JPS60255668A - 部分安定化ジルコニア焼結体 - Google Patents

部分安定化ジルコニア焼結体

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JPS60255668A
JPS60255668A JP59112625A JP11262584A JPS60255668A JP S60255668 A JPS60255668 A JP S60255668A JP 59112625 A JP59112625 A JP 59112625A JP 11262584 A JP11262584 A JP 11262584A JP S60255668 A JPS60255668 A JP S60255668A
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JP
Japan
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sintered body
grain size
present
psz
stabilized zirconia
Prior art date
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Pending
Application number
JP59112625A
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English (en)
Inventor
博 丸山
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は部分安定化ジルコニア焼結体の改良に関するも
のである。
セラミック焼結体はわずかな衝撃で破壊するぜい性材料
であり、この欠点を改善すi材料として部分安定化ジル
コニア(Partially 5tabilizedZ
irconi、a 、以下、pszと称す)焼結体が注
目されている。このPSZ焼結体は他のセラミック焼結
体に比べて著しく優れた強度及び靭性特性を有している
ため、各種の構造材料として用いられている。
しかしながら、このPSZ焼結体が200〜300℃の
温度雰囲気に置かれると、焼結体中の正方晶Zr01l
相(以下、t−Zr09と略す)が単斜晶ZrOs相(
以下、sr−ZrOgと略す)に相転移し、これにより
、高強度・高靭性特性を劣化せしめる要因になっている
と共に所期の高い信頼性を損うという難点があった。
従って本発明は上記事情に鑑みて完成されたものであり
、その目的は゛PSZ焼結体が数百度の温度に晒されて
もyet −Zr0gに相転移し難く、これにより、高
強度・高靭性特性と共心長期に亘って信頼性のあるPS
Z焼結体を提供することにある。
本発明によれば、イツトリア(YgOa)を含むジルコ
ニア焼結体にかいて、この焼結体の平均結晶粒径を0.
5μm以下とし、且つ理論密度比を95%以上としたこ
とを特徴とするPSZ焼結体が提供される。
ジ# :I = 7 (ZrOs)焼結体はYsOa 
、 MgO、Cab。
CeOsなどの焼結助剤を添加すると共にその添加量に
応じてPSz焼結体や安定化ジルコニア焼結体となるこ
とが判っており、本発明によれば、PSZ焼結体と成り
得る範囲内でY9O8を添加して、後述の製法に基づい
てこのPSz焼結体の平均結晶粒径を0.5μm以下と
し、且つ理論密度比を95%以上とすることが重要であ
る。この設定範囲から外れた場合、PSZ焼結体を20
0〜300 ℃の温度雰囲気に置くと徐々に焼結体中の
t −ZrO+がm −Zr09に相転移することが判
明した。
この相転移はPSZ焼結体の表面から内部へ向かって進
行することが判っているため、後述の実施例に、詔いて
は焼結体表面のm −zrog量をX線回折法によって
測定することにより、相転移の度合とした。
本発明においては、斯様に平均結晶粒径及び理論密度比
を設定するに当り1.用いるYs+03量を特定するの
が望ましく、丈の量を1乃至6 mo1%最適条件とし
て2乃至4 mo1%に含有されるように設定すると本
発明の効果が顕著になることが本発明者の種々の実験に
よって確認した。
次に本発明の製法について述べる。
本発明に用いるZrO9原料粉末は平均粒径0.155
m以下、好ましくは0.06μm以下がよい。或いは水
酸化ジルコニウムなど仮焼に伴ってZr09粉末になる
ようなものであってもよい。この水酸化ジルコニウム(
zrog・XH90)を用いる場合、仮焼温度を高くす
るほどZr09粉末の一次粒子が大きくなるため仮焼温
度′fj:900乃至1o5o℃の範囲で変えるととl
ζより、−次粒子の平均粒径が0.02乃至0.1μm
の幾種類かのZrOs+粉末が得られる。
またY2O3粉末については平均粒径2Bq以下、好ま
しくは1μm以下のものを用いるのがよい。
或いは、所定のY2O3量が加えられたY++Oa共沈
zroI!粉末を用いてもよく、この粉末を用いるとY
2O3成分とZrO9次分が一層緻密且つ均一に分布し
た混合状態になるため、焼結体の結晶粒径が均一化され
るという利点を有する。
本発明によれば、 ZrO+粉末に総量中1乃至6mo
1%好適には2乃至4 mo1%の配合比率となるシう
に’loa粉末を添加し1次いで均一になるよう多こ十
分に混合する。この混合粉末を乾燥造粒し、所望の形状
にプレス成形した後、1500’C以下、好適には12
50乃至1500℃の温度で加圧焼結又は無加圧焼結す
る。
焼結体中の平均結晶粒径は焼成温度を高くするのに伴っ
て大きくなることが後述の実施例から明らかであり、平
均結晶粒径を0.5μm以下にするためには焼成温度を
1500℃以下に設定することが重要である。また、1
250℃未満の焼成温度では焼結体の嵩密度が小さくな
り易(、本発明に係る理論密度比が得るのがむずかしく
なる。
かくして本発明のPSZ焼結体は焼成温度を1500靭
性特性と共に初期の高品質特性を長期に亘って維持する
信頼性のあるPSZ焼結体が提供される。
以下本発明の実施例を述べる。
〔実施例1〕 水酸化ジルコニルを900乃至1050℃の温度範囲内
で4通りの仮焼温度を設定して4種類の一次平均粒子径
0.02 Dm 、 Q、Q511m 、 0.061
m 、 0.0811tnのジルコニア原料粉末とした
。この4種類のジルコニア原料粉末にそれぞれ総量中3
モル%となるようにY2O3粉末(平均粒径0.9μm
)を配合し、十分tこ均一混合し、然る後、乾燥造粒し
、所望の形状に成形し、この成形体を第1表に示すよう
な焼成条件で焼結した。
かくして得られた焼結体について、嵩密度、理論密度比
及び平均結晶粒径、並びにX線回折法1こより焼結体表
面のm −、Zr0g量を測定した。
更にかかる焼結体を250℃の温度雰囲気中100時間
設置することにより、焼結体表面のm−Zr0g増加量
を測定した。
第1表より明らかなように、試料番号l、5゜6,7で
は平均結晶粒径及び理論密度比が本発明の範囲内である
ため、焼結体表面のm −Zr01I量が少なく、且つ
250℃の熱処理によってほとんど焼結体表面のm −
ZrOs量が増加せず、特に試料番号1,5では全く生
成しなかった。
然るに試料番号2,3.4.8では理論密度比が、また
試料番号9.10.11.12では平均結晶粒径が本発
明の範囲外のため焼結体表面のm −Zr0Q量が多く
、そして250℃の熱処理によって焼結体輌面のm −
Zr09が顕著に増加していることが判る。
そして、平均結晶粒径0.2 timeの試料番号3,
4.6、平均結晶粒径0.3μmの試料番号1.7.8
については、いずれも嵩密度が大きいほど加熱処理後の
焼結体表面のm −Zr0Il量が少な(1ことが判る
更に本実施例の結果に基いて焼成温度と平均結晶粒径を
プロットしたところ、第1図に示す通りとなり、その特
性曲線は仔)として表わすことができる。この図より、
概ね、焼結体の平均結晶粒径は焼成温度によって決定さ
れ、 1500℃以下の焼成温度が垂平であることが判
る。そして、第1表から焼成温度が1500℃を越える
とジルコニア粉末の一次平均粒子径の大きさと無関係に
本発明のPSZ焼結体が得られないことも明白である。
更1ζまた、同表中、同じ焼成条件ではジルコニア粉末
の一次平均粒子径が小さいほどm 、−Zr09菖が少
なく且つ熱処理に伴う相転移のないPSZ焼結体が得ら
れることも判る。
〔実施例2〕 Y903共沈のZrO2粉末を用いる以外は実施例1と
同一の方法に従って試料番号13乃至21を得た。
第2表より明らかなように、試料番号13,14.15
.16.17.18では平均結晶粒径及び理論密度比が
本発明の範囲内であるため、焼結体表面のwt −Zr
01l量が全くなく、 250℃の熱処理によっても全
然屑−ZrOsが生成しなかった。
然る1こ、試料番号19,20.21では平均結晶粒径
が本発明の範囲外のため、250℃の熱処理によって焼
結体表面のwt −ZrOsが著しく増加していること
が判る。
更に本実施例の結果に基いて焼成温度と平均結晶粒径を
プロットしたところ、第2図に示す通りとなり、その特
性曲線は(ロ)として表わすことができる。この図によ
っても、概ね、焼結体の平均結晶粒径は焼成温度によっ
て決定され、1500’C以乍の焼成温度が重要である
ことが判る。
更にまた、実施例1の場合、焼成温度を下げると嵩密度
が顕著に小さくなるが、本実施例においては、ジルコニ
ア粒子の粒子径にも関連するが、1300℃′の焼成温
度1こよっても嵩密度、即ち理論密度比を向上させるこ
とができる。
以上の実施例から明らかな通り、本発明によれば初期の
高強度・高靭性特性を維持した長期信頼性のPSZ焼結
体が提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明に係る部分安定化ジルコニア
焼結体における平均結晶粒径の焼成温度依存特性を示す
図である。 49口・・・部分安定化ジルコニア焼結体における平均
結晶粒径の焼成温度依存特性曲線 特許出願人 京セラ株式会社 第1図 第2図 (°C) h(x (0’ K−) 堆故5M戻

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) イツトリア(YsOa)を含むジルコニア焼焼
    体において、この焼結体の平均結晶粒径を0.5 nw
    t以下とし、且つ理論密度比を95%以上としたことを
    特徴とする部分安定化ジルコニア焼結体。
  2. (2)前記イツトリアを1乃至6 m01%含むことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の部分安定化ジル
    コニア焼結体。
JP59112625A 1984-05-31 1984-05-31 部分安定化ジルコニア焼結体 Pending JPS60255668A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63252962A (ja) * 1987-04-06 1988-10-20 東陶機器株式会社 ジルコニア・アルミナ製超精密セラミツクス製品
US5240805A (en) * 1990-07-25 1993-08-31 Mita Industrial Co., Ltd. Electrophotographic toner

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57130717A (en) * 1981-02-06 1982-08-13 Nippon Kagaku Togyo Kk Zirconia die for drawing and its manufacture
JPS58156577A (ja) * 1982-03-11 1983-09-17 日本化学陶業株式会社 強度及び耐久性に優れたジルコニア焼結体

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