JPS6123248A - デ−タ処理装置試験方式 - Google Patents
デ−タ処理装置試験方式Info
- Publication number
- JPS6123248A JPS6123248A JP59143592A JP14359284A JPS6123248A JP S6123248 A JPS6123248 A JP S6123248A JP 59143592 A JP59143592 A JP 59143592A JP 14359284 A JP14359284 A JP 14359284A JP S6123248 A JPS6123248 A JP S6123248A
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- JP
- Japan
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- test
- expected value
- instruction
- data
- simulator
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明はデータ処理装置試験方式に関する。
従来、この種のデータ処理装置試験方式は、試験手順と
試験データと期待値データとからなる試験プログラムを
人手で作成し、被試験データ処理装置上でこれを実行し
、前記試験データを前記試験手順に従って演算すること
で得られた演算結果と前記期待値データとを前記試験手
順に従って比較し、被試験データ処理装置の良否を決め
るという方式が採られていた。
試験データと期待値データとからなる試験プログラムを
人手で作成し、被試験データ処理装置上でこれを実行し
、前記試験データを前記試験手順に従って演算すること
で得られた演算結果と前記期待値データとを前記試験手
順に従って比較し、被試験データ処理装置の良否を決め
るという方式が採られていた。
しかし、この方式では、被試験データ処理装置の機能が
複雑になるにつれ期待値データを作成するのに美大な労
力を要するという欠点があった。
複雑になるにつれ期待値データを作成するのに美大な労
力を要するという欠点があった。
このため、特に機能が複雑な、例えばベクトル処理装置
を試験する試験プログラムにおいて、ベクトル演算命令
のみシミュレートする手段を用い、期待値を求める演算
のみ該シミュレータを使用するという方式が採られてい
た。
を試験する試験プログラムにおいて、ベクトル演算命令
のみシミュレートする手段を用い、期待値を求める演算
のみ該シミュレータを使用するという方式が採られてい
た。
しかし、この方式においても、試験データのシミュレー
タへの入力及び演算結果を元にして期待値データを作成
するのは人手であり、膨大な労力を要するという欠点が
あった。
タへの入力及び演算結果を元にして期待値データを作成
するのは人手であり、膨大な労力を要するという欠点が
あった。
本発明の目的は、容易に期待値データを含む試験プログ
ラムを作成できるようにしたデータ処理装置試験方式を
提供することにある。
ラムを作成できるようにしたデータ処理装置試験方式を
提供することにある。
本発明のデータ処理装置試験方式は、試験手順と試験デ
ータからなる試験プログラムと被試験データ処理装置と
同一命令セットが実行可能なシミュレータを有し、該シ
ミュレータ上で前記試験プログラムを実行し、この実行
結果を期待値データとし、前記試験プログラムと前記期
待値データを用いて被試験データ処理装置を試験するこ
とを特徴とする。
ータからなる試験プログラムと被試験データ処理装置と
同一命令セットが実行可能なシミュレータを有し、該シ
ミュレータ上で前記試験プログラムを実行し、この実行
結果を期待値データとし、前記試験プログラムと前記期
待値データを用いて被試験データ処理装置を試験するこ
とを特徴とする。
以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。第
１図は本発明のデータ処理装置試験方式の一実施例を示
すブロック図である。
１図は本発明のデータ処理装置試験方式の一実施例を示
すブロック図である。
本実施例のデータ処理装置試験方式は、試験手順１０と
試験データ数ｎと試験データＤｔｎ 、 Ｄ−＋＋ｚ
。
試験データ数ｎと試験データＤｔｎ 、 Ｄ−＋＋ｚ
。
・・・、Ｄ、・ｎの試験データ１１（表−１）からなる
゛試験プログラム１と、被試験データ処理装置４の命令
処理部４２が実行可能な命令と同一機能をシミュレート
する命令群実行部２２２、期待値作成命令実行部２２４
、命令解析部２２１からなる命令処理部２２、入出力制
御部２０．主記憶部２１を有するシミュレータ２と、前
記試験プログラム１をシミュレータ２で実行して作成し
た、それぞれ試験データＤａｍｎ 、 Ｄｔｚ 、・・
・、 Ｄｔｎに対応した期待値デーｐ Ｄｅｌ 、 Ｄ
ｅ２ 、 ・−、Ｄｅｎ （表−２）が格納される外部
記憶装置８から構成される。
゛試験プログラム１と、被試験データ処理装置４の命令
処理部４２が実行可能な命令と同一機能をシミュレート
する命令群実行部２２２、期待値作成命令実行部２２４
、命令解析部２２１からなる命令処理部２２、入出力制
御部２０．主記憶部２１を有するシミュレータ２と、前
記試験プログラム１をシミュレータ２で実行して作成し
た、それぞれ試験データＤａｍｎ 、 Ｄｔｚ 、・・
・、 Ｄｔｎに対応した期待値デーｐ Ｄｅｌ 、 Ｄ
ｅ２ 、 ・−、Ｄｅｎ （表−２）が格納される外部
記憶装置８から構成される。
先づ、試験手順１０の動作を第２図のフローチャートを
参照しながら説明する。期待値データサーチ処理１００
は、外部記憶装置８をサーチし、期待値データチェック
１１１で期待値データの有無を検査する。期待値データ
が有終ば、期待値データ格納処理１１ｇにおいてこれを
被試験データ作成モードリセット１１Ｂで期待値を作成
する必要がないことを登録する。期待値データがないと
き、すなわち、シミュレータ２で期待値を作成するため
に命令を実行しているときは、期待値作成モードセラ）
１１４で期待値を作成する必要があることを登録する。
参照しながら説明する。期待値データサーチ処理１００
は、外部記憶装置８をサーチし、期待値データチェック
１１１で期待値データの有無を検査する。期待値データ
が有終ば、期待値データ格納処理１１ｇにおいてこれを
被試験データ作成モードリセット１１Ｂで期待値を作成
する必要がないことを登録する。期待値データがないと
き、すなわち、シミュレータ２で期待値を作成するため
に命令を実行しているときは、期待値作成モードセラ）
１１４で期待値を作成する必要があることを登録する。
次に、試験終了チェック１２０は、表−１に示す試験デ
＝りＤｔｉ 、 Ｄｔｚ、 −・・、Ｄｔｎの全てにつ
いて試験を行なったか否かを検査し、まだ試験を行なっ
ていない試験データがあれば、試験データ設定１２１で
次に試験を行なう試験データを求め、試験対象命令実行
１２２で演算を行なう。さらに期待値作成モードチェッ
ク１８０で期待値作成モードを調べ期待値を作成する必
要があるか否かを検査し、必要があれば試験対象命令実
行１２２で演算した結果を期待値としてシミュレータ２
の主記憶部２１の特定番地に実行結果退避１８１で退避
させる。ただし、実行結果退避１８１で退避する主記憶
部２１の番地は、期待値データ格納処理１１２で格納す
る番地と同一である。続いて、試験対象命令実行１２２
で演算した結果は、実行結果チェック１４０において、
表−２に示す期待値データＤｅｎ 、 Ｄｅｓ＋ 、φ
・・、Ｄｅｎのうち対応するデータと比較を行ない（シ
ミュレータ２による命令実行の場合は必ず一致）、一致
していれば次の試験データを用いた試験に進むが、一致
していなければエラー処理１４１でエラーメツセージを
編集し、不図示の印字装置に出力した後次の試験データ
による試験に進む。
＝りＤｔｉ 、 Ｄｔｚ、 −・・、Ｄｔｎの全てにつ
いて試験を行なったか否かを検査し、まだ試験を行なっ
ていない試験データがあれば、試験データ設定１２１で
次に試験を行なう試験データを求め、試験対象命令実行
１２２で演算を行なう。さらに期待値作成モードチェッ
ク１８０で期待値作成モードを調べ期待値を作成する必
要があるか否かを検査し、必要があれば試験対象命令実
行１２２で演算した結果を期待値としてシミュレータ２
の主記憶部２１の特定番地に実行結果退避１８１で退避
させる。ただし、実行結果退避１８１で退避する主記憶
部２１の番地は、期待値データ格納処理１１２で格納す
る番地と同一である。続いて、試験対象命令実行１２２
で演算した結果は、実行結果チェック１４０において、
表−２に示す期待値データＤｅｎ 、 Ｄｅｓ＋ 、φ
・・、Ｄｅｎのうち対応するデータと比較を行ない（シ
ミュレータ２による命令実行の場合は必ず一致）、一致
していれば次の試験データを用いた試験に進むが、一致
していなければエラー処理１４１でエラーメツセージを
編集し、不図示の印字装置に出力した後次の試験データ
による試験に進む。
このようにして表−１の全ての試験データＤｔｔ 。
Ｄｔｚ 、・・・、 Ｄｔｎを用いて試験を行なったこ
とを試験終了チェック１２０が検出したとき、期待値作
成モードチェック１５０で期待値作成の必要性を作成命
令実行１５１において、本発明の特徴である期待値作成
命令をシミュレータ２の期待値作成命令実行部２２４で
実行することによシ、シミュレータ２の主記憶部−２１
の特定番地に格納された表−２に示す期待値データＤθ
１．Ｄｅ２．・・・、 Ｄｅｎが゛外部記憶装置８に出
力され、処理（期待値データの作成）が終了する。
とを試験終了チェック１２０が検出したとき、期待値作
成モードチェック１５０で期待値作成の必要性を作成命
令実行１５１において、本発明の特徴である期待値作成
命令をシミュレータ２の期待値作成命令実行部２２４で
実行することによシ、シミュレータ２の主記憶部−２１
の特定番地に格納された表−２に示す期待値データＤθ
１．Ｄｅ２．・・・、 Ｄｅｎが゛外部記憶装置８に出
力され、処理（期待値データの作成）が終了する。
次に、本実施例のデータ処理装置試験方式の動作を説明
する。
する。
（１） 先づ、期待値データの作成について説明する
。
。
試験プログラムｌは、シミュレータ２の入出力制御部２
０を経由して主記憶部２１に格納され、命令処理部２２
において１命令ずつ実行される。
０を経由して主記憶部２１に格納され、命令処理部２２
において１命令ずつ実行される。
すなわち、命令解析部２２１が命令語を主記憶部２１か
ら読出し、命令群実行部２２２の中から、この命令語内
に在る命令コードに対応した命令実行部を起動する。こ
のようにして試験手順１０に従って行なわれた試験の試
験結果茹主記憶部２１に格納される。そして命令解析部
２２１が期待値作成命令を解読し、期待値作成命令実行
部２２４を起動すると、期待値作成命令実行部２２４は
入出力起動信号線２８を経由して入出力制御部２０にそ
の旨を通知する。通知を受けた入出力制御部２０は、主
記憶部２１の特定番地から試験結果（期待値データ）を
読出し、外部記憶装置８に格納する。
ら読出し、命令群実行部２２２の中から、この命令語内
に在る命令コードに対応した命令実行部を起動する。こ
のようにして試験手順１０に従って行なわれた試験の試
験結果茹主記憶部２１に格納される。そして命令解析部
２２１が期待値作成命令を解読し、期待値作成命令実行
部２２４を起動すると、期待値作成命令実行部２２４は
入出力起動信号線２８を経由して入出力制御部２０にそ
の旨を通知する。通知を受けた入出力制御部２０は、主
記憶部２１の特定番地から試験結果（期待値データ）を
読出し、外部記憶装置８に格納する。
（２）続いて、上記動作により作成された期待値データ
と試験プログラムｌを使用して被試験デー装置４の入出
力制御部４０を経由して主記憶部４１格納される。そし
て命令処理部４２において試験手順１０が実行され以下
の処理が行なわれる。外部記憶装置Ｂの期待値データが
入出力制御部４０を経由して主記憶部４１の特定番地に
格納される。試験手順１０内の試験対象命令が実行され
、試験データ１１が演算される。そして、この演算結果
と主記憶部４１の特定番地にロードされた期待値とが比
較され、被試験データ処理装置４の良否が決定される。
と試験プログラムｌを使用して被試験デー装置４の入出
力制御部４０を経由して主記憶部４１格納される。そし
て命令処理部４２において試験手順１０が実行され以下
の処理が行なわれる。外部記憶装置Ｂの期待値データが
入出力制御部４０を経由して主記憶部４１の特定番地に
格納される。試験手順１０内の試験対象命令が実行され
、試験データ１１が演算される。そして、この演算結果
と主記憶部４１の特定番地にロードされた期待値とが比
較され、被試験データ処理装置４の良否が決定される。
本実施例でＦ！、１つの命令に対して複数の試験データ
を用いて試験する場合について述べたが、被試験データ
処理装置４の全命令セットについて同様の試験ができる
こ゛とは明らかである。
を用いて試験する場合について述べたが、被試験データ
処理装置４の全命令セットについて同様の試験ができる
こ゛とは明らかである。
また、本実施例ではシミュレータ２の実行結果（期待値
データ）を外部記憶装置８に一旦格納するようにしたが
、被試験データ処理装置４に直接。
データ）を外部記憶装置８に一旦格納するようにしたが
、被試験データ処理装置４に直接。
転送するようにしてもよい。
本発明は、以上説明したように、被試験データ処理装置
ト同−命令セットを持つシミュレータ上で試験プログラ
ムを実行することにょシ、期待値データを含む試験プロ
グラムが容易に作成できる。
ト同−命令セットを持つシミュレータ上で試験プログラ
ムを実行することにょシ、期待値データを含む試験プロ
グラムが容易に作成できる。
第１図は本発明のデータ処理装置試験方式の一実施例を
示すブロック図、第２図はその試験手順１０を示すフロ
ーチャートである。 ｌ：試験プログラム。 ８：外部記憶装置。 ２：シミュレータ。 ４：被試験データ処理装置。 ｌＯ：試験手順。 ２１：主記憶部。 ２２：命令処理部。 ２８二′人出方起動信号線。 ２２１：命令解析部。 ２２２：命令群実行部。 ２２４＝期待値作成命令実行部。
示すブロック図、第２図はその試験手順１０を示すフロ
ーチャートである。 ｌ：試験プログラム。 ８：外部記憶装置。 ２：シミュレータ。 ４：被試験データ処理装置。 ｌＯ：試験手順。 ２１：主記憶部。 ２２：命令処理部。 ２８二′人出方起動信号線。 ２２１：命令解析部。 ２２２：命令群実行部。 ２２４＝期待値作成命令実行部。
Claims (1)
- 試験手順と試験データからなる試験プログラムと被試験
データ処理装置と同一命令セットが実行可能なシミュレ
ータを有し、該シミュレータ上で前記試験プログラムを
実行し、この実行結果を期待値データとし、前記試験プ
ログラムと前記期待値データを用いて被試験データ処理
装置を試験することを特徴とするデータ処理装置試験方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59143592A JPS6123248A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | デ−タ処理装置試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59143592A JPS6123248A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | デ−タ処理装置試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6123248A true JPS6123248A (ja) | 1986-01-31 |
Family
ID=15342305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59143592A Pending JPS6123248A (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | デ−タ処理装置試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6123248A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0622591U (ja) * | 1992-02-10 | 1994-03-25 | 日管株式会社 | 乾燥空間に取り付ける撹拌ファン装置 |
| JP2008500515A (ja) * | 2004-05-10 | 2008-01-10 | ニベア クオリティー マネージメント ソリューションズ エルティーディー． | 製品の機能保証と修理案内用の試験スート |
-
1984
- 1984-07-11 JP JP59143592A patent/JPS6123248A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0622591U (ja) * | 1992-02-10 | 1994-03-25 | 日管株式会社 | 乾燥空間に取り付ける撹拌ファン装置 |
| JP2008500515A (ja) * | 2004-05-10 | 2008-01-10 | ニベア クオリティー マネージメント ソリューションズ エルティーディー． | 製品の機能保証と修理案内用の試験スート |
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