JPS6092643A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- JPS6092643A JPS6092643A JP58200222A JP20022283A JPS6092643A JP S6092643 A JPS6092643 A JP S6092643A JP 58200222 A JP58200222 A JP 58200222A JP 20022283 A JP20022283 A JP 20022283A JP S6092643 A JPS6092643 A JP S6092643A
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、特に多ビン型で樹脂封止型の半導体装置の製
造方法に関する。
造方法に関する。
従来、樹脂封止型の半導体装置の製造工程では、リード
フレームのベッド上にチップ(半導体素子)が載置され
、このチップとリードフレームのインナーリード間でワ
イヤデンディングがなされる。そして、ワイヤデンディ
ング処理の後にチップを含むリードフレームに対して樹
脂封止処理が行われる。
フレームのベッド上にチップ(半導体素子)が載置され
、このチップとリードフレームのインナーリード間でワ
イヤデンディングがなされる。そして、ワイヤデンディ
ング処理の後にチップを含むリードフレームに対して樹
脂封止処理が行われる。
このようにして、樹脂モールド成型された半導体装置が
製造されることになる。ところで、近年多用されている
多ビン型の半導体装置では上記のインナーリードが比較
的細長く形成されている。このため上記のような従来の
製造方法では、ワイヤメンディング処理の際にインナー
リードの先端部に振動が発生しゃすくなシ、?ンディン
グワイヤのループ変形や切断が生じたシ、ビンディング
強度の劣化等の間−が発生するなどの欠点があった。
製造されることになる。ところで、近年多用されている
多ビン型の半導体装置では上記のインナーリードが比較
的細長く形成されている。このため上記のような従来の
製造方法では、ワイヤメンディング処理の際にインナー
リードの先端部に振動が発生しゃすくなシ、?ンディン
グワイヤのループ変形や切断が生じたシ、ビンディング
強度の劣化等の間−が発生するなどの欠点があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、樹脂封止型
の多ピン型半導体装置の製造工程において、ワイヤデン
ディング処理の際にインナーリードの振動によるビンデ
ィング不良の発生等を防止して、高品質の半導体装置を
製造できる半導体装置の製造方法を提供することを目的
とする。
の多ピン型半導体装置の製造工程において、ワイヤデン
ディング処理の際にインナーリードの振動によるビンデ
ィング不良の発生等を防止して、高品質の半導体装置を
製造できる半導体装置の製造方法を提供することを目的
とする。
本発明では、チップとリードフレームのインナーリード
とのワイヤビンディング領域外にあるインナーリード間
を接続する第1タイバーで支持した状態でインナーリー
ドとチア1間をワイヤビンディングした後、第1のモー
ルド工程によシワイヤメンディング領域内のリードフレ
ームに対して樹脂封止処理が行われる。この後、上記第
1のタイバーが切断され、さらに第2のモールド工程に
よシ上記ワイヤゲンディ゛ング領域外のリードフレーム
に対して樹脂封止処理がなされ、半導体装置全体の樹脂
モールド成型がなされる。
とのワイヤビンディング領域外にあるインナーリード間
を接続する第1タイバーで支持した状態でインナーリー
ドとチア1間をワイヤビンディングした後、第1のモー
ルド工程によシワイヤメンディング領域内のリードフレ
ームに対して樹脂封止処理が行われる。この後、上記第
1のタイバーが切断され、さらに第2のモールド工程に
よシ上記ワイヤゲンディ゛ング領域外のリードフレーム
に対して樹脂封止処理がなされ、半導体装置全体の樹脂
モールド成型がなされる。
これによシ、ワイヤデンディング処理の際に生ずる振動
を押えることができ、ワイヤビンディングを確実に行な
うことができる。
を押えることができ、ワイヤビンディングを確実に行な
うことができる。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第1
図乃至第4図は一実施例に係わる半導体装置の製造工程
を示す図である。第1図において、10はベッドであシ
チップ(図示せず)を載置する部分である。このベッド
JO上のテップと複数のインナーリード11間でワイヤ
ビンディングが行われる。チップはインナーリード1ノ
を介して外部回路との電気的接続がなされる。12はチ
ップとワイヤ゛デンディングされる領域のすぐ外側のイ
ンナーリード11間を接続する第1のタイバーである。
図乃至第4図は一実施例に係わる半導体装置の製造工程
を示す図である。第1図において、10はベッドであシ
チップ(図示せず)を載置する部分である。このベッド
JO上のテップと複数のインナーリード11間でワイヤ
ビンディングが行われる。チップはインナーリード1ノ
を介して外部回路との電気的接続がなされる。12はチ
ップとワイヤ゛デンディングされる領域のすぐ外側のイ
ンナーリード11間を接続する第1のタイバーである。
また13は複数のアクタ−リードであシ、これらアクタ
−リード13相互間は第2のタイバー14で接続されて
いる。これら各部分はリードフレームとして共通の金属
板を加工して一体に形成されている。
−リード13相互間は第2のタイバー14で接続されて
いる。これら各部分はリードフレームとして共通の金属
板を加工して一体に形成されている。
上記のようなリードフレームを用いた半導体装置の製造
工程を説明する。先ず、ベッド10上にチップが載置さ
れ、チップとインナーリード1ノの先端部間でワイヤデ
ンディング処理が行われる。このワイヤデンディング処
理後、第1のモールド工程によシ第1のタンバー12を
含まないワイヤビンディング領域のリードフレームに対
して樹脂モールド処理が成される(第2図の樹脂封止部
20)。
工程を説明する。先ず、ベッド10上にチップが載置さ
れ、チップとインナーリード1ノの先端部間でワイヤデ
ンディング処理が行われる。このワイヤデンディング処
理後、第1のモールド工程によシ第1のタンバー12を
含まないワイヤビンディング領域のリードフレームに対
して樹脂モールド処理が成される(第2図の樹脂封止部
20)。
そして、第1のタイバー12が切断され、インナーリー
ド11間が分離される(第3図に示された状態)。この
ようなリードフレームに対して、第2のモールド工程に
よシ樹脂封止処理が行われ、ワイヤビンディング領域外
のインナー!J−rノlを含む半導体装置全体の樹脂モ
ールド成型がなされる(第4図の樹脂封止部3の。
ド11間が分離される(第3図に示された状態)。この
ようなリードフレームに対して、第2のモールド工程に
よシ樹脂封止処理が行われ、ワイヤビンディング領域外
のインナー!J−rノlを含む半導体装置全体の樹脂モ
ールド成型がなされる(第4図の樹脂封止部3の。
また図示を略すが、その後第2のタイバー14はアウタ
ーリード13から除去される。
ーリード13から除去される。
上記のような製造工程において、その作用効果を説明す
る。ベッド10上のチップとインナーリード1)の先端
部間はワイヤデンディング処理によシ接続される。この
とき、上記のようにインナーリード11間は第1のタイ
バー12によシ接続されている。従って、ワイヤデンデ
ィング処理の際、インナーリード1ノの先端部の振動(
上下方向)は大幅に押えられる。これによシ、ワイヤデ
ンディングは確実に行われ、?ンディングワイヤのルー
プ変形、切断及びビンディング強度の劣化を防止できる
。
る。ベッド10上のチップとインナーリード1)の先端
部間はワイヤデンディング処理によシ接続される。この
とき、上記のようにインナーリード11間は第1のタイ
バー12によシ接続されている。従って、ワイヤデンデ
ィング処理の際、インナーリード1ノの先端部の振動(
上下方向)は大幅に押えられる。これによシ、ワイヤデ
ンディングは確実に行われ、?ンディングワイヤのルー
プ変形、切断及びビンディング強度の劣化を防止できる
。
そして、第1のタイバー12によシイノナ−リード1ノ
が接続された状態でワイヤビンディング領域のリードフ
レームに対して樹脂封止処理が行われる。これによシ、
第1のタイバー12が除去されてもビンディングワイヤ
は樹脂によシ固定されており、上記のようながンディン
グ不良は発生しない。そして、第1のタイバー12を切
断した後、第2の樹脂モールド工程によシ半導体装置全
体の樹脂モールド成型が成されることになる。
が接続された状態でワイヤビンディング領域のリードフ
レームに対して樹脂封止処理が行われる。これによシ、
第1のタイバー12が除去されてもビンディングワイヤ
は樹脂によシ固定されており、上記のようながンディン
グ不良は発生しない。そして、第1のタイバー12を切
断した後、第2の樹脂モールド工程によシ半導体装置全
体の樹脂モールド成型が成されることになる。
以上詳述したように本発明によれば、ワイヤビンディン
グ処理においてインナーリードの先端部の振動によるビ
ンディング不良を確実に防止することができ、しかも確
実な樹脂そ−ルド成型を実現することができる。したが
って、高品質な樹脂封止型の多ビン構造の半導体装置を
提供することができる。
グ処理においてインナーリードの先端部の振動によるビ
ンディング不良を確実に防止することができ、しかも確
実な樹脂そ−ルド成型を実現することができる。したが
って、高品質な樹脂封止型の多ビン構造の半導体装置を
提供することができる。
第1図乃至第4図は本発明の一実施例に係わる半導体装
置の製造方法を説明するための図である。 10・・・ベッド、1ノ・・・インナーリード、12・
・・第1のタイバー、ノ3・・・アウターリード、14
・・・第2のタイバー、20.30・・・樹脂封止部O 第1図 第2 図 第3WJ
置の製造方法を説明するための図である。 10・・・ベッド、1ノ・・・インナーリード、12・
・・第1のタイバー、ノ3・・・アウターリード、14
・・・第2のタイバー、20.30・・・樹脂封止部O 第1図 第2 図 第3WJ
Claims (1)
- チップを載置するだめのべ、ド、インナーリード及びこ
れに連続するアウターリード、そのベッド上のチップと
ワイヤメンディングされる領域外のインナーリード間を
接続する第1のタイバーならびにアウターリード間を接
続する第2のタイバーを有するリードフレームを用意ス
る工程と、上記チップとインナーリード間をワイヤデン
ディングする工程と、上記ワイヤデンディング領域内の
リードフレームに対して樹脂封止を行なう第1のモール
ド工程と、上記第1のタイバーを切断し上記インナーリ
ード間を分離する工程と、上記ワイヤ?ンディング領域
外ノインナーリードを含む上記リードフレームに対して
樹脂封止を行なって半導体装置全体をモールド成型する
第2のモールド工程とを備えて成ることを特徴とする半
導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58200222A JPS6092643A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58200222A JPS6092643A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6092643A true JPS6092643A (ja) | 1985-05-24 |
JPH0443422B2 JPH0443422B2 (ja) | 1992-07-16 |
Family
ID=16420834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58200222A Granted JPS6092643A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6092643A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02194641A (ja) * | 1989-01-24 | 1990-08-01 | Ibiden Co Ltd | リードフレーム |
-
1983
- 1983-10-26 JP JP58200222A patent/JPS6092643A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02194641A (ja) * | 1989-01-24 | 1990-08-01 | Ibiden Co Ltd | リードフレーム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0443422B2 (ja) | 1992-07-16 |
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