JPH0692447A - Icデバイスの移載装置 - Google Patents

Icデバイスの移載装置

Info

Publication number
JPH0692447A
JPH0692447A JP26911692A JP26911692A JPH0692447A JP H0692447 A JPH0692447 A JP H0692447A JP 26911692 A JP26911692 A JP 26911692A JP 26911692 A JP26911692 A JP 26911692A JP H0692447 A JPH0692447 A JP H0692447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
vacuum suction
mounting portion
positioning
tray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP26911692A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2985532B2 (ja
Inventor
Shinichi Kasai
信一 笠井
Masaaki Nishi
正昭 西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP26911692A priority Critical patent/JP2985532B2/ja
Publication of JPH0692447A publication Critical patent/JPH0692447A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2985532B2 publication Critical patent/JP2985532B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Special Conveying (AREA)
  • Control Of Conveyors (AREA)
  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 ICデバイスを、単純な動作で、迅速にデバ
イスの取り出しから粗位置決めを行ってデバイス載置部
の所定の位置に載置できるようにする。 【構成】 ロボット11にデバイス3のパッケージ部3
aを真空吸着する真空吸着ヘッド12を装着させたデバ
イス移載手段10は、トレー1からデバイス3を取り出
して、ソケット2のデバイス収容部2aに移載させるも
のであって、ソケット2の上方位置には、デバイス3を
粗位置決めするためのデバイス姿勢修正手段20が設け
られている。このデバイス姿勢修正手段20は、相互に
接合させた時に、デバイス3を所定の姿勢となるように
粗位置決めするためのデバイス受け部21となる左右一
対の粗位置決めブロック22,22を有し、シリンダ2
3,23によって、両粗位置決めブロック22,22が
相互に接合して、デバイス受け部21が形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICデバイスの電気的
特性の試験・測定を行うために、ICデバイスをトレー
から取り出して、ソケットに装着するため等として用い
られるICデバイスの移載装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ICデバイスの電気的特性の試験・測定
を行うには、多数のデバイスを収容するローダ部を設
け、このローダ部からデバイスを取り出して、ICテス
タのテストヘッドに接続したソケットに装架して通電さ
せることによって、その電気的特性の試験・測定が行わ
れる。この試験・測定が終了すると、デバイスはソケッ
トから取り出されて、アンローダ部において、品質毎に
分類分けした状態に収容されるようになっている。ここ
で、ローダ部からソケットに、またソケットからアンロ
ーダ部にデバイスを搬送する方式としては、シュートに
沿って自重で走行させる方式と、ロボット等を用いて強
制搬送する方式とがある。
【0003】ICデバイスのパッケージ方式としては種
々のものがあり、その種類によっては自重で走行させる
ことができるものもあるが、例えば方形をしたパッケー
ジ部の4方向にリードを延在させた、所謂QFP型のデ
バイスのように、自動搬送に適しないものは、強制搬送
によって、ローダ部から1個ずつ取り出してソケットに
装架させ、また試験・測定済みのデバイスをソケットか
らアンローダ部に移行させるようにしている。
【0004】強制搬送によりデバイスを移載する機構と
しては、そのパッケージ部を真空吸着する真空吸着部材
を備えたロボット等のように、適宜のデバイス搬送手段
が用いられる。このために、ソケットはもとより、ロー
ダ部及びアンローダ部においては、デバイスは水平状態
に配置させておく。また、ロード作業及びアンロード作
業を容易ならしめるために、多数のデバイスを収容する
治具が用いられる。このデバイス収容治具としては、底
浅の箱体からなり、この箱体を碁盤目状に仕切ることに
より多数のデバイス収容部を形成したトレーが用いら
れ、このトレーにおける各デバイス収容部にデバイスを
収容させておき、デバイス搬送手段における真空吸着部
材によりトレー内におけるデバイスのパッケージ部を真
空吸着することにより1個ずつ取り出して、ソケットに
移載するようにしている。
【0005】ところで、トレーにおけるデバイス収容部
は、デバイスの出し入れを、リードを曲げる等の不都合
がなく容易に行えるようにするために、かなりの余裕を
持たせており、このためにデバイスはこのデバイス載置
部内では位置及び姿勢が制御されていない。一方、ソケ
ットにはデバイスのリードと接続されるコンタクト部が
設けられており、各リードは確実にコンタクト部と接続
されなければならないことから、ソケット内において
は、デバイスは極めて厳格に位置決めする必要がある。
このように、位置決めが行われていないトレーから厳格
な位置決めを必要とするソケットに円滑かつ確実に移載
するために、デバイスの搬送途中で一度粗位置決めを行
うようにしている。
【0006】従来技術においては、トレーとソケットと
の間に粗位置決め部を設けるようにしており、この粗位
置決め部は、呼び込み部を備える等、デバイスがその位
置及び姿勢が制御されていない状態で搬送されて来て
も、ソケットのように厳格ではないが、この粗位置決め
部におけるほぼ所定の位置に位置決めできる構造となっ
ている。そして、真空吸着部材によって、トレーからデ
バイスを取り出して、まず粗位置決め部の上方位置まで
変位させ、この位置でデバイスを粗位置決め部の直近位
置まで下降させた後にデバイスの脱着を行う。これによ
って、デバイスは呼び込み部にガイドされて、所定の位
置及び姿勢となるように矯正される。然る後に、再び真
空吸着部材によってデバイスを吸着させて、粗位置決め
部から取り出し、ソケットが設置されている部位まで変
位させて、このソケットに載置するようにしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述したよ
うに、トレーからソケットに至るデバイスの移行経路の
途中にデバイスの粗位置決めを行う粗位置決め部を設け
るようにすると、デバイスの搬送経路が長くなり、ロボ
ット等のデバイス搬送手段の移動ストロークが大きくな
ってしまう。この結果、装置全体が大型化すると共に、
デバイスの移載作業が長時間化して移載効率が悪く、ま
たデバイスの移載を行う機構の動作が複雑になる等の欠
点がある。
【0008】本発明は、以上のような従来技術の課題を
解決するためになされたものであって、その目的とする
ところは、単純な動作で、迅速にデバイスの取り出しか
ら粗位置決めを行ってデバイス載置部の所定の位置に載
置できるようにすることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、ICデバイスを多数収容する治具か
らICデバイスを1個ずつ取り出して、デバイス載置部
に位置決めした状態で収容させるためのものであって、
前記治具からICデバイスを真空吸着によって取り出し
て、前記デバイス載置部の上方の位置に移行させるため
に、上下方向及び水平方向に変位可能な真空吸着ヘッド
を備えたデバイス搬送手段と、前記デバイス載置部の上
方位置に配置したデバイス姿勢修正手段とを有し、この
デバイス姿勢修正手段は、水平方向に開閉可能な左右一
対の位置決め部材からなり、両位置決め部材を相互に接
合させることによって、ICデバイスの位置決めを行
い、これらを離間させることによって位置決めされたI
Cデバイスを前記デバイス載置部に収容させる構成とし
たことをその特徴とするものである。
【0010】
【作用】デバイス搬送手段における真空吸着ヘッドによ
って、まず治具からデバイスを1個取り出して、このデ
バイスを持ち上げる。そして、このデバイス搬送手段を
デバイス載置部の上方に位置するデバイス姿勢修正手段
の上部位置に変位させる。この状態で、デバイス姿勢修
正手段に近接する位置まで下降させて、真空吸着ヘッド
からデバイスを脱着させる。これによって、デバイスが
デバイス姿勢修正手段に落とし込まれて、このデバイス
姿勢修正手段によりデバイスの位置決めが行われる。こ
こで、デバイス姿勢修正手段は、一対の位置決め部材か
らなり、両位置決め部材を接合させた状態に形成される
デバイスを収容する空間は、デバイスの位置及び姿勢が
乱れていても、確実にほぼ所定の位置になるように姿勢
の修正を行うことができる構成となっている。このため
にデバイスの呼び込み部等を備えている。
【0011】前述のように、デバイス姿勢修正手段にお
いてほぼ正確に位置調整されたデバイスは、真空吸着ヘ
ッドを下降させることによって、再び真空吸着される。
デバイスが吸着されると、デバイス姿勢修正手段を構成
する一対の位置決め部材が開放状態に変位して、デバイ
ス載置部の上方位置が開放される。そして、真空吸着ヘ
ッドに吸着させたデバイスをさらに下降させて、このデ
バイスをデバイス載置部の所定の位置に厳格に位置決め
された状態に収容される。
【0012】このように、デバイスを治具から取り出し
た後に、直接デバイス載置部の上方位置に変位させるこ
とによって、デバイスの搬送距離を短縮できるようにな
り、しかもこの位置で、デバイスをデバイス載置部に向
けて下降させる動作の間に粗位置決めを行うようにして
いるので、デバイス搬送手段の動作の簡略化及び迅速化
が図られる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。而して、図1において、1はデバイスを収
容する治具としてのトレー、2はデバイス載置部2aを
備えたソケットをそれぞれ示す。トレー1は、図2に示
したように、底浅の箱体からなり、この箱体を碁盤目状
に仕切ることにより多数のデバイス収容部1aが形成さ
れており、これら各デバイス載置部1aにデバイス3が
載置されている。デバイス3は、パッケージ部3aの4
周から多数のリード3bを延在させてなる、所謂QFP
型のものであって、このデバイス3はデバイス移載手段
10によって、トレー1から取り出されて粗位置決めを
行った上で、ソケット2のデバイス収容部2aに収容さ
せるようになされている。
【0014】ここで、デバイス移載手段10は、水平方
向及び昇降可能なロボット11にデバイス3のパッケー
ジ部3aを真空吸着する真空吸着ヘッド12を装着させ
てなるものである。このデバイス移載手段10によっ
て、デバイス3はトレー1から取り出されて、ソケット
2のデバイス収容部2aに移載されるようになっている
が、このソケット2のデバイス収容部2aの底面部に
は、デバイス3のリード3bに対応する数のコンタクト
が設けられており、これら各コンタクトにデバイス3の
リード3bを当接させ、かつこのリード3bはパッドの
ような押圧手段等によってコンタクトに圧接させるよう
にしている。このために、ソケット2内では、デバイス
3を極めて厳格に位置決めする必要がある。
【0015】そこで、ソケット2の上方位置には、デバ
イス3を粗位置決めするためのデバイス姿勢修正手段2
0が設けられている。このデバイス姿勢修正手段20
は、相互に接合させた時に、デバイス3を所定の姿勢と
なるように粗位置決めするためのデバイス受け部21と
なる左右一対の粗位置決めブロック22,22を有し、
この粗位置決めブロック22,22には、それぞれシリ
ンダ23,23が連結されている。このシリンダ23,
23を作動させることによって、両粗位置決めブロック
22,22が相互に接合して、デバイス受け部21が形
成される作動位置と、両粗位置決めブロック22,22
を相互に離間させて、その間を通ってデバイス3をソケ
ット2のデバイス収容部2aに載置できる開放位置との
間に変位させる構成となされている。そして、作動位置
においては、両粗位置決めブロック22の上方部は傾斜
した壁部を有する呼び込み壁22aとなっており、しか
もこの呼び込み壁22aは滑り性が良好となっている。
【0016】本実施例は以上のように構成されるもので
あって、次にその作動について説明する。まず、トレー
1の各デバイス収容部1aにデバイス3を収容させてお
き、このトレー1をコンベア等によって、デバイス移載
手段10によって、それに収容したデバイス3の取り出
しが可能な位置に変位させる。一方、デバイス姿勢修正
手段20を構成する粗位置決めブロック22,22は相
互に接合した作動位置としておく。
【0017】以上の状態で、デバイス移載手段10をト
レー1の上方に変位させ、真空吸着ヘッド12を下降さ
せて、トレー1内のデバイス3を吸着する。そして、こ
のデバイス3を持ち上げると共に、デバイス姿勢修正手
段20の上方位置に変位させる。この状態で、図3に示
したように、真空吸着ヘッド12を、それに吸着されて
いるデバイス3がデバイス姿勢修正手段20の粗位置決
めブロック22における呼び込み壁22aより僅かに上
方の位置にまで下降させる。そこで、真空吸着ヘッド1
2からデバイス3を脱着させて、このデバイス3をデバ
イス姿勢修正手段20内に落とし込む。デバイス3は、
呼び込み壁22aにガイドされながら、自重によりデバ
イス受け部21内に収容される。
【0018】ここで、デバイス3はトレー1のデバイス
収容部1a内ではその位置及び姿勢が厳格に制御されて
はいない。ただし、デバイス収容部1aは壁で仕切られ
た所定の空間を有するものであるから、デバイス姿勢修
正手段20における呼び込み壁22aの先端部分にデバ
イス収容部1aより僅かに広いスペースを持たせておく
ことによって、デバイス3は確実にデバイス姿勢修正手
段20におけるデバイス受け部21に向けて落とし込む
ことができる。また、デバイス3は呼び込み壁22aに
ガイドされるが、この呼び込み壁22aを滑りの良い部
材で形成することにより円滑にデバイス受け部21に入
り込むことになる。ただし、途中でデバイス3が引っ掛
かったりしないようにするには、例えばデバイス姿勢修
正手段20の全体を振動させたり、また真空吸着ヘッド
12からデバイス3のパッケージ部3aに向けて加圧エ
アを吹き込むようにすれば、デバイス3はより確実にデ
バイス受け部21に送り込むことができる。このよう
に、デバイス3がデバイス姿勢修正手段20におけるデ
バイス受け部21に正確に送り込まれると、このデバイ
ス3の粗位置決めが完了する。
【0019】そこで、図4に示したように、真空吸着ヘ
ッド12を下降させて、デバイス姿勢修正手段20内の
デバイス3を真空吸着するようになし、シリンダ23を
作動させて、図5に示したように、粗位置決めブロック
22を左右に開くことによって開放位置に変位させる。
これによって、デバイス3は真空吸着ヘッド12に支持
された状態で、その下方の部分が開放されることにな
る。
【0020】この状態で、図6に示したように、真空吸
着ヘッド12をさらに下降させることによって、デバイ
ス3はソケット2のデバイス載置部2aに供給される。
ここで、このデバイス載置部2aにおいては、デバイス
3を極めて正確に位置決めされて、ほぼ完全にがたのな
い状態にして載置されるようになっているが、デバイス
姿勢修正手段20によって、デバイス3の位置及び姿勢
が予め正確に制御されていることから、このデバイス3
は円滑かつ確実にソケット2のデバイス載置部2aに載
置されることになる。
【0021】そして、ソケット2にデバイス3を載置し
た状態で、そのリード3bをパッド等によって上方から
押し付けて、通電することによりこのデバイス3の電気
的特性の試験・測定が行われる。そして、試験・測定が
終了すると、デバイス3は真空吸着ヘッド12により取
り出されて、アンローダ部に送り込まれる。これと共
に、前述したと同様の動作を行うことによって、次のデ
バイス3がソケット2に送り込まれる。
【0022】なお、前述した実施例においては、移載さ
れるデバイスとしてQFP型のデバイスについて説明し
たが、これ以外のパッケージ方式のデバイスであっても
良い。また、デバイス載置部としては、デバイスの電気
的特性の試験・測定を行うためのソケットとしたが、要
はデバイスを正確に位置決めした状態にして載置するも
のであれば、ソケット以外であっても良い。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、真空吸
着ヘッドを備えたデバイス搬送手段によって、ICデバ
イスをデバイス載置部の上方位置に搬送して、このデバ
イス載置部の上部位置に配置され、水平方向に開閉可能
な左右一対の位置決め部材を備えたデバイス姿勢修正手
段によって、このICデバイスを粗位置決めした後に、
位置決め部材を左右に開いて、真空吸着ヘッドによりデ
バイス載置部に載置させるように構成したので、ICデ
バイスの搬送経路の途中において、このICデバイスを
粗位置決めする必要がなくなり、ICデバイスの搬送経
路の短縮が図られ、また真空吸着ヘッドによってICデ
バイスを、デバイス載置部に載置するために下降させる
動作の間に、その粗位置決めがなされるので、動作の簡
略化及び移載作業の迅速化が図られる等の諸効果を奏す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るデバイス移載装置の全体構成を示
す説明図である。
【図2】図1のデバイス移載装置により移載されるIC
デバイスとトレーとを示す外観図である。
【図3】デバイス移載装置の作動説明図である。
【図4】図3とは異なる作動状態を示すデバイス移載装
置の作動説明図である。
【図5】デバイス移載装置のさらに異なる作動説明図で
ある。
【図6】デバイス移載装置の他の作動説明図である。
【符号の説明】
1 トレー 1a デバイス収容部 2 ソケット 2a デバイス載置部 3 ICデバイス 10 デバイス移載手段 12 真空吸着ヘッド 20 デバイス姿勢修正手段 21 デバイス受け部 22 粗位置決めブロック

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICデバイスを多数収容するデバイスを
    収容する治具からICデバイスを1個ずつ取り出して、
    デバイス載置部に位置決めした状態で収容させるための
    ものであって、前記治具からICデバイスを真空吸着に
    よって取り出して、前記デバイス載置部の上方の位置に
    移行させるために、上下方向及び水平方向に変位可能な
    真空吸着ヘッドを備えたデバイス搬送手段と、前記デバ
    イス載置部の上方位置に配置したデバイス姿勢修正手段
    とを有し、このデバイス姿勢修正手段は、水平方向に開
    閉可能な左右一対の位置決め部材からなり、両位置決め
    部材を相互に接合させることによって、ICデバイスの
    位置決めを行い、これらを離間させることによって位置
    決めされたICデバイスを前記デバイス載置部に収容さ
    せる構成としたことを特徴とするICデバイスの移載装
    置。
JP26911692A 1992-09-14 1992-09-14 Icデバイスの移載方法 Expired - Fee Related JP2985532B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26911692A JP2985532B2 (ja) 1992-09-14 1992-09-14 Icデバイスの移載方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26911692A JP2985532B2 (ja) 1992-09-14 1992-09-14 Icデバイスの移載方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0692447A true JPH0692447A (ja) 1994-04-05
JP2985532B2 JP2985532B2 (ja) 1999-12-06

Family

ID=17467903

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26911692A Expired - Fee Related JP2985532B2 (ja) 1992-09-14 1992-09-14 Icデバイスの移載方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2985532B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08116199A (ja) * 1994-10-14 1996-05-07 Canon Inc 電子部品等の実装装置及び実装方法
US6976863B2 (en) 2003-12-19 2005-12-20 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Semiconductor device socket

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6056829A (ja) * 1983-09-04 1985-04-02 Rohm Co Ltd チップ部品のマガジン挿入装置
JPH02103476A (ja) * 1988-10-13 1990-04-16 Hitachi Electron Eng Co Ltd ワーク搬送機構

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6056829A (ja) * 1983-09-04 1985-04-02 Rohm Co Ltd チップ部品のマガジン挿入装置
JPH02103476A (ja) * 1988-10-13 1990-04-16 Hitachi Electron Eng Co Ltd ワーク搬送機構

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08116199A (ja) * 1994-10-14 1996-05-07 Canon Inc 電子部品等の実装装置及び実装方法
US6976863B2 (en) 2003-12-19 2005-12-20 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Semiconductor device socket

Also Published As

Publication number Publication date
JP2985532B2 (ja) 1999-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2921937B2 (ja) Ic検査装置
JP7145029B2 (ja) 半導体資材の切断装置
TWI546883B (zh) Semiconductor manufacturing device
KR102231146B1 (ko) 이송툴모듈, 니들핀 조립체, 및 그를 가지는 소자핸들러
TW201930169A (zh) 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
JPH09222461A (ja) テスティングマシン
JPH0692447A (ja) Icデバイスの移載装置
JP3099235B2 (ja) ウエハ検査装置
KR101187306B1 (ko) 반송장치 및 전자부품 핸들링 장치
US20210078809A1 (en) Systems and methods for die transfer
JPH10185995A (ja) 半導体装置用のハンドラ装置
JP2595207Y2 (ja) Ic試験装置用トレイ搬送装置
JPH02210274A (ja) 集積回路装置テスタ用ハンドラ及びそのハンドリング方法
JPH07111395A (ja) Icデバイスの移載装置
KR100412151B1 (ko) 핸들러용 트레이 이송장치
JP2004177329A (ja) 半導体デバイス自動検査装置
TWM541113U (zh) 12吋晶圓盒全自動量測機台
TW201405152A (zh) 氣壓式測試裝置及其應用之測試設備
JPH10157849A (ja) Ic収納容器供給方法及びic収納容器供給装置
JPH0384944A (ja) 半導体検査装置及び検査方法
JP3611400B2 (ja) リ−ド端子付き電子部品の搬送システムにおけるプリアライメントステ−ジの位置決め方法及びハンドリング装置
KR20140105396A (ko) 프로브 장치 및 웨이퍼 로더
JP2003075505A (ja) 部品試験装置
JPH08297152A (ja) 検査方法及び検査装置
JP2799978B2 (ja) Ic試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees