JPS607079U - プリント板試験治具 - Google Patents

プリント板試験治具

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JPS607079U
JPS607079U JP9963383U JP9963383U JPS607079U JP S607079 U JPS607079 U JP S607079U JP 9963383 U JP9963383 U JP 9963383U JP 9963383 U JP9963383 U JP 9963383U JP S607079 U JPS607079 U JP S607079U
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Japan
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JP9963383U
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稲石　淑人
透 西村
徳永　省一
三木　勲
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富士通株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来のプリント板試験治具を説明するための図
、第２図は本考案の一実施例によるプリント板試験治具
の構造を示す図、第３図は第２図示のプリント板試験治
具の一部分変形例を説明するための図である。 図面において１は試験槽、２は被試験プリント板、３は
被試験プリント板に実装された部品のリード、４はコン
タクトピン、６および６′はガイドピン、１０は復元ば
ね、１２はテスタ一部、２０は選択マスク、２３は個別
ボード用ガイドピン、２４は案内板、２６は接続切換槽
、２７は個別ボード、１２０は接続切換部、４０は中間
ピンをそれぞれ示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 減圧槽内に複数の試験用コンタクトピンを設け、その減
    圧動作により被試験プリント板の電気回路導体を該試験
    用コンタクトピンに吸着接触させて当該被試験プリント
    板の特性を試験する治具構成において、前記試験用コ、
    ンタクトピン群に着脱自在であって被試験プリント板側
    々の電気回路導体に対応する試験コンタクトピンのみを
    挿通し得る、　孔を有する選択マスクと、被試験プリン
    ト板がセットされる前記減圧ｉかまたはそれとは別個の
    減、　　　圧槽内において植立されかつ前記試験用コン
    タクトピンと電気的接続された複数の入力ピンと、同じ
    く減圧槽内において植立されかつ特性試験用のテスタ一
    部と電気的接続された複数の出力ピンと、前記減圧槽に
    着脱自在な基板構成を有し、その基板表面に前記被試験
    プリント板の電気回路導体と“　　　　同一配列パター
    ンの前記入力ピンと接触し得る入力接点および該入力接
    点に電気的に接続されていて前記各出力ピンと接触し得
    る複数の出力接点とを形成した個別ボードを付設したこ
    とを特徴とするプリント板試験治具。
JP9963383U 1983-06-27 1983-06-27 プリント板試験治具 Granted JPS607079U (ja)

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JPS607079U true JPS607079U (ja) 1985-01-18
JPH034941Y2 JPH034941Y2 (ja) 1991-02-07

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012023180A1 (ja) * 2010-08-17 2012-02-23 株式会社アドバンテスト 接続装置、それを備えた半導体ウェハ試験装置、及び接続方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012023180A1 (ja) * 2010-08-17 2012-02-23 株式会社アドバンテスト 接続装置、それを備えた半導体ウェハ試験装置、及び接続方法
JPWO2012023180A1 (ja) * 2010-08-17 2013-10-28 株式会社アドバンテスト 接続装置、それを備えた半導体ウェハ試験装置、及び接続方法

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JPH034941Y2 (ja) 1991-02-07

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