JPS59122567U - 電子回路検査装置 - Google Patents

電子回路検査装置

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JPS59122567U
JPS59122567U JP1683983U JP1683983U JPS59122567U JP S59122567 U JPS59122567 U JP S59122567U JP 1683983 U JP1683983 U JP 1683983U JP 1683983 U JP1683983 U JP 1683983U JP S59122567 U JPS59122567 U JP S59122567U
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JP
Japan
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circuit
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Application number
JP1683983U
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English (en)
Inventor
志村　六雄
Original Assignee
日本電気株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図は本考案の電子回路検査装置の斜視図と、ブロックで
示した機能試験部を示す図である。 なお、１は被試験基板、２−１は第１接触子、２−２は
第２接触子、２−３は第３接触子、３はガイド、４は保
持台、４−１は吸引孔、４−２は空間、４−３は案内溝
、５は変換回路、６は導体、７は導体、８は機能試験部
を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子部品を搭載した、基板の回路機能試験を行う電子回
    路検査装置であって、基板の接続端子部に接続できる様
    に配置した第１の接触子と、第１の接触子を保持し接続
    端子と、第１の接触子を接触させる手段と、第１の接触
    子と電気的に接続した第２の接触子と、機能試験部の入
    出力端子に電気的に接続した第３の接触子と、第２、第
    ３の接触子の電気的接続状態を決定する変換回路と、変
    換回路を第２、第３の接触子に接続する手段とを有する
    ことを特徴とする電子回路検定装置。
JP1683983U 1983-02-08 1983-02-08 電子回路検査装置 Pending JPS59122567U (ja)

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ID=30148094

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4211960Y1 (ja) * 1964-12-28 1967-07-05
JPS5666768A (en) * 1979-11-02 1981-06-05 Hitachi Ltd Tool for in-circuit tester

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4211960Y1 (ja) * 1964-12-28 1967-07-05
JPS5666768A (en) * 1979-11-02 1981-06-05 Hitachi Ltd Tool for in-circuit tester

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