JPS5822143Y2 - リ−ドレスチツプ部品の検査装置 - Google Patents

リ−ドレスチツプ部品の検査装置

Info

Publication number
JPS5822143Y2
JPS5822143Y2 JP1977176890U JP17689077U JPS5822143Y2 JP S5822143 Y2 JPS5822143 Y2 JP S5822143Y2 JP 1977176890 U JP1977176890 U JP 1977176890U JP 17689077 U JP17689077 U JP 17689077U JP S5822143 Y2 JPS5822143 Y2 JP S5822143Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum suction
suction hole
hole
leadless chip
chip component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1977176890U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS54102166U (ja
Inventor
広瀬文則
Original Assignee
松下電器産業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 松下電器産業株式会社 filed Critical 松下電器産業株式会社
Priority to JP1977176890U priority Critical patent/JPS5822143Y2/ja
Publication of JPS54102166U publication Critical patent/JPS54102166U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS5822143Y2 publication Critical patent/JPS5822143Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 本考案はリードレスチップ部品の電気容量、抵抗値など
の検査装置に関するもので、その目的とするところはセ
ラミックなどの材質で作られることの多いリードレスチ
ップ部品を破損することなく検査しようとするものであ
る。
一般に抵抗、コンデンサなどのリードレスチップ部品は
セラミックなどを焼成して作ったものかく、その強度は
必ずしも強くなく、取扱いによっては割れたり欠けたり
する危険性があった。
従って、容量や価を検査する際、機械的に整列させて1
個づつ分離独立させ、その後部品の電極に検査電極を当
てて検査するようにしているが、部品寸法のバラツキや
ゴミなどにより分離させる時に接触片により部品が破損
する等の難点がみられた。
本考案は上記のように機械的に部品を規制させる部分を
除去して部品の破損を防止したものであり、以下実施例
として示した図面に従って説明する。
第1図は本考案検査装置の全体図を示したものであり、
1は部品供給装置で、整列されたり=ドレスチップ部品
を傾斜溝2へ送り込むようになっている。
傾斜溝2では部品は重力で下降し、検査され通い箱3に
収納される。
4は土台、5はエアーシリンダーで、チップ部品の電極
に接触させる電極片を駆動させる制御部である。
6,6′・・・・・・は真空吸引管の開閉を制御する電
磁弁、7,8゜9はニップルで真空吸引管を固定し、傾
斜溝2に形成した真空吸引孔と連通ずるよう接続されて
いる。
第2図に示すように、傾斜溝2の底部と天井にはそれぞ
れ対応してニップルと連結された真空吸引孔と空気孔が
形成されている。
10はニップル7と連通した第1の真空吸引孔で、11
はこれと対応した天井に形成した空気孔である。
12はニップル8と連通した第2の真空吸引孔で、これ
と対応して空気孔13を形成した。
第2の真空吸引孔12は第1の真空吸引孔10から上方
の溝でリードレステップ部品の長さlだけ離れて形成さ
れている。
14は第3の真空吸引孔で、第1の真空吸引孔10より
下方に適当距離を離して設けである。
第3の真空吸引孔14と対応する天井には、検査用接触
片15,160駆動孔が形成されている。
検査用接触片15.16はエアーシリンダー5と連結さ
れ、リードレスチップ部品17が、第3の真空吸引孔1
4で吸着されている時に下降して電極17に接触するよ
うになっている。
リードレスチップ部品17の形状は第3図に示すように
なっており、その両端に電極−17’、17’があって
、一般に厚さ0.5〜1m/mX寸法2〜4×1.5〜
3m1m程度の矩形状をしている。
本考案は上記のような構成をとったので、部品供給装置
1から一方電極を下に向けて傾斜溝2へ供給されたリー
ドレスチップ部品17は溝に沿って降下してゆき、電極
に接触して測定検査されるが、部品の降下状態は次のよ
うに制御される。
第4図イ2ロ、八に示すように先ず、傾斜溝2を降下す
るリードレスチップ部品17は第1の真空吸引孔10の
吸引により停止する。
第1の真空吸弓孔10は対応する空気孔11によって傾
斜溝2を横切る空気流を形成しているので、この位置に
来た部品を1個だけ吸着し停止させる効果がある。
対応する空気孔11がない場合には溝内にある部品のす
べてを吸着する作用が生じて部品降下に支障が生じるこ
とにもなりかねない。
このように第1の真空吸引孔10の位置で部品が停止す
るので、後続するチップ部品はそれぞれ電極を互いに接
触した状態で積上げられてゆく(第4図イ)。
次に第1の真空吸引孔10の吸引を停止し、第2の真空
吸引孔12を吸引すると、第1の真空吸引孔10から解
放された部品は傾斜溝2を降下して第3の真空吸引孔1
4へ向い、第2の真空吸引孔12上の部品は吸着されて
停止状態を保ち、後続する部品もその状態を保つ。
下降しつ\ある部品は第3の真空吸引孔14の吸引を始
めることにより空気流が空気孔11から第3の真空吸引
孔14に至る流れを形成し、この流れに吸引されて移動
し、第3の真空吸引孔14上で部品を吸着停止させる(
第4図口)。
このように第3の真空吸引孔14上で部品が吸着停止さ
れた時1、検査用接触片15゜16がエアーシリンダ5
の動作により部品の電極に触れ、容量又は価等の測定を
行ない、良品か不良品かの判定をするように構成きれて
いる。
又この時、第2の真空吸引孔12の吸引が停止され、第
1の真空吸引孔10の吸引が開始され(第4図へ)、チ
ップ部品は1個分だけ下方へ移動する。
このようにして1個のチップ部品が測定されると次に第
4図イの状態に戻り、同じ動作を繰返えす。
上記のように本考案によれば、傾斜溝を重力により降下
すると共に真空吸引による空気流によって移動停止が行
なわれ、後続するリードレスチップ部品との分離も確実
であり、機械力を用いないから部品に損傷を与えること
なく、又定位置に吸着停止するので、電極への検査用接
触片の当接が確実で容易である等種々の実用上の効果を
有する検査装置を提供できた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案検査装置の側面図、第2図は同要部拡大
断面図、第3図はリードレスチップ部品の実施例を示す
斜視図、第4図イ2口、ハは検査に至る物品の移動状態
を示す要部断面図。 2・・・・・・傾斜溝、5・・・・・・エアーシリンダ
ー、6゜6′・・・・・・電磁弁、10・・・・・・第
1の真空吸引孔、12・・・・・・第2の真空吸引孔、
14・・・・・・第3の真空吸弓孔、11,13・・・
・・・空気孔、15,16・・・・・・検査用接触片、
17・・・・・・リードレスチップ部品、17′・・・
・・・電極。

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. (1)両端に電極を有するリードレステップ部品を重力
    で降下させる傾斜溝と、この溝の底部及び天井に対応し
    て設けた第1の真空吸引孔及び空気孔と、この第1の真
    空吸引孔より上方の溝において前記リードレスチップ部
    品の長さだけ離れて設けた第2の真空吸引孔及び空気孔
    と、第1の真空吸引孔より下方に設けた第3の真空吸引
    孔及びリードレスチップ部品の両電極に接触可能に設け
    た検査用接触片と、これら第1、第2、第3真空吸引孔
    における吸引とその停止並びにリードレスチップ部品が
    第3の真空吸引孔位置で他のリードレスチップ部品と分
    離独立した状態で吸着された時、検査用接触片が前記両
    電極と接触して検査を行なうようにした制御部とから成
    ることを特徴とするリードレスチップ部品の検査装置。
  2. (2)第1、第2、第3の真空吸引孔における吸弓とそ
    の停止の制御部として、各真空吸引孔に接続された真空
    吸引管の開閉を行なう電磁弁を取付けた実用新案登録請
    求の範囲第1項記載のリードレスチップ部品の検査装置
  3. (3)検査用接触片の駆動制御部として、エアーシリン
    ダーを用いた実用新案登録請求の範囲第1項記載のリー
    ドレスチップ部品の検査装置。
JP1977176890U 1977-12-28 1977-12-28 リ−ドレスチツプ部品の検査装置 Expired JPS5822143Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1977176890U JPS5822143Y2 (ja) 1977-12-28 1977-12-28 リ−ドレスチツプ部品の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1977176890U JPS5822143Y2 (ja) 1977-12-28 1977-12-28 リ−ドレスチツプ部品の検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS54102166U JPS54102166U (ja) 1979-07-18
JPS5822143Y2 true JPS5822143Y2 (ja) 1983-05-11

Family

ID=29185857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1977176890U Expired JPS5822143Y2 (ja) 1977-12-28 1977-12-28 リ−ドレスチツプ部品の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5822143Y2 (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5110947A (en) * 1974-07-17 1976-01-28 Nippon Sheet Glass Co Ltd Katoseiojusuru kogakusenisokuno seizohoho
JPS5160448A (ja) * 1974-11-22 1976-05-26 Hitachi Ltd

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5639222Y2 (ja) * 1975-12-10 1981-09-12

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5110947A (en) * 1974-07-17 1976-01-28 Nippon Sheet Glass Co Ltd Katoseiojusuru kogakusenisokuno seizohoho
JPS5160448A (ja) * 1974-11-22 1976-05-26 Hitachi Ltd

Also Published As

Publication number Publication date
JPS54102166U (ja) 1979-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI680530B (zh) 半導體晶片拾取設備
JPS5822143Y2 (ja) リ−ドレスチツプ部品の検査装置
CN108479233A (zh) 一种烟尘采样滤膜的自动分离、拾取装置及方法
JPH03152091A (ja) チャッキング機構
JPH06204266A (ja) 半導体ペレットのピックアップ方法
JPH0487788A (ja) ロボットハンド
JPS59182135A (ja) 板状体ハンドリング装置
JPH0639768A (ja) 真空吸着装置
JPH01242345A (ja) 真空吸着装置
TWI678757B (zh) 通用型料盤移載裝置及其移載方法
JPH0342504B2 (ja)
JPH0977240A (ja) ワ−ク排出機構
JPH0331082Y2 (ja)
JPH0248160B2 (ja)
JP3137484B2 (ja) 半導体ペレットのピックアップ装置
JPH11207678A (ja) 吸着位置検出パッド
JPH0217780Y2 (ja)
JPH0516047U (ja) 板材搬送装置
JP3013115B2 (ja) 板状体取出し移動方法及びその装置
JP3449178B2 (ja) 導電性ボールの移載方法
JP3449192B2 (ja) 導電性ボールの移載装置および移載方法
JPS6056889A (ja) 真空吸着装置
JP2607752Y2 (ja) 自動テストハンドラー用ピック・プレース装置
JPH0651030Y2 (ja) 小型部品の多数個吸着装置
JPH04109572U (ja) ハンドラ