JPS61170200U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61170200U JPS61170200U JP1985052285U JP5228585U JPS61170200U JP S61170200 U JPS61170200 U JP S61170200U JP 1985052285 U JP1985052285 U JP 1985052285U JP 5228585 U JP5228585 U JP 5228585U JP S61170200 U JPS61170200 U JP S61170200U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- decoder
- circuit
- lines
- outputs
- word lines
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/50—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
- G11C29/50016—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing of retention
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/50—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/04—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
第1図は本考案によるEPROMの一実施例の
概略図、第2図はデータバツフア1および書込み
回路2の回路図、第3図はYアドレスバツフア3
の回路図、第4図はYデコーダ4の回路図、第5
図はXアドレスバツフア5の回路図、第6図はX
デコーダ6の回路図である。 1……データバツフア、2……書込み回路、3
……Yアドレスバツフア、4……Yデコーダ、5
……Xアドレスバツフア、6……Xデコーダ、7
……Vpp引き上げ回路、Vpp……電源、Q0
〜QM……NチヤンネルMOSトランジスタ、M
11〜MNM……メモリーセル、D……データ入
力、Y1〜Ym……Yアドレス入力、X1〜Xn
……Xアドレス入力、D1〜DM……デイジツト
線、W1〜WN……ワード線、S1,S2……テ
スト信号、SYj……y選択信号、SXk……x
選択信号、I1〜I4,I5i〜I7i,I8j
,I9j,I10i〜I12i,I13k,I1
4k……インバータ、NO1,NO2i〜NO5
i……ノア回路、NA1,NA2j,NA3k…
…ナンド回路。
概略図、第2図はデータバツフア1および書込み
回路2の回路図、第3図はYアドレスバツフア3
の回路図、第4図はYデコーダ4の回路図、第5
図はXアドレスバツフア5の回路図、第6図はX
デコーダ6の回路図である。 1……データバツフア、2……書込み回路、3
……Yアドレスバツフア、4……Yデコーダ、5
……Xアドレスバツフア、6……Xデコーダ、7
……Vpp引き上げ回路、Vpp……電源、Q0
〜QM……NチヤンネルMOSトランジスタ、M
11〜MNM……メモリーセル、D……データ入
力、Y1〜Ym……Yアドレス入力、X1〜Xn
……Xアドレス入力、D1〜DM……デイジツト
線、W1〜WN……ワード線、S1,S2……テ
スト信号、SYj……y選択信号、SXk……x
選択信号、I1〜I4,I5i〜I7i,I8j
,I9j,I10i〜I12i,I13k,I1
4k……インバータ、NO1,NO2i〜NO5
i……ノア回路、NA1,NA2j,NA3k…
…ナンド回路。
Claims (1)
- 書込み回路、Xデコーダ、Yデコーダの出力を
、第1の制御信号が加えられると、全デイジツト
線を非選択状態にし、全ワード線を書込み電圧に
引き上げるような出力に、また、第2の制御信号
が加えられると、全ワード線を非選択状態にし、
全デイジツト線を書込み電圧に引き上げるような
出力にする手段を備えたことを特徴とするテスト
回路内蔵EPROM。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985052285U JPH051040Y2 (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 | |
US06/849,630 US4870618A (en) | 1985-04-09 | 1986-04-09 | Semiconductor memory equipped with test circuit for testing data holding characteristic during data programming period |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985052285U JPH051040Y2 (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61170200U true JPS61170200U (ja) | 1986-10-22 |
JPH051040Y2 JPH051040Y2 (ja) | 1993-01-12 |
Family
ID=12910524
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985052285U Expired - Lifetime JPH051040Y2 (ja) | 1985-04-09 | 1985-04-09 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4870618A (ja) |
JP (1) | JPH051040Y2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5197033A (en) | 1986-07-18 | 1993-03-23 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions |
JPH0766675B2 (ja) * | 1987-07-14 | 1995-07-19 | 株式会社東芝 | プログラマブルrom |
JPH02177100A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-10 | Nec Corp | 半導体記憶装置のテスト回路 |
DE69034227T2 (de) * | 1989-04-13 | 2007-05-03 | Sandisk Corp., Sunnyvale | EEprom-System mit Blocklöschung |
US5172338B1 (en) * | 1989-04-13 | 1997-07-08 | Sandisk Corp | Multi-state eeprom read and write circuits and techniques |
US7447069B1 (en) | 1989-04-13 | 2008-11-04 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
EP0432481A3 (en) * | 1989-12-14 | 1992-04-29 | Texas Instruments Incorporated | Methods and apparatus for verifying the state of a plurality of electrically programmable memory cells |
WO1992006475A1 (en) * | 1990-10-02 | 1992-04-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory |
US5148436A (en) * | 1990-10-15 | 1992-09-15 | Motorola, Inc. | Circuit for detecting false read data from eprom |
JPH04188498A (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-07 | Fujitsu Ltd | 書き換え可能な不揮発性半導体記憶装置 |
JP2829134B2 (ja) * | 1990-12-27 | 1998-11-25 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JP3526894B2 (ja) * | 1993-01-12 | 2004-05-17 | 株式会社ルネサステクノロジ | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2001006379A (ja) * | 1999-06-16 | 2001-01-12 | Fujitsu Ltd | 複写、移動機能を有するフラッシュメモリ |
US6574158B1 (en) | 2001-09-27 | 2003-06-03 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and system for measuring threshold of EPROM cells |
KR100515055B1 (ko) * | 2002-12-12 | 2005-09-14 | 삼성전자주식회사 | 모든 칼럼 선택 트랜지스터들을 선택할 수 있는 칼럼 프리디코더를 갖는 플레쉬 메모리 장치와 그 스트레스 테스트방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5936400A (ja) * | 1982-07-19 | 1984-02-28 | モトロ−ラ・インコ−ポレ−テツド | 半導体メモリアレ−検査方法 |
JPS59146495A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-22 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58222489A (ja) * | 1982-06-18 | 1983-12-24 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
-
1985
- 1985-04-09 JP JP1985052285U patent/JPH051040Y2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-04-09 US US06/849,630 patent/US4870618A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5936400A (ja) * | 1982-07-19 | 1984-02-28 | モトロ−ラ・インコ−ポレ−テツド | 半導体メモリアレ−検査方法 |
JPS59146495A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-22 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4870618A (en) | 1989-09-26 |
JPH051040Y2 (ja) | 1993-01-12 |
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