部電極4間に高周波電圧を印加して、両
電極間にプラズマを発生させて下部電極4上に載
置した被加工基板7の上に反応生成物を堆積させ
る。
ところで、以上のように構成されたプラズマ
CVD装置では反応生成物の生成速度を増加させ
るには、反応ガスを増す、高周波電力を増大させ
る、基板の温度を上げる等の方法が考えられる。
しかし、これらの方法では生成速度は増加する
が、生成膜の膜質に影響を与えるという欠点があ
つた。
CVD装置では反応生成物の生成速度を増加させ
るには、反応ガスを増す、高周波電力を増大させ
る、基板の温度を上げる等の方法が考えられる。
しかし、これらの方法では生成速度は増加する
が、生成膜の膜質に影響を与えるという欠点があ
つた。
この発明は以上のような点に鑑みてなされたも
ので、発生プラズマを磁界で閉じ込めることによ
つてプラズマの高密度化をはかり、生成膜の生成
速度の非常に大きいプラズマCVD装置を提供す
ることを目的としている。
ので、発生プラズマを磁界で閉じ込めることによ
つてプラズマの高密度化をはかり、生成膜の生成
速度の非常に大きいプラズマCVD装置を提供す
ることを目的としている。
第2図はこの発明の一実施例の構成を示す模式
断面図で、第1図の従来例と同等部分は同一符号
で示し、その説明を省略する。9および10は一
点鎖線矢印で示すような磁界Hを上部電極3と下
部電極4との間の空間に発生する磁石で、当然極
性は反対になるように配置されている。
断面図で、第1図の従来例と同等部分は同一符号
で示し、その説明を省略する。9および10は一
点鎖線矢印で示すような磁界Hを上部電極3と下
部電極4との間の空間に発生する磁石で、当然極
性は反対になるように配置されている。
このような構成の実施例では、磁石9および1
0によつて両電極3および4の面にほぼ平行な磁
界Hが生じ、生成プラズマ中の電子またはサイク
ロイド運動をする。そのため他の原子または分子
との衝突確率が増加し、プラズマ密度が増大し、
生成膜の生成速度を増大させることができる。し
かも、その他の反応ガス圧、高周波電力、被加工
基板温度などの条件を変化しないので生成膜の膜
質には本質的影響がなく、所望の膜質の生成膜が
得られる。
0によつて両電極3および4の面にほぼ平行な磁
界Hが生じ、生成プラズマ中の電子またはサイク
ロイド運動をする。そのため他の原子または分子
との衝突確率が増加し、プラズマ密度が増大し、
生成膜の生成速度を増大させることができる。し
かも、その他の反応ガス圧、高周波電力、被加工
基板温度などの条件を変化しないので生成膜の膜
質には本質的影響がなく、所望の膜質の生成膜が
得られる。
以上のように、この発明になるプラズマCVD
装置では高周波電力が印加される両平板電極間に
その電極面に実質的に平行な磁場を供給するよう
にしたので、発生プラズマの密度を増大させるこ
とができ、生成膜質に影響を与えることなく生成
膜の生成速度を増大できる。
装置では高周波電力が印加される両平板電極間に
その電極面に実質的に平行な磁場を供給するよう
にしたので、発生プラズマの密度を増大させるこ
とができ、生成膜質に影響を与えることなく生成
膜の生成速度を増大できる。
第1図は従来のプラズマCVD装置の構成を示
す模式断面図、第2図はこの発明の一実施例の構
成を示す模式断面図である。 図において、1はチヤンバ、3は上部電極、4
は下部電極、5は反応ガス導入口、7は被加工
物、8は高周波電源、9および10は磁石、Hは
磁界(磁場)である。なお、図中同一符号は同一
または相当部分を示す。
す模式断面図、第2図はこの発明の一実施例の構
成を示す模式断面図である。 図において、1はチヤンバ、3は上部電極、4
は下部電極、5は反応ガス導入口、7は被加工
物、8は高周波電源、9および10は磁石、Hは
磁界(磁場)である。なお、図中同一符号は同一
または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 反応ガスが供給されるチヤンバ内に互いに平
行に対向して配設された2つの電極間に高周波電
圧を印加してプラズマを発生させ、上記2つの電
極の間に置かれた被加工物上に反応生成膜を生成
させるものにおいて、上記2つの電極間にそれら
の対向面に実質的に平行な直流磁場を供給して上
記プラズマの発生密度を増大させるようにしたこ
とを特徴とするプラズマ化学気相成長装置。 2 直流磁場は一方の電極の外側の両端縁部に配
設された磁石によつて供給するようにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のプラズマ
化学気相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4912681A JPS57161057A (en) | 1981-03-30 | 1981-03-30 | Chemical vapor phase growth device using plasma |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4912681A JPS57161057A (en) | 1981-03-30 | 1981-03-30 | Chemical vapor phase growth device using plasma |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57161057A JPS57161057A (en) | 1982-10-04 |
JPS6124467B2 true JPS6124467B2 (ja) | 1986-06-11 |
Family
ID=12822367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4912681A Granted JPS57161057A (en) | 1981-03-30 | 1981-03-30 | Chemical vapor phase growth device using plasma |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57161057A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6066422A (ja) * | 1983-09-21 | 1985-04-16 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 半導体製造法 |
FR2555362B1 (fr) * | 1983-11-17 | 1990-04-20 | France Etat | Procede et dispositif de traitement d'un materiau semi-conducteur, par plasma |
US4668365A (en) * | 1984-10-25 | 1987-05-26 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for magnetron-enhanced plasma-assisted chemical vapor deposition |
JPH0736395B2 (ja) * | 1985-04-23 | 1995-04-19 | 富士通株式会社 | アルミニウム膜の成長方法 |
JPS62243772A (ja) * | 1986-04-15 | 1987-10-24 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 薄膜合成装置 |
JPS6389671A (ja) * | 1986-10-03 | 1988-04-20 | Ulvac Corp | 磁場励起式プラズマcvd装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4926184A (ja) * | 1971-09-07 | 1974-03-08 | ||
JPS5244704A (en) * | 1975-10-06 | 1977-04-08 | Nippon Spindle Mfg Co Ltd | Air supply equipment for melting furnace |
JPS538377A (en) * | 1976-07-12 | 1978-01-25 | Hitachi Ltd | Apparatus for high frequency sputtering |
JPS5435172A (en) * | 1977-08-24 | 1979-03-15 | Anelva Corp | Chemical reactor using electric discharge |
JPS5615838A (en) * | 1979-07-19 | 1981-02-16 | Fuji Electric Co Ltd | Gaseous phase growth device |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5558658U (ja) * | 1978-10-16 | 1980-04-21 |
-
1981
- 1981-03-30 JP JP4912681A patent/JPS57161057A/ja active Granted
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4926184A (ja) * | 1971-09-07 | 1974-03-08 | ||
JPS5244704A (en) * | 1975-10-06 | 1977-04-08 | Nippon Spindle Mfg Co Ltd | Air supply equipment for melting furnace |
JPS538377A (en) * | 1976-07-12 | 1978-01-25 | Hitachi Ltd | Apparatus for high frequency sputtering |
JPS5435172A (en) * | 1977-08-24 | 1979-03-15 | Anelva Corp | Chemical reactor using electric discharge |
JPS5615838A (en) * | 1979-07-19 | 1981-02-16 | Fuji Electric Co Ltd | Gaseous phase growth device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57161057A (en) | 1982-10-04 |
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