JPS6075902A - 家庭電化器具 - Google Patents
家庭電化器具Info
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- JPS6075902A JPS6075902A JP59170091A JP17009184A JPS6075902A JP S6075902 A JPS6075902 A JP S6075902A JP 59170091 A JP59170091 A JP 59170091A JP 17009184 A JP17009184 A JP 17009184A JP S6075902 A JPS6075902 A JP S6075902A
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- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/04—Program control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/042—Program control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
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- G05B2219/10—Plc systems
- G05B2219/14—Plc safety
- G05B2219/14053—Power failure, loss, abnormal battery
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/20—Pc systems
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- G05B2219/23215—Check data validity in ram, keep correct validity, compare rom ram
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- G05B2219/20—Pc systems
- G05B2219/25—Pc structure of the system
- G05B2219/25381—Restart program at predetermined position, crash recovery after power loss
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
- Control Of Washing Machine And Dryer (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、洗濯機の如き家庭電化器具にあって、」−−
ザが選択し1qる多数のプログラムの内のいずれか1つ
のプログラムに従ってN個の動作ステップから任意可変
数の動作ステップを選択することにより前記電化器具の
動作を制御Jべく配置した固体プロセッサを具えている
家庭電化器具に関するものである。
ザが選択し1qる多数のプログラムの内のいずれか1つ
のプログラムに従ってN個の動作ステップから任意可変
数の動作ステップを選択することにより前記電化器具の
動作を制御Jべく配置した固体プロセッサを具えている
家庭電化器具に関するものである。
例えばマイクロブロレッ1すのような固体プロセッサに
にり制御して一連のルーチンを実行する器具に生じ得る
1つの問題点は、プログラムの実行中におけるプロセッ
サへの電源のいずれもの不良にJ:ってプロセッサのデ
ータが破壊してしまい、このためにプログラムの進行に
係わる情報が失われてしまうと云う点にある。このこと
は、電源が復11」シた場合にプログラムを初めから再
開する必要があることを意味し、これがため幾つかのプ
ログラムステップが不必要に繰り返えされることになる
。このような問題を克服するために、電源不良検出器及
びデータ救汎用記憶装置を設け、電源の不良が検出され
た場合及びぞのような場合にだけプログラムの次期続行
に必要なデータをずぺC上記データ救済記憶装置に迅速
に転送して、それに記憶させるようにすることは英国特
許第1.529、691号明細書から既知である。この
ようにJれば、電源が例えば数秒のような短期間内に復
I日り一る場合には、電源不良が生じた点からプログラ
ムを継続させることがC′きる。上記データ救済記憶装
置への給電は、器具の動作中に91゛線電源から取出さ
れる電源により充電されるコンデンサにより(行なって
いる。このことは、−助救消記憶装置内のデータをプロ
セッサによってづぺ(読取って、記憶し得るようにする
ためには上記コンデンサーの放電時定数以内に電源を復
旧さける必要があることを意味している。上記英国特許
の装置の目的は、特に管理者のいない器具の動作中にd
ハブる電源の一時的な不良に対し適当に調整して、電源
の中断後プロセッサからプログラムのディテール及びス
テータスワードが失われてもプログラムを電源の中断し
た所から継続し得るようにすることにある。
にり制御して一連のルーチンを実行する器具に生じ得る
1つの問題点は、プログラムの実行中におけるプロセッ
サへの電源のいずれもの不良にJ:ってプロセッサのデ
ータが破壊してしまい、このためにプログラムの進行に
係わる情報が失われてしまうと云う点にある。このこと
は、電源が復11」シた場合にプログラムを初めから再
開する必要があることを意味し、これがため幾つかのプ
ログラムステップが不必要に繰り返えされることになる
。このような問題を克服するために、電源不良検出器及
びデータ救汎用記憶装置を設け、電源の不良が検出され
た場合及びぞのような場合にだけプログラムの次期続行
に必要なデータをずぺC上記データ救済記憶装置に迅速
に転送して、それに記憶させるようにすることは英国特
許第1.529、691号明細書から既知である。この
ようにJれば、電源が例えば数秒のような短期間内に復
I日り一る場合には、電源不良が生じた点からプログラ
ムを継続させることがC′きる。上記データ救済記憶装
置への給電は、器具の動作中に91゛線電源から取出さ
れる電源により充電されるコンデンサにより(行なって
いる。このことは、−助救消記憶装置内のデータをプロ
セッサによってづぺ(読取って、記憶し得るようにする
ためには上記コンデンサーの放電時定数以内に電源を復
旧さける必要があることを意味している。上記英国特許
の装置の目的は、特に管理者のいない器具の動作中にd
ハブる電源の一時的な不良に対し適当に調整して、電源
の中断後プロセッサからプログラムのディテール及びス
テータスワードが失われてもプログラムを電源の中断し
た所から継続し得るようにすることにある。
電源が斯かる一時的な期間内に復旧しない場合には、電
源がやがて復旧した際にプログラムは初めh日ら開始さ
れる。
源がやがて復旧した際にプログラムは初めh日ら開始さ
れる。
しかし、マイクロプロセッサの如ぎ固体プロセッサは、
苛酷な環境下ではそれに記憶したデータが、電圧スパイ
クや、静電的なものの如き妨害及びモータや、ソレノイ
ドや、電磁リレーの如き誘導的負荷のスイッチングによ
る如き種々の形態の妨害によっC劣化(変造)され得る
と云う悪影響を受ける。例えば、プログラムカウンタへ
の斯様なデータの劣化はプログラムの動作を不正確にす
る。従って、データを直ちに救済しなければならないよ
うな電源への上述したような妨害によってもそのデータ
の救済作動以前又はその最中にそのデータが劣化されて
しまうことがある。電源に及ぼす妨害現象は、電源が′
a断される瞬時にその電源が誘導装置に給電しでいる場
合に特に厳しいものとなり得る。この場合には本来の妨
害現象によってデータの劣化が生じ得ると共に、誘導回
路を外すことにより生ずる大ぎな電圧スパイクによって
もデータの劣化が生ずる。
苛酷な環境下ではそれに記憶したデータが、電圧スパイ
クや、静電的なものの如き妨害及びモータや、ソレノイ
ドや、電磁リレーの如き誘導的負荷のスイッチングによ
る如き種々の形態の妨害によっC劣化(変造)され得る
と云う悪影響を受ける。例えば、プログラムカウンタへ
の斯様なデータの劣化はプログラムの動作を不正確にす
る。従って、データを直ちに救済しなければならないよ
うな電源への上述したような妨害によってもそのデータ
の救済作動以前又はその最中にそのデータが劣化されて
しまうことがある。電源に及ぼす妨害現象は、電源が′
a断される瞬時にその電源が誘導装置に給電しでいる場
合に特に厳しいものとなり得る。この場合には本来の妨
害現象によってデータの劣化が生じ得ると共に、誘導回
路を外すことにより生ずる大ぎな電圧スパイクによって
もデータの劣化が生ずる。
斯様なデータ劣化は、プII tツザのランダム・アク
セス・メモリ(RAM)、プログラムカウンタ等に記憶
されたデータが劣化するし、プロセラ1すは依然実qi
L/ qrする稈titのしのである。これがため、
プロセッサは不正確なプログラムを実行することになり
、従って大きな1(1害をまねくことになる。
セス・メモリ(RAM)、プログラムカウンタ等に記憶
されたデータが劣化するし、プロセラ1すは依然実qi
L/ qrする稈titのしのである。これがため、
プロセッサは不正確なプログラムを実行することになり
、従って大きな1(1害をまねくことになる。
本発明の目的は少なくど゛bデータ劣化の+4能性を低
減させ、従ってその悪影響をなくづことにある。誘導性
装置を含む、衣類洗濯機又は1111洗い機における如
き極めて苛酷な環境下では、マイクロプロセッサがロッ
ク−アラI−7すること、UJJら゛′リリレ1〜″入
力端子を含むマイクロプロセッサのいずれの制御入力端
子にお番)る信号によってもマイクロプロセッサの状態
が変化し得なくなるようなことが有りることを確めた。
減させ、従ってその悪影響をなくづことにある。誘導性
装置を含む、衣類洗濯機又は1111洗い機における如
き極めて苛酷な環境下では、マイクロプロセッサがロッ
ク−アラI−7すること、UJJら゛′リリレ1〜″入
力端子を含むマイクロプロセッサのいずれの制御入力端
子にお番)る信号によってもマイクロプロセッサの状態
が変化し得なくなるようなことが有りることを確めた。
従って、マイクロプロセッサに含まれるデータは勿論回
復できない程に失われるが、それ以上に重大なことは、
(ロック−アウトの瞬時に実行されているプログラムの
ステップに応じて)、プログラムを継続させるプロはツ
ザの無能によって、例えば給水弁が閉じていなかったり
、又はそのような場合に加熱素子がスイッチ・オフされ
ていないことにより大規模な損傷をまねくことになるど
云うことである。本発明の仙の目的はブロレッ1ノーが
[」ツク−アク1−する場合における斯様な損傷の可能
性をなくすことにある。
復できない程に失われるが、それ以上に重大なことは、
(ロック−アウトの瞬時に実行されているプログラムの
ステップに応じて)、プログラムを継続させるプロはツ
ザの無能によって、例えば給水弁が閉じていなかったり
、又はそのような場合に加熱素子がスイッチ・オフされ
ていないことにより大規模な損傷をまねくことになるど
云うことである。本発明の仙の目的はブロレッ1ノーが
[」ツク−アク1−する場合における斯様な損傷の可能
性をなくすことにある。
本発明は、ユーザが選択し得る多数のプログラムの内の
いずれか1つのプログラムに従ってN個の動作ステップ
の内から任意可変数の動作ステップを選択することによ
り家庭電化器具の動作を制御°リベく配置した固体プロ
セッサと;持久記憶装置と;選択したプログラムを識別
するデータを前記いずれもの動作ステップの処理以前に
葡記記憶S装置に書込むと共に、前記各動作ステップの
処理期間中に、既に処理した最終動作ステップを識別す
るデータを前記記憶装置に書込む書込み手段と前記記憶
装置に書込まれた内容を読取るべく配置され、前記プロ
セッサへの電源の切断及びその後の電源再接続に際し、
前記記g3装置の読取った内容により、プログラムが前
記電源の切断瞬時に未だ完了されていない場合にはその
ブ[1グラムを前記プロセッサが継続し得るようにする
読取り手段と;前記プロセッサか止(1イ「に機能して
いる間だけクロック信号を発生Uしめる仁号光牛手段と
;前記りUツク信号のり1」ツク周期よりし少なくとも
長い期間前記クロック信号が現われない場合に、スイッ
チを切断して前記電源を前記ブロレッナに再接続する調
時手段;とを貝え(いることをQh徴とりる家庭電化器
具にある。
いずれか1つのプログラムに従ってN個の動作ステップ
の内から任意可変数の動作ステップを選択することによ
り家庭電化器具の動作を制御°リベく配置した固体プロ
セッサと;持久記憶装置と;選択したプログラムを識別
するデータを前記いずれもの動作ステップの処理以前に
葡記記憶S装置に書込むと共に、前記各動作ステップの
処理期間中に、既に処理した最終動作ステップを識別す
るデータを前記記憶装置に書込む書込み手段と前記記憶
装置に書込まれた内容を読取るべく配置され、前記プロ
セッサへの電源の切断及びその後の電源再接続に際し、
前記記g3装置の読取った内容により、プログラムが前
記電源の切断瞬時に未だ完了されていない場合にはその
ブ[1グラムを前記プロセッサが継続し得るようにする
読取り手段と;前記プロセッサか止(1イ「に機能して
いる間だけクロック信号を発生Uしめる仁号光牛手段と
;前記りUツク信号のり1」ツク周期よりし少なくとも
長い期間前記クロック信号が現われない場合に、スイッ
チを切断して前記電源を前記ブロレッナに再接続する調
時手段;とを貝え(いることをQh徴とりる家庭電化器
具にある。
斯種の家庭電化器具にとっては、9?線電源が故障した
場合には如何なる行動も採れないから、幹線の不良検出
器が不要となることは明らかである。
場合には如何なる行動も採れないから、幹線の不良検出
器が不要となることは明らかである。
これによりシステムの複維性が低減すると共にコストも
有効に低下する。
有効に低下する。
持久記憶装置は幹線電源により維持充電される小型の再
充電自在の蓄電池によって給電される慣例の極めて安価
なRAMとすることができる。斯様な持久記憶装置への
プログラム情報のロードは、いずれもの動作ステップを
処理する以前に、従ってモータや電磁弁をスイッチ・オ
ンする如きデータ劣化をまねく事象が生ずる前に行なう
。これがため、記憶装置におけるプログラムデータが劣
化する可能性は最小となる。
充電自在の蓄電池によって給電される慣例の極めて安価
なRAMとすることができる。斯様な持久記憶装置への
プログラム情報のロードは、いずれもの動作ステップを
処理する以前に、従ってモータや電磁弁をスイッチ・オ
ンする如きデータ劣化をまねく事象が生ずる前に行なう
。これがため、記憶装置におけるプログラムデータが劣
化する可能性は最小となる。
プログラムステップの進行状況も持久記憶装置に保持さ
れるため、この記憶装置は各プログラムステップにて極
め−C短期間の間にアクレスされるだ【プであり、この
アクヒス期間は周辺器機のスイップーングが行われない
時に生ずるようにする。従って、プログラムステップに
係わるデータはこれらの短期間に実質上わずかに劣化さ
れるだけであり、このようなデータ劣下の可能性はいず
れにせよ殆ど低減される。後述するように、本発明によ
れば斯様な劣化でさえも無害とすることができる。
れるため、この記憶装置は各プログラムステップにて極
め−C短期間の間にアクレスされるだ【プであり、この
アクヒス期間は周辺器機のスイップーングが行われない
時に生ずるようにする。従って、プログラムステップに
係わるデータはこれらの短期間に実質上わずかに劣化さ
れるだけであり、このようなデータ劣下の可能性はいず
れにせよ殆ど低減される。後述するように、本発明によ
れば斯様な劣化でさえも無害とすることができる。
持久記憶装置はプロセッサに対する十分な情報を含んで
おり、新規のプログラムを開始させることができるため
、]゛ロロセツ目ツクーアウトしたら、斯様な便宜を利
用し゛C1以前のプ1」ダラムが電源の切断により中断
された個所からそのプログラムを再生゛りる。プロセッ
サがロック−アク1〜する場合にはクロック信号がなく
なり、これによりプロセッサへの給電が短期間中断され
る。これによりプロセッサのロツク−アク1〜がクリヤ
され、記憶装置の内容によってプログラムをそれがロッ
ク−アウトにより停止した個所から続行させることがC
きる。
おり、新規のプログラムを開始させることができるため
、]゛ロロセツ目ツクーアウトしたら、斯様な便宜を利
用し゛C1以前のプ1」ダラムが電源の切断により中断
された個所からそのプログラムを再生゛りる。プロセッ
サがロック−アク1〜する場合にはクロック信号がなく
なり、これによりプロセッサへの給電が短期間中断され
る。これによりプロセッサのロツク−アク1〜がクリヤ
され、記憶装置の内容によってプログラムをそれがロッ
ク−アウトにより停止した個所から続行させることがC
きる。
本発明の好適例によれば、前記記憶装置にはN個の各動
作ステップに対するそれぞれの記憶位置を設け、かつ、
いずれもの動作ステップを処理する以前に前記各記憶位
置に所定の各データ値をU−ドさせるど共に各関連する
動作ステップが逐次処理される度毎に前記各データ値を
変更させる手段を設けるようにする。
作ステップに対するそれぞれの記憶位置を設け、かつ、
いずれもの動作ステップを処理する以前に前記各記憶位
置に所定の各データ値をU−ドさせるど共に各関連する
動作ステップが逐次処理される度毎に前記各データ値を
変更させる手段を設けるようにする。
従って、N個の各記憶位置には既知のデータがロードさ
れ、これはいずれもの動作ステップの賄行により斯かる
データの劣化をまねく以前に行われる。各動作ステップ
が実行される度毎にデータは変更されるが、各後続する
ステップにおりる元来のデータはそのままである。電源
が復旧される場合に必要なことは、上記各記憶位置を捜
索して、元のデータがどのステップに残存しているかを
確めることにある。どこかのステップに元のデータが残
っている場合には、そのステップはプロセッサへの給電
が中断される以前には処理されでおらず、従ってプログ
ラムをそのステップにて再開さびることができる。各記
憶位置における所定のデータ値はN個のすべての記憶位
置に対して同じとすることができるが、データは各記憶
位置の各アドレスとするのが好適Cある。
れ、これはいずれもの動作ステップの賄行により斯かる
データの劣化をまねく以前に行われる。各動作ステップ
が実行される度毎にデータは変更されるが、各後続する
ステップにおりる元来のデータはそのままである。電源
が復旧される場合に必要なことは、上記各記憶位置を捜
索して、元のデータがどのステップに残存しているかを
確めることにある。どこかのステップに元のデータが残
っている場合には、そのステップはプロセッサへの給電
が中断される以前には処理されでおらず、従ってプログ
ラムをそのステップにて再開さびることができる。各記
憶位置における所定のデータ値はN個のすべての記憶位
置に対して同じとすることができるが、データは各記憶
位置の各アドレスとするのが好適Cある。
好ましくは各記憶位置におりるデータを、対応づる動作
ステップが処理される際に他の値に明瞭に変更させるが
、これは器具の動作には何隻影響を及ぼさない。その理
由は、どのステップでも元のデータの発見に応答する作
用しか行われないからである。従って、データが劣イe
され、又そのデータが変化し一〇も何隻問題にはならな
い。
ステップが処理される際に他の値に明瞭に変更させるが
、これは器具の動作には何隻影響を及ぼさない。その理
由は、どのステップでも元のデータの発見に応答する作
用しか行われないからである。従って、データが劣イe
され、又そのデータが変化し一〇も何隻問題にはならな
い。
以下図面につき本発明を説明する。
第1図はマイクロプロセッサを具えている家庭電化器具
制御装置の一例を示ずブロック線図である。この第1図
にa34プるマイク11ブ1ニルツリ1は、例えば1〜
ランジスタのようなスイッチ3を経て直流給電端子2か
ら給電される。マイク1ブ1」セッサ1に対づる入力指
令は制御パネル5からバス4を介しで供給され、マイク
ロブロレッ1す1の制御出力はバス7を介して制御づ−
へさ′!A置(被制御ps置)6に供給される。
制御装置の一例を示ずブロック線図である。この第1図
にa34プるマイク11ブ1ニルツリ1は、例えば1〜
ランジスタのようなスイッチ3を経て直流給電端子2か
ら給電される。マイク1ブ1」セッサ1に対づる入力指
令は制御パネル5からバス4を介しで供給され、マイク
ロブロレッ1す1の制御出力はバス7を介して制御づ−
へさ′!A置(被制御ps置)6に供給される。
被制御袋@6は例えば洗濯機のようなものとづることか
Cき、この洗濯機の制御パネル5は多数の押ボタンを具
え(J5す、これらのボタンにJ:ってユーザは幾つか
ある主要ブ[1グラムの内の成る特定の主要プログラム
を選択し、かつその選択した主要プログラムにおりる予
備洗い、冷水洗い及び減速回転の如きオブシ」ン(随意
選択)操作も決定する。制御パネル5には司祝表示器も
設番ノで、これにより例えば選択プログラムに対する適
切なオプション操作や、プログラムの進行や、不良運転
を表示ざUることができる。これらの奢幾能をさゼるた
めの情報はマイクロプロセッサ1からバス8を介して供
給することがて”きる。しかし、制御パネル5及び被制
御装置6の特定配置は本発明の要部とする所ではなく、
これについての詳細な説明は省略する。
Cき、この洗濯機の制御パネル5は多数の押ボタンを具
え(J5す、これらのボタンにJ:ってユーザは幾つか
ある主要ブ[1グラムの内の成る特定の主要プログラム
を選択し、かつその選択した主要プログラムにおりる予
備洗い、冷水洗い及び減速回転の如きオブシ」ン(随意
選択)操作も決定する。制御パネル5には司祝表示器も
設番ノで、これにより例えば選択プログラムに対する適
切なオプション操作や、プログラムの進行や、不良運転
を表示ざUることができる。これらの奢幾能をさゼるた
めの情報はマイクロプロセッサ1からバス8を介して供
給することがて”きる。しかし、制御パネル5及び被制
御装置6の特定配置は本発明の要部とする所ではなく、
これについての詳細な説明は省略する。
マイクロプロセッサ1はランダムアクセスメモリ(RA
M)11の如き持久記憶装置への書込み出力端子9とR
AM11からの読取り入力端子12とを有しており、上
記RAM11には直流電源13を設(プる。
M)11の如き持久記憶装置への書込み出力端子9とR
AM11からの読取り入力端子12とを有しており、上
記RAM11には直流電源13を設(プる。
マイクロプロセッサ1から出力される規則的な循環“″
リフレッシュ″クロック信号はリート線15を介し−C
第1単安定マルチバイブレーク(ワン−ショットマルチ
バイブレータ)14に供給される。
リフレッシュ″クロック信号はリート線15を介し−C
第1単安定マルチバイブレーク(ワン−ショットマルチ
バイブレータ)14に供給される。
第1単安定マルチバイブレータ14の出力端子はリード
線17を介して第2単安定マルチパイブレーク16の入
力端子に接続される。この第2単安定マルヂバイブレー
ク16の出力は制御回路18を介してスイッチ3のAン
/Aフ状態、従ってマイクロプロセッサ1への給電を制
御リ−る。通常の動作状態Cはスイッチ3は第2単安定
マルチバイブレータ16と制御回路18によってオン(
導通)状態に保持される。
線17を介して第2単安定マルチパイブレーク16の入
力端子に接続される。この第2単安定マルヂバイブレー
ク16の出力は制御回路18を介してスイッチ3のAン
/Aフ状態、従ってマイクロプロセッサ1への給電を制
御リ−る。通常の動作状態Cはスイッチ3は第2単安定
マルチバイブレータ16と制御回路18によってオン(
導通)状態に保持される。
つぎ゛に第1図に示しlこ回路の動作をダ12.3及び
4図につき説明する。
4図につき説明する。
第3及び4図の流れ図にお(プる4%々のボックスはそ
れぞれつぎのような意味を有している。
れぞれつぎのような意味を有している。
第 3 図
300−スタート
301−プログラム選11ぐ
302−プログラムを選択したか?
303−実行ボタンを押したか?
304− RA Mに記10位じ番号(1〜72)及び
ステータスワードを1〕−ドする 305−ステップを必要とするか′2 306−主要プログラム実イj 30L−RA Mのステップをクリ17′8Iる308
−スデツブ力つンタを増分する 309−72個のステップが処理されlこ′/J)?3
1〇−終了ルーチン 第4図 400−リセット 401−データ劣化に対しRAM11をテストする 402−デストクリヤ? 403− Nを1にセットする 404− RAM11の記憶位置゛N ++を読取る。
ステータスワードを1〕−ドする 305−ステップを必要とするか′2 306−主要プログラム実イj 30L−RA Mのステップをクリ17′8Iる308
−スデツブ力つンタを増分する 309−72個のステップが処理されlこ′/J)?3
1〇−終了ルーチン 第4図 400−リセット 401−データ劣化に対しRAM11をテストする 402−デストクリヤ? 403− Nを1にセットする 404− RAM11の記憶位置゛N ++を読取る。
405−読取りデーター○?
4()6−読取りデーターN?
/107− Nを増分
408− Nが72より大きいか?
409−プログラム選択へジャンプ
410−主波プログラムステップカウンタをNにセット
する 411−ステータスワード読取り兼記憶412−主要プ
ログラムへ戻す 413− RA M 11にリ−へての′0″を書込む
4t4− RA Mを読取る 415−すべてのII OIIが読取られたか?416
−不良ルーチン 417−すべての++ 1 ++をRAMに出込む41
8− RA Mを読取る 419−すべての1°′が読取られたか?420− R
A Mテストコードを(l−ドする先ず、選択可能なプ
ログラム及びAブションの内の任意のものは、マイクロ
ブ[jセッサの読取り専用記@、装置(ROM )部分
に保持されたN−72の基本ステップルーチンから選択
JることによりマイクロブロレツサにJ、り実11さぜ
ることができるものとする。従゛つて、主要ブしiグラ
ムは総1172個の動作ステップに用込まれる。各ス゛
アップが完了する毎にステップカウンタが1だり増分さ
れ、ルッ、クーアップテーブルを参照すること【こより
、特定の選択したプログラムに対しつぎのステップが必
要か否かを(イ「めるチェックをJる。つぎのステップ
が必要でない場合にはステップカウンタをさらに増分さ
°t!’ T再びチェックをtjなう。ブト1グフム【
よステップ72の後に終rりる。RAMIIは72個の
対応する記憶位置1〜72(第2図)を右している。さ
らに、RAMTlはプログラムステータスワード用の2
個の別の記憶位置80.81と、RAMテスト領域とし
て指定される別の32個の記憶位置96〜127どをイ
ラしている。ステータスワードは制御パネル5にてユー
ザが選択した特定プログラム及びオプションのディテー
ルを識別する。アドレス96〜127には例えばOと1
が交互するようなデスト]−ドをロードさせる。
する 411−ステータスワード読取り兼記憶412−主要プ
ログラムへ戻す 413− RA M 11にリ−へての′0″を書込む
4t4− RA Mを読取る 415−すべてのII OIIが読取られたか?416
−不良ルーチン 417−すべての++ 1 ++をRAMに出込む41
8− RA Mを読取る 419−すべての1°′が読取られたか?420− R
A Mテストコードを(l−ドする先ず、選択可能なプ
ログラム及びAブションの内の任意のものは、マイクロ
ブ[jセッサの読取り専用記@、装置(ROM )部分
に保持されたN−72の基本ステップルーチンから選択
JることによりマイクロブロレツサにJ、り実11さぜ
ることができるものとする。従゛つて、主要ブしiグラ
ムは総1172個の動作ステップに用込まれる。各ス゛
アップが完了する毎にステップカウンタが1だり増分さ
れ、ルッ、クーアップテーブルを参照すること【こより
、特定の選択したプログラムに対しつぎのステップが必
要か否かを(イ「めるチェックをJる。つぎのステップ
が必要でない場合にはステップカウンタをさらに増分さ
°t!’ T再びチェックをtjなう。ブト1グフム【
よステップ72の後に終rりる。RAMIIは72個の
対応する記憶位置1〜72(第2図)を右している。さ
らに、RAMTlはプログラムステータスワード用の2
個の別の記憶位置80.81と、RAMテスト領域とし
て指定される別の32個の記憶位置96〜127どをイ
ラしている。ステータスワードは制御パネル5にてユー
ザが選択した特定プログラム及びオプションのディテー
ルを識別する。アドレス96〜127には例えばOと1
が交互するようなデスト]−ドをロードさせる。
第3図を参照するに、ユーザは先ず家庭電化器具をスイ
ッチ・オンし、プログラム及びオプションを選択する。
ッチ・オンし、プログラム及びオプションを選択する。
スターj〜−ノアツブに当つ−Cは、スタート−アップ
ル−チンによりプログラムが選択されたことをチェック
し、ついでコ−−IJ”が“実行ボタンを操作してプロ
グラムの実行を開始させるために待機する。これが行わ
れると、RAMの各記憶位置1〜72にはそれぞれの記
憶位置(アドレス)番号がロードされ、かつ記憶位置8
0及び81に(よブ[1グラムスデータスワードがロー
ドされる。
ル−チンによりプログラムが選択されたことをチェック
し、ついでコ−−IJ”が“実行ボタンを操作してプロ
グラムの実行を開始させるために待機する。これが行わ
れると、RAMの各記憶位置1〜72にはそれぞれの記
憶位置(アドレス)番号がロードされ、かつ記憶位置8
0及び81に(よブ[1グラムスデータスワードがロー
ドされる。
ついでプロセッサはルック−アップテーブル(例えば内
部読取り専用メモリ)どの対照チェックを行なって、第
1動作ステップがギ要プログラムに必要か否かを確める
。第1動作ステップが必要(YES)である場合には、
このステップが主要プログラムにa3いて実i′jされ
、1くΔMの第1記憶位置(1)が0にクリヤされる。
部読取り専用メモリ)どの対照チェックを行なって、第
1動作ステップがギ要プログラムに必要か否かを確める
。第1動作ステップが必要(YES)である場合には、
このステップが主要プログラムにa3いて実i′jされ
、1くΔMの第1記憶位置(1)が0にクリヤされる。
第1動作ステップが必要でない(No)場合には、その
第1動作ステップ1は主要プ[jグラムに含まれないC
記憶位置1はクリヤされる。ついでステップカウンタは
増分され、動作過程は毎回1スブツブづつ繰返えされ、
72個のステップリーベCが完J′りるまぐ繰返えされ
、この72番目のステップが完了する際にこのルーチン
が終了する。
第1動作ステップ1は主要プ[jグラムに含まれないC
記憶位置1はクリヤされる。ついでステップカウンタは
増分され、動作過程は毎回1スブツブづつ繰返えされ、
72個のステップリーベCが完J′りるまぐ繰返えされ
、この72番目のステップが完了する際にこのルーチン
が終了する。
給電や?線の遮断又は他の妨害が起らなかった場合には
、このルーチン全体の終了時においてlでAMllにお
(プる72個のステップ記憶位置をすべてゼロにクリヤ
する必要がある。
、このルーチン全体の終了時においてlでAMllにお
(プる72個のステップ記憶位置をすべてゼロにクリヤ
する必要がある。
初期のパワーアップ過程では第4薗に示づスクートーア
ップルーチンを実行覆る。先ずはRAM11の記憶位@
96〜127に記憶させたテストコードをチェックする
ことによりデータ劣化があるか否かについてRA M
11をテス]〜づ−る。データ劣化は、例えば低電圧、
電源の瞬時的な遮断によるか、又は電圧スパイクによる
妨害によって生じたりする。
ップルーチンを実行覆る。先ずはRAM11の記憶位@
96〜127に記憶させたテストコードをチェックする
ことによりデータ劣化があるか否かについてRA M
11をテス]〜づ−る。データ劣化は、例えば低電圧、
電源の瞬時的な遮断によるか、又は電圧スパイクによる
妨害によって生じたりする。
上記チェックは簡単な相関法によるか、又はテストコー
ドがOと1が交互しているものであるかどうかを点検す
るシーケンステストによって行なうことができる。すべ
て′1″′から成るコードの如き他のデストコードも同
様に良好に使用することができ、この場合には相関器を
単にANDゲートとすることができることは明らかであ
る。しかし、デストコードは“0″及び1″の双方を有
するものとするのが好適である。テストにJ、リテスト
]−ドの劣化が明らかになった場合には、さらにテスト
を行なって、テストコード記憶位四に1個以上のチェッ
クコードをロードさせ、ついでチェック−1−ドを読取
って、これらのチェックコードが正しくロードされてい
るか否かを確めるようにする。例えば、すべて″“OI
Iであるコードをデスト領域記憶位置に書込み、ついで
これらの書込みコードをRAMから読取ることができる
。正しいすべて“O′′であるコードが読取られる場合
には、すべ−C′1″であるコードを94込み、この=
1−ドも満足に読取られる場合には、1<ΔMに永続的
な故障は存在しないものと想定・され、スター1〜−−
アッププログラムは第3図に示したブ[]ググラ選択段
へとジャンプ(リ−1〜A >−!Jる。従つ(,1で
ΔMにおいて劣化されたデストコードが見出された場合
には、主要プログラムが給電幹線の不良の有無に無関係
に最初から開始される。1ぞの理由は、f< A Mテ
ストコードが劣化された場合には、プロセッサのデータ
ら劣化された可能性があるからC′ある。これがため、
新たなブL1グフムは初めから開始づる方が安仝ぐある
。1ずへで1″であるコードを読取る」段にd3ける結
果が” Y E S ”である場合に、スタート−アッ
プル−チンをINを1にセラ1−する」段へ戻りように
することも−Cさる。
ドがOと1が交互しているものであるかどうかを点検す
るシーケンステストによって行なうことができる。すべ
て′1″′から成るコードの如き他のデストコードも同
様に良好に使用することができ、この場合には相関器を
単にANDゲートとすることができることは明らかであ
る。しかし、デストコードは“0″及び1″の双方を有
するものとするのが好適である。テストにJ、リテスト
]−ドの劣化が明らかになった場合には、さらにテスト
を行なって、テストコード記憶位四に1個以上のチェッ
クコードをロードさせ、ついでチェック−1−ドを読取
って、これらのチェックコードが正しくロードされてい
るか否かを確めるようにする。例えば、すべて″“OI
Iであるコードをデスト領域記憶位置に書込み、ついで
これらの書込みコードをRAMから読取ることができる
。正しいすべて“O′′であるコードが読取られる場合
には、すべ−C′1″であるコードを94込み、この=
1−ドも満足に読取られる場合には、1<ΔMに永続的
な故障は存在しないものと想定・され、スター1〜−−
アッププログラムは第3図に示したブ[]ググラ選択段
へとジャンプ(リ−1〜A >−!Jる。従つ(,1で
ΔMにおいて劣化されたデストコードが見出された場合
には、主要プログラムが給電幹線の不良の有無に無関係
に最初から開始される。1ぞの理由は、f< A Mテ
ストコードが劣化された場合には、プロセッサのデータ
ら劣化された可能性があるからC′ある。これがため、
新たなブL1グフムは初めから開始づる方が安仝ぐある
。1ずへで1″であるコードを読取る」段にd3ける結
果が” Y E S ”である場合に、スタート−アッ
プル−チンをINを1にセラ1−する」段へ戻りように
することも−Cさる。
すべてII OII及びすべて1″のコードが満足に読
出されない場合には、RAMが固有の故障をイJしてa
3す、誤まったルーチンが作動覆ることになる。このル
ーチンは一般に可聴及び/又は可視警報を発生し、それ
以降被制御装置が作動するのを阻止する。
出されない場合には、RAMが固有の故障をイJしてa
3す、誤まったルーチンが作動覆ることになる。このル
ーチンは一般に可聴及び/又は可視警報を発生し、それ
以降被制御装置が作動するのを阻止する。
RAMは、いずれもの主要プロゲラl\ステップが実行
される以前にテストされて、データが[1−ドされるも
のであることは明らかである。その理由は、RAMに記
憶されるデータはこの場合、例えば電磁リレー、ポンプ
またはモータのスイッチングオン又はオフによって殆ど
劣化されないからひある。
される以前にテストされて、データが[1−ドされるも
のであることは明らかである。その理由は、RAMに記
憶されるデータはこの場合、例えば電磁リレー、ポンプ
またはモータのスイッチングオン又はオフによって殆ど
劣化されないからひある。
[くΔM劣化テストに支障がない場合には、つぎにRA
MIIの72個の各記憶位置に記憶されたデータを、最
初記憶位置1にレッ1−されるローカルN−カウンタに
にっC逐次テス1へする。
MIIの72個の各記憶位置に記憶されたデータを、最
初記憶位置1にレッ1−されるローカルN−カウンタに
にっC逐次テス1へする。
先のプログラムが満足に実行された場合には、各記憶位
置1〜72に記憶されるデータは、各記憶位置が主要プ
ログラムの実行中逐次ゼロにクリヤされるからゼ[1と
なる。しかし、先のプログラムの実行中におけるいずれ
かのステップの最中に幹線不良があった場合には、ぞの
不18辺が41す”る以前のRAM記憶位置はゼロとな
っているも、それに接続するRAM記憶位置はそれぞれ
のアドレスを含んでいる。この状態を第2図に示す。こ
の第2図に−3いて、ステップト11は先のプログラム
にJ′3いて満足に実行されたものとり−る。しかし、
各記憶位置5〜72におりるデータはそれぞれのアドレ
スに対応したままCあり、このことはこれらのステップ
が幹線不良の生した後のものであり、これらのステップ
は先のプログラムにて未だ実行されなかったことを示し
くいる。記IQ i:を置4に83G)るデータは何等
かの理由により劣化され(いるが、斯様な劣化はその記
憶位置がアドレス指定される(即ち、ゼロにクリA7さ
れる。)間にしか起らないから、対応するブコ」グラl
\・ステップは満足に完了されたものと想定される。
置1〜72に記憶されるデータは、各記憶位置が主要プ
ログラムの実行中逐次ゼロにクリヤされるからゼ[1と
なる。しかし、先のプログラムの実行中におけるいずれ
かのステップの最中に幹線不良があった場合には、ぞの
不18辺が41す”る以前のRAM記憶位置はゼロとな
っているも、それに接続するRAM記憶位置はそれぞれ
のアドレスを含んでいる。この状態を第2図に示す。こ
の第2図に−3いて、ステップト11は先のプログラム
にJ′3いて満足に実行されたものとり−る。しかし、
各記憶位置5〜72におりるデータはそれぞれのアドレ
スに対応したままCあり、このことはこれらのステップ
が幹線不良の生した後のものであり、これらのステップ
は先のプログラムにて未だ実行されなかったことを示し
くいる。記IQ i:を置4に83G)るデータは何等
かの理由により劣化され(いるが、斯様な劣化はその記
憶位置がアドレス指定される(即ち、ゼロにクリA7さ
れる。)間にしか起らないから、対応するブコ」グラl
\・ステップは満足に完了されたものと想定される。
再び第4図を参照するに、N−カウンタをN=1にセッ
トすると、記憶位置1が読取られる。この記憶位置にお
【プる0(第2図)は、このスフ゛ツブが先のプログラ
ムで実行されたことを示す。これがため、カウンタはN
=2に増分され、Nは72以下であるから、つぎの記憶
位置2が読取られ、以下順次各記憶位置が読取られる。
トすると、記憶位置1が読取られる。この記憶位置にお
【プる0(第2図)は、このスフ゛ツブが先のプログラ
ムで実行されたことを示す。これがため、カウンタはN
=2に増分され、Nは72以下であるから、つぎの記憶
位置2が読取られ、以下順次各記憶位置が読取られる。
このプロレスはステップN=4に達するまで繰り返えさ
れる。
れる。
この記憶位置4におけるf−夕(13)はN(即ち/1
)でもなければ、Oでもないためこのデータは誤りデー
タである。この誤りは例えば先のプログラム中にステッ
プ4が実行された際に記憶位置4をゼロにクリヤする最
中の給電幹線の不良又は妨害によって生じたものである
。この読取りデータがOぐもなければ、Nでもないため
、このデータは無視して、N−カウンタをステップN=
5に増分さける。
)でもなければ、Oでもないためこのデータは誤りデー
タである。この誤りは例えば先のプログラム中にステッ
プ4が実行された際に記憶位置4をゼロにクリヤする最
中の給電幹線の不良又は妨害によって生じたものである
。この読取りデータがOぐもなければ、Nでもないため
、このデータは無視して、N−カウンタをステップN=
5に増分さける。
記憶位置5にd3りるデータはN=5のままであり、こ
のデ゛−タ【よ先のプログラム期間中にゼロにクリヤさ
れていないから、先の実行過程(・未だ実行されていな
い最初のステップはこのステップ5どなる。そこで、ブ
ロレッサにおける主要ブ1」グラムステップカウンタが
5にヒラ1〜され、ついでステータスワードが読取られ
てRAMに記憶され、ルーチンは主要プログラム(第3
図)に転送(リード線B)され、ついでこのステップが
必要か否かがこのルーチンにて決定される。このように
して、幹線不良が生じた際の初期のプログラムがユーザ
の注意を必要どけずに自動的に完了される。
のデ゛−タ【よ先のプログラム期間中にゼロにクリヤさ
れていないから、先の実行過程(・未だ実行されていな
い最初のステップはこのステップ5どなる。そこで、ブ
ロレッサにおける主要ブ1」グラムステップカウンタが
5にヒラ1〜され、ついでステータスワードが読取られ
てRAMに記憶され、ルーチンは主要プログラム(第3
図)に転送(リード線B)され、ついでこのステップが
必要か否かがこのルーチンにて決定される。このように
して、幹線不良が生じた際の初期のプログラムがユーザ
の注意を必要どけずに自動的に完了される。
動作を要約するに、持久記憶装置は実行すべき必要なプ
ログラム情報のマツプを含んで’J3す、各記憶段はl
jJ作スデステップ了時にクリヤされる。
ログラム情報のマツプを含んで’J3す、各記憶段はl
jJ作スデステップ了時にクリヤされる。
初期のパワーアップ段の期間中にメ′〔りが先の電源中
断に対しC読取られ、中断があった場合、プログラムは
電源の中断によりブ11グフムが停止した所から継続す
べく Fj生される。
断に対しC読取られ、中断があった場合、プログラムは
電源の中断によりブ11グフムが停止した所から継続す
べく Fj生される。
給電幹線が中断する際に1<ΔMllに記憶さU(ある
情報を維持するために、1犬へM11にはそれ固イjの
直流電源13を設ける。この直流電源13は例えば幹線
給電端子2から充電される蓄槓容吊値の、島いコンデン
リーとりるか、又は例えば給電端子2から維持充電され
る再充電可能の蓄電池とす゛ることができる。RAM1
1にて消費される゛直流は極めて小さいため、蓄電池の
蓄相容Gは比較的低くり゛ることができる。特定例では
マイクロブロレツサ1としてP hi I ips’T
’ Vile M A B 8400Bを、RAM11
どしU P 11i1ips’T ypa P CD
8571を用いた。
情報を維持するために、1犬へM11にはそれ固イjの
直流電源13を設ける。この直流電源13は例えば幹線
給電端子2から充電される蓄槓容吊値の、島いコンデン
リーとりるか、又は例えば給電端子2から維持充電され
る再充電可能の蓄電池とす゛ることができる。RAM1
1にて消費される゛直流は極めて小さいため、蓄電池の
蓄相容Gは比較的低くり゛ることができる。特定例では
マイクロブロレツサ1としてP hi I ips’T
’ Vile M A B 8400Bを、RAM11
どしU P 11i1ips’T ypa P CD
8571を用いた。
なお、本例ではRAMにおける動作ステップ記憶位置に
それらの固有のアドレスワードを予じめ1」−ドさじ、
ついで各ステップが実行される度毎にそれらのアドレス
ワードをクリA7さしたが、アドレスワード以外の他の
データを使用することもできることは勿論である。いず
れにけよ必要なことは、RAMの各記憶位置には最初に
予じめ定めたデータを小首にロードさせ、各ステップが
実行される度毎にそのデータを変えるJ:うにすること
Cある。
それらの固有のアドレスワードを予じめ1」−ドさじ、
ついで各ステップが実行される度毎にそれらのアドレス
ワードをクリA7さしたが、アドレスワード以外の他の
データを使用することもできることは勿論である。いず
れにけよ必要なことは、RAMの各記憶位置には最初に
予じめ定めたデータを小首にロードさせ、各ステップが
実行される度毎にそのデータを変えるJ:うにすること
Cある。
」、−ザが電化器具の運転中にプログラムの変更を望み
、その器具をスイッチ・オフして現存するプログラムの
キレンヒルを望む場合には、やがてその器具をスイッチ
・オンさせ、実行ボタンを操作りるど、ブ[lグラムは
先のプログラムが終了したステップから自動的に開始す
るようになる。これはプログラムの実行中に例えば回転
乾燥時間を変えるような、つぎの動作ステップの変更を
−L −ザが望むような通常のあらゆる場合にとつC申
し分のないことである。また、ユーリ゛は成るブ【」グ
ラムを選択し、そのプログラムを聞9ft シ’Cから
例えば予備選択ステップを加えるJ、うな別のプログラ
ムを要求するようにすることができる。このにうに覆る
にはユーザ操作拡張ルーチンを設(〕、このルルーノに
てRAM11におりるテストコード記憶位置以外のRA
Mの内容をクリ\lさUることがCきる。これは例えば
プログツム取消しボタンを設け、このボタンを一ノーー
ザが操作りると、[くΔMをクリ17−IJるにうにし
U t”+なうことがC゛する。実行ボタン以外にブU
ゲノム取消1.小タンを設E)る必要性をなくずIJめ
に、実行ボタンは一1記両目的に使用し得るようにする
のが好適である。従・〕゛(、例えばプロセッサか、或
いは別にタイマを用いて、実i′jボタンが例えば5秒
よりり、υい11.1間か、又tよそれより長い時間作
動りるかどうかを検出りることができる。実行ボタンが
5秒以上押され続【)る場合にはRAMクリヤルーチン
が開始される。
、その器具をスイッチ・オフして現存するプログラムの
キレンヒルを望む場合には、やがてその器具をスイッチ
・オンさせ、実行ボタンを操作りるど、ブ[lグラムは
先のプログラムが終了したステップから自動的に開始す
るようになる。これはプログラムの実行中に例えば回転
乾燥時間を変えるような、つぎの動作ステップの変更を
−L −ザが望むような通常のあらゆる場合にとつC申
し分のないことである。また、ユーリ゛は成るブ【」グ
ラムを選択し、そのプログラムを聞9ft シ’Cから
例えば予備選択ステップを加えるJ、うな別のプログラ
ムを要求するようにすることができる。このにうに覆る
にはユーザ操作拡張ルーチンを設(〕、このルルーノに
てRAM11におりるテストコード記憶位置以外のRA
Mの内容をクリ\lさUることがCきる。これは例えば
プログツム取消しボタンを設け、このボタンを一ノーー
ザが操作りると、[くΔMをクリ17−IJるにうにし
U t”+なうことがC゛する。実行ボタン以外にブU
ゲノム取消1.小タンを設E)る必要性をなくずIJめ
に、実行ボタンは一1記両目的に使用し得るようにする
のが好適である。従・〕゛(、例えばプロセッサか、或
いは別にタイマを用いて、実i′jボタンが例えば5秒
よりり、υい11.1間か、又tよそれより長い時間作
動りるかどうかを検出りることができる。実行ボタンが
5秒以上押され続【)る場合にはRAMクリヤルーチン
が開始される。
第1図につき前述したように、プロセッサ1は作動中リ
ード線15に連続的なリフレッシュパルス列を供給する
。初期のパワーアップ過程では、これらのリフレッシュ
パルスの最初のパルスが第1単安定マルチバイブレータ
14をその調時″レリース″期間(口med rele
ase period)の初めにけツ1〜づ−る。この
レリース期間はリフレッシュ信号の周期(例えば10m
5 )よりも逼かに長く(例えば100m5 )するた
め、この単安定マルチバイブレータ14はリフレッシュ
信号が存在する限りレリース(復旧)できない。プロセ
ッサが前述したロック−アップ状態の如き何宿−かの理
由で作動を停止りる場合には、リフレッシュパルスがな
くなるため、単安定マルチバイブレーク14はその調時
レリース期間の終了時にレリースし−C1第2単安定マ
ルチバイブレータ16の動作を1−リガリ−る。この第
2単安定マルチバイブレータは調時期間(例えば100
m5 )の間スイッチ3をスイッチ・オフづ−るため、
この短期間の間はプロセッサ1への給電がカット・オフ
される。上述したように、プロセッサへの給電が取外さ
れるど、このプロセッサば[1ツク−アップ状態からレ
リースさ゛れる。グ1」レツザに一時的に記憶させたプ
[]グラムデータが失われると、通常はプログラムを初
めから再び開始させる必要がある。しかし、本発明の場
合には先のプログラムでプロセッサがロック−ノアツブ
した動作ステップが実際上RAM11に記憶され、しか
も上述したようにプログラムは、」−−リ゛を介在さけ
る必要なく、そのプログラムが未だ実行されCいない所
から再び自動的に開始される。
ード線15に連続的なリフレッシュパルス列を供給する
。初期のパワーアップ過程では、これらのリフレッシュ
パルスの最初のパルスが第1単安定マルチバイブレータ
14をその調時″レリース″期間(口med rele
ase period)の初めにけツ1〜づ−る。この
レリース期間はリフレッシュ信号の周期(例えば10m
5 )よりも逼かに長く(例えば100m5 )するた
め、この単安定マルチバイブレータ14はリフレッシュ
信号が存在する限りレリース(復旧)できない。プロセ
ッサが前述したロック−アップ状態の如き何宿−かの理
由で作動を停止りる場合には、リフレッシュパルスがな
くなるため、単安定マルチバイブレーク14はその調時
レリース期間の終了時にレリースし−C1第2単安定マ
ルチバイブレータ16の動作を1−リガリ−る。この第
2単安定マルチバイブレータは調時期間(例えば100
m5 )の間スイッチ3をスイッチ・オフづ−るため、
この短期間の間はプロセッサ1への給電がカット・オフ
される。上述したように、プロセッサへの給電が取外さ
れるど、このプロセッサば[1ツク−アップ状態からレ
リースさ゛れる。グ1」レツザに一時的に記憶させたプ
[]グラムデータが失われると、通常はプログラムを初
めから再び開始させる必要がある。しかし、本発明の場
合には先のプログラムでプロセッサがロック−ノアツブ
した動作ステップが実際上RAM11に記憶され、しか
も上述したようにプログラムは、」−−リ゛を介在さけ
る必要なく、そのプログラムが未だ実行されCいない所
から再び自動的に開始される。
プロセッサそのものは、主要プ「」ダラムが停」1して
も、リフレッシュパルスを供給し続りるように局部ルー
プにてロックさけることができる。このようにする場合
には勿論電源(J上jホしたようにプロセッサからは外
Uなくなる。このような問題はプログラムサイクルの継
続期間に応じて、リフレッシュパルスを供給づることに
J、り簡11iに克服りることがぐきる。従って、例え
ば各プログラムサイクルの初めに1個のパルスを発生さ
11かつ各プログラムサイクル毎にパルスを補足するよ
うにすることができる。これにより、プログラムサイク
ルが継続づる限りi、o、1.o、i、・・・・・・等
のパルス列が発生η−るようになる。各プログラムサイ
クルの開始時点から相当紅過した時点(例えばそのサイ
クルの半分以上過ぎた点)では、前記パルス列のパルス
によってフラグを絶えずセラl−t、たり、リレン1〜
したりすることができる。このフラグ信号は一連のパル
スから成り、これらのパルスはプロレフ1ノが局部ルー
プに′Cロックされる場合になくなる。これがため、上
記一連のパルスは第1単安定マルヂバイブレータ14へ
のリフレッシュパルスとして用いることができ、これに
より局部ロックアツプの場合にプロしツサへの給電は自
動的に停止される。
も、リフレッシュパルスを供給し続りるように局部ルー
プにてロックさけることができる。このようにする場合
には勿論電源(J上jホしたようにプロセッサからは外
Uなくなる。このような問題はプログラムサイクルの継
続期間に応じて、リフレッシュパルスを供給づることに
J、り簡11iに克服りることがぐきる。従って、例え
ば各プログラムサイクルの初めに1個のパルスを発生さ
11かつ各プログラムサイクル毎にパルスを補足するよ
うにすることができる。これにより、プログラムサイク
ルが継続づる限りi、o、1.o、i、・・・・・・等
のパルス列が発生η−るようになる。各プログラムサイ
クルの開始時点から相当紅過した時点(例えばそのサイ
クルの半分以上過ぎた点)では、前記パルス列のパルス
によってフラグを絶えずセラl−t、たり、リレン1〜
したりすることができる。このフラグ信号は一連のパル
スから成り、これらのパルスはプロレフ1ノが局部ルー
プに′Cロックされる場合になくなる。これがため、上
記一連のパルスは第1単安定マルヂバイブレータ14へ
のリフレッシュパルスとして用いることができ、これに
より局部ロックアツプの場合にプロしツサへの給電は自
動的に停止される。
前述しIC例ではNの値を72に選定したが、この値は
関連する電化器具の特定要求事項に応じて他の任意の数
値とし得ることは勿論である。
関連する電化器具の特定要求事項に応じて他の任意の数
値とし得ることは勿論である。
第1図はマイクロゾロセラ1ノを具えている家庭電化器
具制御装置の一例を示すブロック図;第2図は第1図に
示した制御装置に用いられる持久記憶装置の記憶割当C
図; 第3図は主要プログラムの手順を承り流れ図;第4図は
スター1−一アツブブ1−1グラムのルーチンを示す流
れ図である。 1・・・マイクロプロセッサ 2・・・直流給電端子 3・・・スイッチ4・・・バス
5・・・制御パネル 6・・・被制御装置 7,8・・・バス11・・・ラン
ダムアクはメモリ 13・・・直流電源 14・・・第1単安定マルチバイブレータ16・・・第
2単安定マルチハイブレーク18・・・制御回路。
具制御装置の一例を示すブロック図;第2図は第1図に
示した制御装置に用いられる持久記憶装置の記憶割当C
図; 第3図は主要プログラムの手順を承り流れ図;第4図は
スター1−一アツブブ1−1グラムのルーチンを示す流
れ図である。 1・・・マイクロプロセッサ 2・・・直流給電端子 3・・・スイッチ4・・・バス
5・・・制御パネル 6・・・被制御装置 7,8・・・バス11・・・ラン
ダムアクはメモリ 13・・・直流電源 14・・・第1単安定マルチバイブレータ16・・・第
2単安定マルチハイブレーク18・・・制御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、」−−ザがiH択し得る多数のプログラムの内のい
ずれか1つのプログラムに従ってN個の動作ステップの
内から任意可変数の動作ステップを選択することにより
家庭電化器具の動作を制御すべく配置した固体プロセッ
サと;持久記憶装置と;選択したプログラムを識別する
データを前記いずれもの動作ステップの処理以前に前記
記憶装置に書込むと共に、前記各動作ステップの処理期
間中に、既に処理した最終動作ステップを識別するデー
タを前記記憶装置に書込む書込み手段ど:前記記憶装置
に書込まれた内容を読取るべく配置され、前記プロセッ
サへの電源の切断及びその後の電源再接続に際し、前記
記憶装置の読取った内容により、プログラムが前記電源
の切断瞬時に末だ完了されていない場合にはそのプログ
ラムを前記プロセッサが継続し得るようにする読取り手
段と;前゛記ブロセッザが正確に機能している間だけク
ロック信号を発生せしめる信号発生手段と:前記りL1
ツク信号のクロック周期よりも少なくとも長い期間前記
クロック信号が現われない場合に、スイッチを切断して
前記電源を前記プロセッサに再接続する調時手段;どを
具えていることを特徴とする家庭電化器具。 2、特許請求の範囲1記載の家庭電化器具にd3いて、
前記記憶装置にはN個の各動作ステップに対するそれぞ
れの記憶位置を設け、かつ、いずれもの動作ステップを
処理り−る以前に前記各記憶位置に所定の各データ値を
II−ドさせると共に各関連リ−る動作ステップが逐次
処理される度毎に前記各データ値を変更さける手段を設
けたことを特徴とする家庭電化器具。 3、特許請求の1IIi!囲2記載の家庭電化器具にa
3いて、前記各記憶位置におりる各データ値を各記憶位
置のアドレスどしたこと4特徴どづる家庭電化器具。 4、特許請求の範囲3記載の家庭電化器具において、前
記各動作ステップが処理される度毎に前記データ値が変
わるようにしたことを特徴とする家庭電化器具。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB08322170A GB2145254A (en) | 1983-08-17 | 1983-08-17 | Domestic electrical appliance |
| GB8322170 | 1983-08-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6075902A true JPS6075902A (ja) | 1985-04-30 |
Family
ID=10547452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59170091A Pending JPS6075902A (ja) | 1983-08-17 | 1984-08-16 | 家庭電化器具 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4642753A (ja) |
| EP (1) | EP0134610B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6075902A (ja) |
| DE (1) | DE3485236D1 (ja) |
| ES (1) | ES8608077A1 (ja) |
| GB (1) | GB2145254A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8712699D0 (en) * | 1987-05-29 | 1987-07-01 | Thorn Emi Appliances | Domestic appliances |
| US4965714A (en) * | 1988-10-28 | 1990-10-23 | Honeywell Inc. | Apparatus for providing configurable safe-state outputs in a failure mode |
| US5018148A (en) * | 1989-03-01 | 1991-05-21 | Ncr Corporation | Method and apparatus for power failure protection |
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| US5299113A (en) * | 1992-04-22 | 1994-03-29 | Maytag Corporation | Control board having dual means of configuration |
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Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| IT1118947B (it) * | 1979-10-04 | 1986-03-03 | Indesit | Circuito elettronico di memorizzazione di dati in un apparato elettrodomestico |
| IT1136829B (it) * | 1980-03-21 | 1986-09-03 | Philips Nv | Metodo per controllare un apparecchio,che e' azionato da un elaboratore allo stato solido ed enbergizzato da una rete elettrica,in caso di guasto alla energia motrice,ed apparecchio che impiega detto metodo |
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| US4410991A (en) * | 1981-06-03 | 1983-10-18 | Gte Laboratories Incorporated | Supervisory control apparatus |
| DE3373759D1 (en) * | 1982-06-09 | 1987-10-22 | Fujitsu Ltd | One-chip semiconductor device incorporating a power-supply-potential detecting circuit with reset function |
| US4521847A (en) * | 1982-09-21 | 1985-06-04 | Xerox Corporation | Control system job recovery after a malfunction |
-
1983
- 1983-08-17 GB GB08322170A patent/GB2145254A/en not_active Withdrawn
-
1984
- 1984-08-03 US US06/637,663 patent/US4642753A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-08-14 ES ES535146A patent/ES8608077A1/es not_active Expired
- 1984-08-15 DE DE8484201176T patent/DE3485236D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-15 EP EP19840201176 patent/EP0134610B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-16 JP JP59170091A patent/JPS6075902A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50132828A (ja) * | 1974-04-06 | 1975-10-21 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0134610B1 (en) | 1991-11-06 |
| ES535146A0 (es) | 1986-06-01 |
| GB8322170D0 (en) | 1983-09-21 |
| GB2145254A (en) | 1985-03-20 |
| DE3485236D1 (de) | 1991-12-12 |
| ES8608077A1 (es) | 1986-06-01 |
| US4642753A (en) | 1987-02-10 |
| EP0134610A2 (en) | 1985-03-20 |
| EP0134610A3 (en) | 1986-11-12 |
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