JPS6020142A - Isfetセンサ−の実装方法 - Google Patents

Isfetセンサ−の実装方法

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JPS6020142A
JPS6020142A JP58129157A JP12915783A JPS6020142A JP S6020142 A JPS6020142 A JP S6020142A JP 58129157 A JP58129157 A JP 58129157A JP 12915783 A JP12915783 A JP 12915783A JP S6020142 A JPS6020142 A JP S6020142A
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JP
Japan
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resin
cavity
gate
elastic material
substrate
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JP58129157A
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JPH0331384B2 (ja
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Katsuhiko Tomita
冨田 勝彦
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Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403Cells and electrode assemblies
    • G01N27/414Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS

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  • Pathology (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用性〉 本発明は、l5FET (イメン選択性)センサーの実
装方法に関し、殊にl5FETナツプのゲート部分を外
部に露出した状態で他の部分を量産性よく樹脂封止する
ことのできる方法の提案に関する。
〈従来技術〉 l5FETセンづ−は、電界効果型トランジスタ(FE
T)のゲート部分を水溶液に接触させて液中のイオン(
H” 、 Na+、 Kj etc )をセンシングす
るものである。従って、実装に際してもゲートを外部に
露出する必要がある。このため、チップ全体を樹脂封止
する一般の半導体の実装方法を適用することができない
ので、従来は第1図に示すように、プラスチックチュー
ブ1の中にl5FETチツプ2をマウントして、シリコ
ン樹脂3で固定し、しかる後ゲート0部分以外を手作業
によって接着剤を塗布するという方法によっている。而
して、手作業によって実装するものであるから、量産性
に著しく欠けるものであるのに加えて、l5FETチツ
プのゲート部は数μ〜数十μの微少な部分でかつ数千人
の薄膜であるため、傷つきやすく、微少な汚れによって
精度を悪くする傾向があり、従って手作業による実装方
法ではl5FETセンサーの性能の均質性、信頼性を損
うことが多々あった。
ぐ発明の目的さ そこで本発明は、量産性、信頼性高(ISFE’l’セ
ンサーを樹脂封止できる実装方法を提供するものである
く発明の構成〉 間して本発明に係るI S F E i’センサーの実
装方法は、基板にl5FETナツプをマウントしたもの
を、キャビティ又は枠の中に形成された樹脂封入空間に
挿入すると共に、前記キャビティ又は枠の中に弾性材料
を組み入れて、該弾性材料自体で若しくはキャビティの
一部でl5FETのゲート又はぞのI+’;I囲を弾性
押圧して樹脂がゲート上に侵入しないようにし、しかる
後樹脂封入空間に樹脂を封入するようにしたことを要旨
としている。
以下、本発明方法の実施例を図面に基ついて説明する。
〈実施例1ン 第2図において、1oは基板、11は基板10の端部片
iruにマウントされたl5FETチッフ;12は内部
に樹脂八人空間Aを有したギャビテーrである。前記基
板10はアルミナ、プリント板、フレキシブルフリント
板等からなり、片面には況焼付電極又はCa微細パター
ン配線が設けられている。この基板10の右端にはリー
ド線13が半田等で接続しである。
また左端側にはその上にマウントされたl5FETチツ
プ11の電極と基板10の電極との間を金属細線14で
ワイヤボンディングしである。そして、ワイヤボンディ
ング部分を細線保護層15でコートしである。また、l
5FETデツプ11はゲート部16を除き、その周囲が
パッシベーション膜17でコートしである。
前記キャビティ12は上下に2分割18.19され、そ
の間に弾性材料20が組込まれている。上側キャビティ
18と下側キャビティ19の対向する箇所は樹脂封入空
間A内に向けて膨出され、この膨出部分21.22が前
記弾性材料20の弾性力によってI S I”ETチッ
プ11のゲート部分16を適度な力で弾性押圧している
。この抑圧によって、樹脂を空間Aに封入する除、樹脂
がゲート部16に侵入するのを防止できる。尚この実施
例においては、下側キャビティの膨出部分22であって
、l5FETのゲート部16に対応する箇所に空@23
を形成し、ゲート部16自体ハJ111圧ゼず、その1
1#1囲を押圧するようにしている。
これは、キャビティ12が通常金属で構成されるので、
ケート部を押圧することによる傷付きを避けるためであ
る。前記弾性相*120は樹脂と接触する部分もあるた
め、i#j熱性があり、かつ不活性なものとして例えば
シリコンゴムや硬質ポリウレタン等を用いるのがよい。
樹脂封入空m」Aに樹脂を注入するには、上記の如< 
l5FETチツプのゲート部16に樹脂が侵入しないよ
うにした状態とした後に行なう。樹脂の注入はキャビテ
ィ12の側方に設りた導入孔24より行なえはよい。樹
脂としては、態様耐湿性接着剤、有機系接着剤(例えば
エポキシ、シリコーン、ポリイシド、シリコーン−エポ
キシ、シリコーン・ポリイシド%)を用いることができ
る。注入した樹脂が硬化すれは、上側キャビティと、下
側キャビティを分離し、実装完了した構造体を取り出せ
ばよい。
第3図乃至第7図は本発明の他の実l1fli例を示す
そのうち第3図は、キャビティ12には膨出部分を形成
せず、膨出部分と同様な働きをする挟圧部材5をウド性
材料で作り、それをキャビティ12の中に組込んだもの
である。この場合挟圧部材部が弾力性があるため、l5
FETチツプのゲート部16を傷イ・」けるおそれかな
いので、該ゲート部に直接抑圧作用させることができる
。挟圧部材25の側面視図を第4図に示す。挟圧部材2
5の材料としては上記実施例と同様、シリコーンゴム等
を用いることができる。
第5図は、基板1oの一端を延長して基板の両端を上側
キャビティ18と一ト側キャビテ伺9とで挾んで基板1
0の位置決めを行なった状態で、下側キャビディ19の
中に組込んだ弾性材料からなる押圧部狗26でl5FE
Tチツプのゲート部16を押圧したものである。この実
施例では、基板1oがキャビティによって両端支持され
るので第3図に示したような挟圧部材が不要となるので
ある。尚、」二側キャビティと下側キャビティとの間に
は第2図に示したと同じ弾性材料2oが介在されている
第6図及び第7図は上記各実施例と異なり、キAヒデイ
を用いず、代りに枠27を用いた実施例を示す。第6図
のものは、枠27の中に、第2図に示したキャビティと
同様なル状に形成した弾性拐料羽を組込んだものである
。但し、騒出部勿29.30も弾性、にI刺でできてい
るため、ゲート部16を傷付りるおそれがないので、直
接今一ト都16を押圧するようにしている。
第7図のものは、枠27の中の一端に弾性材料31を組
込み、この弾性材料31の中にl5FETチツプ月及び
基板10の一端を差込んだものである。差込み徂(J1
ゲート都16に樹脂が侵入し/iいよう適当に選ぶ必要
がある。
く発明の効果〉 V七に述べたように本発明に係るl5FEi’センザー
の実装方法によれば、基板にl5FETデツプをマウン
トしたものをキャヒテイ名しくは枠の中のイ貞J胆旧人
空間に挿入し、ゲート部に41:j Iliが侵入しな
い状pシとした後、樹脂を封入空間に封入するものであ
るから、ゲート部を露出己ゼ、銭りを樹11!f %−
ルドするという特殊な実装方法を手作業に頼ることなく
行なうことができる。従って、且産性に優れているし、
また弾性材料のキャビティ等への組込みによってゲート
部を傷付けたり、汚したりすることなく実装することが
できるため信頼性の高いセンサーを得ることができると
いった効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の実装方法によって製作されたIsB −
B IQ:面図、第4図は第3図中の挟圧部材を示す図
、第5図乃至第7図は夫々本発明の更に他の各実施例を
示す正面断面図である。 10・・・基板、11・・・l5FETチツプ、12−
・・キャビティ、27−・・枠、20 、25 、26
 、28 、31・=弾性材FI、A・・・樹脂封入空
間。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板にl5FE1’チツプをマウントしたものを、キャ
    ピティ又は枠の中に形成された樹脂封入空間に挿入する
    と共に、前記キャピティ又は枠の中に弾性拐料を組み入
    れて、該弾性材料自体で若しくはキャピティの一部でl
    5FETのゲート又はその周囲を弾性押圧して樹脂がゲ
    ート上に侵入しないようにし、しかる後樹脂封入空間に
    樹脂を封入するようにしたことを特徴とするIs)’E
    Tセンサーの実装方法。
JP58129157A 1983-07-14 1983-07-14 Isfetセンサ−の実装方法 Granted JPS6020142A (ja)

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JPS6020142A true JPS6020142A (ja) 1985-02-01
JPH0331384B2 JPH0331384B2 (ja) 1991-05-02

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5695577A (en) * 1979-12-27 1981-08-03 Showa Alum Corp Manufacture of aluminium rough face plate
JPH0519066U (ja) * 1990-12-19 1993-03-09 日産車体株式会社 ガードバーの取付構造
JP2014016231A (ja) * 2012-07-09 2014-01-30 Isfetcom Co Ltd pH計

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