JPS6020142A - Isfetセンサ−の実装方法 - Google Patents
Isfetセンサ−の実装方法Info
- Publication number
- JPS6020142A JPS6020142A JP58129157A JP12915783A JPS6020142A JP S6020142 A JPS6020142 A JP S6020142A JP 58129157 A JP58129157 A JP 58129157A JP 12915783 A JP12915783 A JP 12915783A JP S6020142 A JPS6020142 A JP S6020142A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- cavity
- gate
- elastic material
- substrate
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
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- Pathology (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用性〉
本発明は、l5FET (イメン選択性)センサーの実
装方法に関し、殊にl5FETナツプのゲート部分を外
部に露出した状態で他の部分を量産性よく樹脂封止する
ことのできる方法の提案に関する。
装方法に関し、殊にl5FETナツプのゲート部分を外
部に露出した状態で他の部分を量産性よく樹脂封止する
ことのできる方法の提案に関する。
〈従来技術〉
l5FETセンづ−は、電界効果型トランジスタ(FE
T)のゲート部分を水溶液に接触させて液中のイオン(
H” 、 Na+、 Kj etc )をセンシングす
るものである。従って、実装に際してもゲートを外部に
露出する必要がある。このため、チップ全体を樹脂封止
する一般の半導体の実装方法を適用することができない
ので、従来は第1図に示すように、プラスチックチュー
ブ1の中にl5FETチツプ2をマウントして、シリコ
ン樹脂3で固定し、しかる後ゲート0部分以外を手作業
によって接着剤を塗布するという方法によっている。而
して、手作業によって実装するものであるから、量産性
に著しく欠けるものであるのに加えて、l5FETチツ
プのゲート部は数μ〜数十μの微少な部分でかつ数千人
の薄膜であるため、傷つきやすく、微少な汚れによって
精度を悪くする傾向があり、従って手作業による実装方
法ではl5FETセンサーの性能の均質性、信頼性を損
うことが多々あった。
T)のゲート部分を水溶液に接触させて液中のイオン(
H” 、 Na+、 Kj etc )をセンシングす
るものである。従って、実装に際してもゲートを外部に
露出する必要がある。このため、チップ全体を樹脂封止
する一般の半導体の実装方法を適用することができない
ので、従来は第1図に示すように、プラスチックチュー
ブ1の中にl5FETチツプ2をマウントして、シリコ
ン樹脂3で固定し、しかる後ゲート0部分以外を手作業
によって接着剤を塗布するという方法によっている。而
して、手作業によって実装するものであるから、量産性
に著しく欠けるものであるのに加えて、l5FETチツ
プのゲート部は数μ〜数十μの微少な部分でかつ数千人
の薄膜であるため、傷つきやすく、微少な汚れによって
精度を悪くする傾向があり、従って手作業による実装方
法ではl5FETセンサーの性能の均質性、信頼性を損
うことが多々あった。
ぐ発明の目的さ
そこで本発明は、量産性、信頼性高(ISFE’l’セ
ンサーを樹脂封止できる実装方法を提供するものである
。
ンサーを樹脂封止できる実装方法を提供するものである
。
く発明の構成〉
間して本発明に係るI S F E i’センサーの実
装方法は、基板にl5FETナツプをマウントしたもの
を、キャビティ又は枠の中に形成された樹脂封入空間に
挿入すると共に、前記キャビティ又は枠の中に弾性材料
を組み入れて、該弾性材料自体で若しくはキャビティの
一部でl5FETのゲート又はぞのI+’;I囲を弾性
押圧して樹脂がゲート上に侵入しないようにし、しかる
後樹脂封入空間に樹脂を封入するようにしたことを要旨
としている。
装方法は、基板にl5FETナツプをマウントしたもの
を、キャビティ又は枠の中に形成された樹脂封入空間に
挿入すると共に、前記キャビティ又は枠の中に弾性材料
を組み入れて、該弾性材料自体で若しくはキャビティの
一部でl5FETのゲート又はぞのI+’;I囲を弾性
押圧して樹脂がゲート上に侵入しないようにし、しかる
後樹脂封入空間に樹脂を封入するようにしたことを要旨
としている。
以下、本発明方法の実施例を図面に基ついて説明する。
〈実施例1ン
第2図において、1oは基板、11は基板10の端部片
iruにマウントされたl5FETチッフ;12は内部
に樹脂八人空間Aを有したギャビテーrである。前記基
板10はアルミナ、プリント板、フレキシブルフリント
板等からなり、片面には況焼付電極又はCa微細パター
ン配線が設けられている。この基板10の右端にはリー
ド線13が半田等で接続しである。
iruにマウントされたl5FETチッフ;12は内部
に樹脂八人空間Aを有したギャビテーrである。前記基
板10はアルミナ、プリント板、フレキシブルフリント
板等からなり、片面には況焼付電極又はCa微細パター
ン配線が設けられている。この基板10の右端にはリー
ド線13が半田等で接続しである。
また左端側にはその上にマウントされたl5FETチツ
プ11の電極と基板10の電極との間を金属細線14で
ワイヤボンディングしである。そして、ワイヤボンディ
ング部分を細線保護層15でコートしである。また、l
5FETデツプ11はゲート部16を除き、その周囲が
パッシベーション膜17でコートしである。
プ11の電極と基板10の電極との間を金属細線14で
ワイヤボンディングしである。そして、ワイヤボンディ
ング部分を細線保護層15でコートしである。また、l
5FETデツプ11はゲート部16を除き、その周囲が
パッシベーション膜17でコートしである。
前記キャビティ12は上下に2分割18.19され、そ
の間に弾性材料20が組込まれている。上側キャビティ
18と下側キャビティ19の対向する箇所は樹脂封入空
間A内に向けて膨出され、この膨出部分21.22が前
記弾性材料20の弾性力によってI S I”ETチッ
プ11のゲート部分16を適度な力で弾性押圧している
。この抑圧によって、樹脂を空間Aに封入する除、樹脂
がゲート部16に侵入するのを防止できる。尚この実施
例においては、下側キャビティの膨出部分22であって
、l5FETのゲート部16に対応する箇所に空@23
を形成し、ゲート部16自体ハJ111圧ゼず、その1
1#1囲を押圧するようにしている。
の間に弾性材料20が組込まれている。上側キャビティ
18と下側キャビティ19の対向する箇所は樹脂封入空
間A内に向けて膨出され、この膨出部分21.22が前
記弾性材料20の弾性力によってI S I”ETチッ
プ11のゲート部分16を適度な力で弾性押圧している
。この抑圧によって、樹脂を空間Aに封入する除、樹脂
がゲート部16に侵入するのを防止できる。尚この実施
例においては、下側キャビティの膨出部分22であって
、l5FETのゲート部16に対応する箇所に空@23
を形成し、ゲート部16自体ハJ111圧ゼず、その1
1#1囲を押圧するようにしている。
これは、キャビティ12が通常金属で構成されるので、
ケート部を押圧することによる傷付きを避けるためであ
る。前記弾性相*120は樹脂と接触する部分もあるた
め、i#j熱性があり、かつ不活性なものとして例えば
シリコンゴムや硬質ポリウレタン等を用いるのがよい。
ケート部を押圧することによる傷付きを避けるためであ
る。前記弾性相*120は樹脂と接触する部分もあるた
め、i#j熱性があり、かつ不活性なものとして例えば
シリコンゴムや硬質ポリウレタン等を用いるのがよい。
樹脂封入空m」Aに樹脂を注入するには、上記の如<
l5FETチツプのゲート部16に樹脂が侵入しないよ
うにした状態とした後に行なう。樹脂の注入はキャビテ
ィ12の側方に設りた導入孔24より行なえはよい。樹
脂としては、態様耐湿性接着剤、有機系接着剤(例えば
エポキシ、シリコーン、ポリイシド、シリコーン−エポ
キシ、シリコーン・ポリイシド%)を用いることができ
る。注入した樹脂が硬化すれは、上側キャビティと、下
側キャビティを分離し、実装完了した構造体を取り出せ
ばよい。
l5FETチツプのゲート部16に樹脂が侵入しないよ
うにした状態とした後に行なう。樹脂の注入はキャビテ
ィ12の側方に設りた導入孔24より行なえはよい。樹
脂としては、態様耐湿性接着剤、有機系接着剤(例えば
エポキシ、シリコーン、ポリイシド、シリコーン−エポ
キシ、シリコーン・ポリイシド%)を用いることができ
る。注入した樹脂が硬化すれは、上側キャビティと、下
側キャビティを分離し、実装完了した構造体を取り出せ
ばよい。
第3図乃至第7図は本発明の他の実l1fli例を示す
。
。
そのうち第3図は、キャビティ12には膨出部分を形成
せず、膨出部分と同様な働きをする挟圧部材5をウド性
材料で作り、それをキャビティ12の中に組込んだもの
である。この場合挟圧部材部が弾力性があるため、l5
FETチツプのゲート部16を傷イ・」けるおそれかな
いので、該ゲート部に直接抑圧作用させることができる
。挟圧部材25の側面視図を第4図に示す。挟圧部材2
5の材料としては上記実施例と同様、シリコーンゴム等
を用いることができる。
せず、膨出部分と同様な働きをする挟圧部材5をウド性
材料で作り、それをキャビティ12の中に組込んだもの
である。この場合挟圧部材部が弾力性があるため、l5
FETチツプのゲート部16を傷イ・」けるおそれかな
いので、該ゲート部に直接抑圧作用させることができる
。挟圧部材25の側面視図を第4図に示す。挟圧部材2
5の材料としては上記実施例と同様、シリコーンゴム等
を用いることができる。
第5図は、基板1oの一端を延長して基板の両端を上側
キャビティ18と一ト側キャビテ伺9とで挾んで基板1
0の位置決めを行なった状態で、下側キャビディ19の
中に組込んだ弾性材料からなる押圧部狗26でl5FE
Tチツプのゲート部16を押圧したものである。この実
施例では、基板1oがキャビティによって両端支持され
るので第3図に示したような挟圧部材が不要となるので
ある。尚、」二側キャビティと下側キャビティとの間に
は第2図に示したと同じ弾性材料2oが介在されている
。
キャビティ18と一ト側キャビテ伺9とで挾んで基板1
0の位置決めを行なった状態で、下側キャビディ19の
中に組込んだ弾性材料からなる押圧部狗26でl5FE
Tチツプのゲート部16を押圧したものである。この実
施例では、基板1oがキャビティによって両端支持され
るので第3図に示したような挟圧部材が不要となるので
ある。尚、」二側キャビティと下側キャビティとの間に
は第2図に示したと同じ弾性材料2oが介在されている
。
第6図及び第7図は上記各実施例と異なり、キAヒデイ
を用いず、代りに枠27を用いた実施例を示す。第6図
のものは、枠27の中に、第2図に示したキャビティと
同様なル状に形成した弾性拐料羽を組込んだものである
。但し、騒出部勿29.30も弾性、にI刺でできてい
るため、ゲート部16を傷付りるおそれがないので、直
接今一ト都16を押圧するようにしている。
を用いず、代りに枠27を用いた実施例を示す。第6図
のものは、枠27の中に、第2図に示したキャビティと
同様なル状に形成した弾性拐料羽を組込んだものである
。但し、騒出部勿29.30も弾性、にI刺でできてい
るため、ゲート部16を傷付りるおそれがないので、直
接今一ト都16を押圧するようにしている。
第7図のものは、枠27の中の一端に弾性材料31を組
込み、この弾性材料31の中にl5FETチツプ月及び
基板10の一端を差込んだものである。差込み徂(J1
ゲート都16に樹脂が侵入し/iいよう適当に選ぶ必要
がある。
込み、この弾性材料31の中にl5FETチツプ月及び
基板10の一端を差込んだものである。差込み徂(J1
ゲート都16に樹脂が侵入し/iいよう適当に選ぶ必要
がある。
く発明の効果〉
V七に述べたように本発明に係るl5FEi’センザー
の実装方法によれば、基板にl5FETデツプをマウン
トしたものをキャヒテイ名しくは枠の中のイ貞J胆旧人
空間に挿入し、ゲート部に41:j Iliが侵入しな
い状pシとした後、樹脂を封入空間に封入するものであ
るから、ゲート部を露出己ゼ、銭りを樹11!f %−
ルドするという特殊な実装方法を手作業に頼ることなく
行なうことができる。従って、且産性に優れているし、
また弾性材料のキャビティ等への組込みによってゲート
部を傷付けたり、汚したりすることなく実装することが
できるため信頼性の高いセンサーを得ることができると
いった効果がある。
の実装方法によれば、基板にl5FETデツプをマウン
トしたものをキャヒテイ名しくは枠の中のイ貞J胆旧人
空間に挿入し、ゲート部に41:j Iliが侵入しな
い状pシとした後、樹脂を封入空間に封入するものであ
るから、ゲート部を露出己ゼ、銭りを樹11!f %−
ルドするという特殊な実装方法を手作業に頼ることなく
行なうことができる。従って、且産性に優れているし、
また弾性材料のキャビティ等への組込みによってゲート
部を傷付けたり、汚したりすることなく実装することが
できるため信頼性の高いセンサーを得ることができると
いった効果がある。
第1図は従来の実装方法によって製作されたIsB −
B IQ:面図、第4図は第3図中の挟圧部材を示す図
、第5図乃至第7図は夫々本発明の更に他の各実施例を
示す正面断面図である。 10・・・基板、11・・・l5FETチツプ、12−
・・キャビティ、27−・・枠、20 、25 、26
、28 、31・=弾性材FI、A・・・樹脂封入空
間。
B IQ:面図、第4図は第3図中の挟圧部材を示す図
、第5図乃至第7図は夫々本発明の更に他の各実施例を
示す正面断面図である。 10・・・基板、11・・・l5FETチツプ、12−
・・キャビティ、27−・・枠、20 、25 、26
、28 、31・=弾性材FI、A・・・樹脂封入空
間。
Claims (1)
- 基板にl5FE1’チツプをマウントしたものを、キャ
ピティ又は枠の中に形成された樹脂封入空間に挿入する
と共に、前記キャピティ又は枠の中に弾性拐料を組み入
れて、該弾性材料自体で若しくはキャピティの一部でl
5FETのゲート又はその周囲を弾性押圧して樹脂がゲ
ート上に侵入しないようにし、しかる後樹脂封入空間に
樹脂を封入するようにしたことを特徴とするIs)’E
Tセンサーの実装方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58129157A JPS6020142A (ja) | 1983-07-14 | 1983-07-14 | Isfetセンサ−の実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58129157A JPS6020142A (ja) | 1983-07-14 | 1983-07-14 | Isfetセンサ−の実装方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6020142A true JPS6020142A (ja) | 1985-02-01 |
JPH0331384B2 JPH0331384B2 (ja) | 1991-05-02 |
Family
ID=15002548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58129157A Granted JPS6020142A (ja) | 1983-07-14 | 1983-07-14 | Isfetセンサ−の実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6020142A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5695577A (en) * | 1979-12-27 | 1981-08-03 | Showa Alum Corp | Manufacture of aluminium rough face plate |
JPH0519066U (ja) * | 1990-12-19 | 1993-03-09 | 日産車体株式会社 | ガードバーの取付構造 |
JP2014016231A (ja) * | 2012-07-09 | 2014-01-30 | Isfetcom Co Ltd | pH計 |
-
1983
- 1983-07-14 JP JP58129157A patent/JPS6020142A/ja active Granted
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5695577A (en) * | 1979-12-27 | 1981-08-03 | Showa Alum Corp | Manufacture of aluminium rough face plate |
JPS6052908B2 (ja) * | 1979-12-27 | 1985-11-21 | 昭和アルミニウム株式会社 | アルミニウム製粗面板の製造方法 |
JPH0519066U (ja) * | 1990-12-19 | 1993-03-09 | 日産車体株式会社 | ガードバーの取付構造 |
JP2014016231A (ja) * | 2012-07-09 | 2014-01-30 | Isfetcom Co Ltd | pH計 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0331384B2 (ja) | 1991-05-02 |
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