JPS6022353Y2 - ホトマスク - Google Patents

ホトマスク

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JPS6022353Y2
JPS6022353Y2 JP1979105506U JP10550679U JPS6022353Y2 JP S6022353 Y2 JPS6022353 Y2 JP S6022353Y2 JP 1979105506 U JP1979105506 U JP 1979105506U JP 10550679 U JP10550679 U JP 10550679U JP S6022353 Y2 JPS6022353 Y2 JP S6022353Y2
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Japan
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pattern
metal
photomask
patterns
island
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Expired
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JP1979105506U
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JPS5623936U (ja
Inventor
伸樹 河村
Original Assignee
富士通株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、半導体装置の製造工程に用いられるホトマス
クに関する。
ガラス基板等のマスク基板表面に被着されたクロム金属
等の金属薄膜に所定の島状マスクパターンが形成された
ホトマスクは通常、保管あるいは運搬移動の際に前記マ
スクパターンが汚損されるのを防止するために5ili
tect U■(CONTROLYNE社製)等の有機
樹脂保護皮膜を前記金属マスクパターン表面に被着して
いる。
該有機樹脂絶縁保護皮膜は、ホトリソグラフィ一工程に
おいてマスクパターンを露光転写する工程の際には剥離
しなければならない。
この絶縁保護膜をホトマスク基板表面より剥離する際の
摩擦等により前記金属パターンが帯電する現象がある。
また、ホトマスクパターンの露光転写の際に、前記ホト
マスクの金属パターン表面と被加工物基板上に塗布され
たホトレジスト層とを密着し、露光した後分離する過程
で金属パターンが帯電する。
このように帯電しやすい前記ホトマスクの金属パターン
が50乃至100〔μm〕程度の間隔で島状に形成され
ている場合、上述の帯電により各金属パターンに蓄積さ
れた電荷は各金属パターン間及び金属パターンと剥離す
る前記有機保護膜との間で放電を生じ、転写されるべき
金属パターンを破損する問題がある。
本考案は、このような放電による転写パターンの破損を
防止したホトマスクを提案するもので、マスク基板表面
に形成された島状金属マスクパターン間を電気的に接続
する補助金属パターンが該島状金属マスクパターン自身
より突出して設けられたことを特徴とする。
以下本考案を実施例に基づき図面を参照して詳細に説明
する。
第1図は本考案による一実施例を示す図で、ガラス基板
等のマスク基板1上にクロム金属等から成る所定形状の
金属パターンが形成されている。
該金属パターンは露光により被加工物上のホトレジスト
層に露光転写されるべき転写パターン部2と、該転写パ
ターン部に対して実質的には影響を及ぼさない程度の突
起形状の補足金属パターン部3とから形成されている。
該突起形状の補足金属パターンと隣接する金属パターン
の補足金属パターンとの間隔は前記転写パターン2間の
間隔より狭く、従って蓄積された電荷の放電は前記突起
状補足パターン3間で生じ、従って転写パターンの放電
による破損を防止することができる。
第2図は本考案による他の実施例を示す図で、マスク基
板1上に島状に形成された各転写パターン2間を、該転
写パターン2に実質的に影響を及ぼさない程度の細い線
状の補足金属パターン3で連結されている。
従って各島状の転写パターン2間は電気的に接続された
状態であるため、各転写パターン2間で放電を生ずるこ
とはな(、放電による破損を防止することができる。
上述の如く、本考案によればガラス基板上に分離形成さ
れた島状の金属パターンに蓄積された電荷の放電による
転写パターンの破損は前記各転写パターン間が補助パタ
ーンにより電気的に接続されているので、防止される利
点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案による一実施例、第2図は本考案による
他の実施例を示す図である。 1・・・・・・マスク基板、2・・・・・・転写パター
ン、3・・・・・・補足パターン。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. マスク基板表面に形成された島状金属マスクパターン間
    を電気的に接続する補助金属パターンが該島状金属マス
    クパターン自身より突出して設けられたことを特徴とす
    るホトマスク。
JP1979105506U 1979-07-31 1979-07-31 ホトマスク Expired JPS6022353Y2 (ja)

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JPS5623936U JPS5623936U (ja) 1981-03-04
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2008111198A1 (ja) * 2007-03-14 2008-09-18 Fujitsu Microelectronics Limited フォトマスク
JP4993113B2 (ja) * 2007-11-14 2012-08-08 大日本印刷株式会社 フォトマスク
JP2009128558A (ja) * 2007-11-22 2009-06-11 Hoya Corp フォトマスク及びフォトマスクの製造方法、並びにパターン転写方法

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JPS5623936U (ja) 1981-03-04

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