JPS59195751A - 情報処理装置の診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、情報処理装置に係シ、特に、装置診断に好適
な診断方式に関する。

〔発明の背景〕

装置診断で使用する試験プログラムの例を第１図に示す
。試験プログラムは、一般に、複数個の試験グループよ
り構成されており、各試験グループは、各々、被試験命
令実行のためのデータの設定等の前準備を行うセットア
ツプ部、被試験命令を実行する被試験部、被試験命令実
行後の結果の確認を行う結果比較判定部とから構成され
ている。

従来技術による情報処理装置の診断方式を第２図に示す
。図中、１は被診断装置、２は診断用装置、３は記憶装
置、４は第１図で説明した試験プログラムを示す。

以下、第２図により、従来技術による情報処理装置の診
断方式を説明する。被診断装置１の診断に先立ち、予め
正常性が確認されている診断用装置２で試験プログラム
４を実行し、その結果のオペランド、ＣＰＵ状態語（Ｐ
ＳＷ）、及び汎用レジスタ（ＧＲ，）等各種レジスタの
内容等（以下［オペランド、レジスタの内容」と略す）
を、診断用期待値データとしてマシンサイクルに対応し
て記憶装置３に格納しておく。その後、被診断装置１で
試験プログラム４を実行し、結果が正常でない場合に再
度実行し、その結果のオペランド、レジスタの内容を、
予め記憶装置３に格納しである診断用期待値データのオ
ペランド、レジスタの内容と、マシンサイクルに対応し
て比較し不一致箇所を指摘することによシ、装置診断を
行うものである。

この様に、従来の診断方式では、被診断装置１の他に、
試験プログラム４を実行して診断用期待値データを作成
するための診断用装置２、作成した膨大な量の期待値デ
ータを格納するための記憶装置３とを必要とする欠点が
あった。

また、診断用期待値データとして、診断用情報処理装置
内メモリ装置に書き込まれているオペランドデータ、各
種内部レジスタの値等をマシンサイクルに対応して抽出
したものを使用しているため、当該情報処理装置の改良
等によシ論理変更が行われた場合には、診断用期待値デ
ータも変化する欠点があった。さらに、被診断装置１が
初号機の場合は小規模な診断用期待値データを人手で作
成し、しかも、不充分な装置診断しか行えない欠点があ
った。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、情報処理装置の診断に関し、効率的か
つ効果的かつ汎用的な診断方式を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、情報処理装置の装置診断に関し、診断用装置
、診断用期待値データを格納する記憶装置を接続しなく
とも、代りに、次に述べる擬似プロセジャを接続し、診
断用期待値データを作成し提供することにより、情報処
理装置の装置診断を効率的に行おうとする診断方式であ
る。

この擬似プロセジャは、診断用装置の機能動作を、装置
個々の論理方式には依存せずに、汎用的にプログラムで
記述し実行することにより、・　３　・ 尚該装置の機能動作をプログラム上で擬似的に実行可能
とさせるものである。

〔発明の実施例〕

以下、本発明による情報処理装置の診断方式を第３図３
に、実施例を第４図第５図に示す。

第３図中、１，４は第２図で述べた被診断装置。

試験プログラムであυ、５は擬似プロセジャを示す。こ
の擬似プロセジャ５は、被試験命令実行のために、第３
図に示す診断用装置２の機能動作を、装置個々の論理方
式には依存せずに、プログラム上で擬似的かつ汎用的に
実行するプログラム、及び、そのプログラムを実行する
ための情報処理装置よ多構成されている。一般に、被診
断装置１を試験する試験プログラムは、被診断装置１そ
れ自身で実行可能であシ、同様に考えると、擬似プロセ
ジャ用プログラムも被診断装置１上で実行可能である。

つまシ、前記擬似プロセジャ用プログラムは、プログラ
ム実行用の別の情報処理装置を用意しなくても、被診断
装置１そのもので実行可能である。このシス４　・ テム構成に於いて、被診断装置１で試験プログラム４を
実行し、結果が正常でない場合、再度、同一試験プログ
ラム４を、今度は、被診断装置１と擬似プロセジャ５と
の両方で実行し、両者のオペランド、レジスタの内容を
、１命令実行する度に比較し、不一致個所を命令に対応
づけて指摘するものである。

次に、第４図、第５図によシ、本発明による情報処理装
置の診断方式の実施例を説明する。

第４図は、被診断装置１と擬似プロセジャ５に於ける試
験プログラム４の実行流れ図である。

被診断装置１で、第１図に示す試験プログラム４内先頭
の試験グループのセットアツプ部を実行して被試験命令
の実行に必要なデータのセットアツプを行い、セットア
ツプが済んだら診断モードか否かを調べ、最初は診断モ
ードではないので被試験部の被試験命令を全命令実行す
る。

その後、結果比較判定部を実行して試験の結果を確認し
、正常終了か異常終了かの判定を行う。

正常終了であれば、第１図に示す試験プログラム４内の
全ての試験グループが終了したかを調べ、終了していな
ければ、試験グループ番号を更新し、次の試験グループ
について、再度、セットアツプ部から実行する。終了し
ていれば試験を終る。途中、結果比較判定部での確認の
結果、正常終了でなければ、診断モードフラグをセット
し、試験グループ番号は更新せずに同じ試験グループに
ついて、再度、セットアツプ部から実行する。セットア
ツプが済んだら診断モードか否かを調べ、今度は診断モ
ードなので被試験命令を一命◆だけ実行する。被診断装
置１での実行終了後、擬似プロセジャ５を起動し、命令
実行の制御を擬似プロセジャ５へ移す。擬似プロセジャ
５は、再度、被診断装置で実行したのと同じ被試験命令
を実行し、実行終了後、命令実行の制御を試験プログラ
ム４へ戻す。試験プログラム４は、以前、被診断装置１
で実行した結果のオペランド、レジスタの内容と、今、
擬似プロセジャ５で実行した結果のオペランド。

レジスタの内容とを比較する。一致していれば被試験命
令の命令アドレスを更新し、前の被試験命令と同様に次
の被試験命令を、被診断装置１と擬似プロセジャ５との
両方で実行し、実行結果を比較する。一致していなけれ
ば、不一致となったオペランド、レジスタの内容を表示
し、試験を終る。

第５図は、被診断装置１と擬似プロセジャ５とで実行さ
れる被試験命命の実行動作図である。

試験プログラム４の実行のために、まず、実行する試験
プログラム４を■０装置６から被診断装装置１内メモリ
装置７のα番地から始まる領域ヘロードする。試験プロ
グラム４内各試験グループの被試験部については擬似プ
ロセジャ５上でも実行するが、擬似プロセジャ５が使用
するメモリ領域は被診断装置１を構成しているメモリ装
置７であることから、被診断装置１上のメモリ装置７の
β番地から始まる領域へ、各試験グループの被試験部を
コピーする。メモリ装置７の容量に余裕がある場合は、
試験プログラム４全体をメモリ装置７のβ番地から始ま
る領域へ・　７ コピーしてもよい。コピーされた被試験部には、当然、
被試験命令、オペランド、　ＣＰＵ状態語（ＰＡＷ）。

及び、汎用レジスタ（ＧＲ）等各種レジスタの初期値が
含まれているが、コピーによって、それらのメモリ装置
７上のアドレスが変っている。そこで、擬似プロセジャ
５が上記情報をアクセスする場合には、被試験命令の命
令アドレス、又は、被試験命令で指定されるオペランド
アドレス等を、一定の手順で修飾変換し使用することが
必要となる。メモリ装置７上への試験プログラム４のロ
ード、コピーが終了したら、被診断装置１上で試験プロ
グラム４内各試験グループの実行を開始する。被診断装
置１は、各試験グループのセットアツプ部を実行し、メ
モリ装置７にロードされたＣＰＵ状態語（ｐｓｗ）、汎
用レジスタ（ＧｆＬ）等各種レジスタの初期値を、メモ
リ装置７から読み出し、被診断装置１内所定の内部レジ
スタ８ヘセツトスる。内部レジスタ８へのセットが終る
と、次に１被試験部、結果比較判定部を、第４図に説明
した手順に従い実行する。

・　８　・ 判定の結果、正常終了で々い場合のみ、再度、同じ試験
グループを読み出し、セットアツプ部から実行する。セ
ットアツプ部の実行を終り被試験部の実行を開始した時
、今度は、被試験部◆を１命◆だけメモリ装置７よシ読
み出し実行する０被試験命令の実行に伴い、メモリ装置
７上の被診断装置１用オペランド、被診断装置１内各種
の内部レジスタ８の値を更新し、被試験命令の実行を終
る。被診断装置１での被試験命令の実行が終ると、試験
プログラム４は、擬似プロセジャ５での被試験命令実行
のため、擬似プロセジャ５を起動する。すなわち、それ
まで被診断装置１上で実行していた試験プログラム４の
代りに、擬似プロセジャ５用のプログラムを被診断装置
１上で実行する。擬似プロセジャ５は、メモリ装置７の
β番地から始まる擬似プロセジャ５用の領域から、被診
断装置１で実行したのと同じ被試験命令を１命令だけ読
み出し実行する。被試験命令の実行に伴い、メモリ装置
７上の擬似プロセジャ５用オペランド、各種レジスタの
値を更新し、被試験命令の実行を終る。擬似プロセジャ
５は、被試験命令の実行が終ると、被診断装置１と擬似
プロセジャ５各々の命令実行結果であるオペランド、各
種レジスタの内容を試験プログラム４に比較させるため
、擬似プロセジャ５用プログラムの実行を終え、試験プ
ログラム４へ復帰する。すなわち、それまで被診断装置
１上で実行していた擬似プロセジャ５用プログラムの代
夛に、再度、試験プログラム４を被診断装置１上で実行
する。以後、試験プログラム４は、第４図に説明した手
順に従い、結果比較判定部を実行する。

以上、説明１〜だ様に、診断用装置２の機能動作を装置
側々の論理方式には依存せずに、汎用的にプログラムで
記述し実行させることによ汎当該装置の機能動作をプロ
グラム上で擬似的に実行可能とさせる擬似プロセジャ５
を作成する。

これを被診断装置１に接続し、被診断装置１上で試験プ
ログラム４が正常に終了しなかった場合に、再度、試験
プログラム４を被診断装置１上で実行し、試験プログラ
ム４内被試験部の実行時のみ、被試験命◆を１命令ずつ
被診断装置１と擬似プロセジャ５との両方で実行し、そ
の都度、両方の命令実行結果を比較し、不一致箇所を指
摘するものである。

これにより、従来の様に、診断用期待値データを作成す
る診断用装置２及び、作成した診断用期待値データを格
納する記憶装置６を使用しなくとも、被診断装置１に擬
似プロセジャ５を接続、実際には、擬似プロセジャ５用
のプログラムを被診断装置１上で実行することによシ、
即時に、診断用期待値データを作成し、診断に提供して
、被診断装置１の装置診断を行うことが可能となる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、情報処理装置の装置診断を行う場合、
従来の診断方式の様に、既に正常性が確認された診断用
装置で診断用期待値データを作成し、それを記憶装置に
格納して装置診断で使用することをしなくても、被診断
装置で実・　１１　・ 行したのと同じ被試験命令を、直ちに擬似プロセジャで
実行し、診断用期待値データを作成して装置診断で使用
できるので、情報処理装置の製品品質の早期確立、検査
工数の削減、検査期間の短縮等の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は装置診断で使用する試験プログラムの表示図、
第２図は従来方式による情報処理装置の診断方式の説明
図、第３図は本発明による情報処理装置の診断方式の説
明図、第４図は本発明方式の装置診断に於ける試験プロ
グラムの実行流れ図、第５図は本発明方式の装置診断に
於ける被試験命令の実行動作図である。 １　被診断装置、　　　　２・・・診断用装置、３・・
・記憶装置、　　　　　４・・・試験プログラム、５擬
似プロセジヤ、　　６・・・工０装置、７・・メモリ装
置、　　　　８・・・内部レジスタ。 代理人弁理士　高　橋　明　夫 ２ 羊　２　図 斗　　３　　団

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １゜　情報処理装置の機能動作をプログラムで記述し実
   行することにょシ、当該装置の機能動作をプログラム上
   で擬似的に実行可能にするプログラムと、そのプログラ
   ムを実行するための別の情報処理装置との両者から構成
   される擬似プロセジャを接続した被診断情報処理装置に
   於いて、試験プログラムを実行し、試験プログラムの結
   果が正常でない場合に１同一試験プログラムを被診断情
   報処理装置と擬似プロセジャとの両方で実行し、実行し
   た結果のメモリ上のオペランドデータと各種レジスタの
   内容を、命令対応に比較し、不一致箇所を指摘すること
   により。 命令対応の装置診断を行うことを特徴とする情報処理装
   置の診断方式。