JPS60252228A - 分光分析装置 - Google Patents
分光分析装置Info
- Publication number
- JPS60252228A JPS60252228A JP11059584A JP11059584A JPS60252228A JP S60252228 A JPS60252228 A JP S60252228A JP 11059584 A JP11059584 A JP 11059584A JP 11059584 A JP11059584 A JP 11059584A JP S60252228 A JPS60252228 A JP S60252228A
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- sensitivity
- wavelength
- output
- spectrometer
- switches
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- Granted
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 34
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 13
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 6
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- HEZMWWAKWCSUCB-PHDIDXHHSA-N (3R,4R)-3,4-dihydroxycyclohexa-1,5-diene-1-carboxylic acid Chemical compound O[C@@H]1C=CC(C(O)=O)=C[C@H]1O HEZMWWAKWCSUCB-PHDIDXHHSA-N 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は波長が自動設定されるようになっている分光分
析装置に関する。
析装置に関する。
口・従来技術
分光分析装置では一般に実際の波長と分光器の表示波長
との間には誤差がある。この誤差の修正は波長既知の輝
線スペクトルを用いて行うが、従来はオペレータが手動
的に行っていた。しかしこれは時間がか＼り操作も面倒
であったし、所定の輝線に近接して他の輝線が存在する
場合には設定ミスも起り得だ。このため誤差修正を自動
的に行い得る分光分析装置が望まれていた。
との間には誤差がある。この誤差の修正は波長既知の輝
線スペクトルを用いて行うが、従来はオペレータが手動
的に行っていた。しかしこれは時間がか＼り操作も面倒
であったし、所定の輝線に近接して他の輝線が存在する
場合には設定ミスも起り得だ。このため誤差修正を自動
的に行い得る分光分析装置が望まれていた。
上述したような状況に鑑み本願特許出願人によって先に
特願昭５ ｆ−２２８２４４−号の提案がなされた。こ
の提案による分光分析装置では、分光器は指定された装
置上の波長位置捷で動いて行き、そこでスリット幅を拡
げ、波長誤差があっても、目的の輝線スペクトルがスリ
ット幅内に存在するようにし、そのときの測光出力が所
定レベルになるように測光系の感度設定を行い、スリッ
ト幅を所定幅までせまクシ、一定の波長範囲を走査して
測光出力のピーク頂点を検出してその位置で分光器を停
止させるようになっている。
特願昭５ ｆ−２２８２４４−号の提案がなされた。こ
の提案による分光分析装置では、分光器は指定された装
置上の波長位置捷で動いて行き、そこでスリット幅を拡
げ、波長誤差があっても、目的の輝線スペクトルがスリ
ット幅内に存在するようにし、そのときの測光出力が所
定レベルになるように測光系の感度設定を行い、スリッ
ト幅を所定幅までせまクシ、一定の波長範囲を走査して
測光出力のピーク頂点を検出してその位置で分光器を停
止させるようになっている。
しかしこの方式では波長設定は自動的に正しく行われる
が、測光系の感度は必ずしも目的通りには設定されない
で、波長設定修了後再度感度調整をやり直す必要があっ
た。これは例えば原子吸光分析を行う場合、検出しよう
とする原素の輝線位置に分光器を設定し、試料原子化部
に試料を導入部を通して分光器に入射させ、そのときの
分光器出射光を測光してそれが吸光度０にな乙ように測
光系の感度を設定するのであるが、目的の輝線の傍に別
の輝線が存在するような場合、波長設定動作でスリット
幅を広げたとき、その目的外の輝線の光も測光系に入り
、両方の輝線を合せた光量に対して感度が所定値に設定
されるので、波長設定終了後、目的の輝線の光だけが測
光系に入射するようになると、感度が低く設定されてい
たことになる。
が、測光系の感度は必ずしも目的通りには設定されない
で、波長設定修了後再度感度調整をやり直す必要があっ
た。これは例えば原子吸光分析を行う場合、検出しよう
とする原素の輝線位置に分光器を設定し、試料原子化部
に試料を導入部を通して分光器に入射させ、そのときの
分光器出射光を測光してそれが吸光度０にな乙ように測
光系の感度を設定するのであるが、目的の輝線の傍に別
の輝線が存在するような場合、波長設定動作でスリット
幅を広げたとき、その目的外の輝線の光も測光系に入り
、両方の輝線を合せた光量に対して感度が所定値に設定
されるので、波長設定終了後、目的の輝線の光だけが測
光系に入射するようになると、感度が低く設定されてい
たことになる。
式目的
本発明は上記提案方式における上述問題点を解消して、
波長の自動設定と同時に感度設定も正しく行われるよう
にすることを主たる目的としてなされた。
波長の自動設定と同時に感度設定も正しく行われるよう
にすることを主たる目的としてなされた。
ニ・構成
分光器を装置上の目的波長位置伺近まで移動させ、その
位置でスリット幅を所定値に設定し、測光回路出力が所
定値になるように測光回路にＡＧＣ（自動利得制御）を
かけつ＼分光器で所定範囲の波長走査を行い、測光回路
の感度が最低になる位置を検出してその位置に分光器を
設定するようにしだ分光分析装置である。
位置でスリット幅を所定値に設定し、測光回路出力が所
定値になるように測光回路にＡＧＣ（自動利得制御）を
かけつ＼分光器で所定範囲の波長走査を行い、測光回路
の感度が最低になる位置を検出してその位置に分光器を
設定するようにしだ分光分析装置である。
札実施例
第１図は本発明の一実施例を示す。ｌは目的とする輝線
を発光する光源の中空陰極放電管で、Ｆは試料原子化部
の炎であり、ＭＣは分光器で試料原子化部Ｆを通過した
光源１の光が入射するようになっており、Ｐは光検出器
で分光器ＭＣの出射光が入射せしめられる。ＦＡはプリ
アンプで光検出器Ｐの出力を増幅してＣＰＵ２に入力し
ている。
を発光する光源の中空陰極放電管で、Ｆは試料原子化部
の炎であり、ＭＣは分光器で試料原子化部Ｆを通過した
光源１の光が入射するようになっており、Ｐは光検出器
で分光器ＭＣの出射光が入射せしめられる。ＦＡはプリ
アンプで光検出器Ｐの出力を増幅してＣＰＵ２に入力し
ている。
３はＡ、 Ｇ Ｃ回路でプリアンプＰＡの出力がＡ、
Ｇ Ｃ回路３を介して光検出器Ｐにフィードバックされ
、プリアンプＰＡの出力が基準値になるように測光系の
ゲインが調節される。この実施例ではｐ、 ａ、 ｃは
光検出器Ｐにフォトマルチプライヤを用い、ダイノード
フィードバック方式で行っている。４はスリット幅駆動
装置、５は分光器の波長駆動装置で、何れもＣＰＵ２に
よって制御されている〇第２図ばＡ、ＧＣ回路３の内部
を示す。波長設定動作時切換えスイッチＳｗ］−，Ｓｗ
２はＣＰＵ２に制御されて夫々接点ａ側に切換えられ、
ている。
Ｇ Ｃ回路３を介して光検出器Ｐにフィードバックされ
、プリアンプＰＡの出力が基準値になるように測光系の
ゲインが調節される。この実施例ではｐ、 ａ、 ｃは
光検出器Ｐにフォトマルチプライヤを用い、ダイノード
フィードバック方式で行っている。４はスリット幅駆動
装置、５は分光器の波長駆動装置で、何れもＣＰＵ２に
よって制御されている〇第２図ばＡ、ＧＣ回路３の内部
を示す。波長設定動作時切換えスイッチＳｗ］−，Ｓｗ
２はＣＰＵ２に制御されて夫々接点ａ側に切換えられ、
ている。
ＦＡは誤差アンプで、プリアンプＰＡの出力が反転端子
に入力され、誤差アンプＦＡの出力がＤＣ−ＤＣコンバ
ータ（直流高圧発生回路）に入力される。ＤＣ−ＤＣコ
ンバータは誤差入力に応じた負高圧の電圧を発生して光
検出器Ｐのターイノードに印加し、ＰＡの出力が０とな
るように作動する。
に入力され、誤差アンプＦＡの出力がＤＣ−ＤＣコンバ
ータ（直流高圧発生回路）に入力される。ＤＣ−ＤＣコ
ンバータは誤差入力に応じた負高圧の電圧を発生して光
検出器Ｐのターイノードに印加し、ＰＡの出力が０とな
るように作動する。
鎖線で囲まれた部分ＭＶは感度記憶回路で波長設定時ス
イッチＳｗ３はＯＮとなる。感度記憶回路はダイオード
ｄとコンデンサＣとによりなり、コンデンサＣは予めス
イッチＳｗ４を介して負電圧−Ｅｌまで充電しであるｏ
ＡＧＣをかけて波長走査を行う間スイッチＳＷ４を開き
、８ｗ３を閉じる。そうすると光検出器Ｐの感度最低（
ダイノードの負高圧が最低）のときのＤＣ−ＤＣコンバ
ータの出力を抵抗Ｒ，Ｆｌ“で分圧した電圧（−Ｅ ］
、はこれよりも負側に充分高く選んである）がコンデン
サＣに保持される。波長設定完了後、スイッチＳ ｗ
１． Ｓ ｗ ２は接点す側に切換えられ、スイッチＢ
Ｗ ３はＯＦＦ、８ｗ４もＯＦ′ＥＩ＋のま＼とナル
。
イッチＳｗ３はＯＮとなる。感度記憶回路はダイオード
ｄとコンデンサＣとによりなり、コンデンサＣは予めス
イッチＳｗ４を介して負電圧−Ｅｌまで充電しであるｏ
ＡＧＣをかけて波長走査を行う間スイッチＳＷ４を開き
、８ｗ３を閉じる。そうすると光検出器Ｐの感度最低（
ダイノードの負高圧が最低）のときのＤＣ−ＤＣコンバ
ータの出力を抵抗Ｒ，Ｆｌ“で分圧した電圧（−Ｅ ］
、はこれよりも負側に充分高く選んである）がコンデン
サＣに保持される。波長設定完了後、スイッチＳ ｗ
１． Ｓ ｗ ２は接点す側に切換えられ、スイッチＢ
Ｗ ３はＯＦＦ、８ｗ４もＯＦ′ＥＩ＋のま＼とナル
。
この状態では誤差アンプＥＡの反転端子入力はＤＣＤＣ
コンバータの出力のＪＲＩによる分圧値であり、非反転
端子に印加される基準レベルはコンデンサＣに記憶され
た光検出器Ｐの最低感度に対スるＤＣ−ＤＣコンバータ
の出力のＲ，Ｒ’分圧値であるから、結局光検出器Ｐは
先に検出された最低感度を保つように制御されることに
なる。スイッチＳ Ｗ１〜Ｓｗ４はＣＰＵ２により所定
のプログラムでＯＮ、ＯＦＦされる。
コンバータの出力のＪＲＩによる分圧値であり、非反転
端子に印加される基準レベルはコンデンサＣに記憶され
た光検出器Ｐの最低感度に対スるＤＣ−ＤＣコンバータ
の出力のＲ，Ｒ’分圧値であるから、結局光検出器Ｐは
先に検出された最低感度を保つように制御されることに
なる。スイッチＳ Ｗ１〜Ｓｗ４はＣＰＵ２により所定
のプログラムでＯＮ、ＯＦＦされる。
第３図は本発明装置の動作を説明するグラフで、同図Ａ
でＰが目的とする輝線でその波長がλｐである０λｐ１
は装置上のλｐの位置であって、Δλｅが分光器の誤差
である。波長設定動作で、分光器は装置上のλｐ−−Ｈ
λ−λ１捷で移動し、そこからスリット幅を所定値にセ
ットし、ＡＣ）Ｃをかけてλｐ ＋−７λ−λ２まで波
長走査する。第３図Ｂがこの波長走査のダイヤグラムで
、今の場合がイ？ ローハで示されている。この間の測
光系の感度変化を第３図Ｃに示す。輝線のない所ではＡ
ＧＣの作用で感度は最大値で飽和している。分光器が輝
線位置に来ると、測光系に光が入るので、Ａ、 Ｇ、
Ｃの作用で感度が下り始め、分光器が輝線Ｐの中心に位
置したとき感度は最低になる。分光器がその位置を過ぎ
ると感度は再び上昇するから、感度は負のピークを形成
する。他方感度記憶回路ＭＶはこの最低感度を記憶して
いるから、分光器が第３図Ｂでハまで来た所で、ＡＧＣ
を解除し、ＭＶに記憶された感度を保ってハからニへ戻
すと、測光系の出力は第３図Ａに示すような輝線Ｐのピ
ークを出力する。ＣＰＵ２はこのピークの頂上を検出し
て、その位置で分光器を停止させる。
でＰが目的とする輝線でその波長がλｐである０λｐ１
は装置上のλｐの位置であって、Δλｅが分光器の誤差
である。波長設定動作で、分光器は装置上のλｐ−−Ｈ
λ−λ１捷で移動し、そこからスリット幅を所定値にセ
ットし、ＡＣ）Ｃをかけてλｐ ＋−７λ−λ２まで波
長走査する。第３図Ｂがこの波長走査のダイヤグラムで
、今の場合がイ？ ローハで示されている。この間の測
光系の感度変化を第３図Ｃに示す。輝線のない所ではＡ
ＧＣの作用で感度は最大値で飽和している。分光器が輝
線位置に来ると、測光系に光が入るので、Ａ、 Ｇ、
Ｃの作用で感度が下り始め、分光器が輝線Ｐの中心に位
置したとき感度は最低になる。分光器がその位置を過ぎ
ると感度は再び上昇するから、感度は負のピークを形成
する。他方感度記憶回路ＭＶはこの最低感度を記憶して
いるから、分光器が第３図Ｂでハまで来た所で、ＡＧＣ
を解除し、ＭＶに記憶された感度を保ってハからニへ戻
すと、測光系の出力は第３図Ａに示すような輝線Ｐのピ
ークを出力する。ＣＰＵ２はこのピークの頂上を検出し
て、その位置で分光器を停止させる。
以上の動作で波長設定が終り、同時に測光系の感度設定
も終っている。
も終っている。
へ・効果
本発明分光分析装置は上述したような構成で分光器の波
長設定の誤差修正が自動的にかつ速かに完了し、併せて
感度設定も自動的に完了するので分析操作が大へん簡単
になる。壕だ測光系の感度設定終了後、その感度が高湿
ぎだときは、波長走査を行った範囲内に目的とする輝線
が存在しなかったことを意味するので、波長設定のミス
ｒ分光器駆動系、スリット駆動系の誤動作、故障と判定
でき、トラブルの発見に役立てることもできる。
長設定の誤差修正が自動的にかつ速かに完了し、併せて
感度設定も自動的に完了するので分析操作が大へん簡単
になる。壕だ測光系の感度設定終了後、その感度が高湿
ぎだときは、波長走査を行った範囲内に目的とする輝線
が存在しなかったことを意味するので、波長設定のミス
ｒ分光器駆動系、スリット駆動系の誤動作、故障と判定
でき、トラブルの発見に役立てることもできる。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は同実
施例におけるＡＧＣ回路の回路図、第３図は本発明分光
分析装置の波長設定動作時の動作を説明するグラフであ
る。 コ−・・・光源、Ｆ・・・試料原子化用炎、ＭＣ・・・
分光器、ＭＶ・・・感度記憶回路。 代理人 弁理士 鮭 浩 弁 箱つ図 １１ 光
施例におけるＡＧＣ回路の回路図、第３図は本発明分光
分析装置の波長設定動作時の動作を説明するグラフであ
る。 コ−・・・光源、Ｆ・・・試料原子化用炎、ＭＣ・・・
分光器、ＭＶ・・・感度記憶回路。 代理人 弁理士 鮭 浩 弁 箱つ図 １１ 光
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 分光器を装置上の目的波長位置付近まで移動さ七 １１その位置でスリット幅を所定値に設定し、測光系の
出力が所定値になるように測光系にＡＧＣをかけつ＼、
分光器に小波長範囲で波長走査をさせ、測光系の感度が
最低になる位置を検出して分光器をその位置に停止させ
ると共に、上記測光系の最低感度を記憶し、その記憶に
よって測光系の感度を記憶された感度に保持するように
しだ分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11059584A JPS60252228A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11059584A JPS60252228A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60252228A true JPS60252228A (ja) | 1985-12-12 |
| JPH0434691B2 JPH0434691B2 (ja) | 1992-06-08 |
Family
ID=14539835
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11059584A Granted JPS60252228A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60252228A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
-
1984
- 1984-05-29 JP JP11059584A patent/JPS60252228A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0434691B2 (ja) | 1992-06-08 |
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