JPS60239752A - フオトマスク若しくはレチクル - Google Patents

フオトマスク若しくはレチクル

Info

Publication number
JPS60239752A
JPS60239752A JP59095587A JP9558784A JPS60239752A JP S60239752 A JPS60239752 A JP S60239752A JP 59095587 A JP59095587 A JP 59095587A JP 9558784 A JP9558784 A JP 9558784A JP S60239752 A JPS60239752 A JP S60239752A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photomask
data
reticle
read
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59095587A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiharu Nakamura
義治 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP59095587A priority Critical patent/JPS60239752A/ja
Publication of JPS60239752A publication Critical patent/JPS60239752A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/38Masks having auxiliary features, e.g. special coatings or marks for alignment or testing; Preparation thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は半導体製造用のフォトマスク若しくはレチクル
に関するものである。
〔従来技術〕
第1図及び第2図に示すように、従来のフォトマスク(
若しくはレチクル)lにマスク届等のデータ3を記入す
る場合黙読しやすい様に転写領域2の外側に直線状に記
入されていた。そのため、マスクA等のデータ3の自動
読み取りを行なおうとすると、第3図或いは第4図に示
すように、読み取り用センサ4或いはフォトマスク(若
しくはレチクル)1をモータ5及び直進1機構6等用い
て直進移動させるか、又は第5図に示すようにデータ3
全部を一度に読み取る事が出来るセンサ7を備えること
が必要となる。従って、自動読み取りのための機構が複
雑で、高価になってしまう欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、マスク若しくはレチクル届等のデータ
の自動読み取り装置の構造を簡単にでき、かつ安価にす
ることが可能なフォトマスク若しくはレチクルを提供す
ることにある。
本発明に係るフォトマスク若しくはレチクルは、上記目
的を達成するために、ウェハーに転写されるべき領域外
の周辺部にマスク届等の諸データを円弧状に配置したも
のであり、該フォトマスク若しくはレチクルを回転させ
るだけで上記諸データの自動読み取りを可能とするもの
である。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら説
明する。
第6図は本発明の一実施例の平面図である。同図に示す
フォトマスク(若しくはレチクル) 11は円形であり
、その中央部に略円形のウェハー転写領域12(実素子
パターンの在る領域)を有している。ウェハー転写領域
12外の周辺部には、フォトマスク11の中心Cを中心
とした円Sに沿って、マスクN6等のデータ13が円弧
状に配置しである。
第7図及び第8図に本発明の他の実施例を示す。第7図
はフォトマスク21が四角形でウェハー転写領域12が
略円形の場合、第8図はフォトマスク21及びウェハー
転写領域22の双方が四角形の場合である。いずれの場
合にも第6図と同様に、中心Cを中心とした円Sに沿っ
て、マスク届等のデータ13が円弧状に配置しである。
次に、上述したデータ13を読み取るための手段の一例
を第9図に示す。同図では、第6図に示したフォトマス
ク11に円弧状に配設されたA、B。
D等のデータ13を、読み取りセンサ30で読み取るよ
うにしである。ここで、フォトマスク11は既知のマス
ク吸着ホルダ31によって支持されている。
マスク吸着ホルダ31は回転モータ32の回転により、
矢印M方向に回転する。この場合の回転中心とフォトマ
スク11の中心Cとが一致する。これらの回転手段は、
露光装置の本体に対してフォトマスク11を位置合わせ
する際に使用されるものであり、これを利用してデータ
13を読み取るものである。この場合には、読み取りセ
ンサ30を所定位置に固定して設けるだけで済む。回転
モータ31を回転させるだけで、読み取りセンサ30が
円弧状に配置されたデータ13を読み取ることができる
なお、上述したようなフォトマスク若しくはレチクル号
等のデータとしては、数字、記号等の他にバーコードで
あってもよい。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したように、フォトマスク若しくは
レチクルのウェハー転写領域外の周辺部に諸データを円
弧状に配設したものである。そのため、上記データを読
み取るための複雑な手段を必要とせず、また回転できる
だけの最小限の空間しか必要としない、更に、マスクチ
ェンジャー等と組合せることにより、マスク交換時に使
用マスク遂の再チェックや装置へのマスク#11L等の
データインプットを非常に容易に行うことができるよう
になる。このように本発明は非常に優れた効果を奏する
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来のフォトマスク(若しくはレチ
クル)の−例を示す平面図、第3〜第5図は従来のデー
タ読み取り手段を示す概略図、第6〜第8図はそれぞれ
本発明の一実施例を示す平面図、第9図は本発明に係る
フ・オドマスク(若しくはレチクル)に゛配設されたデ
ータを読み取るための手段を示す一部断面斜視図である
。 11 、21−−−フォトマスク(若しくはレチクル)
、12.22−−−ウェハー転写領域、 13−−−マスクA等のデータ。 3 第1図 第3図 第2図 第4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体製造用のフォトマスク若しくはレチクルにおいて
    、ウェハーに転写されるべき領域外の周辺部に諸データ
    を円弧状に配置したことを特徴とするフォトマスク若し
    くはレチクル。
JP59095587A 1984-05-15 1984-05-15 フオトマスク若しくはレチクル Pending JPS60239752A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59095587A JPS60239752A (ja) 1984-05-15 1984-05-15 フオトマスク若しくはレチクル

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59095587A JPS60239752A (ja) 1984-05-15 1984-05-15 フオトマスク若しくはレチクル

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60239752A true JPS60239752A (ja) 1985-11-28

Family

ID=14141711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59095587A Pending JPS60239752A (ja) 1984-05-15 1984-05-15 フオトマスク若しくはレチクル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60239752A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0519448A (ja) 半導体装置製造用フオトレテイクル
RU93048165A (ru) Устройство для производства шаблонов для дисковых носителей данных
JPH0464454B2 (ja)
JPS60239752A (ja) フオトマスク若しくはレチクル
US5237393A (en) Reticle for a reduced projection exposure apparatus
JPS61131438A (ja) 露光ネ−ミング装置
JPH02135343A (ja) マスク
JPS60240126A (ja) フオトマスク若しくはレチクル
JPS62157035A (ja) マスク板の製造方法
JPH11338001A (ja) カメラの絞り機構
JPH036436Y2 (ja)
JP2977471B2 (ja) ウエハのアラインメントマークの配置方法
SU853596A1 (ru) Проекционное устройство дл черчени СВЕТОВыМ лучОМ
JPS58169149A (ja) ホトマスク
JPS5848124Y2 (ja) シヤシンシヨクジキニオケル カイテンデイスクガタモジバン
JPS6016423A (ja) 文字記号形成法
JPS6120563U (ja) ロ−タリピストンエンジンのロ−タハウジングのフオトエツチング用露光装置
SU1341049A1 (ru) Печатающее устройство
JPH0231412A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS62264052A (ja) 露光用マスク
JPS59146444A (ja) 磁気デイスク
JPH0495956A (ja) リソグラフィマスク及びマスクパターン転写方法
JPH0222533B2 (ja)
JPS63118229U (ja)
JPH05335214A (ja) 光投影露光方法