JPS6060746A - 複合ダイオ−ド - Google Patents

複合ダイオ−ド

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JPS6060746A
JPS6060746A JP58168293A JP16829383A JPS6060746A JP S6060746 A JPS6060746 A JP S6060746A JP 58168293 A JP58168293 A JP 58168293A JP 16829383 A JP16829383 A JP 16829383A JP S6060746 A JPS6060746 A JP S6060746A
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JP
Japan
Prior art keywords
diode
composite
diodes
variable capacitance
switching
Prior art date
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Pending
Application number
JP58168293A
Other languages
English (en)
Inventor
Noboru Kawamoto
河本 登
Terumoto Akatsuka
輝元 赤塚
Isao Ariyoshi
有可 功
Joji Nakamura
中村 穣治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS6060746A publication Critical patent/JPS6060746A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は小型電子機器の部品の高密度実装のだめの複合
ダイオードに関する。
(従来例の構成とその問題点) 電子機器における小型化、薄型化はとどまるところを知
らず、今後さらに進むものと考えられ、個別ディスクリ
ート部品の小型化、チップ化さらにはハイブリッドIC
,モノリソツクIC化への展開により、機器における部
品高密度実装がはかられている。しかしながら、個別部
品あるいは機能回路側集積化ははかられているが、特に
テレビチューナのような高周波回路においては部品の小
型化あるいは集積回路化は特性上実現のむつかしい部分
でちる。しかしながら機器の小型化薄型化の中、高密度
実装可能な部品が今後必要となり、これらを満足する素
子の開発が待たれていた。
(発明の目的) 本発明はこのような課題を解決する一手段を提供するこ
とを目的とするものである。
(発明の構成) 上記目的を達成するだめに、本発明は、種々の回路でよ
く用いられるスイッチングダイオード、可変容量ダイオ
ード、ツェナーダイオード等のダイオードを、それらと
−緒に組合わせて用いられ実装位置も近い他の異なる素
子、例えばバイアス印加抵抗や異なる特性の他のダイオ
ード等を1つの半導体パッケージ内に収めて複合部品と
して構成したものである。
(実施例の説明) テレビチューナを例にとると特に可変容量ダイオードを
中心にスイッチングダイオード及びバイアス用抵抗は回
路ブロック毎に共通化され、実装個所についても近い位
置に配置される場合が多く、これらの素子を第1図ない
し第5図に示す実施例の如く複合化することが可能であ
る。
第1図は可変容量ダイオードDcとスイッチングダイオ
ードDSをそれぞれ別個の端子を設けて1つの半導体パ
ッケージに収めたものである。
第2図は可変容量ダイオードDcとバイアス印加抵抗R
eとを一端を内部接続して半導体パッケージに収めたも
のである。
第3図はスイッチングダイオードDsとバイアス印加抵
抗R8とからなる複合部品、第4図はツェナーダイオー
ドDzとバイアス印加抵抗RZからなる複合部品として
構成したものである。
第5図は、可変容量ダイオードDCとそのバイアス印加
抵抗Rs 、およびスイッチングダイオードDsとその
バイアス印加抵抗Rsとを1つの半導体パッケージ内に
収めた構成のものである。
(発明の効果) 本発明は以上に述べたような複合化により、実装密度の
向」−と特性の均一化が可能となる。さらに半導体集積
回路技術の進歩に伴ない、モノリシック化が可能となり
大量生産によるコストダウンも可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第5図はそれぞれ本発明の実施例を示すも
のでちる。 Dc ・・・・・・・・・可変容量ダイオード、Ds・
凹曲スイッチングダイオード、Dz ・・・・・・・・
ツェナーダイオード、R(!l RL Rz・・・・・
・・・・バイアス印加抵抗。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第1図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (]) 半導体パッケージ内にダイオードと、それとは
    特性の異なる素子を1つに収めたことを特徴とする複合
    ダイオード。 (2) 前記ダイオードが可変容量ダイオードであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の複合ダ
    イオード。 (3) 前記ダイオードがスイッチングダイオードであ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第(])項記載の複
    合ダイオード。 (4) 前記ダイオードがツェナーダイオードであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の複合ダ
    イオード。 (5)@記特性の異なる素子がバイアス印加抵抗である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項ないし第(
    4)項のいずれか1項に記載の複合ダイオード。 (6) 前記ダイオードが可変容量ダイオードであり、
    前記特性の異なる素子がスイッチングダイオードである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の複合
    ダイオード。 (7) モノリシック構成により前記ダイオードとその
    他の素子を1つのパッケージ内に構成したことを特徴と
    する特許請求の範囲第(1)項ないし第(6)項のいず
    れか1項に記載の複合ダイオード。
JP58168293A 1983-09-14 1983-09-14 複合ダイオ−ド Pending JPS6060746A (ja)

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