JPS61223542A - アンプルの溶閉不良検出方法及び装置 - Google Patents
アンプルの溶閉不良検出方法及び装置Info
- Publication number
- JPS61223542A JPS61223542A JP60064780A JP6478085A JPS61223542A JP S61223542 A JPS61223542 A JP S61223542A JP 60064780 A JP60064780 A JP 60064780A JP 6478085 A JP6478085 A JP 6478085A JP S61223542 A JPS61223542 A JP S61223542A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ampoule
- edges
- measured
- defective
- head
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、アンプルの溶閉不良検出方法及び装置に関す
るものである。
るものである。
（従来の技術）
一般にアンプル頭部は液剤の充填後、その頭部が加熱溶
閉されるものであるが、通常溶閉されたアンプル頭部の
ガラス壁は、均一の肉厚であって、きれいなアールを形
成しているものである。
閉されるものであるが、通常溶閉されたアンプル頭部の
ガラス壁は、均一の肉厚であって、きれいなアールを形
成しているものである。
ところが、生産過程における溶閉時のバーナー炎の当た
り具合等により、実際にはガラスの厚みが均一とならず
、膨らみ、平ら、とんがり、落ち込み等の種々の形状不
良品を生ずる。
り具合等により、実際にはガラスの厚みが均一とならず
、膨らみ、平ら、とんがり、落ち込み等の種々の形状不
良品を生ずる。
このような溶閉不良のアンプルは、品質的に保証できな
いことや、外観上好ましくないことで良品アンプルから
選別して取り除く必要がある。
いことや、外観上好ましくないことで良品アンプルから
選別して取り除く必要がある。
ところが現在は、白色壁を背景にアンプルの１つ１つを
光にかざして、目視で検査をしている。
光にかざして、目視で検査をしている。
（発明が解決しようとする問題点）
以上のような検査方法によると、透明アンプルにおける
微小なガラス壁の歪みは、これを見分けることが困難で
あるばかりでなく効率的に検出できない。
微小なガラス壁の歪みは、これを見分けることが困難で
あるばかりでなく効率的に検出できない。
（問題を解決するための手段）
したがって、本発明の技術的課題は、生産中充填アンプ
ルの頭部溶閉不良品を、効率的に自動検出できる方法と
装置を提供するものである。
ルの頭部溶閉不良品を、効率的に自動検出できる方法と
装置を提供するものである。
この技術的課題を解決する本発明の技術的手段は、溶閉
アンプル頭部を受光面に投影して結像せしめ、その結像
の径方向のエツジをセンサーによって複数条検知して該
エツジ数とエツジの外幅及び内幅を測定し、これに基づ
いて形状不良か否かを一定の論理基準によって溶閉不良
アンプルを検出することを特徴とするアンプルの溶閉不
良検出方法と、アンプル頭部の投影装置と、この投影装
置における結像アンプルの径方向に対するセンサー上の
エツジ数と、エツジの外幅、内幅をゲート信号として測
定する装置と該測定装置で測定された信号から一定の論
理基準にしたがってアンプル形状の良否を判定する装置
とからなるアンプルの溶閉不良検出装置である。
アンプル頭部を受光面に投影して結像せしめ、その結像
の径方向のエツジをセンサーによって複数条検知して該
エツジ数とエツジの外幅及び内幅を測定し、これに基づ
いて形状不良か否かを一定の論理基準によって溶閉不良
アンプルを検出することを特徴とするアンプルの溶閉不
良検出方法と、アンプル頭部の投影装置と、この投影装
置における結像アンプルの径方向に対するセンサー上の
エツジ数と、エツジの外幅、内幅をゲート信号として測
定する装置と該測定装置で測定された信号から一定の論
理基準にしたがってアンプル形状の良否を判定する装置
とからなるアンプルの溶閉不良検出装置である。
ここで工、ジとは、受光面であるテレビ受光面の走査線
又はラインセンサー等における各センサー上のアンプル
壁によって光が暗（なった部分をいう。
又はラインセンサー等における各センサー上のアンプル
壁によって光が暗（なった部分をいう。
又、エツジの外幅とは、結像アンプルの外径をさし、エ
ツジの内幅とは結像アンプルの内径をいう。
ツジの内幅とは結像アンプルの内径をいう。
（発明の効果）
この技術的手段によれば、従来のように目視による人手
をわずられすことなく、機械的にしかも確実にその選別
をすることができると共にその装置は主として光学的部
分と電気的部分とからなるものであるから、故障の起こ
ることも少ない。
をわずられすことなく、機械的にしかも確実にその選別
をすることができると共にその装置は主として光学的部
分と電気的部分とからなるものであるから、故障の起こ
ることも少ない。
しかも、この技術的手段の優れた点は個々のアンプルの
頭部の形状に左右されないということである。
頭部の形状に左右されないということである。
すなわち、テレビ受光面の走査線又はラインセンサー等
における各センサー上のアンプル壁によって、光が暗（
なった部分のいわゆるエツジ数の測定とエツジの外幅及
び内幅を比較測定することによって不良品を判別できる
もので、溶閉時の炎の具合によってできたふくらみ、タ
イラ、トンガリ、落ち込み等の種々の形状不良品を容易
に判別できるものでアンプルの径にバラツキがあっても
個々のアンプルに応じて良否の判定が可能であるという
特徴がある。
における各センサー上のアンプル壁によって、光が暗（
なった部分のいわゆるエツジ数の測定とエツジの外幅及
び内幅を比較測定することによって不良品を判別できる
もので、溶閉時の炎の具合によってできたふくらみ、タ
イラ、トンガリ、落ち込み等の種々の形状不良品を容易
に判別できるものでアンプルの径にバラツキがあっても
個々のアンプルに応じて良否の判定が可能であるという
特徴がある。
（実施例）
以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を説明する。
第４図に示すものは、液剤を充填密封したアンプル（Ａ
）であって、その頭部（１）の頂部（２）は溶閉部分で
ある。
）であって、その頭部（１）の頂部（２）は溶閉部分で
ある。
第５図に示すものは、アンプル（Ａ）の頭部（１）を拡
大した断面で（イ）は良品される通常のものでガラス壁
の肉厚がほぼ均一であるのに対し、（ロ）（ハ）は不良
品とされるもので１＋＋１アンプルであると頭部（２）
より２〜５日位の所に最大幅ａの内壁の膨らみ部（３）
を生じこの部分より２〜３鶴位下がった所に最小幅すの
内壁の括れ部（４）を生ずる。
大した断面で（イ）は良品される通常のものでガラス壁
の肉厚がほぼ均一であるのに対し、（ロ）（ハ）は不良
品とされるもので１＋＋１アンプルであると頭部（２）
より２〜５日位の所に最大幅ａの内壁の膨らみ部（３）
を生じこの部分より２〜３鶴位下がった所に最小幅すの
内壁の括れ部（４）を生ずる。
これは、加熱溶閉時のバーナー炎の強さ、方向、時間等
のよって生ずるもので、その膨らみ部（３）は薄肉部（
５）となる。この薄肉部（５）が破損を生ずるおそれの
ある部分で、アンプル不良品の１要因となる所である。
のよって生ずるもので、その膨らみ部（３）は薄肉部（
５）となる。この薄肉部（５）が破損を生ずるおそれの
ある部分で、アンプル不良品の１要因となる所である。
生産過程で、以上のような膨らみが生じる場合が多いが
、第６図（イ）（ロ）（ハ）のような形状不良品も発生
することがある。
、第６図（イ）（ロ）（ハ）のような形状不良品も発生
することがある。
（イ）は、頭部が平らなもの、（ロ）はとんがりのある
もの、（ハ）は落ち込み形状のものである。
もの、（ハ）は落ち込み形状のものである。
本発明は、以上のような形状不良品をすべて自動的に判
別できるようにしたものであって、第２図に示すように
アンプルＡに対してランプ（Ｃ）より投光レンズ（ｄ）
を通して平行光線をあて、これらの透過光線を結像レン
ズ（１３）を通して、テレビカメラの受光面（ｆ）上に
アンプル（Ａ）の頭部（１）を投影して結像させこの結
像アンプルにおける各走査線上の光を電気信号に変換し
て測定するという画像処理技術を用いて検査判別するも
ので溶閉されたアンプル頭部の形状の特徴がよくあられ
れている部分の寸法を測定し、ある一定の論理基準すな
わちアルゴリズムにしたがって良否を判定するものであ
る。
別できるようにしたものであって、第２図に示すように
アンプルＡに対してランプ（Ｃ）より投光レンズ（ｄ）
を通して平行光線をあて、これらの透過光線を結像レン
ズ（１３）を通して、テレビカメラの受光面（ｆ）上に
アンプル（Ａ）の頭部（１）を投影して結像させこの結
像アンプルにおける各走査線上の光を電気信号に変換し
て測定するという画像処理技術を用いて検査判別するも
ので溶閉されたアンプル頭部の形状の特徴がよくあられ
れている部分の寸法を測定し、ある一定の論理基準すな
わちアルゴリズムにしたがって良否を判定するものであ
る。
先ず、ふくらみ不良を判定するには、アンプルの像の内
側に特徴が出るのをとらえて判定するものである− すなわち、第７図において、ふ（らみ不良の場合は（イ
）の如（ｊ！ｎ＞ｊ！ｎ＋ｌ〉ｊｔｎ＋２良品の場合は
（ロ）の如＜ ｊ！ ｎ ＞ Ｉｉ ｎ ＋ ｌ≦Ｊｎ
＋２となるのでアンプル像の外形を測定し、上記のよう
な比較において良、不良を判定することになる。
側に特徴が出るのをとらえて判定するものである− すなわち、第７図において、ふ（らみ不良の場合は（イ
）の如（ｊ！ｎ＞ｊ！ｎ＋ｌ〉ｊｔｎ＋２良品の場合は
（ロ）の如＜ ｊ！ ｎ ＞ Ｉｉ ｎ ＋ ｌ≦Ｊｎ
＋２となるのでアンプル像の外形を測定し、上記のよう
な比較において良、不良を判定することになる。
次にタイラネ良の場合は、第８図に示すようにアンプル
の外形が急激に太くなっているか特徴である。第８図に
おいて、（イ）は不良の場合（ロ）は良品の場合を示し
ている。
の外形が急激に太くなっているか特徴である。第８図に
おいて、（イ）は不良の場合（ロ）は良品の場合を示し
ている。
したがって、例えば次のような判定アルゴリズムが考え
られる。
られる。
すなわち、アンプルの外径が急にある程度以上の値にな
ったら不良と判定する。
ったら不良と判定する。
第８図の例では、良品０→３−４−５−６−７、不良品
の場合は０→０−０→７→７となりその特徴がよ（出て
いる。
の場合は０→０−０→７→７となりその特徴がよ（出て
いる。
そこでアンプルがはじめて走査線（図中の横線）を横切
ってから決められた本数の走査線内に外径が飽和値に達
した場合、タイラネ良と判定する。
ってから決められた本数の走査線内に外径が飽和値に達
した場合、タイラネ良と判定する。
したがって、良品は５本目で飽和値に達し、不良品は２
本目で飽和値に達している。この判定のメリットは、形
状の不均一な面を吸収できることにある。
本目で飽和値に達している。この判定のメリットは、形
状の不均一な面を吸収できることにある。
例えば、第９図に示すように変化率は（イ）の場合３→
５→７、（ロ）の場合は１−４−７とそれほど急激でも
ないが両方共走査線がアンプルを横切ってから３本目で
飽和値に達してしまっているので、容易にタイラネ良と
判定できる。
５→７、（ロ）の場合は１−４−７とそれほど急激でも
ないが両方共走査線がアンプルを横切ってから３本目で
飽和値に達してしまっているので、容易にタイラネ良と
判定できる。
次にトンガリ不良の場合は、アンプル頭部の外径がある
値以下でかつこの値が複数の走査線について連続して測
定された場合、これをトンガリ不良と判定できる。
値以下でかつこの値が複数の走査線について連続して測
定された場合、これをトンガリ不良と判定できる。
第１０図はトンガリ不良の場合を示すもので（イ）（ロ
）は良品（ハ）は不良品であって、１−２−２と３本の
走査線で連続して同一厚さのものが結果としてあられれ
ている。
）は良品（ハ）は不良品であって、１−２−２と３本の
走査線で連続して同一厚さのものが結果としてあられれ
ている。
走査線がアンプルに触れてから約５〜７Ｎの外径を測定
すれば１カ所でも判定できそうであるが複数の測定ポイ
ントで確認した方が安全である。
すれば１カ所でも判定できそうであるが複数の測定ポイ
ントで確認した方が安全である。
次に落ち込み変形等の不良は、第１１図（イ）（ロ）（
ハ）や第１３図のような場合である。
ハ）や第１３図のような場合である。
このような不良品はアンプル壁による光の遮蔽の数（回
数）をカウントして測定する。
数）をカウントして測定する。
例えば、第１２図は良品、第１３図は不良品を示すが、
第１の走査線では、アンプル壁によって光が暗くなる部
分を電気的にとらえると、右図のように１回のダウンエ
ツジ信号（ａ −ｂ ）から１回のアップエツジ信号（
ｃ −ｄ ）をあられし、同時に第２．３走査線ではダ
ウンエツジ信号（ａ−ｂ、ｇ−ｈ）２回、アップエツジ
信号（ｅ ｗ ｆ 、 Ｃ％ ｄ ） ’１回の信号
かえられる。
第１の走査線では、アンプル壁によって光が暗くなる部
分を電気的にとらえると、右図のように１回のダウンエ
ツジ信号（ａ −ｂ ）から１回のアップエツジ信号（
ｃ −ｄ ）をあられし、同時に第２．３走査線ではダ
ウンエツジ信号（ａ−ｂ、ｇ−ｈ）２回、アップエツジ
信号（ｅ ｗ ｆ 、 Ｃ％ ｄ ） ’１回の信号
かえられる。
不良品の場合は、第１走査線ではダウンエツジ信号（ａ
−ｂ）、アンプエツジ信号（ｃ −ｄ ）が何れも１回
であるが、第２．３走査線ではダウンエツジ信号（ａ−
ｂ、１１−ｍ、ｇ−ｈ）、アンプエツジ信号（ｅ ｗ
ｆ 、 ｎ −ｓ−ｏ 、 Ｃ−％−ｄ ）が３回であ
る。
−ｂ）、アンプエツジ信号（ｃ −ｄ ）が何れも１回
であるが、第２．３走査線ではダウンエツジ信号（ａ−
ｂ、１１−ｍ、ｇ−ｈ）、アンプエツジ信号（ｅ ｗ
ｆ 、 ｎ −ｓ−ｏ 、 Ｃ−％−ｄ ）が３回であ
る。
第１２．１３図から理解されるように、良品ではダウン
エツジ信号（１）の数もアップエツジ信号Ｕ）の数も２
を超えることはないので、エツジ数をカウントし、２を
超えたら不良とするものである。
エツジ信号（１）の数もアップエツジ信号Ｕ）の数も２
を超えることはないので、エツジ数をカウントし、２を
超えたら不良とするものである。
第１１図（イ）のような不良品の実際の姿は、第１１図
（ニ）のようになっている場合が多いわけで、不良個所
のセンサーに対する向きによっては、エツジ数が良品と
同じになってしまう場合もありうるので、アンプルを９
０°回転して２度検査する。
（ニ）のようになっている場合が多いわけで、不良個所
のセンサーに対する向きによっては、エツジ数が良品と
同じになってしまう場合もありうるので、アンプルを９
０°回転して２度検査する。
以上のような一定の論理基準すなわちアルゴリズムにし
たがってアンプルの良否の判定をするには、第１図に示
すような装置を用いて行うものである。
たがってアンプルの良否の判定をするには、第１図に示
すような装置を用いて行うものである。
すなわち、この装置は、前述したように第２図に示すア
ンプル頭部の投影装置によってテレビカメラの受光面に
結像されたアンプル像を各走査線にしたがってゲート回
路９．〜９７でゲート信号としてとらえ、これを分析し
てエツジカウンター１０．〜１０ルと内外ゲート幅測定
回路１１゜〜１１ルのそれぞれにエツジ信号を送る。
ンプル頭部の投影装置によってテレビカメラの受光面に
結像されたアンプル像を各走査線にしたがってゲート回
路９．〜９７でゲート信号としてとらえ、これを分析し
てエツジカウンター１０．〜１０ルと内外ゲート幅測定
回路１１゜〜１１ルのそれぞれにエツジ信号を送る。
この信号により、エツジカウンター１０／〜１０、でエ
ツジ数がカウントされ、内外ゲート幅測定回路１１．〜
１１％でエツジの外幅（アンプルの外径）内幅（アンプ
ルの内径）がゲート信号として測定され、そのゲート時
間内でのクロックパルスをカウントする。それには、内
外ゲート幅測定回路１１７〜１１ｆＬに向かって、ゲー
ト幅測定用基準パルス発生回路（１２）から基準パルス
が送られていることにより、クロックパルスとしてカウ
ントされる。
ツジ数がカウントされ、内外ゲート幅測定回路１１．〜
１１％でエツジの外幅（アンプルの外径）内幅（アンプ
ルの内径）がゲート信号として測定され、そのゲート時
間内でのクロックパルスをカウントする。それには、内
外ゲート幅測定回路１１７〜１１ｆＬに向かって、ゲー
ト幅測定用基準パルス発生回路（１２）から基準パルス
が送られていることにより、クロックパルスとしてカウ
ントされる。
そして、この測定された測定値すなわち、クロックパル
ス数１〜ｎを中央処理回路（１３）で形状不良か否かの
判定すなわち、内径、外径の測定値（１〜ｎ）をそれぞ
れの形状不良に応じたアルゴリズムによって判定する。
ス数１〜ｎを中央処理回路（１３）で形状不良か否かの
判定すなわち、内径、外径の測定値（１〜ｎ）をそれぞ
れの形状不良に応じたアルゴリズムによって判定する。
一方エッジカウンター１０１〜１０ルでカウントされた
エツジ数は、判定回路（１４）で良否が判別され、例え
ば、エツジの数が規定数（２個以内）ならば良品３個以
上は不良品とするもので、この判定信号と中央処理回路
（１３）からの判定信号をＯＲ回路（１５）でつないで
、いずれも良の場合のみ良品とする最終判定をするので
ある。
エツジ数は、判定回路（１４）で良否が判別され、例え
ば、エツジの数が規定数（２個以内）ならば良品３個以
上は不良品とするもので、この判定信号と中央処理回路
（１３）からの判定信号をＯＲ回路（１５）でつないで
、いずれも良の場合のみ良品とする最終判定をするので
ある。
第３図に示すものは、結像アンプルをラインセンサーで
とらえた場合であって、しかもサイズの異なるアンプル
を検出する場合について示されている。
とらえた場合であって、しかもサイズの異なるアンプル
を検出する場合について示されている。
すなわち、各サイズ毎のアンプルの結像位置に対応して
、例えばサイズ１用（７）として（ｚ、）（βλ）、サ
イズ２用（８）として、ＣＩＪ ）（Ａ％）のラインセ
ンサーを設置し、これらのラインセンサーに対して機械
的に投影装置を動かして対応させる場合を示している。
、例えばサイズ１用（７）として（ｚ、）（βλ）、サ
イズ２用（８）として、ＣＩＪ ）（Ａ％）のラインセ
ンサーを設置し、これらのラインセンサーに対して機械
的に投影装置を動かして対応させる場合を示している。
第１４図に示すものは、第１５図のアンプル外径の測定
値に基づいて、横軸にアンプルの頭上を１として計った
距離をとり、縦軸にアンプル外径をとってあられしたグ
ラフである。ただし、測定間隔は約０．３ｍｍである。
値に基づいて、横軸にアンプルの頭上を１として計った
距離をとり、縦軸にアンプル外径をとってあられしたグ
ラフである。ただし、測定間隔は約０．３ｍｍである。
又トンガリ不良は２方向より測定したデータに基づいて
いる。
いる。
Ａ部分はタイラネ良、Ｂ部分はトンガリ不良をあられし
、Ｃ部分は良品の部分をあられすもので、ハンチングの
入った部分に測定値が入るといずれも良品とされるもの
である。
、Ｃ部分は良品の部分をあられすもので、ハンチングの
入った部分に測定値が入るといずれも良品とされるもの
である。
第１６図は、良品と不良品の各アンプル像を示す。
第１図は本発明にかかる電気回路
第２図は投影装置を示す説明図
第３図は異なるサイズのアンプルを測定する場合のライ
ンセンサーの説明図 第４図は充填溶閉アンプルの正面図 第５図は充填溶閉アンプルの頭部の断面図であって、（
イ）は良品、（ロ）（ハ）はふくら −
み不良品のもの 第６図（イ）（ロ）（ハ）は異なる不良品を示す説明図 第７図（イ）（ロ）はふくらみ不良品の測定原理を示す
説明図 第８図（イ）（ロ）はタイラネ良品の測定原理を示す説
明図 第９図（イ）（ロ）は同上の測定原理を異なる角度から
示す説明図 第１０図（イ）（ロ）（ハ）はトンガリ不良品の測定原
理を示す説明図 第１１図（イ）（ロ）（ハ）（ニ）は落ち込みアンプル
の説明図 第１２．１３図はエツジ数で測定する良品と不良品の場
合の説明図 第１４図は測定されたアンプル外径にもとづくグラフ 第１５図は測定されたアンプル外径のデータ第１６図（
イ）〜（す）は各種結像アンプル図である。 ９１〜９ル・・・ゲート回路 １０、〜１〇九・・・エツジカウンター１１、〜１１７
Ｌ・・・内外ゲート幅測定回路（１２）・・・ゲート幅
測定用基準パルス（１３）・・・中央処理回路 （１４）・・・判定回路 （１５）・・・ＯＲ回路 第６図 （イ） （ロ） （八）渠７
図 （イ） （ロ）ＩＩｓ図 （イ） （ロ）（ハ） 第３図 第４図 事 （ロ） 串 第１０図 （Ｉ、）（Ｏ） ８−図 ３ 図 （イ） 第１６図 （イ） （ロ）（ド）（
＋） （ハ） （す）
ンセンサーの説明図 第４図は充填溶閉アンプルの正面図 第５図は充填溶閉アンプルの頭部の断面図であって、（
イ）は良品、（ロ）（ハ）はふくら −
み不良品のもの 第６図（イ）（ロ）（ハ）は異なる不良品を示す説明図 第７図（イ）（ロ）はふくらみ不良品の測定原理を示す
説明図 第８図（イ）（ロ）はタイラネ良品の測定原理を示す説
明図 第９図（イ）（ロ）は同上の測定原理を異なる角度から
示す説明図 第１０図（イ）（ロ）（ハ）はトンガリ不良品の測定原
理を示す説明図 第１１図（イ）（ロ）（ハ）（ニ）は落ち込みアンプル
の説明図 第１２．１３図はエツジ数で測定する良品と不良品の場
合の説明図 第１４図は測定されたアンプル外径にもとづくグラフ 第１５図は測定されたアンプル外径のデータ第１６図（
イ）〜（す）は各種結像アンプル図である。 ９１〜９ル・・・ゲート回路 １０、〜１〇九・・・エツジカウンター１１、〜１１７
Ｌ・・・内外ゲート幅測定回路（１２）・・・ゲート幅
測定用基準パルス（１３）・・・中央処理回路 （１４）・・・判定回路 （１５）・・・ＯＲ回路 第６図 （イ） （ロ） （八）渠７
図 （イ） （ロ）ＩＩｓ図 （イ） （ロ）（ハ） 第３図 第４図 事 （ロ） 串 第１０図 （Ｉ、）（Ｏ） ８−図 ３ 図 （イ） 第１６図 （イ） （ロ）（ド）（
＋） （ハ） （す）
Claims (2)
- （１）溶閉アンプル頭部を受光面に投影して結像せしめ
、その結像の径方向のエッジをセンサーによって複数条
検知して該エッジ数とエッジの外幅及び内幅を測定し、
これに基づいて形状不良か否かを一定の論理基準によっ
て溶閉不良アンプルを検出することを特徴とするアンプ
ルの溶閉不良検出方法 - （２）アンプル頭部の投影装置と、この投影装置におけ
る結像アンプルの径方向に対するセンサー上のエッジ数
とエッジの外幅、内幅をゲート信号として測定する装置
と該測定装置で測定された信号から一定の論理基準にし
たがって、アンプル形状の良否を判定する装置とからな
るアンプルの溶閉不良検出装置
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60064780A JPS61223542A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | アンプルの溶閉不良検出方法及び装置 |
| US06/839,148 US4725856A (en) | 1985-03-28 | 1986-03-12 | Method of and apparatus for checking defectively fused ampoules |
| AT86301859T ATE60127T1 (de) | 1985-03-28 | 1986-03-14 | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle von auf mangelhafte weise zugeschmolzenen flaeschchen. |
| EP86301859A EP0196811B1 (en) | 1985-03-28 | 1986-03-14 | Method of and apparatus for checking defectively fused ampoules |
| DE8686301859T DE3676850D1 (de) | 1985-03-28 | 1986-03-14 | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle von auf mangelhafte weise zugeschmolzenen flaeschchen. |
| CA000505227A CA1254284A (en) | 1985-03-28 | 1986-03-26 | Method of and apparatus for checking defectively fused ampoules |
| MX2034A MX161608A (es) | 1985-03-28 | 1986-03-31 | Mejoras a metodo y aparato para la comprobacion de ampolletas de vidrio defectuosas |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60064780A JPS61223542A (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | アンプルの溶閉不良検出方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61223542A true JPS61223542A (ja) | 1986-10-04 |
| JPH0431057B2 JPH0431057B2 (ja) | 1992-05-25 |
Family
ID=13268068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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