JPS6065967U - 走査電子顕微鏡 - Google Patents
走査電子顕微鏡Info
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- JPS6065967U JPS6065967U JP15919283U JP15919283U JPS6065967U JP S6065967 U JPS6065967 U JP S6065967U JP 15919283 U JP15919283 U JP 15919283U JP 15919283 U JP15919283 U JP 15919283U JP S6065967 U JPS6065967 U JP S6065967U
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- JP
- Japan
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- auxiliary lens
- lens
- electron beam
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15919283U JPS6065967U (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 走査電子顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15919283U JPS6065967U (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 走査電子顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6065967U true JPS6065967U (ja) | 1985-05-10 |
JPH0228609Y2 JPH0228609Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1990-07-31 |
Family
ID=30350501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15919283U Granted JPS6065967U (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 走査電子顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6065967U (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007020866A1 (ja) * | 2005-08-12 | 2007-02-22 | Ebara Corporation | 検出装置及び検査装置 |
WO2011055520A1 (ja) * | 2009-11-06 | 2011-05-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子顕微鏡 |
JP2018206589A (ja) * | 2017-06-02 | 2018-12-27 | 日本電子株式会社 | 走査電子顕微鏡 |
-
1983
- 1983-10-14 JP JP15919283U patent/JPS6065967U/ja active Granted
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007020866A1 (ja) * | 2005-08-12 | 2007-02-22 | Ebara Corporation | 検出装置及び検査装置 |
JP2007048686A (ja) * | 2005-08-12 | 2007-02-22 | Ebara Corp | 検出装置及び検査装置 |
US7928382B2 (en) | 2005-08-12 | 2011-04-19 | Ebara Corporation | Detector and inspecting apparatus |
US8431892B2 (en) | 2005-08-12 | 2013-04-30 | Ebara Corporation | Detector and inspecting apparatus |
US8796621B2 (en) | 2005-08-12 | 2014-08-05 | Ebara Corporation | Detector and inspecting apparatus |
WO2011055520A1 (ja) * | 2009-11-06 | 2011-05-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子顕微鏡 |
JP5439498B2 (ja) * | 2009-11-06 | 2014-03-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子顕微鏡 |
US8742342B2 (en) | 2009-11-06 | 2014-06-03 | Hitachi High-Technologies Corporation | Electron microscope |
JP2018206589A (ja) * | 2017-06-02 | 2018-12-27 | 日本電子株式会社 | 走査電子顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0228609Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1990-07-31 |
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