JPS6070598A - 自己診断回路 - Google Patents
自己診断回路Info
- Publication number
- JPS6070598A JPS6070598A JP58178138A JP17813883A JPS6070598A JP S6070598 A JPS6070598 A JP S6070598A JP 58178138 A JP58178138 A JP 58178138A JP 17813883 A JP17813883 A JP 17813883A JP S6070598 A JPS6070598 A JP S6070598A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shift register
- output
- parity
- exclusive
- self
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Shift Register Type Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の属する技術分野］
この発明はシフトレジスタ自己診断回路、特にパリティ
チェック法による自己診断回路に関する。
チェック法による自己診断回路に関する。
［従来技術とその問題点コ
シフトレジスタを検査する場合、一般に製造時の動作試
験により正常・異常回路を判別し、正常回路においては
以後の外部環境による異常に対しては全く感知し難い場
合が主であるが、今日の高信頼性の要求されるシフトレ
ジスタにおいては外界からの影響による故障も考慮する
必要がある。
験により正常・異常回路を判別し、正常回路においては
以後の外部環境による異常に対しては全く感知し難い場
合が主であるが、今日の高信頼性の要求されるシフトレ
ジスタにおいては外界からの影響による故障も考慮する
必要がある。
［発明の目的］
本発明は上述の点を考慮し、特にシフトレジスタのパリ
ティチェック装置を提供することを目的とする。
ティチェック装置を提供することを目的とする。
［発明の概要コ
以下、本発明の概要を図面を用いて説明を行なう。第１
図は本発明のシフトレジスタ診断装置をブロック図で示
したものである。４のデータを入力とする、１のシフト
レジスタの各ビットは２のパリティ抽出回路を通り、検
出されたパリティ８はシフトレジスタの出カフとデータ
４の排他的論理和５を通して３のＴ型フリップフロップ
に入力され、出力された９と比較され、６の排他的論理
和を通り０ＵＴＩＯに出力される。
図は本発明のシフトレジスタ診断装置をブロック図で示
したものである。４のデータを入力とする、１のシフト
レジスタの各ビットは２のパリティ抽出回路を通り、検
出されたパリティ８はシフトレジスタの出カフとデータ
４の排他的論理和５を通して３のＴ型フリップフロップ
に入力され、出力された９と比較され、６の排他的論理
和を通り０ＵＴＩＯに出力される。
［発明の効果］
この方法により、シフトレジスタの機能検査が行にわれ
、シフトレジスタ部単独のテストが可能となる。特に、
正常動作中釦おいて、外乱の影響によシ故障が出現した
場合の故障判定を行なう事ができる。
、シフトレジスタ部単独のテストが可能となる。特に、
正常動作中釦おいて、外乱の影響によシ故障が出現した
場合の故障判定を行なう事ができる。
［発明の実施例］
以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明する
。
。
第２図はシフトレジスタの一例を示す。２１はデータ、
ｎはリセット、囚はクロックの各信号線を示す。もちろ
ん、シフトレジスタ回路は同図以外の多くの構成が可能
である。
ｎはリセット、囚はクロックの各信号線を示す。もちろ
ん、シフトレジスタ回路は同図以外の多くの構成が可能
である。
第３図は本発明を４ビツトのシフトレジスタで実施した
例である。まず、データ人力４はシフトレジスタ１３に
入力され、各々のビットは、パリティ抽出回路１２に入
力される。又、一方データ人力４は、シフトレジスタ１
３の出力部１４との排他的論理和１１を通してＴ型フリ
ップ７０ツブ１５０入力１Ｂとなる。この１５の出力１
６とパリティビット１７との比較された結果がＯＵＴよ
り出力され、一致〔正常）の場合１０“、不一致（異常
）の場合１１′が出力される。さらに表１は実際のデー
タ入力の場合の主なポイントでの値を具体的に示したも
のであシ、時刻による各位が示されている。
例である。まず、データ人力４はシフトレジスタ１３に
入力され、各々のビットは、パリティ抽出回路１２に入
力される。又、一方データ人力４は、シフトレジスタ１
３の出力部１４との排他的論理和１１を通してＴ型フリ
ップ７０ツブ１５０入力１Ｂとなる。この１５の出力１
６とパリティビット１７との比較された結果がＯＵＴよ
り出力され、一致〔正常）の場合１０“、不一致（異常
）の場合１１′が出力される。さらに表１は実際のデー
タ入力の場合の主なポイントでの値を具体的に示したも
のであシ、時刻による各位が示されている。
表 １
参考の為、表１に準じ、詳細なタイミングチャートを第
４図に示す。横軸に時刻ｔをとっである。
４図に示す。横軸に時刻ｔをとっである。
猶、動作に先立ち、シフトレジスタはリセットされねば
ならない。
ならない。
第１図は本発明の概略を示すブロック図、第２図はシフ
トレジスタの一例を示す回路図、第３図は本発明の実施
例の回路図、第４図は回路中の主な点でのタイミングチ
ャート図である。 図において、 １・・・シフトレジスタ、２・・・パリティ抽出回路、
３９．・Ｔ型フリップフロップ、４・・・データ入力、
５・ Ｘ０Ｒ１６＝、、Ｘ０Ｒ１ ７・・レジスタ出力、８・・・ノくリテイ出力、９ 、
、、 Ｔ Ｉ４フリップフロップ、１０・・・出力、１
１・・・Ｘ６几、１２・・・パリティ抽出回路、１３・
・シフトレジスタ、１４・・・シフトレジスタ出力、１
５・・・ＴＩ、フリップフロップ、 １６・・・Ｔ型フリップフロップ出力、１７・・・パリ
ティ出力、 １８・・・Ｔ！フリップフロップ入力。
トレジスタの一例を示す回路図、第３図は本発明の実施
例の回路図、第４図は回路中の主な点でのタイミングチ
ャート図である。 図において、 １・・・シフトレジスタ、２・・・パリティ抽出回路、
３９．・Ｔ型フリップフロップ、４・・・データ入力、
５・ Ｘ０Ｒ１６＝、、Ｘ０Ｒ１ ７・・レジスタ出力、８・・・ノくリテイ出力、９ 、
、、 Ｔ Ｉ４フリップフロップ、１０・・・出力、１
１・・・Ｘ６几、１２・・・パリティ抽出回路、１３・
・シフトレジスタ、１４・・・シフトレジスタ出力、１
５・・・ＴＩ、フリップフロップ、 １６・・・Ｔ型フリップフロップ出力、１７・・・パリ
ティ出力、 １８・・・Ｔ！フリップフロップ入力。
Claims (1)
- パリティ抽出回路が設けられたシフトレジスタと、この
ソフトレジスタと同じデータ値を入力とするＴ型フリッ
プフロップとを備え、前記パリティ抽出回路から出力さ
れたパリティ信号と前記Ｔ型フリップフロップの出力を
比較することによりシフトレジスタの故障を診断する自
己診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58178138A JPS6070598A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | 自己診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58178138A JPS6070598A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | 自己診断回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6070598A true JPS6070598A (ja) | 1985-04-22 |
Family
ID=16043307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58178138A Pending JPS6070598A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | 自己診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6070598A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0210178A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nec Corp | 論理回路 |
| JPH02194375A (ja) * | 1989-01-23 | 1990-07-31 | Nec Corp | スキャンパス方式の順序回路 |
-
1983
- 1983-09-28 JP JP58178138A patent/JPS6070598A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0210178A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nec Corp | 論理回路 |
| JPH02194375A (ja) * | 1989-01-23 | 1990-07-31 | Nec Corp | スキャンパス方式の順序回路 |
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