JPS6093532A - 基準電圧回路 - Google Patents

基準電圧回路

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Publication number
JPS6093532A
JPS6093532A JP58201614A JP20161483A JPS6093532A JP S6093532 A JPS6093532 A JP S6093532A JP 58201614 A JP58201614 A JP 58201614A JP 20161483 A JP20161483 A JP 20161483A JP S6093532 A JPS6093532 A JP S6093532A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
voltage
resistance
reference voltage
transistor
Prior art date
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Pending
Application number
JP58201614A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinichi Tanaka
慎一 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58201614A priority Critical patent/JPS6093532A/ja
Publication of JPS6093532A publication Critical patent/JPS6093532A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/26Current mirrors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、基準電圧回路、特に温度による出力電圧の変
化を零、或いは任意の値に設定でき、同時に任意の出力
電圧値を設定することのできる基準電圧回路に関する。
従来例の構成とその問題点 基準電圧回路は、現在、バンドギャップ方式として良く
知られた構成が主流である。半導体集積回路で任意の出
力電圧値を得るためには、通常、第1図のように、コレ
クタおよびエミッタ電路に、第1 、第2.第3の抵抗
R1,R2,R3を挿入し、異なる電流密度で動作する
電流ミラ一対温1.第2のトランジスタQ1.Q2 の
ベース・エミッタ間電電圧の差を第3の抵抗R3で取り
出し、この正の温度係数を持つ電圧番第2の抵抗R2の
両端に発生させ、負の温度係数を持つ第3のトランジス
タQ3のベース・エミッタ間電圧との和により、零。
或いは任意の温度係数を持つ基準電圧を発生し、これを
抵抗R4,R5で分割することによシ任意の出力電圧を
得る方法に依っている。ここで、04〜Q7は電流ミラ
ー結合(ミラー比1:1)および能動負荷である。
ところが、この様に第1図示のバンドギャップ方式基準
電圧回路の場合、基準電圧値とその温度係数を独立調整
できない為、余分な高い電圧が必要となる。例えばVr
、4=o、eiVが必要な場合でも、基準電圧として、
最小限、トランジスタのベース・エミッタ間電圧(VB
E)の2倍の電圧の1.1〜1.3vが必要であり、し
たがって電源電圧としても、最小限、2〜3vは必要と
なる。また、■r8f−3Vが必要なら、基準電圧とし
て、3.7〜3.9 V 。
電源電圧として4.5〜5.6■が必要となる。近年の
低電源電圧化に於て、このような余分の高い電圧が必要
であることは、不適格要因となる。
また、低消費電流化についても、従来方式では難しく、
例えば、第1図の回路では通常の半導体集積回路製造工
程に依った場合、占有面積の大きくなる高抵抗化に限度
があり、500〜600μ八以下に低減させることは、
現実的には困難である。
発明の目的 本発明は、低電源電圧化、及び低消費電流化が容易で、
且つ、任意の温度係数と任意の出力電圧値を容易に設定
することが可能な基準′区圧回路を提供するものである
発明の構成 本発明は、要約するに、第1および第2の電流源のそれ
ぞれに、異なる電流密度で動作し、かつ、互いに電流ミ
ラー結合された第1.第2の一対のトランジスタの各コ
レクタを接続し、前記一対の一方のトランジスタのエミ
ッタ電路に第1の抵抗をそなえ、第3および第4の電流
源のそれぞれに、第3および第4のトラ/ジス゛りの各
コレクタを接続し、前記第3のトランジスタのコレクタ
を前記第4のトランジスタのベースに、前記第3のトラ
ンジスタのベースを前記第4のトランジスタのエミッタ
に、互いに結合し、かつ、前記第4のトランジスタのエ
ミッタ電路に第2の抵抗をそなえ、前記第1および第2
の電流源に電流ミラー結合された第6の電流源ならびに
前記第3および第4の電流源に電流ミラー結合された第
6の電体源に共通接続された第3の抵抗をそなえた基準
電圧回路でちり、これによシ、第1の抵抗、第2の抵抗
を適切に設定し、かつ、第3の抵抗を調整することで、
任意の基準電圧値を第3の抵抗から得ることができ、低
電圧電源ならびに低消費電流どの動作を実現することが
できる。
実施例の説明 第2図は、本発明の実施例回路であり、以下、本発明を
この実施例回路により説明する0第1のトランジスタQ
21と第2のトランジスタQ22は異なる電流密度で動
作する電流ミラ一対で、両トランジスタのベース・エミ
ッタ間電圧差は第1の抵抗R21で検出される。両トラ
ンジスタの電流比I */ I 2 は、トランジスタ
Q24.Q22の各々のコレクタ端子に接続された、ト
ランジスタQ26゜Q26 I Q2□よ構成る第1の
電流ミラー回路によシ決定され、前記ベース・エミッタ
間電圧差Δ■BEは次の(1)式で表わされる。ここ 11、T2)ランジスタQ21 ”22の動作電流密度
5E11SE2 のエミッタ面積 に:ボルツマン定数 T:絶対温度 q:電子電荷 で、第1のミラー電流、すなわち、トランジスタQ22
の動作電流も決定され、電流ミラー回路構成するトラン
ジスタQ26 I Q2□により抵抗R23へこの第1
のミラー電流が流れ、これによシ、電圧降下v1 を生
じる。この電圧v1は、(2)式で表わされる。
一方、第3のトランジスタQ23のベース・エミッタ間
電圧を第4のトランジスタQ24および第2の抵抗R2
2で電流に変換し、トランジスタ028゜Q29.Q3
゜よシ成る第2の電流ミラー回路によシ第3のトランジ
スタQ23の動作電流を固定すると伴に、抵抗R23に
トランジスタQ3oによる第2のミラー電流を流し、こ
れにより、電圧降下v2ヲ生じる。この電圧■2は(3
)式で表わされる。
ここで、抵抗R23の両端に生じる基準電圧■refは
前記v1とv2の和とな!l) (4)式の通りとなる
■、8f−■1+■2 (4)式の第1項は正の温度係数を持ち、第2項は負の
温度係数を持つだめ、抵抗比を調整することにより容易
に零温度係数、或いは任意の温度係数の基準電圧を得る
ことができる。基準電圧の温度係数は(4)式をTで微
分することによって得られ(5)式に示す。
零温度係数を設定する場合、(6)式からも明らかな様
に、抵抗R21、R22の比だけで設定でき、抵抗R2
3を調整することにより、任意の基準電圧値を得ること
ができる。
この回路によれば、電源電圧■。0と基準電圧値vre
f との間には、トランジスタQ2□、Q30の飽和電
圧分の差があればよく、また、電源電圧は最低、2vB
E+1vcE(SAT)の電圧、すなわち、約1.6■
から動作するので、例えば、基準電圧o、sVで電源電
圧1.sV、基準電圧3vに対し電源電圧3.2V6れ
ば、安定に動作するので、従来のバンドギャップ基準電
圧回路に較べ低電源電圧化が容易である。
また、低消費電流化についても容易で、各々の電流ミラ
ー回路の動作電流を15〜20μ八程度に設定できるの
で、最大でも、約120IiAまで消費電流を抑えるこ
とが可能である。
同時に、(4)式、(5)式からも明らかな通り、Δv
BEを決定しているのがトランジスタQ21.Q22 
のエミノク面積比と、電流ミラー回路の電流比だけであ
り基準電圧設定は抵抗比だけなので、従来の回路よりも
高精度であり、半導体集積回路装置に最適である。
発明の効果 本発明によれば、次の様な効果がある。
第一の効果は、低電源電圧化が容易である。
第二の効果は、低消費電流化が容易である。
第三の効果は、高精度にできる。
このような効果があると同時に、3個の抵抗比だけで、
任意の温度係数、及び任意の基準電圧値を容易に設定で
きるので半導体集積回路に最適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例バンドギャップ方式の基準電圧回路図、
第2図は本発明実施例の基準電圧回路図である。 Q21〜Q3゜・・・・・トランジスタ、R21〜R2
3・・・・・・抵抗。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1および第2の電流源のそれぞれに、異なる電流密度
    で動作し、かつ、互いに電流ミラー結合された第1.第
    2の一対のトランジスタの各コレクタを接続し、前記一
    対の一方のトランジスタのエミッタ電路に第1の抵抗を
    そなえ、第3および第4の電流源のそれぞれに、第3お
    よび第4のトランジスタの各コレクタを接続し、前記第
    3のトランジスタのコレクタを前記第4のトランジスタ
    のベースに、前記第3のトランジスタのベースを前記第
    4のトランジスタのエミッタに、互いに結合し、かつ、
    前記第4のトランジスタのエミッタ電路に第2の抵抗を
    そなえ、前記第1および第2の電流源に電流ミラー結合
    された第5の電流源ならびに前記第3および第4の電流
    源に電流ミラー結合された第6の電流源のそれぞれに共
    通接続された第3の抵抗をそなえた基準電圧回路。
JP58201614A 1983-10-27 1983-10-27 基準電圧回路 Pending JPS6093532A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0315916A (ja) * 1989-02-14 1991-01-24 Texas Instr Inc <Ti> BiCMOS基準回路

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JPH08508361A (ja) * 1993-03-17 1996-09-03 ザイキャド・コーポレイション ランダムアクセスメモリ(ram)ベースのコンフィギュラブルアレイ
US20110101339A1 (en) * 2009-10-30 2011-05-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP5759829B2 (ja) * 2010-08-16 2015-08-05 株式会社半導体エネルギー研究所 記憶素子

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