JPS6085495A - ダイナミツクram用サブストレ−トバイアス発生器 - Google Patents
ダイナミツクram用サブストレ−トバイアス発生器Info
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- JPS6085495A JPS6085495A JP59142083A JP14208384A JPS6085495A JP S6085495 A JPS6085495 A JP S6085495A JP 59142083 A JP59142083 A JP 59142083A JP 14208384 A JP14208384 A JP 14208384A JP S6085495 A JPS6085495 A JP S6085495A
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- JP
- Japan
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- pump circuit
- circuit
- substrate
- oscillator
- output
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/205—Substrate bias-voltage generators
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野l
本発明は半導体デバイスに関するもので、とくに半導体
ダイナミックメモリデバイス等において用いられるタイ
プのサブストレートバイアス回路に係わるものである。
ダイナミックメモリデバイス等において用いられるタイ
プのサブストレートバイアス回路に係わるものである。
[従来の技術l
MOSダイナミ・アクリード/ライト型の半導体メモリ
デバイスやその他のこの種デバイスにおいては、サブス
トレートポンプ回路を用いてサブストレートバイアス用
の負電圧を発生させている。
デバイスやその他のこの種デバイスにおいては、サブス
トレートポンプ回路を用いてサブストレートバイアス用
の負電圧を発生させている。
このようなサブストレートポンプ回路の設計は。
通常いくつかの相反する要件を妥協させるように行なわ
れており、これらの回路は複数の発振器駆動スイッチか
ら構成され、このスイッチによりダイオード型の素子を
通じてコンデンサを充放電してサブストレート中に電荷
を注入する。 この場合1発振器の周波数およびコンデ
ンサ放電の電力レベルの選択に際しては、電力量を過剰
に消費することのない平均的な動作条件において適切な
レベルでバックバイアスを維持するよう4こしている、
しかしながら、上記電力レベルを低くなるように選択
した場合には、電源オン後の全バイアスレベルを確立す
るために必要とされる時間がはなはだしく長くなってし
まう。
れており、これらの回路は複数の発振器駆動スイッチか
ら構成され、このスイッチによりダイオード型の素子を
通じてコンデンサを充放電してサブストレート中に電荷
を注入する。 この場合1発振器の周波数およびコンデ
ンサ放電の電力レベルの選択に際しては、電力量を過剰
に消費することのない平均的な動作条件において適切な
レベルでバックバイアスを維持するよう4こしている、
しかしながら、上記電力レベルを低くなるように選択
した場合には、電源オン後の全バイアスレベルを確立す
るために必要とされる時間がはなはだしく長くなってし
まう。
ところで、サブストレートバイアスの漏洩電流は、その
大部分がインパクトイオン化電流によって引き起こされ
る。 この漏洩電流はトランジスタがビンチオ)した時
に最大となるとき以外は無視できるもので、たとえばM
OSダイナミックメモリにおいては、出力理論状態がス
イッチングする時以外、トランジスタはほとんどピンチ
オフ状態にはならない、 そして、この出力論理状態の
スイッチングは購(行アドレスストローブ)およびm
(列アドレスストローブ)の少なくとも一方が周期的に
変化する際の動作サイクル期間に生ずる。 従って、サ
ブストレートポンピング回路の設計に際しては、動作メ
モリサイクル期間中に主として発生する漏洩電流を補償
するための。
大部分がインパクトイオン化電流によって引き起こされ
る。 この漏洩電流はトランジスタがビンチオ)した時
に最大となるとき以外は無視できるもので、たとえばM
OSダイナミックメモリにおいては、出力理論状態がス
イッチングする時以外、トランジスタはほとんどピンチ
オフ状態にはならない、 そして、この出力論理状態の
スイッチングは購(行アドレスストローブ)およびm
(列アドレスストローブ)の少なくとも一方が周期的に
変化する際の動作サイクル期間に生ずる。 従って、サ
ブストレートポンピング回路の設計に際しては、動作メ
モリサイクル期間中に主として発生する漏洩電流を補償
するための。
ピーク負荷電流を供給可能となるように配慮しているが
、待機動作中の電力消費を徒らに招く結果に終っている
。
、待機動作中の電力消費を徒らに招く結果に終っている
。
[発明が解決しようとする問題点l
故に本発明の第1の目的は、 MOSダイナミックメモ
リデバイス等の半導体集積回路用のサブストレートポン
プ回路を改良することにある。
リデバイス等の半導体集積回路用のサブストレートポン
プ回路を改良することにある。
また本発明の第2の目的は、電力消費をできるだけ少な
くシ、シかも電源オン時にサブストレートバイアスを速
やかに確立するとともに、動作条件が様々に変化しても
これを補償するようなサブストレートポンプ回路を提供
することにある。
くシ、シかも電源オン時にサブストレートバイアスを速
やかに確立するとともに、動作条件が様々に変化しても
これを補償するようなサブストレートポンプ回路を提供
することにある。
[問題点を解決しようとするための手段1本発明の一実
施例によれば、ダイナミック)IO9リード/ライトメ
モリはバイアス発生回路を有し、このバイアス発生回路
は例えば4個の独立したポンプ回路を含んでいる。 こ
れらのポンプ回路のうち、第1のポンプ回路は電源起動
期間のみ動作し所望のバックバイアスを速やかに発生さ
せるもので、高い周波数の発振器および低インピーダン
スの駆動回路を用いて、必要なバイアス値に達したらす
ぐにカットオフして、電力を節約する。 また第2のポ
ンプ回路は、低い周波数の発振器と高インピーダンスの
駆動回路を用いて小さな持続電流を発生させるもので、
この機能によりアイドル期間中の漏洩電流を補償する。
施例によれば、ダイナミック)IO9リード/ライトメ
モリはバイアス発生回路を有し、このバイアス発生回路
は例えば4個の独立したポンプ回路を含んでいる。 こ
れらのポンプ回路のうち、第1のポンプ回路は電源起動
期間のみ動作し所望のバックバイアスを速やかに発生さ
せるもので、高い周波数の発振器および低インピーダン
スの駆動回路を用いて、必要なバイアス値に達したらす
ぐにカットオフして、電力を節約する。 また第2のポ
ンプ回路は、低い周波数の発振器と高インピーダンスの
駆動回路を用いて小さな持続電流を発生させるもので、
この機能によりアイドル期間中の漏洩電流を補償する。
さらに、第3および第4のポンプ回路は購および図によ
り駆動されるもので、これらの購および元は必要とされ
る場合のみ、メモリの実際の動作条件に依存した度合で
発生する。
り駆動されるもので、これらの購および元は必要とされ
る場合のみ、メモリの実際の動作条件に依存した度合で
発生する。
[実施例]
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図において、本発明によるサブストレートポンプ回
路は2表面に形成されたダイナミックRA)!7レイ1
1を有するシリコンサブストレートlOにて使用されて
いる。 このようなダイナミックRAM回路としては米
国特許第4,238.8!13号に開示されたタイプの
ものを用いることができ、たとえばアドレス人力An−
Anに接続された複数の入カバッファ、複数の行および
列デコーダ12.複数のデータ入出力回路13.および
クロック発生・制御回路14を含んでおり、その動作は
入力端子に印加される図9元およびWにより制御される
。 またサブストレートポンプ回路の電源はVddおよ
びVss端子から供給される。
路は2表面に形成されたダイナミックRA)!7レイ1
1を有するシリコンサブストレートlOにて使用されて
いる。 このようなダイナミックRAM回路としては米
国特許第4,238.8!13号に開示されたタイプの
ものを用いることができ、たとえばアドレス人力An−
Anに接続された複数の入カバッファ、複数の行および
列デコーダ12.複数のデータ入出力回路13.および
クロック発生・制御回路14を含んでおり、その動作は
入力端子に印加される図9元およびWにより制御される
。 またサブストレートポンプ回路の電源はVddおよ
びVss端子から供給される。
本発明によればサブストレートバイアスは。
サブストレートバイアス発生回路として機能する4個の
ポンプ回路15.18.1?および18によって供給さ
れる。 すなわち、まず第1のポンプ回路15は電源オ
ンの期間のみ動作するもので、大きな電流を供給してや
や急速にサブストレートバイアス−Vddを確立する。
ポンプ回路15.18.1?および18によって供給さ
れる。 すなわち、まず第1のポンプ回路15は電源オ
ンの期間のみ動作するもので、大きな電流を供給してや
や急速にサブストレートバイアス−Vddを確立する。
ついでこの第1のポンプ回路はカットオフし、第2の
ポンプ回路たる標準ポンプ回路16により、弁動作期間
中、小さな持続電流が供給されることになる。 一方、
動作サイクル期間には、配および元が周期的に変化する
際に第3および第4のポンプ回路17および18が動作
する。
ポンプ回路たる標準ポンプ回路16により、弁動作期間
中、小さな持続電流が供給されることになる。 一方、
動作サイクル期間には、配および元が周期的に変化する
際に第3および第4のポンプ回路17および18が動作
する。
第2図に前記標準ポンプ回路16の詳細を示す、 この
標準ポンプ回路1Bには約3メガヘルツで動作するリン
グ発振器18と、約0.5マイクロアンペアのポンプ電
流をサブストレー)10に供給するポンプ回路20とを
用いる。 前記発振器18は、3段の回路22.23.
24と最終段から初段への帰環路25とから構成されて
おり、3相出力2?、 28.29が発振器19からポ
ンプ回路20に結合されている。
標準ポンプ回路1Bには約3メガヘルツで動作するリン
グ発振器18と、約0.5マイクロアンペアのポンプ電
流をサブストレー)10に供給するポンプ回路20とを
用いる。 前記発振器18は、3段の回路22.23.
24と最終段から初段への帰環路25とから構成されて
おり、3相出力2?、 28.29が発振器19からポ
ンプ回路20に結合されている。
各段の回路22.23.24の出力部には、それぞれ3
個の直列トランジスタ31.32.33が設けられ、こ
のうちトランジスタ33は出力を低レベルに引き下げる
入力ドライバであり、またトランジスタ31は反転入力
を受け取ると出力を高レベルに引き上げるものである。
個の直列トランジスタ31.32.33が設けられ、こ
のうちトランジスタ33は出力を低レベルに引き下げる
入力ドライバであり、またトランジスタ31は反転入力
を受け取ると出力を高レベルに引き上げるものである。
さらに、各段の回路には、負荷たるトランジスタ35
を伴ったドライバトランジスタ34を含むインバータが
設けられ、この負荷35は、接続点38と前記トランジ
スタ31のゲートが高レベル になるようにコンデンサ
36とトランジスタ37によりVdd以上に持ち上げら
れている。
を伴ったドライバトランジスタ34を含むインバータが
設けられ、この負荷35は、接続点38と前記トランジ
スタ31のゲートが高レベル になるようにコンデンサ
36とトランジスタ37によりVdd以上に持ち上げら
れている。
また前記リング発振器lθの周波数は、各段の出力部に
設けら^ンデンサ39と、これらのコンデンサ38をそ
れぞれを充放電するためのトランジスタのインピーダン
スとの両者により定まる。
設けら^ンデンサ39と、これらのコンデンサ38をそ
れぞれを充放電するためのトランジスタのインピーダン
スとの両者により定まる。
一方、第2図に示すポンプ回路20には、接続点42お
よび43間に設けられたコンデンサ41とともにダイオ
ードとして接続されたトランジスタ40が用いられてい
て、サブストレート10から電流をボンピングする。
この接続点43は、接続点45が高レベルで接続点4B
が低レベルの場合に、トランジスタ44によって高レベ
ルとなるように駆動される、 そして、この状態ではト
ランジスタ47および48はターンオフし、トランジス
タ4θのゲート電圧がトランジスタ50を通じてVdd
となり、トランジスタ48により接続点42を完全に接
地する。 通常この種の回路においては、トランジスタ
49のゲートを接続点42に接続して、接続点42がV
ssまで降下するのを防止している。 一方、接続点4
Bが高レベルとなり接続点45が低レベルとなると、接
続点43はトランジスタ47を通じて接地され、接続点
42はダイオードとして作用するトランジスタ48を介
して接地に対して非結合状態となる。 この状態でコン
デンサ41の放電によりサブストレート1θがトランジ
スタ40を介して負に引っ張られる。
よび43間に設けられたコンデンサ41とともにダイオ
ードとして接続されたトランジスタ40が用いられてい
て、サブストレート10から電流をボンピングする。
この接続点43は、接続点45が高レベルで接続点4B
が低レベルの場合に、トランジスタ44によって高レベ
ルとなるように駆動される、 そして、この状態ではト
ランジスタ47および48はターンオフし、トランジス
タ4θのゲート電圧がトランジスタ50を通じてVdd
となり、トランジスタ48により接続点42を完全に接
地する。 通常この種の回路においては、トランジスタ
49のゲートを接続点42に接続して、接続点42がV
ssまで降下するのを防止している。 一方、接続点4
Bが高レベルとなり接続点45が低レベルとなると、接
続点43はトランジスタ47を通じて接地され、接続点
42はダイオードとして作用するトランジスタ48を介
して接地に対して非結合状態となる。 この状態でコン
デンサ41の放電によりサブストレート1θがトランジ
スタ40を介して負に引っ張られる。
接続点45および4Bの電位に関しては9発振器18に
より駆動されて高レベルと低レベル間を周期的に変化す
る。 出力27が高レベルになると、接続点45はトラ
ンジスタ51により高レベルに引っ張られるとともに、
接続点46はトランジスタ52により低レベルに引っ張
られる。 一方、出力28が高レベルになると、接続点
45はトランジスタ53により低レベルに引っ張られる
とともに、接続点46はトランジスタ54により高レベ
ルに引っ張られる。 さらに高レベル期間中は、出力2
9によりコンデンサ55を介してVdd以上に接続点4
5をボンピングすることによって、トランジスタ44.
50を通じて接続点43とトランジスタ48のゲートに
全電圧Vddが供給されるとともに、トランジスタ56
により接続点48が低レベルに引っ張られる。 各出力
27.28゜29は3相重畳クロック波形に類似したも
のである、コンデンサ41とこのコンデンサ41に直列
のトランジスタの寸法、および発振器18の周波数は、
このポンプ回路1Bの駆動電流が約0.5マイクロアン
ペアに選択されるように定められている。
より駆動されて高レベルと低レベル間を周期的に変化す
る。 出力27が高レベルになると、接続点45はトラ
ンジスタ51により高レベルに引っ張られるとともに、
接続点46はトランジスタ52により低レベルに引っ張
られる。 一方、出力28が高レベルになると、接続点
45はトランジスタ53により低レベルに引っ張られる
とともに、接続点46はトランジスタ54により高レベ
ルに引っ張られる。 さらに高レベル期間中は、出力2
9によりコンデンサ55を介してVdd以上に接続点4
5をボンピングすることによって、トランジスタ44.
50を通じて接続点43とトランジスタ48のゲートに
全電圧Vddが供給されるとともに、トランジスタ56
により接続点48が低レベルに引っ張られる。 各出力
27.28゜29は3相重畳クロック波形に類似したも
のである、コンデンサ41とこのコンデンサ41に直列
のトランジスタの寸法、および発振器18の周波数は、
このポンプ回路1Bの駆動電流が約0.5マイクロアン
ペアに選択されるように定められている。
電源オン過渡期には、前記第1のポンプ回路15により
約5マイクロアンペアの大きなボンピング電流を用いて
、サブストレー)10を一2Vtの−vbbレベルまで
急速にボンピングする。 ついで第1のポンプ回路15
はカー/ )オフとなり、これ以降はカットオフの状態
に留まる。 この第1のポンプ回路15の詳細を第3図
に示す、 該ポンプ回路15は9発振器がより高い周波
数例えば15メガヘルツで発振し、かつその機能が完了
した後はカットオフして消費電力がゼロになるように構
成されている点以外は、第2図のポンプ回路と同様な構
成である。 また第3図に示すポンプ回路20は、より
大きな電流をサブストレートに供給すべくコンデンサ4
1および複数のトランジスタの各容量を大きくした点以
外は、第2図回路のものと同等である。
約5マイクロアンペアの大きなボンピング電流を用いて
、サブストレー)10を一2Vtの−vbbレベルまで
急速にボンピングする。 ついで第1のポンプ回路15
はカー/ )オフとなり、これ以降はカットオフの状態
に留まる。 この第1のポンプ回路15の詳細を第3図
に示す、 該ポンプ回路15は9発振器がより高い周波
数例えば15メガヘルツで発振し、かつその機能が完了
した後はカットオフして消費電力がゼロになるように構
成されている点以外は、第2図のポンプ回路と同様な構
成である。 また第3図に示すポンプ回路20は、より
大きな電流をサブストレートに供給すべくコンデンサ4
1および複数のトランジスタの各容量を大きくした点以
外は、第2図回路のものと同等である。
第3図において、トランジスタ37は電源供給ライン8
0に接続され、直列トランジスタ32もこの供給ライン
60に接続されているので、ライン60の電圧をゼロに
することにより発振器をターンオフすることができる。
0に接続され、直列トランジスタ32もこの供給ライン
60に接続されているので、ライン60の電圧をゼロに
することにより発振器をターンオフすることができる。
さらに付加された各トランジスタ61は、接続点63
が高レベルになったときに各接続点82を接地に短絡し
て、各コンデンサ3Bの残留電圧に起因する導通を防止
する。 供給ライン60が低レベルで接続点83が高レ
ベルである場合、発振器回路のいかなる部分においても
Vddから接地への直流路は存在せず、各出力27 、
28.29は低レベルとなってポンプ回路20が完全に
非動作状態となり、電力の消費は皆無となる6 検出回路B5は、サブストレート10が一2Vtの所望
レベルのサブストレート電圧−vbbになったときにセ
ンス動作を行なうとともに、接続点80を低レベルに、
接続点63を高レベルに駆動することに2 より発振器19をターンオフする。 サブストレートを
表わす接続点10は電源オン時にはゼロ電位である。
が高レベルになったときに各接続点82を接地に短絡し
て、各コンデンサ3Bの残留電圧に起因する導通を防止
する。 供給ライン60が低レベルで接続点83が高レ
ベルである場合、発振器回路のいかなる部分においても
Vddから接地への直流路は存在せず、各出力27 、
28.29は低レベルとなってポンプ回路20が完全に
非動作状態となり、電力の消費は皆無となる6 検出回路B5は、サブストレート10が一2Vtの所望
レベルのサブストレート電圧−vbbになったときにセ
ンス動作を行なうとともに、接続点80を低レベルに、
接続点63を高レベルに駆動することに2 より発振器19をターンオフする。 サブストレートを
表わす接続点10は電源オン時にはゼロ電位である。
この検出回路65中の直列トランジスタ8B、 B?は
当初はターンオフ状態にある。 交叉結合トランジスタ
88.[(9および70.71により構成された回路は
、当初は接続点60がVddに接続点83が接地に保た
れている。 この場合、接続点60は各段の発振器回路
22 、23.24への電源供給点であり、また接続点
63は発振器18中のコンデンサ36を短絡させるため
の電圧の供給点である。 さらに接続点72は電源の供
給が開始された際に、コンデンサ73によりVddまで
持ち上げられ、トランジスタ6θ、70をターンオンさ
せて、接続点60を高レベルに接続点63を低レベルに
引っ張る。 また接続点74はトランジスタ75により
低レベルに保持され、前記接続点72は、接続点7Bが
−Vtに達するまでVddレベルに維持されている。
接続点76の電圧がサブストレート電圧vbb +vt
であることから、接続点72はvbbが一2Vtに達す
ると放電を開始する。 接続点72がVt以下になるト
、I−ラフシフ、5’69.70.75はターンオフし
、接続点74はトランジスタ77により高レベルに引っ
張られる。 トランジスタEi8.71は接続点74が
Vtに達するとターンオンし、その結果接続点60は低
レベルにまた接続点63は高レベルになって発振器をタ
ーンオフさせる。 この状態は電源が切られるまで維持
される。 従って電源オンから−vbbが一2Vtにボ
ンピングされるまで。
当初はターンオフ状態にある。 交叉結合トランジスタ
88.[(9および70.71により構成された回路は
、当初は接続点60がVddに接続点83が接地に保た
れている。 この場合、接続点60は各段の発振器回路
22 、23.24への電源供給点であり、また接続点
63は発振器18中のコンデンサ36を短絡させるため
の電圧の供給点である。 さらに接続点72は電源の供
給が開始された際に、コンデンサ73によりVddまで
持ち上げられ、トランジスタ6θ、70をターンオンさ
せて、接続点60を高レベルに接続点63を低レベルに
引っ張る。 また接続点74はトランジスタ75により
低レベルに保持され、前記接続点72は、接続点7Bが
−Vtに達するまでVddレベルに維持されている。
接続点76の電圧がサブストレート電圧vbb +vt
であることから、接続点72はvbbが一2Vtに達す
ると放電を開始する。 接続点72がVt以下になるト
、I−ラフシフ、5’69.70.75はターンオフし
、接続点74はトランジスタ77により高レベルに引っ
張られる。 トランジスタEi8.71は接続点74が
Vtに達するとターンオンし、その結果接続点60は低
レベルにまた接続点63は高レベルになって発振器をタ
ーンオフさせる。 この状態は電源が切られるまで維持
される。 従って電源オンから−vbbが一2Vtにボ
ンピングされるまで。
このバックバイアス発生器は2発振器を動作させた状態
で正常に機能する。 しかしながら、サブストレートバ
イアス−vbbが一2Vtに達した後は9電源供給用の
接続点60がターンオフすることにより、リング発振器
がディスエーブル(機能阻lト)状態となり、まったく
電力を消費しなくなる。
で正常に機能する。 しかしながら、サブストレートバ
イアス−vbbが一2Vtに達した後は9電源供給用の
接続点60がターンオフすることにより、リング発振器
がディスエーブル(機能阻lト)状態となり、まったく
電力を消費しなくなる。
サブストレートバイアスの漏洩電流は原則的には動作メ
モリサイクル期間中に発生するので。
モリサイクル期間中に発生するので。
第4図に示すポンプ回路17.18を付加して、チップ
入力80.81に購および図がそれぞれ現われたときに
サブストレートをボンピングするように構成する。 こ
れらの入力80.81は非動作期間中は高レベルであり
、インバータ83により接続点82を低レベルに保持す
る。 これによりトランジスタ84がオフ状態にトラン
ジスタ85がオン状態となり、接続点88およびコンデ
ンサ87に蓄積された電荷を放電させる。 コンデンサ
87の他方の側の接続点88は負電位に維持されている
が、この接続点88が正電位になろうとすると、該接続
点88はトランジスタ89を通じて接地される。 また
、サブストレート10が接続点88よりも高い正電位と
なったときには、トランジスタ90はダイオードとして
導通する。 図が立ち下がり、リードもしくはライトア
クセス(あるいはリフレッシュ)を開始すると、トラン
ジスタ84 、85はスイッチングして接続点8BはV
ddまで充電される。 動作サイクル期間中は多数の内
部クロックが生成され、チップ内の多くのトランジスタ
の状態がスイッチングするので、サブストレートバイア
ス漏洩電流が発生する。 この漏洩電流を補償するため
には1図(もしくは元)が第4図に示す回路にて高レベ
ルになったときに、トランジスタ85がターンオンし5 、かつトランジスタ84のゲート電圧が下降するにとも
なって、接続点8Bは低レベルとなる。 なおトランジ
スタ84のゲートはコンデンサ91によりVd6以上に
持ち上げられていたことから、全電源電圧がコンデンサ
87に蓄積されている。 接続点8Bが低レベルになる
と、接続点88を−Vddに引っ張って、サブストレー
ト10を負にボンピングする。
入力80.81に購および図がそれぞれ現われたときに
サブストレートをボンピングするように構成する。 こ
れらの入力80.81は非動作期間中は高レベルであり
、インバータ83により接続点82を低レベルに保持す
る。 これによりトランジスタ84がオフ状態にトラン
ジスタ85がオン状態となり、接続点88およびコンデ
ンサ87に蓄積された電荷を放電させる。 コンデンサ
87の他方の側の接続点88は負電位に維持されている
が、この接続点88が正電位になろうとすると、該接続
点88はトランジスタ89を通じて接地される。 また
、サブストレート10が接続点88よりも高い正電位と
なったときには、トランジスタ90はダイオードとして
導通する。 図が立ち下がり、リードもしくはライトア
クセス(あるいはリフレッシュ)を開始すると、トラン
ジスタ84 、85はスイッチングして接続点8BはV
ddまで充電される。 動作サイクル期間中は多数の内
部クロックが生成され、チップ内の多くのトランジスタ
の状態がスイッチングするので、サブストレートバイア
ス漏洩電流が発生する。 この漏洩電流を補償するため
には1図(もしくは元)が第4図に示す回路にて高レベ
ルになったときに、トランジスタ85がターンオンし5 、かつトランジスタ84のゲート電圧が下降するにとも
なって、接続点8Bは低レベルとなる。 なおトランジ
スタ84のゲートはコンデンサ91によりVd6以上に
持ち上げられていたことから、全電源電圧がコンデンサ
87に蓄積されている。 接続点8Bが低レベルになる
と、接続点88を−Vddに引っ張って、サブストレー
ト10を負にボンピングする。
同様にWが立ち上がると、他の負のパルスが第4図の回
路1Bからサブストレート10に対して供給される。
購単独供給のリフレッシュ期間が援引いても、因は降下
せず、ボンピングはたとえば2/258mgすなわち7
.8マイクロ秒に1回のリフレッシュ率で行なわれる。
路1Bからサブストレート10に対して供給される。
購単独供給のリフレッシュ期間が援引いても、因は降下
せず、ボンピングはたとえば2/258mgすなわち7
.8マイクロ秒に1回のリフレッシュ率で行なわれる。
またリードまたはライトアクセスを急速に実行する期
間中は1回路17.18によるボンピング率はメモリサ
イクル期間と同程度であってもよい、 すなわち例えば
図と元の両者が300ナノ秒毎に発生するようにしても
よい、 さらにページモード動作期間には。
間中は1回路17.18によるボンピング率はメモリサ
イクル期間と同程度であってもよい、 すなわち例えば
図と元の両者が300ナノ秒毎に発生するようにしても
よい、 さらにページモード動作期間には。
因は50ナノ秒毎に発生するバースト信号としてもよい
、 かくして、ボンピング率は各メモリに特B 有の動作条件に応じて自動的に調節される。
、 かくして、ボンピング率は各メモリに特B 有の動作条件に応じて自動的に調節される。
[発明の効果J
本発明によるダイナミックRAM用サブスレートバイア
ス発生器は、上記のように電源起動期間のみ動作し所望
のバックバイアスを速やかに発生すべく、高い周波数の
発振器および低いインピーダンスの駆動回路を用いて、
必要なバイアス値に達したらただちにカットオフされて
電力を節約するようにした第1のポンプ回路と、低い周
波数の発振器および高いインピーダンスの駆動回路を用
いて小さな持続電流を発生することによりアイドル期間
中の漏洩電流を補償する第2のポンプ回路と、必要とさ
れる場合のみメモリの実際の動作条件に依存した度合で
発生する灼および元により駆動される第3のポンプ回路
とにより構成したので、電力消費をできるだけ少なくシ
、シかも電源オン時にサブストレートバイアスを速やか
に確立することができるとともに、種々の動作条件を補
償しうるという効果がある。
ス発生器は、上記のように電源起動期間のみ動作し所望
のバックバイアスを速やかに発生すべく、高い周波数の
発振器および低いインピーダンスの駆動回路を用いて、
必要なバイアス値に達したらただちにカットオフされて
電力を節約するようにした第1のポンプ回路と、低い周
波数の発振器および高いインピーダンスの駆動回路を用
いて小さな持続電流を発生することによりアイドル期間
中の漏洩電流を補償する第2のポンプ回路と、必要とさ
れる場合のみメモリの実際の動作条件に依存した度合で
発生する灼および元により駆動される第3のポンプ回路
とにより構成したので、電力消費をできるだけ少なくシ
、シかも電源オン時にサブストレートバイアスを速やか
に確立することができるとともに、種々の動作条件を補
償しうるという効果がある。
第1図は本発明によるサブストレートポンプ回路を用い
ることのできるメモリデバイスを示すブロック図、第2
図はサブストレートポンプ回路の一実施例を示す概略的
な電気回路図、第3図はサブストレートポンプ回路の他
の実施例を示す概略的な電気回路図、第4図は第1図の
サブストレートポンプ回路の更に他の実施例を示す概略
的な電気回路図である。 10、、、サブストレート。 +1.、、ダイナミックRAMアレイ。 15、18.17.18. 、 、ポンプ回路。 tS、、、発振器。 85、、、検出回路。 購100行アドレスストローブ。 図000列アドレスストローブ。 特許出願人 テキサスインスツルメンツインコーポレイ
テッド 代理人 弁理士 尾 崎 光 三 9
ることのできるメモリデバイスを示すブロック図、第2
図はサブストレートポンプ回路の一実施例を示す概略的
な電気回路図、第3図はサブストレートポンプ回路の他
の実施例を示す概略的な電気回路図、第4図は第1図の
サブストレートポンプ回路の更に他の実施例を示す概略
的な電気回路図である。 10、、、サブストレート。 +1.、、ダイナミックRAMアレイ。 15、18.17.18. 、 、ポンプ回路。 tS、、、発振器。 85、、、検出回路。 購100行アドレスストローブ。 図000列アドレスストローブ。 特許出願人 テキサスインスツルメンツインコーポレイ
テッド 代理人 弁理士 尾 崎 光 三 9
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) 第1の周波数で動作する第1の発振器およびサ
ブストレートへの第1の出力を有する541のポンプ回
路と、前記第1の周波数よりも実質的に低い第2の周波
数で動作する第2の発振器およびサブストレートへの第
2の出力を有する第2のポンプ回路と、サブストレート
への第3の出力を有しかつメモリへの可変クロー2り入
力に応答して動作する第3のポンプ回路とからなること
を特徴とする半導体サブストレート上に形成されるダイ
ナミックMOSリード/ライトメモリ用サブストレート
バイアスポンプ回路。 (2) 前記第1のポンプ回路は、サブストレートバイ
アスを検出して、前記サブストレート/<イアスが選択
されたレベルに達したときに前記第1の発振器および前
記第1の出力をターンオフする手段を含むことを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の回路。 (3) 前記第1の出力は前記第2の出力よりもきわめ
て大きな電流であることを特徴とする特許請求の範囲第
2項記載の回路。 (4) 前記第1のポンプ回路はスイッチング手段を含
み、このスイッチング手段により前記第1の発振器およ
び第1の出力がターンオフしたときに電力の消費を完全
に停止させるようにしたことを特徴とする特許請求の範
囲第3項記載の回路。 (5) 前記第1のポンプ回路は電源オン時のみ動作す
るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第4項記
載の回路。 (6) 前記可変クロックとして行アドレスストローブ
圓を用いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の回路。 (7) 第1のポンプ回路に結合された出力を有する発
振器と、サブストレートバイアスに応答してこのサブス
) l/ −トバイアスがある選択されたレベルを越え
たときに前記発振器をターンオフさせる手段と、第2の
ポンプ回路と、さらに外部クロックが半導体デバイスに
印加されたときに、前記第2のポンプ回路を動作状態に
する手段とからなることを特徴とする半導体デバイス用
サブストレートバイアス発生器。 (8) 前記発振器は複数の駆動用回路段を有し。 各駆動用回路段は直列トランジスタからなり、サブスト
レートバイアスが前記選択レベルを越えたときに、前記
サブストレートバイアスに応答する手段により前記直列
トランジスタをターンオフするようにしたことを特徴と
する特許請求の範囲第7項記載のデバイス。 (8) 前記発振器へ供給される電圧を、前記サブスト
レートバイアスに応答する手段によりターンオンもしく
はターンオフするようにしたことを特徴とする特許請求
の範囲第7項記載のデバイス。 (10)前記第2のポンプ回路は基クロックにより動作
するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第7項
記載のデバイス。 (11) 前記デバイスは第3のポンプ回路を含み。 この第3のポンプ回路は該デバイスに印加される醪クロ
ックにより動作するようにしたことを特徴とする特許請
求の範囲第1O項記載のデバイス。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/512,078 US4585954A (en) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | Substrate bias generator for dynamic RAM having variable pump current level |
US512078 | 1983-07-08 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1052199A Division JPH0229992A (ja) | 1983-07-08 | 1989-03-06 | ダイナミックram用サブストレートバイアス発生器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6085495A true JPS6085495A (ja) | 1985-05-14 |
JPH0132599B2 JPH0132599B2 (ja) | 1989-07-06 |
Family
ID=24037579
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59142083A Granted JPS6085495A (ja) | 1983-07-08 | 1984-07-09 | ダイナミツクram用サブストレ−トバイアス発生器 |
JP1052199A Pending JPH0229992A (ja) | 1983-07-08 | 1989-03-06 | ダイナミックram用サブストレートバイアス発生器 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1052199A Pending JPH0229992A (ja) | 1983-07-08 | 1989-03-06 | ダイナミックram用サブストレートバイアス発生器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4585954A (ja) |
JP (2) | JPS6085495A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62146488A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-06-30 | Mitsubishi Electric Corp | 内部電位発生回路 |
US5304859A (en) * | 1990-04-06 | 1994-04-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Substrate voltage generator and method therefor in a semiconductor device having internal stepped-down power supply voltage |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL8402764A (nl) * | 1984-09-11 | 1986-04-01 | Philips Nv | Schakeling voor het opwekken van een substraatvoorspanning. |
JPS6199363A (ja) * | 1984-10-19 | 1986-05-17 | Mitsubishi Electric Corp | 基板電位発生回路 |
US4883976A (en) * | 1987-12-02 | 1989-11-28 | Xicor, Inc. | Low power dual-mode CMOS bias voltage generator |
KR920010749B1 (ko) * | 1989-06-10 | 1992-12-14 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 집적소자의 내부전압 변환회로 |
US5157278A (en) * | 1990-10-30 | 1992-10-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Substrate voltage generator for semiconductor device |
JPH04255989A (ja) * | 1991-02-07 | 1992-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置および内部電圧発生方法 |
EP0545266A3 (en) * | 1991-11-29 | 1993-08-04 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit |
KR950002015B1 (ko) * | 1991-12-23 | 1995-03-08 | 삼성전자주식회사 | 하나의 오실레이터에 의해 동작되는 정전원 발생회로 |
US5208557A (en) * | 1992-02-18 | 1993-05-04 | Texas Instruments Incorporated | Multiple frequency ring oscillator |
JPH05274876A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-22 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US5347172A (en) * | 1992-10-22 | 1994-09-13 | United Memories, Inc. | Oscillatorless substrate bias generator |
US5337284A (en) * | 1993-01-11 | 1994-08-09 | United Memories, Inc. | High voltage generator having a self-timed clock circuit and charge pump, and a method therefor |
JPH076581A (ja) * | 1992-11-10 | 1995-01-10 | Texas Instr Inc <Ti> | 基板バイアス・ポンプ装置 |
KR0137437B1 (ko) * | 1994-12-29 | 1998-06-01 | 김주용 | 챠지 펌프회로의 출력전압 조절회로 |
US5627458A (en) * | 1995-07-14 | 1997-05-06 | Nevin; Larry J. | Integrated negative D-C bias circuit |
US5703827A (en) * | 1996-02-29 | 1997-12-30 | Monolithic System Technology, Inc. | Method and structure for generating a boosted word line voltage and a back bias voltage for a memory array |
US6064250A (en) * | 1996-07-29 | 2000-05-16 | Townsend And Townsend And Crew Llp | Various embodiments for a low power adaptive charge pump circuit |
US6198339B1 (en) | 1996-09-17 | 2001-03-06 | International Business Machines Corporation | CVF current reference with standby mode |
FR2773012B1 (fr) | 1997-12-24 | 2001-02-02 | Sgs Thomson Microelectronics | Dispositif a pompe de charges negatives |
FR2772941B1 (fr) * | 1998-05-28 | 2002-10-11 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit de regulation d'une pompe de charges negatives |
US7911261B1 (en) | 2009-04-13 | 2011-03-22 | Netlogic Microsystems, Inc. | Substrate bias circuit and method for integrated circuit device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5559756A (en) * | 1978-10-30 | 1980-05-06 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
JPS57206061A (en) * | 1981-06-12 | 1982-12-17 | Toshiba Corp | Semiconductor integrated circuit |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55162257A (en) * | 1979-06-05 | 1980-12-17 | Fujitsu Ltd | Semiconductor element having substrate bias generator circuit |
JPS5694654A (en) * | 1979-12-27 | 1981-07-31 | Toshiba Corp | Generating circuit for substrate bias voltage |
US4460835A (en) * | 1980-05-13 | 1984-07-17 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit device with low power consumption in a standby mode using an on-chip substrate bias generator |
US4322675A (en) * | 1980-11-03 | 1982-03-30 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Regulated MOS substrate bias voltage generator for a static random access memory |
JPS5785253A (en) * | 1980-11-17 | 1982-05-27 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
JPS57199335A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Toshiba Corp | Generating circuit for substrate bias |
JPS58105563A (ja) * | 1981-12-17 | 1983-06-23 | Mitsubishi Electric Corp | 基板バイアス発生回路 |
-
1983
- 1983-07-08 US US06/512,078 patent/US4585954A/en not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-07-09 JP JP59142083A patent/JPS6085495A/ja active Granted
-
1989
- 1989-03-06 JP JP1052199A patent/JPH0229992A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5559756A (en) * | 1978-10-30 | 1980-05-06 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
JPS57206061A (en) * | 1981-06-12 | 1982-12-17 | Toshiba Corp | Semiconductor integrated circuit |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62146488A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-06-30 | Mitsubishi Electric Corp | 内部電位発生回路 |
JPH0750552B2 (ja) * | 1985-12-20 | 1995-05-31 | 三菱電機株式会社 | 内部電位発生回路 |
US5304859A (en) * | 1990-04-06 | 1994-04-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Substrate voltage generator and method therefor in a semiconductor device having internal stepped-down power supply voltage |
US5315166A (en) * | 1990-04-06 | 1994-05-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Substrate voltage generator and method therefor in a semiconductor device having selectively activated internal stepped-down power supply voltages |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0229992A (ja) | 1990-01-31 |
JPH0132599B2 (ja) | 1989-07-06 |
US4585954A (en) | 1986-04-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |