JPS58184537A - 硝子ビンのきず検出装置 - Google Patents
硝子ビンのきず検出装置Info
- Publication number
- JPS58184537A JPS58184537A JP6775382A JP6775382A JPS58184537A JP S58184537 A JPS58184537 A JP S58184537A JP 6775382 A JP6775382 A JP 6775382A JP 6775382 A JP6775382 A JP 6775382A JP S58184537 A JPS58184537 A JP S58184537A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image sensor
- glass bottle
- light
- light source
- bottle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ール、清涼飲料水などの容器にされる硝子ビンは、一般
に回収されて何回４使用されるが，その使用回数が増加
するに従いビンの円筒部上部および下端部にけちまき状
のすジきずが生じ同時にきず強ｆ（きすの深さ）および
きすの幅が大きくなる。
に回収されて何回４使用されるが，その使用回数が増加
するに従いビンの円筒部上部および下端部にけちまき状
のすジきずが生じ同時にきず強ｆ（きすの深さ）および
きすの幅が大きくなる。
さらに使用回数が増大すると、円筒部全面に規則性のな
いきすも増加する。このような硝子ビンは商品価値が低
下すると共に強ｉ的にも劣化［７，破損の危険がある。
いきすも増加する。このような硝子ビンは商品価値が低
下すると共に強ｉ的にも劣化［７，破損の危険がある。
％に炭酸飲料水の容器として使用する場合Ｆｉ、内部が
加圧状１１になっているため破損し抽くなる。
加圧状１１になっているため破損し抽くなる。
そこで、ビン詰め工場では、その工程の自動化。
省力化のため硝子ビンのきすｔ検出する装置が必要とな
る。
る。
しかしながら、環状でけ１＆：ｌｌずτのある硝子ビン
會検出するに当り１人間の目視判断ｆよｆ）選別してお
り、ｉ′Ｅｎな検出ができない。また最近光学式のきず
検出ｆＩ錠が発表されているが、これはビンの−ＥＶＣ
表面の反射光おるいは散乱光管フォトダイオード等によ
り検出するもので第ｔ）、投光器、受光覧の位１１関係
が微妙であり、かつ検出するタイミングも微妙であり、
このｔめ七れらを設定するのが非常に困蟻なものとなっ
ている。本発明はこのような問題点ＫＩＩみ、しかも工
程の自動化、省力化など會考慮しなされたものであり、
本発明を絆述すｂ前Ｋまず本発明の背景について説明す
る。
會検出するに当り１人間の目視判断ｆよｆ）選別してお
り、ｉ′Ｅｎな検出ができない。また最近光学式のきず
検出ｆＩ錠が発表されているが、これはビンの−ＥＶＣ
表面の反射光おるいは散乱光管フォトダイオード等によ
り検出するもので第ｔ）、投光器、受光覧の位１１関係
が微妙であり、かつ検出するタイミングも微妙であり、
このｔめ七れらを設定するのが非常に困蟻なものとなっ
ている。本発明はこのような問題点ＫＩＩみ、しかも工
程の自動化、省力化など會考慮しなされたものであり、
本発明を絆述すｂ前Ｋまず本発明の背景について説明す
る。
−次元イメージセンナは、物体の反射光、透過光、散乱
光など？、ある一次元すなわちある線分上のみをスライ
スしてその強を會各画素ごとのア１１：、。
光など？、ある一次元すなわちある線分上のみをスライ
スしてその強を會各画素ごとのア１１：、。
ナログ信号として取り出すことができる本のである。ｔ
ｘ右カメランズなどｔ用いてイメージセンサ素子上に夷
像會結げせるので、遠方からの監視がで＃、さらにこれ
らのことがミ１７秒′Ｐ４［の時間内に行なうことかで
負るなどの利点がある。
ｘ右カメランズなどｔ用いてイメージセンサ素子上に夷
像會結げせるので、遠方からの監視がで＃、さらにこれ
らのことがミ１７秒′Ｐ４［の時間内に行なうことかで
負るなどの利点がある。
オた。硝子ビンに生じるは□ちまき状のきすけ、前述し
皮ように萬１図の如く硝子ビン／の円筒部の上端部およ
び下ｙｓｓに生じやすい。ｆた下端部のきず／ａは、上
端部のきず／に＋より早期に生ずる共に円筒部円周上に
ほぼ均一に生じる。従って下端部のきずｌ亀け、ビン噌
歴會良く現わすと同時に測足に関してもどのレベルでス
ライスして４均−な信号が得られるという％徴ｔもって
いる。
皮ように萬１図の如く硝子ビン／の円筒部の上端部およ
び下ｙｓｓに生じやすい。ｆた下端部のきず／ａは、上
端部のきず／に＋より早期に生ずる共に円筒部円周上に
ほぼ均一に生じる。従って下端部のきずｌ亀け、ビン噌
歴會良く現わすと同時に測足に関してもどのレベルでス
ライスして４均−な信号が得られるという％徴ｔもって
いる。
従って下端部のきず／ａのみ會検出すれば、ビン全体に
間する情報が得られることに愈る。
間する情報が得られることに愈る。
本発明は以上の点に着目１２、被測定対象でめる硝子ビ
ンに対［７，光源とイメージセンすと１用いてなる硝子
ビンのきず検出装置において、前記調合ビンに対し前ｖ
ｊｔ源と前記イメージセンサと會同−画１１面状に配置
し、前記光源と前記イメージセンサの光軸に一足の角ｆ
會もたせ、かつ硝子ビンの声ず発生部釘に前Ｖ光源から
投射した光の赦尽光會郁紀イメージセンナに集光させる
ようにし、。
ンに対［７，光源とイメージセンすと１用いてなる硝子
ビンのきず検出装置において、前記調合ビンに対し前ｖ
ｊｔ源と前記イメージセンサと會同−画１１面状に配置
し、前記光源と前記イメージセンサの光軸に一足の角ｆ
會もたせ、かつ硝子ビンの声ず発生部釘に前Ｖ光源から
投射した光の赦尽光會郁紀イメージセンナに集光させる
ようにし、。
萌ｒイメージ七ンサの出力により判定部で硝子ビンのき
す権＃會判定するようＫＩＩ取１．友ことを特命とする
硝子ビンのきず検出装ｆＹｒ提供しようとする庵ので、
ＤＪ下実施例會甲いて鰭明する。
す権＃會判定するようＫＩＩ取１．友ことを特命とする
硝子ビンのきず検出装ｆＹｒ提供しようとする庵ので、
ＤＪ下実施例會甲いて鰭明する。
＠２図は本発明による硝子ビンのきず検出装會の一賽施
−１１−示し、特に光源λと被測定対象である６１ビン
ノとレンズ３とイメージセンサ参の同−垂１＃面内にお
ける配置関係１示し、ている。ここで光源コは集光性が
あって本なくてもよいが、イメージセンサ−の禮舒に入
る部分Ｋｎはぼ均一に光束を照射できるものとする。オ
た光源２とイメージセンサＶの各々の光軸けある所足の
角材ｏ會持たせて、正反射光がイメージセンサμに入射
しナイヨうＶζ［１、散乱光ケイメージセン′＃μに入
１ｔさせるようｐでする。散乱光の９ＩＪ度はきす強度
に比例し、硝子ビンｌの厚は１色にはほとんど彰轡を７
ｔ＝［ｅ、＜図示）Ｆｉ正、負どちらで啄かまねないが
、哨子ビン／の下部を検査する場合ＫＦｉビン／ノ底部
の曲面からの正反射光がイメージセンサμ（・（入射す
る恐れがあるので、正、即ち図示のようにイメージセン
サ弘の子方にとっｔ方が好マ【、い。
−１１−示し、特に光源λと被測定対象である６１ビン
ノとレンズ３とイメージセンサ参の同−垂１＃面内にお
ける配置関係１示し、ている。ここで光源コは集光性が
あって本なくてもよいが、イメージセンサ−の禮舒に入
る部分Ｋｎはぼ均一に光束を照射できるものとする。オ
た光源２とイメージセンサＶの各々の光軸けある所足の
角材ｏ會持たせて、正反射光がイメージセンサμに入射
しナイヨうＶζ［１、散乱光ケイメージセン′＃μに入
１ｔさせるようｐでする。散乱光の９ＩＪ度はきす強度
に比例し、硝子ビンｌの厚は１色にはほとんど彰轡を７
ｔ＝［ｅ、＜図示）Ｆｉ正、負どちらで啄かまねないが
、哨子ビン／の下部を検査する場合ＫＦｉビン／ノ底部
の曲面からの正反射光がイメージセンサμ（・（入射す
る恐れがあるので、正、即ち図示のようにイメージセン
サ弘の子方にとっｔ方が好マ【、い。
藁２図の配噴棺放ｆおいて、光Ｓ、：、コから硝子ビン
／の下熾部のさず発生部位に投射し、その散乱光が集光
レンズ３を介してイメージセンサ−感ｃ入鼾さｔｌろ。
／の下熾部のさず発生部位に投射し、その散乱光が集光
レンズ３を介してイメージセンサ−感ｃ入鼾さｔｌろ。
ここで、イメージセンサＶの出方け、硝子ビンｌの下端
部のきず／ａのきず強度が大きい場合、イメージセンサ
視野内のそのきす部位ｆ相当するイメージセンサ−の出
力は第３図の如く大声くなり、きずが殆んどなければそ
の視野内でのイメージセｒ１の出力Ｆｉ第４図の如くほ
ぼフラフトな出力が得られる。第８図、第４ｅにおいて
、イメージセンサ−の出力信号と０ （零）レベルによ
りできる面積はイメージセンサ−の視野内のさず＃４度
の平均値１示す。ま友イメージセンサ−の出力信号のピ
ーク普Ｙ検出すれば、最大倉ず強闇を寿ることかできる
。さらに硝子ビンのようにきすの生じるＳ位（き−ｊ＋
：、発生Ｓ位）がほぼ一定の部分に限られているものに
関しては上！ｋＪ面積測冗をさらに限定すれば、すりき
すの強麿會さらに精度よく検ｌｉｔできる。
部のきず／ａのきず強度が大きい場合、イメージセンサ
視野内のそのきす部位ｆ相当するイメージセンサ−の出
力は第３図の如く大声くなり、きずが殆んどなければそ
の視野内でのイメージセｒ１の出力Ｆｉ第４図の如くほ
ぼフラフトな出力が得られる。第８図、第４ｅにおいて
、イメージセンサ−の出力信号と０ （零）レベルによ
りできる面積はイメージセンサ−の視野内のさず＃４度
の平均値１示す。ま友イメージセンサ−の出力信号のピ
ーク普Ｙ検出すれば、最大倉ず強闇を寿ることかできる
。さらに硝子ビンのようにきすの生じるＳ位（き−ｊ＋
：、発生Ｓ位）がほぼ一定の部分に限られているものに
関しては上！ｋＪ面積測冗をさらに限定すれば、すりき
すの強麿會さらに精度よく検ｌｉｔできる。
次に本発明による硝子ビンのきず検出装置の判定部ての
構成、動作について第５図管用いて以下糾明する。
構成、動作について第５図管用いて以下糾明する。
第５関は本発明による硝子ビンのきず検出装置の判冗都
の一実旅例ケ示し１、同Ｆにおいて、第２ノのように実
光レンズ３で硝子ビンｌの下端部のさず発生部位からの
散乱光をイメージセンサ弘に集光させ、きず発生部位の
像ｔイメージセンサリ号は判足部乙に供給される。ｊけ
イメージ七ンする。
の一実旅例ケ示し１、同Ｆにおいて、第２ノのように実
光レンズ３で硝子ビンｌの下端部のさず発生部位からの
散乱光をイメージセンサ弘に集光させ、きず発生部位の
像ｔイメージセンサリ号は判足部乙に供給される。ｊけ
イメージ七ンする。
判定部ｔでは、イメージセンサμの出力信号がピーク＋
１ＦＩｌｔＩ器７および槽１器！に傑給される。ビーク
検出器７において最大値（ビークｆｉｌ）を検出し、こ
の最大値を比較器９において設定器ｌＯからの設定「ｉ
と會比較し、大小判別を行ない、伸度不良判定乍号會送
出する。即ち比＃器９で最大値が設定値以上のとき硝子
ビン／ｉｊ強實不夷ビン（強度的に破損の恐れのあるビ
ン）であることの判足停４ｔＣ強屋不良判定信号）ｆ送
出し、最大値が設Ｗ争より小さいときけ強度不良判定信
号管送出しない。この判定信号ｆもとづいて強度的ＫＭ
Ｊｊｌの恐れのあるビンを除去できる。
１ＦＩｌｔＩ器７および槽１器！に傑給される。ビーク
検出器７において最大値（ビークｆｉｌ）を検出し、こ
の最大値を比較器９において設定器ｌＯからの設定「ｉ
と會比較し、大小判別を行ない、伸度不良判定乍号會送
出する。即ち比＃器９で最大値が設定値以上のとき硝子
ビン／ｉｊ強實不夷ビン（強度的に破損の恐れのあるビ
ン）であることの判足停４ｔＣ強屋不良判定信号）ｆ送
出し、最大値が設Ｗ争より小さいときけ強度不良判定信
号管送出しない。この判定信号ｆもとづいて強度的ＫＭ
Ｊｊｌの恐れのあるビンを除去できる。
また積Ｗ器Ｉにおいて、積夏区関設′ｊ？器／ｌで設定
１九た区間、即ち被検出物体である硝子ビン上のきすが
存在する区間（全体であること本含む）Ｖ）信号音積算
し、この積算１１１−比較器／２に送出する。比騎′ａ
／２において前１積負簡と、設定器１３で設定てれたｅ
足俸とケ汁較１２．その大小により外観不良判定信号を
送出する。１口ち此較器／コは積隻値が設定値以上のと
き椙観不良判定信号（硝子ビンの外観が不良であること
の判定信号）ｆ送出し、積ｔ［ｌｉ＃が設？堕より小さ
いとき外端不良判定信号ケ送出しない。この判定信号に
もとづいて外＠％不良のビン、囲ちきずにより商品価値
の低下するようなビン？除去で車る。
１九た区間、即ち被検出物体である硝子ビン上のきすが
存在する区間（全体であること本含む）Ｖ）信号音積算
し、この積算１１１−比較器／２に送出する。比騎′ａ
／２において前１積負簡と、設定器１３で設定てれたｅ
足俸とケ汁較１２．その大小により外観不良判定信号を
送出する。１口ち此較器／コは積隻値が設定値以上のと
き椙観不良判定信号（硝子ビンの外観が不良であること
の判定信号）ｆ送出し、積ｔ［ｌｉ＃が設？堕より小さ
いとき外端不良判定信号ケ送出しない。この判定信号に
もとづいて外＠％不良のビン、囲ちきずにより商品価値
の低下するようなビン？除去で車る。
なし１判定部にの回路はアナグロ回路でもよいが、高、
ｌ＠Ｉｆ！？する場合ｄマイクロコンビエータなどケ中
いて構成することが１ましい。イメージセンサ０１いた
ことにより、被測ず対象物である硝子ビンｌと検出部（
集光レンズ３とイメージセンサＶ）との距離ケはなすｉ
とができる。まｔ本発明によるきず４１１出装置により
ごく短時間に硝子ビンのきすに係わる必要情報が判定Ｎ
４より得られ、外観不良ビンや強度不良ビンの除去指令
を行なうことができるのでベルトコンベアナトへの応用
が誉単となる。また従来はある限定さｔ′Ｌ友部外部分
ず情報しか得られなかったが、本発明では本光レンズ３
や被測定対象である硝子ビンｌとの距離ケ適当に８足す
れば硝子ビンｌのどの部分でもあるいけ全体についてで
もそのきず強度を測定することができる。
ｌ＠Ｉｆ！？する場合ｄマイクロコンビエータなどケ中
いて構成することが１ましい。イメージセンサ０１いた
ことにより、被測ず対象物である硝子ビンｌと検出部（
集光レンズ３とイメージセンサＶ）との距離ケはなすｉ
とができる。まｔ本発明によるきず４１１出装置により
ごく短時間に硝子ビンのきすに係わる必要情報が判定Ｎ
４より得られ、外観不良ビンや強度不良ビンの除去指令
を行なうことができるのでベルトコンベアナトへの応用
が誉単となる。また従来はある限定さｔ′Ｌ友部外部分
ず情報しか得られなかったが、本発明では本光レンズ３
や被測定対象である硝子ビンｌとの距離ケ適当に８足す
れば硝子ビンｌのどの部分でもあるいけ全体についてで
もそのきず強度を測定することができる。
次ｆビールピンについて目視判定によるきず強度と＠Ｉ
Ｓ■により求め７を値との相関関係について１゛ノ下峠
明する。
Ｓ■により求め７を値との相関関係について１゛ノ下峠
明する。
第６図はきす＊Ｉｆ（目視判定による）対第５図ｊｌｌ
ｌ。
ｌ。
の積算器ｌの積Ｗ債の関係管示し、ゆ軸にビールビンに
ついてきず強屓會目禮判足によりｊ段階ｆ分はブ（鳩付
を示【７、縦軸に該当する段階に２けるビールビンにつ
いて外観不良の度合、即ちイメージセンサ≠の出力櫨算
値（積算器、ビの出力）看−示１ている。従ってきず強
ｆを目視判定によりＳ段階に分けた各ビールビンについ
て、外観不良即ちイメージセンサｌの用力積−埴が示さ
ｔｌている。
ついてきず強屓會目禮判足によりｊ段階ｆ分はブ（鳩付
を示【７、縦軸に該当する段階に２けるビールビンにつ
いて外観不良の度合、即ちイメージセンサ≠の出力櫨算
値（積算器、ビの出力）看−示１ている。従ってきず強
ｆを目視判定によりＳ段階に分けた各ビールビンについ
て、外観不良即ちイメージセンサｌの用力積−埴が示さ
ｔｌている。
第７図にきず強度（目視判定による）対ピーク値の関係
を示（７、横軸にビールビンについてきず分肝全目祝判
定により５段階に分けた揚台を示し。
を示（７、横軸にビールビンについてきず分肝全目祝判
定により５段階に分けた揚台を示し。
縦軸ｅζ該肖する段階におけるビールビンについて負・
Ｖ不良、即ちイメージセンサＶの出力ピーク値（第Ｆ１
しＩのピーク検出器７の出力）１示している。
Ｖ不良、即ちイメージセンサＶの出力ピーク値（第Ｆ１
しＩのピーク検出器７の出力）１示している。
従ってきす強用を目視判定により５段階に分けた各ビー
ルビンについて１強度不良、ｉ口ち・イメージセンサ≠
のピーク値が示されている。目視判定はビールビン全体
のきす會判定するので、第ｔ（１％では相関がよいが、
第７図では相関が悪いことが判る、これは目視による判
定では商品価ｇ［會低下させるようなビンは良く検出で
きるが、破損の危険のめるビンに対してはばらつきが大
きいことを意味する。
ルビンについて１強度不良、ｉ口ち・イメージセンサ≠
のピーク値が示されている。目視判定はビールビン全体
のきす會判定するので、第ｔ（１％では相関がよいが、
第７図では相関が悪いことが判る、これは目視による判
定では商品価ｇ［會低下させるようなビンは良く検出で
きるが、破損の危険のめるビンに対してはばらつきが大
きいことを意味する。
本発明はこのような目視判定によらないため、すり傷）
深いもの即ち破壊し、やすいビールビンの検出にしても
判定田（≦でイメージセンサグの出力ピーク値の大きさ
會設足偵と比較することｆより正４ｉ＃にチェックする
ことができる。
深いもの即ち破壊し、やすいビールビンの検出にしても
判定田（≦でイメージセンサグの出力ピーク値の大きさ
會設足偵と比較することｆより正４ｉ＃にチェックする
ことができる。
いれば次のような種々の効果１奏する。
＋１１ 散乱光強ｆけ書す強度に片―目〜硝子ビンの
厚び、色ＫＦｉ殆んど影＊’ｆｒ４−けないことＫｍ目
し。
厚び、色ＫＦｉ殆んど影＊’ｆｒ４−けないことＫｍ目
し。
散乱光をイＩ −・′）センサｆＩＪ光させて剃定紮行
なっているので、イメージセンサ出カとじて正確なきず
強電が得られる。
なっているので、イメージセンサ出カとじて正確なきず
強電が得られる。
（２） 硝子ビンのきず８度により、友とえは全体的
なきすの様子からビンの外観の良悪、開ち商品価値の低
いものか否か全利足でき、樗た局部的なきず強ｉ力為ら
強電［的番Ｔ破損の恐れのあるビンが否かを判定でき、
こハらの判定にもとづきこれらの外Ｐ不良のビンや強電
的に破損の恐れのあるビン管除去でへる。
なきすの様子からビンの外観の良悪、開ち商品価値の低
いものか否か全利足でき、樗た局部的なきず強ｉ力為ら
強電［的番Ｔ破損の恐れのあるビンが否かを判定でき、
こハらの判定にもとづきこれらの外Ｐ不良のビンや強電
的に破損の恐れのあるビン管除去でへる。
（３） イメージセンサを用い友ことにより、被測定
対寮の硝子ビンと検串部との距ｍｙけなすことができる
。 ：：（４） 判定部
はマイクロコンビエータなどＫよす高速スゲ５理を行な
うことかでき、ごく短時間にきず強度に本とづく必要な
判定情報が得らｎるので、ベルトコンベアなどへの応用
が簡単である。
対寮の硝子ビンと検串部との距ｍｙけなすことができる
。 ：：（４） 判定部
はマイクロコンビエータなどＫよす高速スゲ５理を行な
うことかでき、ごく短時間にきず強度に本とづく必要な
判定情報が得らｎるので、ベルトコンベアなどへの応用
が簡単である。
（５） 破旬ず物である硝子ビンと検出部との距ｌｉ
１！を適当π８足すれば、硝子ビンのどの部分でも、あ
るいけ全体についてでもそのきず強ｆＹｒ測足すること
ができる。
１！を適当π８足すれば、硝子ビンのどの部分でも、あ
るいけ全体についてでもそのきず強ｆＹｒ測足すること
ができる。
％１図は硝子ビンに生じるきすの発生部位を示す説明図
、＠２図は本発明による硝子ビンのさず検出９＃猿の測
定系の配を図、第８図および第４図１目夫々＠２図のイ
メージセンサの重力信号波形図。 ４ｆｉｌ！１ＱＦｉ本発明による硝子ビンのきず検出装
置の判定部の一実鳩例七本す一放図、第６１５！Ｑおよ
び第７図は夫々きず強度（目視判定による）対檀算１１
の関係およびきず怖ｆ（目視判ずによる）対イメージセ
ンサμの出方ビーク値の関係を示す図であって％図中ｌ
＃ｉ硝子ビン、／ａけ下端部の六ず、２け光源、３け集
光レンズ、参はイメージセンサぶは判足部、７／ｆｉピ
ーク検出器、どけ積算器、９゜ｌコＦｔオ較恭、 １０
．／Ｊけ設定器、 ／／け積簀区関設ず器七本す。 竿１図 第２図 １反射光 一層
、＠２図は本発明による硝子ビンのさず検出９＃猿の測
定系の配を図、第８図および第４図１目夫々＠２図のイ
メージセンサの重力信号波形図。 ４ｆｉｌ！１ＱＦｉ本発明による硝子ビンのきず検出装
置の判定部の一実鳩例七本す一放図、第６１５！Ｑおよ
び第７図は夫々きず強度（目視判定による）対檀算１１
の関係およびきず怖ｆ（目視判ずによる）対イメージセ
ンサμの出方ビーク値の関係を示す図であって％図中ｌ
＃ｉ硝子ビン、／ａけ下端部の六ず、２け光源、３け集
光レンズ、参はイメージセンサぶは判足部、７／ｆｉピ
ーク検出器、どけ積算器、９゜ｌコＦｔオ較恭、 １０
．／Ｊけ設定器、 ／／け積簀区関設ず器七本す。 竿１図 第２図 １反射光 一層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋１１ 被測星対象である硝子ビンに対し、光源とイ
メージセンサとを用いてなる硝子ビンのきず検出！ｌｌ
ｔにおいて、硝子ビンに対し、光源とイメージセンサと
全同一画直面状に配着し１、前配光源と前Ｆイメージセ
ンサの光軸ｆ一定の角度會も友せ、かつ前記硝子ビンの
きず発生部位Ｉｆ前前記−から投射［た光の散乱光會前
配イメージセンサに集光させるようにし、前記イメージ
センサの出力ｙより判定部で前記硝子ビンのきす権度管
判定するように構成」、たこと？特徴とする硝子ビンの
きず検出装置。 （２）判定部Ｆｉ、イメージセンナの出力信号を設電区
間積分する積分器と、この積分器の積算値と設定値と會
比較し外観不良ビンの検出１行なう比較器と′ｆｒ１１
１えたことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の硝
子ビンのきず検出装置。 （３）判定Ｓは、イメージセンサの出力信号の最大橋を
検出するビータ検出器と、このピーク検出器の出力と設
足値と會比較して強度不要のビンの検ａ′Ｉ會行なう比
較器と會備えたことを特徴とする特許請求の範Ｓ第１項
記載の硝子ビンのきず検出装置０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6775382A JPS58184537A (ja) | 1982-04-22 | 1982-04-22 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6775382A JPS58184537A (ja) | 1982-04-22 | 1982-04-22 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58184537A true JPS58184537A (ja) | 1983-10-28 |
Family
ID=13354009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6775382A Pending JPS58184537A (ja) | 1982-04-22 | 1982-04-22 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58184537A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0833126A1 (en) * | 1995-06-14 | 1998-04-01 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for inspecting coating film |
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1982
- 1982-04-22 JP JP6775382A patent/JPS58184537A/ja active Pending
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