JP2526594B2 - スキャニング・デンシトメ−タ - Google Patents
スキャニング・デンシトメ−タInfo
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- JP2526594B2 JP2526594B2 JP18994787A JP18994787A JP2526594B2 JP 2526594 B2 JP2526594 B2 JP 2526594B2 JP 18994787 A JP18994787 A JP 18994787A JP 18994787 A JP18994787 A JP 18994787A JP 2526594 B2 JP2526594 B2 JP 2526594B2
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- wavelength
- scanning
- sample
- spectroscope
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、薄層クロマト（TLC）プレートや電気泳動
プレートなどの試料プレートに光源からの光を分光器で
分光して試料プレートに照射するとともに、その照射位
置を試料プレート上で走査させ、試料プレート上に展開
した試料スポットによる照射光の吸収又は発光を測定す
るスキャニング・デンシトメータに関するものである。
プレートなどの試料プレートに光源からの光を分光器で
分光して試料プレートに照射するとともに、その照射位
置を試料プレート上で走査させ、試料プレート上に展開
した試料スポットによる照射光の吸収又は発光を測定す
るスキャニング・デンシトメータに関するものである。
（従来の技術） 第１図は本発明を表わすものであるが、この図を用い
てスキャニング・デンシトメータを説明する。
てスキャニング・デンシトメータを説明する。
２は光源、４は分光器であり、分光器４によって所定
の波長に分光された光が反射鏡６で反射されて薄層クロ
マトプレートなどの試料プレート８上に照射される。試
料プレート８上には走査レール28に沿って展開した試料
スポット10が配列されている。
の波長に分光された光が反射鏡６で反射されて薄層クロ
マトプレートなどの試料プレート８上に照射される。試
料プレート８上には走査レール28に沿って展開した試料
スポット10が配列されている。
試料プレート８を照射する照射光の位置は走査レーン
28に沿って一方向的又はジクザグ的に走査される。そし
て試料プレート８上の照射位置からの反射光12が検出器
14によって検出され、又は透過光16が検出器18によって
検出されることにより、各試料スポット10の大きさが定
量される。
28に沿って一方向的又はジクザグ的に走査される。そし
て試料プレート８上の照射位置からの反射光12が検出器
14によって検出され、又は透過光16が検出器18によって
検出されることにより、各試料スポット10の大きさが定
量される。
従来のデンシトメータでは、分光器４の設定波長は所
定の波長に固定されている。
定の波長に固定されている。
（発明が解決しようとする問題点） いま、第２図に示されるように試料プレートである薄
層クロマトプレート８上に５個の試料スポット10−１〜
10−５が展開されているものとする。そして、各試料ス
ポット10−１〜10−５の吸収スペクトルが第３図に20−
１〜20−５として示されるものであるとする。この場
合、従来のように分光器４で設定された１つの波長で走
査を行なうと、いくつかの試料スポットでは吸光度が小
さくなり、定量性が悪くなる。
層クロマトプレート８上に５個の試料スポット10−１〜
10−５が展開されているものとする。そして、各試料ス
ポット10−１〜10−５の吸収スペクトルが第３図に20−
１〜20−５として示されるものであるとする。この場
合、従来のように分光器４で設定された１つの波長で走
査を行なうと、いくつかの試料スポットでは吸光度が小
さくなり、定量性が悪くなる。
そして、これまで試料スポットに応じて照射光の波長
を可変にするスキャニング・デンシトメータは知られて
いない。
を可変にするスキャニング・デンシトメータは知られて
いない。
本発明は展開された各試料スポットの最大吸収波長で
定量できるようにするスキャニング・デンシトメータを
提供することを目的とするものである。
定量できるようにするスキャニング・デンシトメータを
提供することを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段） 本発明では、各試料スポットごとにその最大吸収波長
の光を照射できるように、分光器の設定波長を切り換え
る走査レーン上の複数の位置と、それぞれの位置での分
光器の設定波長を記憶する波長切換え設定部を設け、こ
の波長切換え設定部に従って分光器の波長を切り換え
る。
の光を照射できるように、分光器の設定波長を切り換え
る走査レーン上の複数の位置と、それぞれの位置での分
光器の設定波長を記憶する波長切換え設定部を設け、こ
の波長切換え設定部に従って分光器の波長を切り換え
る。
第１図により本発明を説明すると、光源２、分光器
４、試料プレート８を移動させる試料ステージとその移
動機構、及び検出器14,18を備えているスキャニング・
デンシトメータにおいて、波長切換え設定部22を設け
る。
４、試料プレート８を移動させる試料ステージとその移
動機構、及び検出器14,18を備えているスキャニング・
デンシトメータにおいて、波長切換え設定部22を設け
る。
（実施例） 波長切換え設定部22は、例えば第４図に示されるよう
にマイクロコンピュータシステム24によって実現するこ
とができる。マイクロコンピュータシステム24には分光
器４の波長の切換えを行なう走査レーン上の位置と、各
位置での設定波長とを、例えばキーボード26からCRT対
話方式で入力することができる。
にマイクロコンピュータシステム24によって実現するこ
とができる。マイクロコンピュータシステム24には分光
器４の波長の切換えを行なう走査レーン上の位置と、各
位置での設定波長とを、例えばキーボード26からCRT対
話方式で入力することができる。
また、検出器14,18からの信号を入力し、後で説明す
るようにその信号から自動的に波長の切換え位置とその
設定波長を算出し、記憶させるようにすることもでき
る。そして、その記憶された切換え位置と設定波長に従
って分光器４の波長が切り換えられていく。
るようにその信号から自動的に波長の切換え位置とその
設定波長を算出し、記憶させるようにすることもでき
る。そして、その記憶された切換え位置と設定波長に従
って分光器４の波長が切り換えられていく。
第５図に薄層クロマトプレート８とその表面に展開さ
れた試料スポット10−１〜10−４を示す。試料スポット
10−１〜10−４は走査レーン28に沿って展開されてい
る。分光器を経た光の照射は走査レーン28に沿って走査
される。この走査の途中において、波長切換え設定部22
であるマイクロコンピュータシステム24に設定された位
置Y1,Y2,……において分光器４の設定波長をλ1,λ2,…
…と切り換えていき、その切り換えられた波長で吸光度
の測定を行なう。
れた試料スポット10−１〜10−４を示す。試料スポット
10−１〜10−４は走査レーン28に沿って展開されてい
る。分光器を経た光の照射は走査レーン28に沿って走査
される。この走査の途中において、波長切換え設定部22
であるマイクロコンピュータシステム24に設定された位
置Y1,Y2,……において分光器４の設定波長をλ1,λ2,…
…と切り換えていき、その切り換えられた波長で吸光度
の測定を行なう。
走査レーン28に沿う試料スポット10−１〜10−４の走
査は、第６図に示されるようなリニア方式でもよく、第
７図に示されるようなジクザグ方式でもよい。
査は、第６図に示されるようなリニア方式でもよく、第
７図に示されるようなジクザグ方式でもよい。
波長切換え位置ではＹ軸方向（走査レーンの方向）の
走査を停止して波長切換えを実行する。また、波長切換
え後は第８図にR1〜R3で示されるようにピーク検出がリ
セットされ、すなわち、R1〜R3から新たにピーク検出が
始められるようにし、波長切換えによって生じる段差の
分がピーク30−1,30−2,……に含まれないようにする。
走査を停止して波長切換えを実行する。また、波長切換
え後は第８図にR1〜R3で示されるようにピーク検出がリ
セットされ、すなわち、R1〜R3から新たにピーク検出が
始められるようにし、波長切換えによって生じる段差の
分がピーク30−1,30−2,……に含まれないようにする。
次に、本発明の具体的な動作について説明する。
波長切換え設定部22であるマイクロコンピュータシス
テム24の設定をキーボード26などから入力する場合の動
作を第９図に示す。
テム24の設定をキーボード26などから入力する場合の動
作を第９図に示す。
まず、複数の成分を混合した標準試料を用意し、特定
波長で走査する（ステップS1）。これを予備走査と称
す。
波長で走査する（ステップS1）。これを予備走査と称
す。
各試料スポット10でクロマトピークが得られるので、
各試料スポット10のクロマトピーク位置で分光器４を走
査することにより吸収スペクトルを測定する（ステップ
S2）。
各試料スポット10のクロマトピーク位置で分光器４を走
査することにより吸収スペクトルを測定する（ステップ
S2）。
各試料スポット10の吸収スペクトルのピーク波長を読
み取り、その波長と各試料スポット10の手前のＹ位置と
をキーボード26からマイクロコンピュータシステム24に
入力する（ステップS3）。これで分光器４の波長切換え
を行なうテーブルが入力されたことになる。
み取り、その波長と各試料スポット10の手前のＹ位置と
をキーボード26からマイクロコンピュータシステム24に
入力する（ステップS3）。これで分光器４の波長切換え
を行なうテーブルが入力されたことになる。
その後、測定試料をステージに設置し、本走査を行な
う（ステップS4）。
う（ステップS4）。
次に、マイクロコンピュータシステム24が検出器14,1
8の信号を取り込んで波長切換え設定部22のテーブルを
自動的に入力する場合を第10図により説明する。
8の信号を取り込んで波長切換え設定部22のテーブルを
自動的に入力する場合を第10図により説明する。
標準試料を設置し、特定波長で予備走査を行なうと、
マイクロコンピュータシステム24は各試料スポット10の
クロマトピーク位置を検出する（ステップS11,S12）。
マイクロコンピュータシステム24は各試料スポット10の
クロマトピーク位置を検出する（ステップS11,S12）。
次に照射点が最初のクロマトピーク位置にセットさ
れ、（ステップS13）、分光器４が走査されてスペクト
ルが測定される（ステップS14）。そのスペクトルの測
定結果をマイクロコンピュータシステム24が入力し、ベ
ースブランクを引算した結果からスペクトルのピーク検
出を行ない、ピーク波長を算出する（ステップS15）。
クロマトピーク位置やスペクトルピーク波長を算出する
プログラムは既によく知られている。
れ、（ステップS13）、分光器４が走査されてスペクト
ルが測定される（ステップS14）。そのスペクトルの測
定結果をマイクロコンピュータシステム24が入力し、ベ
ースブランクを引算した結果からスペクトルのピーク検
出を行ない、ピーク波長を算出する（ステップS15）。
クロマトピーク位置やスペクトルピーク波長を算出する
プログラムは既によく知られている。
ピーク波長を算出するプロセスは全ての標準試料クロ
マトピークに対して行なわれる（ステップS16→S17,S1
4,S15）。
マトピークに対して行なわれる（ステップS16→S17,S1
4,S15）。
波長切換え位置を算出するために、予備走査で得たク
ロマトピーク位置のデータが用いられ、例えばクロマト
ピークの立上りから指定した一定量手前の位置で切り換
えるように波長切換え位置が設定される（ステップS1
8）。そして波長切換え位置とピーク波長がテーブルと
してマイクロコンピュータシステム24のメモリに記憶さ
れる（ステップS19）。
ロマトピーク位置のデータが用いられ、例えばクロマト
ピークの立上りから指定した一定量手前の位置で切り換
えるように波長切換え位置が設定される（ステップS1
8）。そして波長切換え位置とピーク波長がテーブルと
してマイクロコンピュータシステム24のメモリに記憶さ
れる（ステップS19）。
その後、測定試料をステージに設置し、本走査を行な
う（ステップS20）。
う（ステップS20）。
標準試料について切換え位置と設定波長を設定した後
は、測定試料を交換し、その設定された位置と波長に従
って分光器４を切り換えながら繰り返し測定を行なうこ
とができる。
は、測定試料を交換し、その設定された位置と波長に従
って分光器４を切り換えながら繰り返し測定を行なうこ
とができる。
（発明の効果） 本発明では光源からの光を分光器で分光して試料プレ
ートに照射するとともに、その照射位置を試料プレート
上で走査させ、試料プレート上に展開した試料スポット
による照射光の吸収又は発光を測定するスキャニング・
デンシトメータにおいて、前記分光器の設定波長を切り
換える走査レーン上の複数の位置と、それぞれの位置で
の前記分光器の設定波長を記憶する波長切換え設定部を
設け、この波長切換え設定部に従って前記分光器の波長
を切り換えるようにしたので、定量しようとするスポッ
トの最大吸収波長に分光器の設定波長を切り換えながら
測定を行なうことができるので、定量しようとする全て
の試料に対して検出限界や定量限界が向上する。
ートに照射するとともに、その照射位置を試料プレート
上で走査させ、試料プレート上に展開した試料スポット
による照射光の吸収又は発光を測定するスキャニング・
デンシトメータにおいて、前記分光器の設定波長を切り
換える走査レーン上の複数の位置と、それぞれの位置で
の前記分光器の設定波長を記憶する波長切換え設定部を
設け、この波長切換え設定部に従って前記分光器の波長
を切り換えるようにしたので、定量しようとするスポッ
トの最大吸収波長に分光器の設定波長を切り換えながら
測定を行なうことができるので、定量しようとする全て
の試料に対して検出限界や定量限界が向上する。
第１図は本発明を示す概略図、第２図は試料スポットが
展開された薄層クロマトプレートを示す平面図、第３図
は各試料スポットの吸収スペクトルを示す図、第４図は
一実施例を示すブロック図、第５図は波長切換えの例を
示す概略図、第６図はリニア方式の走査を示す概略図、
第７図はジグザグ方式の走査を示す概略図、第８図は一
実施例により波長切換えが行なわれたクロマトグラムを
示す波形図、第９図は波長切換えの条件をマニュアルで
設定する場合の動作を示すフローチャート、第10図は波
長切換えの条件を自動的に入力する場合の動作を示すフ
ローチャートである。 ２……光源、 ４……分光器、 ８……薄層クロマトプレート、 10……試料スポット、 14,18……検出器、 22……波長切換え設定部、 24……マイクロコンピュータシステム、 26……キーボード、 28……走査レーン。
展開された薄層クロマトプレートを示す平面図、第３図
は各試料スポットの吸収スペクトルを示す図、第４図は
一実施例を示すブロック図、第５図は波長切換えの例を
示す概略図、第６図はリニア方式の走査を示す概略図、
第７図はジグザグ方式の走査を示す概略図、第８図は一
実施例により波長切換えが行なわれたクロマトグラムを
示す波形図、第９図は波長切換えの条件をマニュアルで
設定する場合の動作を示すフローチャート、第10図は波
長切換えの条件を自動的に入力する場合の動作を示すフ
ローチャートである。 ２……光源、 ４……分光器、 ８……薄層クロマトプレート、 10……試料スポット、 14,18……検出器、 22……波長切換え設定部、 24……マイクロコンピュータシステム、 26……キーボード、 28……走査レーン。
Claims (1)
- 【請求項１】光源からの光を分光器で分光して試料プレ
ートに照射するとともに、その照射位置を試料プレート
上で走査させ、試料プレート上に展開した試料スポット
による照射光の吸収又は発光を測定するスキャニング・
デンシトメータにおいて、前記分光器の設定波長を切り
換える走査レーン上の複数の位置と、それぞれの位置で
の前記分光器の設定波長を記憶する波長切換え設定部を
設け、この波長切換え設定部に従って前記分光器の波長
を切り換えることを特徴とするスキャニング・デンシト
メータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18994787A JP2526594B2 (ja) | 1987-07-28 | 1987-07-28 | スキャニング・デンシトメ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18994787A JP2526594B2 (ja) | 1987-07-28 | 1987-07-28 | スキャニング・デンシトメ−タ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6432149A JPS6432149A (en) | 1989-02-02 |
| JP2526594B2 true JP2526594B2 (ja) | 1996-08-21 |
Family
ID=16249862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18994787A Expired - Lifetime JP2526594B2 (ja) | 1987-07-28 | 1987-07-28 | スキャニング・デンシトメ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2526594B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100216990B1 (ko) * | 1996-10-05 | 1999-09-01 | 윤종용 | 복수개의 구멍이 형성된 폴리이미드 테이프를 이용한 리드 온 칩 구조 |
| EP1333273A4 (en) * | 2000-11-10 | 2011-04-06 | Arkray Inc | MEASURING METHOD AND INSTRUMENT COMPRISING AN IMAGE SENSOR |
-
1987
- 1987-07-28 JP JP18994787A patent/JP2526594B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6432149A (en) | 1989-02-02 |
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