JPS61205852A - Ｎｍｒイメ−ジング装置 - Google Patents
Ｎｍｒイメ−ジング装置Info
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- JPS61205852A JPS61205852A JP60045990A JP4599085A JPS61205852A JP S61205852 A JPS61205852 A JP S61205852A JP 60045990 A JP60045990 A JP 60045990A JP 4599085 A JP4599085 A JP 4599085A JP S61205852 A JPS61205852 A JP S61205852A
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- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/483—NMR imaging systems with selection of signals or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy
- G01R33/485—NMR imaging systems with selection of signals or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy based on chemical shift information [CSI] or spectroscopic imaging, e.g. to acquire the spatial distributions of metabolites
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、被検体内部の任意部位からのＮＭＲ信号を選
択的に検出し、それに基づいて被検体の任意面の特定観
測核のＮＭＲイメージを表示するようにしたＮＭＲイメ
ージング装置に関する。
択的に検出し、それに基づいて被検体の任意面の特定観
測核のＮＭＲイメージを表示するようにしたＮＭＲイメ
ージング装置に関する。
［従来の技術］
第４図は従来の被検体の任意部位からの特定観測核のＮ
ＭＲに基づくスピンエコー信号を検出するための、被検
体に対するＲＦパルスと勾配磁場の印加シーケンスの一
例を示しており、第４図（ａ）は被検体に印加されるＲ
Ｆパルス、第４図（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は夫々被検体
に印加されるＺ方向勾配磁場、Ｘ方向勾配磁場、Ｙ方向
勾配・ 磁場、第４図（ｅ）はＲＦパルス照射後に被検
体から得られるエコー信号を示している。まず、被検体
には２方向の勾配磁場が印加されている状態で観測核の
磁化を９０°回転させる強度とパルス幅を有したＲＦパ
ルスが印加され、Ｚ方向の所望の平面部分が選択的に励
起、すなわち、Ｚ方向を向いていた観測核の磁化は、Ｘ
−Ｙ平面に倒される。その後、２方向に負の勾配磁場を
印加すると同時にＸ方向、Ｙ方向にも勾配磁場を印加し
て、励起された核スピンの位相がずらされる。なお、こ
の時、Ｘ方向の勾配磁場は、次々と勾配の方向が反転さ
せられている。そして、最初の９０°パルスを印加して
から所定時間経過後に、観測核の磁化を１８０°回転さ
せる強度と幅を有したＲＦパルスが被検体に印加され、
位相がずれた核スピンの位相もどしが行われ、それによ
ってスピンエコー信号を得るようにしている。この信号
は被検 ・体の特定平面における観測核のＮＭＲに基づ
いたもので、このエコー信号は検出され、そしてこの検
出信号はコンピュータに送られて、既に良く知られたフ
ーリエ変換処理等を含むイメージングのための信号処理
が施される。
ＭＲに基づくスピンエコー信号を検出するための、被検
体に対するＲＦパルスと勾配磁場の印加シーケンスの一
例を示しており、第４図（ａ）は被検体に印加されるＲ
Ｆパルス、第４図（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は夫々被検体
に印加されるＺ方向勾配磁場、Ｘ方向勾配磁場、Ｙ方向
勾配・ 磁場、第４図（ｅ）はＲＦパルス照射後に被検
体から得られるエコー信号を示している。まず、被検体
には２方向の勾配磁場が印加されている状態で観測核の
磁化を９０°回転させる強度とパルス幅を有したＲＦパ
ルスが印加され、Ｚ方向の所望の平面部分が選択的に励
起、すなわち、Ｚ方向を向いていた観測核の磁化は、Ｘ
−Ｙ平面に倒される。その後、２方向に負の勾配磁場を
印加すると同時にＸ方向、Ｙ方向にも勾配磁場を印加し
て、励起された核スピンの位相がずらされる。なお、こ
の時、Ｘ方向の勾配磁場は、次々と勾配の方向が反転さ
せられている。そして、最初の９０°パルスを印加して
から所定時間経過後に、観測核の磁化を１８０°回転さ
せる強度と幅を有したＲＦパルスが被検体に印加され、
位相がずれた核スピンの位相もどしが行われ、それによ
ってスピンエコー信号を得るようにしている。この信号
は被検 ・体の特定平面における観測核のＮＭＲに基づ
いたもので、このエコー信号は検出され、そしてこの検
出信号はコンピュータに送られて、既に良く知られたフ
ーリエ変換処理等を含むイメージングのための信号処理
が施される。
このように、上述したＲＦパルスと勾配磁場の印加にお
いては、９０°ＲＦパルスによって、例えば、周波数ω
０付近を励起するようにしているが、この時、勾配磁場
が印加されているために被検体の７方向（静磁場の方向
）の位置によって観測核の共鳴周波数が異なることにな
る。そのため、観測核の共鳴周波数がω０に相当する面
だけが選択的に励起され、この面における観測核のＮＭ
Ｒに基づくスピンエコー信号を後に続＜ＲＦパルスと勾
配磁場によって発生させて検出し、画像化している。
いては、９０°ＲＦパルスによって、例えば、周波数ω
０付近を励起するようにしているが、この時、勾配磁場
が印加されているために被検体の７方向（静磁場の方向
）の位置によって観測核の共鳴周波数が異なることにな
る。そのため、観測核の共鳴周波数がω０に相当する面
だけが選択的に励起され、この面における観測核のＮＭ
Ｒに基づくスピンエコー信号を後に続＜ＲＦパルスと勾
配磁場によって発生させて検出し、画像化している。
［発明が解決しようとする問題点］
上述したＮＭＲイメージングにおいて、画像化しようと
する観測核のＮＭＲ信号の中にケミカルシフトの異なる
信号が複数存在している場合、例えば、第５図に示すよ
うに、ケミカルシフトにより観測核のＮＭＲ信号に８１
と８２の２つの信号が出現し、それらの信号の間にΔω
の周波数差がある場合、信号Ｓ１と信号Ｓ２とでは選択
９０゜ＲＦパルスによってＺ方向にΔωに相当する分だ
けずれた面が励起され、更に、両信号に基づく画像がＸ
−Ｙ平面（静磁場の方向に垂直な平面）においてΔωだ
けずれて画像化されることになる。
する観測核のＮＭＲ信号の中にケミカルシフトの異なる
信号が複数存在している場合、例えば、第５図に示すよ
うに、ケミカルシフトにより観測核のＮＭＲ信号に８１
と８２の２つの信号が出現し、それらの信号の間にΔω
の周波数差がある場合、信号Ｓ１と信号Ｓ２とでは選択
９０゜ＲＦパルスによってＺ方向にΔωに相当する分だ
けずれた面が励起され、更に、両信号に基づく画像がＸ
−Ｙ平面（静磁場の方向に垂直な平面）においてΔωだ
けずれて画像化されることになる。
この画像におけるずれは被検体に印加する静磁場の強度
が弱い場合には、極めて僅かであり、問題とならないが
、静磁場の強度が強くなるに従ってずれが大きくなり、
２つの像が部分的に重なると像の観察に支障を来たすこ
とになる。
が弱い場合には、極めて僅かであり、問題とならないが
、静磁場の強度が強くなるに従ってずれが大きくなり、
２つの像が部分的に重なると像の観察に支障を来たすこ
とになる。
本発明は、上述した点に鑑みてなされたもので、その目
的は、ケミカルシフトの異なる信号を発する被検体につ
いてイメージングを行うに当り、特定のケミカルシフト
信号を発する観測核のＮＭＲのみに基づく、ＮＭＲ信号
の空間分布像を得ることのできるＮＭＲイメージング装
置を提供することである。
的は、ケミカルシフトの異なる信号を発する被検体につ
いてイメージングを行うに当り、特定のケミカルシフト
信号を発する観測核のＮＭＲのみに基づく、ＮＭＲ信号
の空間分布像を得ることのできるＮＭＲイメージング装
置を提供することである。
［問題点を解決するための手段］
本発明に基づ＜ＮＭＲイメージング装置は、被検体に一
様静磁場を印加する手段と、該被検体に核磁気共鳴を生
じさせるためにＲＦパルスを印加する手段と、該被検体
に勾配磁場を印加するための手段と、該被検体に対する
該ＲＦパルス、勾配磁場の印加タイミングを制御する制
御手段と、該被検体からのスピンエコー信号を検出する
手段と、該スピンエコー信号に基づいて該被検体任意面
のＮＭＲ信号分布像を表示する手段とを備えており、該
制御手段は、被検体に対し、勾配磁場を印加しない状態
で、ある特定のケミカルシフト信号を発する観測核のみ
を選択的に励起する９０″ＲＦパルスを印加し、その後
、被検体の所定面における該励起された観測核のＮＭＲ
に基づくスピンエコー信号を選択的に検出するため、該
被検体に勾配磁場と選択的１８０°ＲＦパルスを印加す
るよう特徴づけられている。
様静磁場を印加する手段と、該被検体に核磁気共鳴を生
じさせるためにＲＦパルスを印加する手段と、該被検体
に勾配磁場を印加するための手段と、該被検体に対する
該ＲＦパルス、勾配磁場の印加タイミングを制御する制
御手段と、該被検体からのスピンエコー信号を検出する
手段と、該スピンエコー信号に基づいて該被検体任意面
のＮＭＲ信号分布像を表示する手段とを備えており、該
制御手段は、被検体に対し、勾配磁場を印加しない状態
で、ある特定のケミカルシフト信号を発する観測核のみ
を選択的に励起する９０″ＲＦパルスを印加し、その後
、被検体の所定面における該励起された観測核のＮＭＲ
に基づくスピンエコー信号を選択的に検出するため、該
被検体に勾配磁場と選択的１８０°ＲＦパルスを印加す
るよう特徴づけられている。
［作用］
被検体には、最初に、ある特定のケミカルシフト信号を
発する観測核のみを選択的にＺ方向からＸ−Ｙ平面に倒
すための９０°ＲＦパルスが印加される。その後、該被
検体に勾配磁場を印加することによって、該Ｘ−Ｙ平面
に倒された観測核のスピンの位相がずらされると共に、
その前段階あるいは後段階で、被検体のＺ方向の特定部
位の観測核を選択的に励起する１８０″ＲＦパルスが２
方向の勾配磁場と共に印加される。この１８０゜ＲＦパ
ルスによって例えば共鳴周波数ω０付近の観測核が励起
され、その後、所定の時間経過して発生するスピンエコ
ー信号が検出される。なお、１８０°ＲＦパルス印加時
に、励起される観測核は、特定のケミカルシフトを発す
る観測核のみでなく、それ以外のケミカルシフト信号を
発する観測核も励起される。しかしこの望ましくない観
測核のベクトルは該１８０°パルスによって一７方向に
傾けられ、検出コイルの方向であるＸ−Ｙ平面にその成
分を持たないことから、検出される信号は初期に９０°
ＲＦパルスによって励起され、Ｘ−Ｙ平面に倒された特
定ケミカルシフト信号を発する観測核に基づくものだけ
となる。従って、検出コイルに検出された信号について
フーリエ変換処理等のイメージング処理を施せば、特定
ケミカルシフト信号を発する観測核のみに基づいたＮＭ
Ｒ信号の空間分布像を得ることができる。
発する観測核のみを選択的にＺ方向からＸ−Ｙ平面に倒
すための９０°ＲＦパルスが印加される。その後、該被
検体に勾配磁場を印加することによって、該Ｘ−Ｙ平面
に倒された観測核のスピンの位相がずらされると共に、
その前段階あるいは後段階で、被検体のＺ方向の特定部
位の観測核を選択的に励起する１８０″ＲＦパルスが２
方向の勾配磁場と共に印加される。この１８０゜ＲＦパ
ルスによって例えば共鳴周波数ω０付近の観測核が励起
され、その後、所定の時間経過して発生するスピンエコ
ー信号が検出される。なお、１８０°ＲＦパルス印加時
に、励起される観測核は、特定のケミカルシフトを発す
る観測核のみでなく、それ以外のケミカルシフト信号を
発する観測核も励起される。しかしこの望ましくない観
測核のベクトルは該１８０°パルスによって一７方向に
傾けられ、検出コイルの方向であるＸ−Ｙ平面にその成
分を持たないことから、検出される信号は初期に９０°
ＲＦパルスによって励起され、Ｘ−Ｙ平面に倒された特
定ケミカルシフト信号を発する観測核に基づくものだけ
となる。従って、検出コイルに検出された信号について
フーリエ変換処理等のイメージング処理を施せば、特定
ケミカルシフト信号を発する観測核のみに基づいたＮＭ
Ｒ信号の空間分布像を得ることができる。
［実施例］
以下本発明の一実施例を添附図面に基づいて詳述する。
第１図において、１は内部に被検体が挿入されるコイル
ブロックであるが、該コイルブロック１は静磁場発生コ
イル、Ｚ方向勾配磁場発生コイル。
ブロックであるが、該コイルブロック１は静磁場発生コ
イル、Ｚ方向勾配磁場発生コイル。
Ｘ方向勾配磁場発生コイル、Ｙ方向勾配磁場発生コイル
、ＲＦコイル等より構成されており、該静磁場発生コイ
ルには静磁場電源２から励磁電流が供給されている。該
２方向勾配磁場発生コイルには、Ｚ方向勾配磁場電源３
からの勾配磁場電流がゲート回路４を介して供給され、
該Ｘ方向勾配磁場発生コイルには、Ｘ方向勾配磁場電源
５からの勾配磁場電流がゲート回路６を介して供給され
、該Ｙ方向勾配磁場発生コイルには、Ｙ方向勾配磁場電
源７からの勾配磁場電流がゲート回路８を介して供給さ
れ、更に、ＲＦコイルには、ＲＦ発振器９からの高周波
がゲート１０を介して供給される。尚、各ゲート回路４
，６，８．１０は、供給される信号の開閉のみならず、
信号の強度や極性をも制御し得るように構成されている
。
、ＲＦコイル等より構成されており、該静磁場発生コイ
ルには静磁場電源２から励磁電流が供給されている。該
２方向勾配磁場発生コイルには、Ｚ方向勾配磁場電源３
からの勾配磁場電流がゲート回路４を介して供給され、
該Ｘ方向勾配磁場発生コイルには、Ｘ方向勾配磁場電源
５からの勾配磁場電流がゲート回路６を介して供給され
、該Ｙ方向勾配磁場発生コイルには、Ｙ方向勾配磁場電
源７からの勾配磁場電流がゲート回路８を介して供給さ
れ、更に、ＲＦコイルには、ＲＦ発振器９からの高周波
がゲート１０を介して供給される。尚、各ゲート回路４
，６，８．１０は、供給される信号の開閉のみならず、
信号の強度や極性をも制御し得るように構成されている
。
該ＲＦコイルへの高周波の印加により発生したＮＭＲ信
号は該ＲＦコイルよって検出されるが、該検出されたＮ
ＭＲ信号はゲート回路１１を介して復調器１２に供給さ
れる。該ゲート回路４．６゜８．１０．１１は、夫々制
御回路１３によってその開閉が制御される。該復調器１
２によって復調された信号は、Ａ−Ｄ変換器１４によっ
てディジタル信号に変換された侵コンピュータ１５に供
給される。該コンピュータ１５による信号処理に基づき
得られた画像信号は表示装置１６に供給される。
号は該ＲＦコイルよって検出されるが、該検出されたＮ
ＭＲ信号はゲート回路１１を介して復調器１２に供給さ
れる。該ゲート回路４．６゜８．１０．１１は、夫々制
御回路１３によってその開閉が制御される。該復調器１
２によって復調された信号は、Ａ−Ｄ変換器１４によっ
てディジタル信号に変換された侵コンピュータ１５に供
給される。該コンピュータ１５による信号処理に基づき
得られた画像信号は表示装置１６に供給される。
上述した如ぎ構成において、コイルブロック１中の被検
体には、ＲＦ磁場、各勾配磁場が印加されるが、それら
は制御回路１３からの指令に基づいて開閉する各ゲート
回路によって印加のタイミング及び強度が決められる。
体には、ＲＦ磁場、各勾配磁場が印加されるが、それら
は制御回路１３からの指令に基づいて開閉する各ゲート
回路によって印加のタイミング及び強度が決められる。
さて、第２図は本発明に基づいて被検体に印加されるＲ
Ｆパルス、各勾配磁場、スピンエコー信号の一例を示し
ている。
Ｆパルス、各勾配磁場、スピンエコー信号の一例を示し
ている。
まず、被検体には第２図（ａ）に示す如き９０°ＲＦパ
ルスＰ１が照射されるよう、ゲート回路１０が制御され
るが、この時、各勾配磁場電源３゜５．７からの電流が
各勾配磁場コイルに印加されないよう、各ゲート回路４
．６．８は閉じられている。この９０’パルスは特定の
ケミカルシフト信号、例えば第５図に示す信号Ｓ１を発
する観測核のみ、そのベクトルがＸ−Ｙ平面に倒される
強度と幅を有したものである。該９０”パルス印加後、
ゲート回路４が制御され、所定時間、Ｚ勾配磁場電源３
からの励磁電流がコイルユニット１内のＺ方向勾配磁場
コイルに供給され、第２図（１））に示すＺ方向勾配磁
場が被検体に印加される。更に、この２方向勾配磁場が
被検体に印加されている状態で、ゲート回路１０が開け
られ、被検体には１８０°ＲＦパルスＰ２が印加される
。このパルスＰ２によって被検体の２方向の特定位置の
観測核が励起され（観測核のベクトルが１８０°傾けら
れ）、結果として、被検体の７方向の所望断′ 面が切
出されることになる。該切出された所望断面の観測核に
は、制御回路１３からの制御信号に基づくゲート回路６
．８の開閉により、第２図（ｃ）、（ｄ）に示すＸ方向
およびＹ方向勾配磁場が印加される。この両方向の勾配
磁場によって所望平面の観測核スピンの位相はずらされ
る。その後、該観測核にはゲート回路１０の制御によっ
て第２図（ａ）に示す１８０”ＲＦパルスＰ３が印加さ
れ、そのベクトルが１８０°傾けられる。
ルスＰ１が照射されるよう、ゲート回路１０が制御され
るが、この時、各勾配磁場電源３゜５．７からの電流が
各勾配磁場コイルに印加されないよう、各ゲート回路４
．６．８は閉じられている。この９０’パルスは特定の
ケミカルシフト信号、例えば第５図に示す信号Ｓ１を発
する観測核のみ、そのベクトルがＸ−Ｙ平面に倒される
強度と幅を有したものである。該９０”パルス印加後、
ゲート回路４が制御され、所定時間、Ｚ勾配磁場電源３
からの励磁電流がコイルユニット１内のＺ方向勾配磁場
コイルに供給され、第２図（１））に示すＺ方向勾配磁
場が被検体に印加される。更に、この２方向勾配磁場が
被検体に印加されている状態で、ゲート回路１０が開け
られ、被検体には１８０°ＲＦパルスＰ２が印加される
。このパルスＰ２によって被検体の２方向の特定位置の
観測核が励起され（観測核のベクトルが１８０°傾けら
れ）、結果として、被検体の７方向の所望断′ 面が切
出されることになる。該切出された所望断面の観測核に
は、制御回路１３からの制御信号に基づくゲート回路６
．８の開閉により、第２図（ｃ）、（ｄ）に示すＸ方向
およびＹ方向勾配磁場が印加される。この両方向の勾配
磁場によって所望平面の観測核スピンの位相はずらされ
る。その後、該観測核にはゲート回路１０の制御によっ
て第２図（ａ）に示す１８０”ＲＦパルスＰ３が印加さ
れ、そのベクトルが１８０°傾けられる。
該１８０°ＲＦパルスＰ３の印加時点から所定時間経過
した後、Ｘ−Ｙ平面に倒されている観測核からはエコー
信号が発生し、この信号はコイルユニット１内の検出コ
イルによって検出される。
した後、Ｘ−Ｙ平面に倒されている観測核からはエコー
信号が発生し、この信号はコイルユニット１内の検出コ
イルによって検出される。
さて、上述した観測核の振舞いの説明は、最初に９０°
ＲＦパルスＰ１によってＸ−Ｙ平面に倒された特定ケミ
カルシフト信号ＳＬを発する観測核についてであるが、
第５図に示すケミカルシフト信号Ｓ２を発する観測核に
ついては、そのベクトルは最初の９０°ＲＦパルスによ
ってはＸ−Ｙ平面に倒されず、依然としてＺ方向に向い
ている。
ＲＦパルスＰ１によってＸ−Ｙ平面に倒された特定ケミ
カルシフト信号ＳＬを発する観測核についてであるが、
第５図に示すケミカルシフト信号Ｓ２を発する観測核に
ついては、そのベクトルは最初の９０°ＲＦパルスによ
ってはＸ−Ｙ平面に倒されず、依然としてＺ方向に向い
ている。
従って、その後に印加される１８０°ＲＦパルスＰ２
、Ｐ３によってもそのベクトルは常に７方向を向いてお
り、信号の検出方向であるＸ−Ｙ方向にはそのベクトル
成分を有しないことから１．検出コイルには、前述した
ケミカルシフト信号Ｓ１を発する観測核のＮＭＲに基づ
くスピンエコー信号のみが検出されることになる。
、Ｐ３によってもそのベクトルは常に７方向を向いてお
り、信号の検出方向であるＸ−Ｙ方向にはそのベクトル
成分を有しないことから１．検出コイルには、前述した
ケミカルシフト信号Ｓ１を発する観測核のＮＭＲに基づ
くスピンエコー信号のみが検出されることになる。
該コイルユニット１内の検出コイルによって検出される
信号の内、所望の期間に得られたエコー信号のみが復調
器１２によって復調されるように制御回路１３の指令に
よってゲート回路１１が制御される。該復調された信号
はＡ−Ｄ変換器１４によってディジタル信号に変換され
た後、コンピュータ１５に供給される。該コンピュータ
１５において、得られた信号はフーリエ変換処理等を含
むイメージング処理が施され、その結果得られた被検体
の切出された平面のＮＭＲ信号の分布像は、表示装置１
６によって表示される。
信号の内、所望の期間に得られたエコー信号のみが復調
器１２によって復調されるように制御回路１３の指令に
よってゲート回路１１が制御される。該復調された信号
はＡ−Ｄ変換器１４によってディジタル信号に変換され
た後、コンピュータ１５に供給される。該コンピュータ
１５において、得られた信号はフーリエ変換処理等を含
むイメージング処理が施され、その結果得られた被検体
の切出された平面のＮＭＲ信号の分布像は、表示装置１
６によって表示される。
このように、表示されるＮＭＲ信号の空間分布像は、特
定のケミカルシフト信号を発する観測核にのみ基づくも
のであり、表示装置には単一の像が表示されることにな
る。なお、本発明は上述した実施例に限定されず幾多の
変形が可能である。
定のケミカルシフト信号を発する観測核にのみ基づくも
のであり、表示装置には単一の像が表示されることにな
る。なお、本発明は上述した実施例に限定されず幾多の
変形が可能である。
例えば、勾配磁場を印加しない状態で９０°パルスを印
加した後に、被検体の特定平面のＮＭＲ信号を得るため
に該被検体に印加される勾配磁場およびＲＦパルスの種
類、印加タイミングについては、第２図に示した例に限
定されない。例えば、第３図に示す如く、９０°ＲＦパ
ルスＰＩを印加した後、Ｘ方向とＹ方向の勾配磁場を印
加し、そのｍｚＺ方向勾配ｍ＠を印加した状態で１８０
゜パルスＰ４を印加し、被写体の特定平面からの共鳴信
号を検出するようにしても良い。なお、第３図において
、（ａ＞、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ＞。
加した後に、被検体の特定平面のＮＭＲ信号を得るため
に該被検体に印加される勾配磁場およびＲＦパルスの種
類、印加タイミングについては、第２図に示した例に限
定されない。例えば、第３図に示す如く、９０°ＲＦパ
ルスＰＩを印加した後、Ｘ方向とＹ方向の勾配磁場を印
加し、そのｍｚＺ方向勾配ｍ＠を印加した状態で１８０
゜パルスＰ４を印加し、被写体の特定平面からの共鳴信
号を検出するようにしても良い。なお、第３図において
、（ａ＞、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ＞。
（ｅ）は、夫々、ＲＦパルス、Ｚ方向勾配磁場。
Ｘ方向勾配磁場、Ｙ方向勾配磁場、スピンエコー信号を
示している。
示している。
［効果］
以上詳述した如く、本発明においては、被写体の特定平
面のＮＭＲに基づくスピンエコー信号を検出するための
勾配磁場とＲＦパルスの印加に先立って、特定のケミカ
ルシフト信号を発する観測核のみを励起する９０°ＲＦ
パルスを印加するようにしているため、該特定のケミカ
ルシフト信号を発する観測核のみのＮＭＲ信号の空間分
布像を得ることが可能となり、従来の如く、複数の像が
重なることがないため、正確に被検体の任意面のＮＭＲ
像の観察を行うことができる。
面のＮＭＲに基づくスピンエコー信号を検出するための
勾配磁場とＲＦパルスの印加に先立って、特定のケミカ
ルシフト信号を発する観測核のみを励起する９０°ＲＦ
パルスを印加するようにしているため、該特定のケミカ
ルシフト信号を発する観測核のみのＮＭＲ信号の空間分
布像を得ることが可能となり、従来の如く、複数の像が
重なることがないため、正確に被検体の任意面のＮＭＲ
像の観察を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例であるＮＭＲイメージング装
置を示す図、第２図および第３図は本発明に基づいて被
検体に印加されるＲＦパルスと勾配磁場を示す図、第４
図は従来のＮＭＲイメージングにおいて被検体に印加さ
れるＲＦパルスと勾配磁場を示す図、第５図はケミカル
シフト信号を示す図である。 １・・・コイルユニット ２・・・静磁場電源３．５
．７・・・勾配磁場電源
置を示す図、第２図および第３図は本発明に基づいて被
検体に印加されるＲＦパルスと勾配磁場を示す図、第４
図は従来のＮＭＲイメージングにおいて被検体に印加さ
れるＲＦパルスと勾配磁場を示す図、第５図はケミカル
シフト信号を示す図である。 １・・・コイルユニット ２・・・静磁場電源３．５
．７・・・勾配磁場電源
Claims (3)
- （１）被検体に一様静磁場を印加する手段と、該被検体
に核磁気共鳴を生じさせるためにＲＦパルスを印加する
手段と、該被検体に勾配磁場を印加するための手段と、
該被検体に対する該ＲＦパルス、勾配磁場の印加タイミ
ングを制御する制御手段と、該被検体からのスピンエコ
ー信号を検出する手段と、該スピンエコー信号に基づい
て該被検体任意面のＮＭＲ信号分布像を表示する手段と
を備えており、該制御手段は、被検体に対し、勾配磁場
を印加しない状態で、ある特定のケミカルシフト信号を
発する観測核のみを選択的に励起する９０°ＲＦパルス
を印加し、その後、被検体の所定面における該励起され
た観測核のＮＭＲに基づくスピンエコー信号を選択的に
検出するため、該被検体に勾配磁場と選択的１８０°パ
ルスを印加するよう特徴づけられているＮＭＲイメージ
ング装置。 - （２）該被検体の所定面における該励起された観測核の
ＮＭＲに基づくスピンエコー信号を選択的に検出するた
めの、勾配磁場とＲＦパルスの印加は、Ｚ方向の勾配磁
場が印加されている状態で、１８０°パルスが印加され
、その後、Ｘ方向とＹ方向の勾配磁場が印加された後に
、Ｙ方向の磁場が印加された状態で１８０°パルスが印
加される特許請求の範囲第１項記載のＮＭＲイメージン
グ装置。 - （３）該被検体の所定面における該励起された化合物の
観測核のＮＭＲに基づくスピンエコー信号を選択的に検
出するための、勾配磁場とＲＦパルスの印加は、Ｘ方向
とＹ方向の勾配磁場が印加され、その後、Ｚ方向の勾配
磁場が印加された状態で１８０°パルスが印加される特
許請求の範囲第１項記載のＮＭＲイメージング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60045990A JPS61205852A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | Ｎｍｒイメ−ジング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60045990A JPS61205852A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | Ｎｍｒイメ−ジング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61205852A true JPS61205852A (ja) | 1986-09-12 |
Family
ID=12734577
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60045990A Pending JPS61205852A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | Ｎｍｒイメ−ジング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61205852A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60168041A (ja) * | 1983-12-14 | 1985-08-31 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | Ｎｍｒ作像方法と装置 |
| JPS6135339A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-02-19 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 化学シフト・スペクトルを求める方法と装置 |
-
1985
- 1985-03-08 JP JP60045990A patent/JPS61205852A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60168041A (ja) * | 1983-12-14 | 1985-08-31 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | Ｎｍｒ作像方法と装置 |
| JPS6135339A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-02-19 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 化学シフト・スペクトルを求める方法と装置 |
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