JPS6056829A - チップ部品のマガジン挿入装置 - Google Patents

チップ部品のマガジン挿入装置

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Publication number
JPS6056829A
JPS6056829A JP16304483A JP16304483A JPS6056829A JP S6056829 A JPS6056829 A JP S6056829A JP 16304483 A JP16304483 A JP 16304483A JP 16304483 A JP16304483 A JP 16304483A JP S6056829 A JPS6056829 A JP S6056829A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magazine
chip component
chip parts
chip
positioning pieces
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16304483A
Other languages
English (en)
Inventor
Junji Kakigi
淳司 柿木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP16304483A priority Critical patent/JPS6056829A/ja
Publication of JPS6056829A publication Critical patent/JPS6056829A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment

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  • Container Filling Or Packaging Operations (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はチップ部品のマガジン挿入装置に係り、特に
、そのチップ部品の保持位置の修正手段に関する。
一般に、チップ抵抗等のチップ部品は、配線基板への配
線の自動化等の要請から自動配線装置に取付けられるマ
ガジンに収納されて出荷されている。
従来、このチップ部品のマガジンへの挿入は、シュータ
から落下して来るチップ部品を、その終端部に開口を向
けて配置したマガジンに、ブツシャで押込む形で行なわ
れている。このような挿入手段は、チップ部品の重力落
下と、ブツシャの作動タイミングのずれや、チップ部品
とマガジンとの摩擦がその挿入状態に大きく影響し、作
業能率を悪化させる欠点を持っている。例えば、チップ
部品とマガジン内壁との摩擦でチップ部品の移送状態が
変化して本来の挿入形態とは別にチップ部品が立った状
態で挿入される所謂立ち入り状態が発生し、また、チッ
プ部品の重力落下と、ブツシャ゛の作動タイミングがず
れると、マガジンの開口の位置にチップ部品が到達しな
い前にブツシャが作動を開始する等してチップ部品を破
損したり、立ち入り状態が発生し、或いは戻るブツシャ
のために次のチップ部品が所定位置に落下出来なくなる
等の不都合が発生する。
この発明は、チップ部品のマガジンへの挿入を容易にし
、且つ信頼性を高めたチップ部品のマガジン挿入装置の
提供を目的とする。
この発明は、チップ部品を吸着して保持しマガジンの開
口に移送する吸着装置と、この吸着装置に吸着されてい
るチップ部品の保持位置をマガジンの開口に下降させて
いる途上で修正する位置決め装置とから構成したことを
特徴とする。
以下、この発明の実施例を図面を参照して詳細に説明す
る。
第1図はこの発明のチッチ部品のマガジン挿入装置の実
施例を示している。図において、このマガジン挿入装置
には、供給テーブル2からチップ部品4を吸着して保持
する吸着装置6が設置される。この吸着装置6にはチッ
プ部品4を吸着する吸着ピン8が設けられ、この吸着ピ
ン8には樹脂ホース等からなる負圧路10が形成され、
この負圧路10には図示していない負圧形成装置から一
定のタイミングで負圧が与えられるものとする。
また、この吸着ピン8は負圧路10とともに、矢印Aの
方向に一定の高さまで上昇させた後、矢印Bの方向に移
動させてマガジン12の開口上に位置させ、矢印Cの方
向に下降させる図示しない移動制御装置が設置されるも
のとする。
マガジン12は角筒状を成しており、所定の位置に上方
に開口を向けて設置され、その上端部はストッパ14で
位置決めされる。そして、このマガジン12の」ニガに
は、マガジン12に挿入されるチップ部品4を挿入直前
の位置で吸着ピン8における保持位置を修正する位置決
め装置16が設置されている。
この位置決め装置16は、吸着ピン8を中心にし、且つ
チップ部品4の対角線にほぼ近い角度で移動可能にした
一対の位置決め片16A、16Bで構成され、これら位
置決め片16A、16Bは段違いに配置されているとと
もに、その移動は図示しない駆動装置で同時に収縮、拡
開が可能に成っている。
第2図はこの位置決め装置16の平面構造を示している
。位置決め片16A、16Bの対面側には、チップ抵抗
器等のチップ部品4の2辺の形状に合わせたL字形の四
部18.20が形成されている。そして、この位置決め
片16A、16Bは矢印りの方向に2段階に収縮するよ
うに成っている。即ち、第2図に実線で示す位置から、
破線で示すチップ部品4の外形の近傍で停止し、これで
チップ部品4の保持位置の修正を可能にし、その後、一
点鎖線で示す位置まで、即ち、チップ部品4の外形より
小さくなるまで収縮させ、これでチップ部品4の戻り防
止を可能にする。
以上の構成に基づき、その動作を第3図及び第4図を参
照して詳細に説明する。今、供給テーブル2から吸着ピ
ン8で負圧−Pの作用で引上げられたチップ部品4は、
第1図に示すように、矢印Bの方向に移送した後、一点
鎖線で示す位置から矢印Cで示す方向に下降させる。
この下降途」二で位置決め装置16は作動を開始し、位
置決め片16A、16Bを除々に収縮させる。仮に、チ
ップ部品4が第3図に示すような形態で保持されている
ものとすると、この侭の状態ではマガジン12への挿入
は困難である。位置決め片L6A、16Bの矢印り方向
への収縮により、チップ部品4の保持位置は吸着ピン8
に吸着された状態を維持しつつ修正され、正規の位置に
設定される。
第4図(A)に示すように、位置の修正が施されチップ
部品4は位置決め片16A、16Bの凹部I8.20で
形成される矩形の空間部分を通過し、吸着ピン8は矢印
Eの方向に移動してマガジン12の開口部に導かれる。
次に、第4図(B)に示すように、チップ部品4がマガ
ジン12の内部に導かれて負圧−Pが解除され、チップ
部品4は矢印Fの方向に案内されてマガジン12の内部
に重ねられて収納される。この結果、従来のようにチッ
プ部品4がマガジン12の内部に縦方向に変位して入る
所謂立ち入り状態が防止できる。
また、この場合、位置決め片16A、16 Bの部分を
チップ部品4が通過すると、位置決め片16A、16B
の位置は更に第2図に示す最終位置に向かって収縮移動
し、凹部18.2oで形成される空間部はチップ部品4
の形状以下の大きさになり、その通過を阻止する。何等
かの原因で吸着ピン8からチップ部品4が離れない場合
には、第4図(C)に示すように、吸着ピン8が矢印G
の方向に上昇するとき、チップ部品4の上端部が位置決
め片16Aの下端部に当り、吸着ピン8の上昇力の作用
でチップ部品4は吸着ピン8から矢印I(の方向に引き
Nliすことができ、マガジン12へ確実に挿入させる
ことができる。この場合、吸着ピン8への負圧−Pの解
除タイミングと上昇移動のタイミングのずれや、静電気
の作用で吸着ピン8からチップ部品4が811脱できな
い場合に、チップ部品4を的確に吸着ピン8から離すこ
とができるので、吸盾ビン8に付着してチップ部品4が
マガジン12の外部に飛び出ず等の浮き上がり状態を回
避できる。
そして、吸着ピン8が上昇し、元の位置への復帰に際し
て位置決め片16A、16Bは元の位置に戻り、次の動
作に備える。
このようにマガジン12へ挿入すべきチップ部品4をそ
の移送途上において、その保持位置を修正するので、位
置修正に伴う時間的損失がなく、迅速な挿入動作が可能
になるとともに、マガジン12に対して確実にチップ部
品4を挿入することができる。また、挿入途上において
も、従来のようなチップ部品4の破損はなく、その保持
位置の修正についても破損等の不都合を伴うことなく、
効率的に行うことができる。
なお、従来はチップ部品4の保持を負圧装置による吸着
を例にとって説明したが、この発明はチップ部品4が強
磁性体で構成されている場合には磁石による吸着装置を
用いても同様の効果が期待できる。
以上説明したようにこの発明によれば、吸着されて移送
される途上において、チップ部品の保持位置を修正でき
、マガジンへ容易に挿入することができるとともに、そ
の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明のチップ部品のマガジン挿入装置の実
施例を示す説明図、第2図はその位置決め装置の構造を
示す説明図、第3図及び第4図はその動作を示す説明図
である。 4・・・チップ部品、6・・・吸着装置、12・・・マ
ガジン、16・・・位置決め装置。 =1゜ 第1図 −P ↑ 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. チップ部品を吸着して保持しマガジンの開口に移送する
    吸着装置と、この吸着装置に吸着されているチ・7ブ部
    品の保持位置をマガジンの開口に下降させている途上で
    修正する位置決め装置とから構成したことを特徴とする
    チップ部品のマガジン挿入装置。
JP16304483A 1983-09-04 1983-09-04 チップ部品のマガジン挿入装置 Pending JPS6056829A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16304483A JPS6056829A (ja) 1983-09-04 1983-09-04 チップ部品のマガジン挿入装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16304483A JPS6056829A (ja) 1983-09-04 1983-09-04 チップ部品のマガジン挿入装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6056829A true JPS6056829A (ja) 1985-04-02

Family

ID=15766110

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16304483A Pending JPS6056829A (ja) 1983-09-04 1983-09-04 チップ部品のマガジン挿入装置

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JP (1) JPS6056829A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0692447A (ja) * 1992-09-14 1994-04-05 Hitachi Electron Eng Co Ltd Icデバイスの移載装置
WO2014087492A1 (ja) * 2012-12-04 2014-06-12 上野精機株式会社 電子部品搬送装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5789535A (en) * 1980-11-20 1982-06-03 Sanyo Electric Co Ltd Device for correcting mounted posture of part

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5789535A (en) * 1980-11-20 1982-06-03 Sanyo Electric Co Ltd Device for correcting mounted posture of part

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0692447A (ja) * 1992-09-14 1994-04-05 Hitachi Electron Eng Co Ltd Icデバイスの移載装置
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